光盤設備及光盤記錄方法

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光盤設備及光盤記錄方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及光盤設備及光盤記錄方法。光盤設備包括：多個光學頭；光學頭控制部，其利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域為多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中，第一光輸出配置處理為多個光學頭中的每個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；以及集中控制部，控制光學頭控制部，從而并行地執(zhí)行對于多個光學頭中的每個光學頭的第一光輸出配置處理，并且基于第一光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
【專利說明】光盤設備及光盤記錄方法
[0001] 相關申請的交叉引用
[0002] 本申請要求2013年9月27日提交的日本專利申請JP2013-201330的優(yōu)先權，其全部內容經引用已并入本文。

【技術領域】
[0003] 本發(fā)明涉及光盤設備和光盤記錄方法，尤其涉及當利用多個光學頭在光盤上記錄信息時設定每個光學頭的最優(yōu)功率的技術。

【背景技術】
[0004] 現(xiàn)有技術中，在可寫光盤上記錄信息的光盤設備執(zhí)行光輸出設定處理，以在記錄之前設定用于記錄的最優(yōu)功率（下文中稱為OPC :0ptimum Power Calibration)。
[0005] 此外，在光盤設備中，為了提高記錄/再現(xiàn)信息的比特率，可以通過提供多個光學頭而對于一片光盤同時操作多個光學頭。例如，在日本未審專利申請公開No. 2006-286063 和日本未審專利申請公開No. 2012-133844中，在提供了多個光學頭的光盤設備中執(zhí)行 0PC，且每個光學頭設定為最優(yōu)記錄功率。

【發(fā)明內容】

[0006] 但是，如果能將光盤設備中提供的多個光學頭設定為最優(yōu)記錄功率，則優(yōu)選的是能容易地將每個光學頭設定為最優(yōu)記錄功率。此外，優(yōu)選的是，無論光學頭的數(shù)量有多少，都可以在很短的時間內完成OPC。
[0007] 因此，在本發(fā)明中，需要提供一種光盤設備以及光盤的記錄方法，當利用多個光學頭在光盤上記錄信息時，能在很短時間內容易地設定每個光學頭的最優(yōu)功率。
[0008] 根據本發(fā)明的一個實施方式，提供一種光盤設備，包括：多個光學頭；光學頭控制部，其利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中第一光輸出配置處理為多個光學頭中的每個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；和集中控制部，其控制光學頭控制部，從而并行地對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，且基于第一光輸出配置處理的結果對多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0009] 在本發(fā)明中，利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí) 行光輸出設定處理。光學頭控制部對每個光學頭執(zhí)行最優(yōu)記錄功率的設定，且集中控制部并行地對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行光輸出設定處理。光學頭控制部獲得光輸出設定處理中的寫入質量，且如果寫入質量不滿足期望質量，則不執(zhí)行正常的記錄功率設定。如果確定存在不執(zhí)行最優(yōu)記錄功率設定的光學頭，則集中控制部基于前一次光輸出設定處理的結果重新嘗試再次設定最優(yōu)記錄功率。在重試過程中，如果確定存在多個需要重新設定的光學頭，則并行地執(zhí)行光輸出設定處理。重試的次數(shù)限制在預定次數(shù)以內。此外，如果將一次寫入（write-once)光盤用作本方案中的光盤，則集中控制部連續(xù)地將用于光輸出設定處理的使用區(qū)域設定為測試寫入區(qū)域中的已使用區(qū)域。此外，如果使用可重寫光盤，則集中控制部在測試寫入區(qū)域中隨機地設定用于光輸出設定處理的使用區(qū)域。此外，集中控制部執(zhí)行用于將光盤上記錄的信息分配給多個光學頭的處理以及將從光盤讀取的信息的順序恢復為其在多個光學頭中執(zhí)行記錄之前的順序的處理。
[0010] 根據本發(fā)明的另一個實施方式，提供一種光盤記錄方法，包括：利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域，并行地對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中第一光輸出配置處理在光學頭控制部中對多個光學頭中的至少一個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；以及，基于第一光輸出配置的結果對多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0011] 根據本發(fā)明的所述實施方式，利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域，對多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行光輸出設定處理，并對每個光學頭執(zhí)行最優(yōu)記錄功率的設定。對多個光學頭中的每個光學頭的光輸出設定處理是并行執(zhí)行的，且如果基于設定處理結果確定存在多個需要重新設定的光學頭，則再次并行地執(zhí)行光輸出設定處理。因此，當利用多個光學頭在光盤上記錄信息時，可以在很短時間內很方便地對每個光學頭設定最優(yōu)功率。此外，本說明書中所描寫的優(yōu)點僅僅是舉例，并非意在限制本發(fā)明，也可以存在其他優(yōu)點。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012] 圖IA和IB為說明光盤設備的配置示例的視圖；
[0013] 圖2為說明關于光學頭驅動控制的模塊配置的視圖；
[0014] 圖3為說明光學頭和光學頭控制部的配置的框圖；
[0015] 圖4為說明集中控制部的操作的流程圖；
[0016] 圖5為說明OPC操作的順序圖；
[0017] 圖6A至6E為說明用于OPC的區(qū)域的視圖；
[0018] 圖7為說明便于設定OPC執(zhí)行地址的OPC操作的流程圖；以及
[0019] 圖8A和8B為說明光盤設備的另一個配置示例的視圖。

【具體實施方式】
[0020] 下文描述了本發(fā)明的實施方式。而且，按以下順序進行描述。
[0021] 1.實施方式的配置
[0022] 2. OPC
[0023] 3.其他實施方式
[0024] 1.實施方式的配置
[0025] 圖IA和IB說明了光盤設備的配置示例，作為本發(fā)明的實施方式。圖IA和IB中顯示的光盤設備10通過對已安裝的光盤200發(fā)射激光來執(zhí)行信息寫入。光盤200是可寫入光盤。在該實施方式中，描述的不例是光盤200為藍光（注冊商標）光盤的情況，但本發(fā)明不限于該示例，且本發(fā)明可應用于另一標準光盤，例如壓縮盤（CD)或數(shù)字多功能光盤 (DVD)。
[0026] 圖IA為說明光盤設備10的側視圖，圖IB為說明光盤設備10的俯視圖。
[0027] 如圖IA所示，光盤設備10包括底座120、用于旋轉已安裝的光盤200的主軸電動機101、以及發(fā)射激光到光盤200的光學頭IlOa至110d。光學頭IlOa和IlOc如圖IA中所示，但如圖IB所示，光學頭IlOb安置于與光學頭IlOa相同的深度位置，且光學頭IlOd 安置于與光學頭IlOc相同的深度位置。
[0028] 如圖IB所示，光學頭IlOa和IlOb包括物鏡121 ;每個物鏡121對激光輸出部（未顯示）輸出的激光聚焦，并將激光發(fā)射到光盤200。然后，將具備物鏡121的光學頭IlOa和 IlOb沿圓周方向平行地安裝到螺紋架103-1上。螺紋架103-1安裝在連桿104-1上，并處于可沿光盤200的半徑方向相對于光盤200水平移動的狀態(tài)。連桿104-1具有與光盤200 的半徑相對應的長度。然后，基于伺服控制部（未顯示）的控制而驅動螺紋架103-1，以使安裝在螺紋架103-1上的光學頭IlOa和IlOb在連桿104-1上沿光盤200的半徑方向移動。
[0029] 光學頭IlOc和IlOd包括物鏡121，且物鏡121對從激光輸出部（未顯不）輸出的激光聚焦，并將激光發(fā)射到光盤200。然后，將具備物鏡121的光學頭IlOc和IlOd沿圓周方向平行地安裝到螺紋架103-2上。螺紋架103-2安裝在連桿104-2上，并處于可沿光盤200的半徑方向相對于光盤200水平移動的狀態(tài)。連桿104-2具有與光盤200的半徑相對應的長度，且例如在參照光盤200的旋轉軸與連桿104-1對稱的位置上提供連桿104-2。然后，基于伺服控制部（未顯示）的控制而驅動螺紋架103-2,以使安裝在螺紋架103-2上的光學頭IlOc和IlOd在連桿104-2上沿光盤200的半徑方向移動。
[0030] 根據如上述配置的光盤設備10,光盤200由主軸電動機101旋轉，且從光學頭 IlOa至IlOd發(fā)出的激光發(fā)射到光盤200的圓周上。此外，螺紋架103-1在連桿104-1上移動，螺紋架103-2在連桿104-2上移動，從而從光盤200的內圓周到外圓周之間的所有軌道都被掃描。
[0031] 圖2為說明關于光學頭驅動控制的模塊配置的視圖?？刂颇K具有光學頭控制部 130a至130d、集中控制部140以及系統(tǒng)控制部150。
[0032] 光學頭控制部130a執(zhí)行光學頭IlOa的驅動控制、主軸電動機101的驅動控制以及螺紋架103-1的驅動控制。光學頭控制部130b執(zhí)行光學頭IlOb的驅動控制。光學頭控制部130c執(zhí)行光學頭IlOc的驅動控制和螺紋架103-2的驅動控制。光學頭控制部130d 執(zhí)行光學頭IlOd的驅動控制。
[0033] 為了在記錄之前使激光具有最優(yōu)記錄功率，光學頭控制部130a利用光盤200中所提供的測試寫入區(qū)域執(zhí)行光學頭IlOa的光輸出設定或配置處理（OPC :0ptimum Power Calibration)。類似地，光學頭控制部130b至130d利用光盤200中所提供的測試寫入區(qū) 域執(zhí)行光學頭IlOb至IlOd的0PC。此外，在下面的描述中，在光學頭IlOa-側操作的信號處理系統(tǒng)被稱為通道CHa，在光學頭IlOb -側操作的信號處理系統(tǒng)被稱為通道CHb。此夕卜，在光學頭IlOc -側操作的信號處理系統(tǒng)被稱為通道CHc，在光學頭IlOd -側操作的信號處理系統(tǒng)被稱為通道CHcL
[0034] 圖3為說明光學頭和光學頭控制部的配置的框圖。此外，圖3中，說明了光學頭 IlOa和光學頭控制部130a的配置。
[0035] 光學頭IlOa包括光學系統(tǒng)111、激光輸出部112、光檢測部113以及透鏡位置控制部114。光學系統(tǒng)111包括物鏡（參見圖IA和1B)、分光器、反射鏡等。然后，從激光輸出部112輸出的激光被聚焦在物鏡上，并被發(fā)射到光盤200 (參見圖IA和1B)，且將光盤200 反射回的光輸入光檢測部113。激光輸出部112配置為類似激光二極管的裝置，且將光學頭控制部130a提供的數(shù)字數(shù)據轉換為光信號（激光），隨后利用記錄功率將光信號輸出到光學系統(tǒng)111。進一步，激光輸出部112將調整為再現(xiàn)時的再現(xiàn)功率的激光輸出到光學系統(tǒng) 111。再現(xiàn)功率是讀取記錄在光盤200上的信息時的光發(fā)射功率，且其強度受光學頭控制部 130a的記錄再現(xiàn)控制部131的控制。
[0036] 光學頭IlOa的光檢測部113提取激光的從光盤200反射回的經調整為讀取功率的光作為光信號，并將光信號轉換為電信號，然后將電信號提供給光學頭控制部130a的數(shù) 據處理器132。因此，光盤200上記錄的數(shù)據得以在光盤設備10中讀取。透鏡位置控制部 114是控制物鏡位置的促動器。透鏡位置控制部114控制物鏡的位置，從而使發(fā)射到光盤 200的激光的照射位置成為期望位置。
[0037] 下面，將描述光學頭控制部130a的配置。光學頭控制部130a包括記錄再現(xiàn)控制部131、數(shù)據處理器132以及伺服控制部133。
[0038] 舉例來說，記錄再現(xiàn)控制部131具有中央處理單元（CPU)、只讀存儲器（ROM)以及隨機存取存儲器（RAM)。CPU根據ROM中儲存的程序或RAM中裝載的程序執(zhí)行多種不同類型的處理。例如，基于來自記錄再現(xiàn)控制部131和集中控制部140的指令，控制數(shù)據處理器 132和伺服控制部133的操作，以記錄或再現(xiàn)所指令的信息。此外，記錄再現(xiàn)控制部131利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所指示的區(qū)域執(zhí)行0PC，并將設定處理結果通知集中控制部140。例如，當數(shù)據處理器132所提供的寫入質量不滿足期望質量時，記錄再現(xiàn)控制部131設定記錄功率，其中質量最佳的測量結果作為最佳記錄功率。此外，當寫入質量不滿足期望質量時，記錄再現(xiàn)控制部131不執(zhí)行最優(yōu)記錄功率的設定。記錄再現(xiàn)控制部131 輸出OPC設定處理結果至集中控制部140。此外，當如下文所述般重新嘗試執(zhí)行OPC時，記錄再現(xiàn)控制部131可以改變記錄功率的范圍或測試數(shù)據等。此外，CPU中執(zhí)行多種不同類型的處理所需的數(shù)據等被適當?shù)貎Υ嬖赗AM中。
[0039] 在記錄再現(xiàn)控制部131的控制下，數(shù)據處理器132執(zhí)行信息處理，使得從光盤200 上讀取的信息或寫入光盤200的信息成為處理目標。此外，數(shù)據處理器132通過獲得OPC 中的寫入質量而將寫入質量輸出到記錄再現(xiàn)控制部131。例如，數(shù)據處理器132通過再現(xiàn) OPC中記錄的測試數(shù)據來執(zhí)行不對稱、抖動值、RF信號幅度、誤碼率、β值等的測量，并將測試結果輸出到記錄再現(xiàn)控制部131，作為寫入質量。
[0040] 伺服控制部133基于記錄再現(xiàn)控制部131的控制生成主軸控制信號，并將主軸控制信號提供給主軸電動機101 (參見圖IA和1Β)，從而使光盤200以期望速度旋轉。此外，伺服控制部133基于記錄再現(xiàn)控制部131的控制生成螺紋架控制信號，并將螺紋架控制信號提供給螺紋架103-1 (參見圖IA和1Β)。如上所述，伺服控制部133通過提供螺紋架控制信號允許螺紋架103-1移動，從而利用光學頭IlOa執(zhí)行對記錄在期望位置的信息的讀取或在光盤200的期望位置上記錄信息。此外，伺服控制部133基于記錄再現(xiàn)控制部131的控制生成促動器控制信號，并將促動器控制信號提供給透鏡位置控制部114。因此，光學系統(tǒng) 111被驅動，從而激光能從光學頭IlOa發(fā)射到光盤200的期望位置。
[0041] 通道CHb-側的光學頭IlOb和光學頭控制部130b的配置類似于通道CHa-側的光學頭IlOa和光學頭控制部130a。但是，只有一個主軸電動機101，且在螺紋架103-1中提供有光學頭IlOa和光學頭110b。因此，僅僅由光學頭控制部130a的伺服控制部133執(zhí) 行主軸電動機101的控制和螺紋架103-1的控制。
[0042] 類似的是，通道CHc -側的光學頭IlOc和光學頭控制部130c具有與通道CHa - 側的光學頭IlOa和光學頭控制部130a相同的配置。但是，只有一個主軸電動機101，且在另一個螺紋架中提供有光學頭IlOa和光學頭110c。因此，僅僅由光學頭控制部130a的伺服控制部133執(zhí)行主軸電動機101的控制，而由光學頭控制部130c的伺服控制部133執(zhí)行螺紋架103-2的控制。
[0043] 此外，通道CHd -側的光學頭I IOd和光學頭控制部130d的配置類似于通道CHa - 側的光學頭IlOa和光學頭控制部130a。但是，只有一個主軸電動機101，且在螺紋架103-2 中提供有光學頭IlOc和光學頭IlOcL因此，僅僅由光學頭控制部130a的伺服控制部133 執(zhí)行主軸電動機101的控制，而僅僅由光學頭控制部130c的伺服控制部133執(zhí)行螺紋架 103-2的控制。
[0044] 集中控制部140具有中央處理單元（CPU)、只讀存儲器（ROM)以及隨機存取存儲器 (RAM)。CPU根據ROM中儲存的程序或RAM中裝載的程序執(zhí)行多種不同類型的處理。集中控制部140基于來自下文所描述的系統(tǒng)控制部150的命令將要執(zhí)行的處理分配給光學頭控制部130a至130d。例如，當系統(tǒng)控制部150提供寫入命令時，集中控制部140將要記錄的信息分配給光學頭控制部130a至130d，且利用光學頭I IOa至I IOd將這些信息并行地記錄在光盤200上。如上所述，并行地使用多個光學頭，從而在光盤設備中快速執(zhí)行信息記錄。此夕卜，例如，當系統(tǒng)控制部150提供讀取命令時，集中控制部140將信息的讀取處理分配給光學頭控制部130a至130d，并利用光學頭IlOa至IlOd從光盤200中并行地讀取信息。此夕卜，通過將信息順序恢復為其在讀取前的順序，集中控制部140將利用光學頭IlOa至IlOd 從光盤200中并行讀取的信息輸出給系統(tǒng)控制部150。如上所述，集中控制部140并行地使用多個光學頭，從而在光盤設備中快速執(zhí)行信息讀取。
[0045] 此外，集中控制部140為多個光學頭中的每個光學頭在OPC區(qū)域內設定用于OPC 的區(qū)域，也就是光盤200的測試寫入區(qū)域。集中控制部140在多個光學頭中并行地執(zhí)行 OPC (也就是第一光輸出配置處理），并且對于根據OPC設定處理結果而確定為需要重置的光學頭，通過重新設定使用區(qū)域而再次執(zhí)行〇PC(下文中稱為"重試"或"第二光輸出配置處理"）。當多個光學頭要重試時，集中控制部140并行地執(zhí)行重試。此外，當在所有通道中完成最優(yōu)記錄功率的設定時，集中控制部140完成0PC，并將設定處理結果通知系統(tǒng)控制部150。此外，在即使已重試了預定次數(shù)，但仍未設定最優(yōu)記錄功率時，集中控制部140結束 0PC，并將設定處理結果通知系統(tǒng)控制部150。
[0046] 當從外部設備等發(fā)出信息記錄指令時，系統(tǒng)控制部150將從由記錄指令所指示的光盤200上的位置執(zhí)行信息記錄的寫入命令以及記錄信息輸出到集中控制部140。此外，夕卜部設備等可以發(fā)出再現(xiàn)指令，且系統(tǒng)控制部150輸出讀取命令到集中控制部140,該讀取命令執(zhí)行從再現(xiàn)指令所指示的光盤200上的位置讀取信息。此外，系統(tǒng)控制部150將根據讀取命令而從光盤200上讀取并從集中控制部140提供的信息輸出到執(zhí)行記錄指令的外部設備等。
[0047] 2. OPC
[0048] 在如上述配置的光盤設備10中，在執(zhí)行寫入處理之前執(zhí)行OPC，OPC是將激光設定為在寫入期間的最優(yōu)記錄功率的處理。在光學頭控制部130a至130d以及集中控制部140 中執(zhí)行OPC控制。OPC基本流程順序如下：
[0049] (1)為每個通道確定OPC執(zhí)行地址。
[0050] (2)基于確定的OPC執(zhí)行地址的位置，以對于OPC估計所調整的記錄功率，利用預定區(qū)域在光盤200上記錄測試數(shù)據。
[0051] (3)讀取已記錄的測試數(shù)據。
[0052] (4)在基于讀取的射頻（RF)信號所獲得的寫入質量的前提下，執(zhí)行最優(yōu)記錄功率的設定。
[0053] (5)當未完成最優(yōu)記錄功率的設定時，重復OPC預定次數(shù)，直至完成最優(yōu)記錄功率的設定。當存在多個未完成最優(yōu)記錄功率設定的通道時，并行地執(zhí)行0PC。
[0054] 例如，在通道CHa的例子中，光學頭控制部130a的記錄再現(xiàn)控制部131關于光學頭IlOa設定執(zhí)行OPC所需的功率。利用集中控制部140所指示的OPC執(zhí)行地址，提供執(zhí)行 OPC所需的執(zhí)行地址。此外，數(shù)據處理器132將指示執(zhí)行OPC所需的記錄開始時間或功率切換時間的命令信號或用于寫入的測試數(shù)據等提供給光學頭ll〇a。測試數(shù)據實際上相當于寫入光盤200的信號，并通過寫入策略電路（未顯示）將測試數(shù)據提供給光學頭IlOa內部的激光輸出部112。在數(shù)據處理器132中實現(xiàn)基于執(zhí)行OPC所需的再現(xiàn)RF信號獲得寫入質量的功能。然后，通過接收來自數(shù)據處理器132的時序，記錄再現(xiàn)控制部131控制每個部件以在合適的時點獲得寫入質量。記錄再現(xiàn)控制部131基于獲得的寫入質量執(zhí)行最優(yōu)記錄功率的設定，并輸出設定處理結果給集中控制部140。通道CHb至CHd類似，基于來自集中控制部140的指令，光學頭控制部130b至130d的記錄再現(xiàn)控制部131利用光學頭IlOb至 IlOd執(zhí)行上述處理。
[0055] 集中控制部140在通道CHa至CHd并行地執(zhí)行0PC，并獲得設定處理結果。進一步，當存在未完成設定最優(yōu)記錄功率的通道時，在集中控制部140中，對未完成設定的通道重新嘗試執(zhí)行0PC。此外，當存在多個未完成設定最優(yōu)記錄功率的通道時，集中控制部140 并行地執(zhí)行重試。當在所有通道中完成最優(yōu)記錄功率的設定時，或當雖然已重復預定次數(shù) 的重試但仍未完成最優(yōu)記錄功率的設定時，集中控制部140結束0PC。
[0056] 圖4為說明集中控制部的OPC控制操作的流程圖。在步驟ST1，集中控制部140確定所有通道的OPC執(zhí)行地址。例如，如上所述，當利用通道CHa至CHd執(zhí)行記錄時，集中控制部140為每個通道CHa至CHd確定OPC執(zhí)行地址（例如OPC開始地址），然后處理前進到步驟ST2。
[0057] 在步驟ST2,集中控制部140輸出OPC執(zhí)行地址。集中控制部140輸出通道CHa的 OPC執(zhí)行地址給光學頭控制部130a，并利用光學頭IlOa執(zhí)行0PC。類似的，集中控制部140 輸出通道CHb至CHd的OPC執(zhí)行地址給光學頭控制部130b至130d，并利用光學頭IlOb至 IlOd執(zhí)行0PC，然后處理前進到步驟ST3。
[0058] 在步驟ST3,集中控制部140獲得設定處理結果。集中控制部140從光學頭控制部 130a至130d獲得設定處理結果，然后處理前進到步驟ST4。
[0059] 在步驟ST4,集中控制部140確定是否存在未完成設定最優(yōu)記錄功率的通道。當集中控制部140在步驟ST3或在下文所描述的步驟ST9中表明所有設定處理結果為最優(yōu)記錄功率設定完成時，處理前進到步驟ST5。此外，當包括表明最優(yōu)記錄功率設定未完成的設定處理結果時，集中控制部140使未完成設定的通道成為重試目標通道，然后處理前進到步驟 ST6。
[0060] 在步驟ST5,集中控制部140執(zhí)行OPC完成通知處理。集中控制部140通知系統(tǒng)控制部150所有通道已完成設定最優(yōu)記錄功率且OPC控制操作已結束。
[0061] 如果處理從步驟ST4前進到ST6,則在步驟ST6,集中控制部140確定重試次數(shù)是否達到預定重試次數(shù)。當集中控制部140確定重試目標通道中的重試次數(shù)未達到預定次數(shù) 時，處理前進到步驟ST7,而當集中控制部140確定重試目標通道中的重試次數(shù)達到預定次數(shù)時，處理前進到步驟ST10。
[0062] 在步驟ST7,集中控制部140確定重試目標通道的OPC執(zhí)行地址。集中控制部140 只為步驟ST4中確定為重試目標的通道確定OPC執(zhí)行地址，然后處理前進到步驟ST8。
[0063] 在步驟ST8,集中控制部140輸出OPC執(zhí)行地址。集中控制部140將為每個重試目標通道所確定的OPC執(zhí)行地址輸出到該重試目標通道的光學頭控制部，并利用光學頭執(zhí)行 0PC，然后處理前進到步驟ST9。在此，當存在多個重試目標通道時，并行地執(zhí)行0PC。
[0064] 在步驟ST9,集中控制部140獲得設定處理結果。集中控制部140從重試目標通道的光學頭控制部獲得設定處理結果，然后處理返回步驟ST4。
[0065] 在步驟ST6,當確定重試次數(shù)達到預定次數(shù)而處理前進到步驟STlO時，集中控制部140執(zhí)行OPC未完成通知處理。集中控制部140通知系統(tǒng)控制部150出現(xiàn)未完成設定最優(yōu)記錄功率的通道，或通知未完成設定的通道，然后結束OPC控制操作。
[0066] 下面，參考圖5至6E，描述OPC的操作示例。此外，在圖5至6E中，顯示了將一次寫入光盤用作光盤200的例子。此外，顯示了在通道CHb中執(zhí)行兩次重試，在通道CHd中執(zhí) 行一次重試，然后完成通道CHa至CHd的OPC的例子。
[0067] 圖5為說明OPC操作的順序圖。圖6A至6E說明了用于OPC的區(qū)域。
[0068] 在圖5中，當系統(tǒng)控制部150在步驟ST21中提供OPC執(zhí)行命令時，集中控制部140 在步驟ST22中確定所有通道的OPC執(zhí)行地址。如圖6A所示，例如，在光盤200中，在OPC 區(qū)域中生成已使用區(qū)域。如圖6B所示，在這種情況中，集中控制部140確定所有通道的OPC 執(zhí)行地址，從而連續(xù)地將通道CHa的使用區(qū)域ARa和通道CHb至CHd的使用區(qū)域ARb至ARd 依次提供給已使用區(qū)域。
[0069] 回過頭來參考圖5,集中控制部140在步驟ST23a中輸出OPC執(zhí)行地址給通道CHa。此外，集中控制部140在步驟ST23b至步驟ST24d中輸出OPC執(zhí)行地址給通道CHb至CHd。
[0070] 通道CHa在步驟ST24a中執(zhí)行0PC。通道CHa的光學頭IlOa和光學頭控制部 130a利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARa執(zhí)行0PC，并在步驟ST25a中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHa中，完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0071] 通道CHb在步驟ST24b中執(zhí)行0PC。通道CHb的光學頭IlOb和光學頭控制部 130b利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARb執(zhí)行0PC，并在步驟ST25b中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHb中，未完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0072] 通道CHc在步驟ST24c中執(zhí)行0PC。通道CHc的光學頭IlOc和光學頭控制部 130c利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARc執(zhí)行0PC，并在步驟ST25c中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHc中，完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0073] 通道CHd在步驟ST24d中執(zhí)行0PC。通道CHd的光學頭IlOd和光學頭控制部 130d利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARd執(zhí)行0PC，并在步驟ST25d中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHd中，未完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0074] 在圖6B至6D中，諸如標記?之類的第一標記表明最優(yōu)記錄功率的設定已完成。此外，諸如標記X之類的第二標記表明最優(yōu)記錄功率的設定未完成。因此，在圖6B所示的情況中，通道CHb和通道CHd成為重試目標通道。
[0075] 回過頭來參考圖5,集中控制部140在步驟ST26中確定重試目標通道，并為重試目標通道確定OPC執(zhí)行地址。例如，因為設定處理結果表明，通道CHb和CHd中的最優(yōu)記錄功率的設定未完成，所以集中控制部140使通道CHb和CHd成為重試目標通道。集中控制部 140連續(xù)地將重試目標通道的使用區(qū)域提供到已使用區(qū)域。也就是說，如圖6C所示，集中控制部140確定重試目標通道的OPC執(zhí)行地址，從而連續(xù)地將通道CHb的使用區(qū)域ARb和通道CHd的使用區(qū)域ARd依次提供到已使用區(qū)域。
[0076] 回過頭來參考圖5,集中控制部140在步驟ST27b將OPC執(zhí)行地址輸出給通道CHb。此外，集中控制部140在步驟ST27d中將OPC執(zhí)行地址輸出給通道CHd。
[0077] 通道CHb在步驟ST28b中執(zhí)行0PC。通道CHb的光學頭IlOb和光學頭控制部 130b利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARb執(zhí)行0PC，并在步驟ST29b中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHb中，未完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0078] 通道CHd在步驟ST28d中執(zhí)行0PC。通道CHd的光學頭IlOd和光學頭控制部 130d利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARd執(zhí)行0PC，并在步驟ST29d中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHd中，完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0079] 集中控制部140在步驟ST30中確定重試目標通道，并確定該重試目標通道的OPC 執(zhí)行地址。例如，因為設定處理結果表明，通道CHb中的最優(yōu)記錄功率的設定未完成，所以集中控制部140使通道CHb成為重試目標通道。如圖6D所示，集中控制部140對于通道 CHb (也就是重試目標通道）確定重試目標通道的OPC執(zhí)行地址，從而連續(xù)地將通道CHb的使用區(qū)域ARb提供到已使用區(qū)域。
[0080] 集中控制部140在步驟ST31b中將OPC執(zhí)行地址輸出至通道CHb。
[0081] 通道CHb在步驟ST32b中執(zhí)行0PC。通道CHb的光學頭IlOb和光學頭控制部 130b利用集中控制部140所通知的OPC執(zhí)行地址所表明的使用區(qū)域ARb執(zhí)行0PC，并在步驟ST33b中將設定處理結果輸出給集中控制部140。此外，在通道CHb中，完成最優(yōu)記錄功率的設定。
[0082] 通過執(zhí)行重試，所有通道中已完成最優(yōu)記錄功率的設定，因此集中控制部在步驟 ST34中執(zhí)行OPC完成通知處理，并通知系統(tǒng)控制部150已完成所有通道中的設定。此外，下一次如果系統(tǒng)控制部150向集中控制部140提供OPC執(zhí)行命令，則在集中控制部140中連續(xù)地將使用區(qū)域ARa提供給如圖6E所示的已使用區(qū)域。
[0083] 如上所述，集中控制部140并行地執(zhí)行每個通道中的0PC，且如果確定存在多個重試目標通道，則在重試目標通道中并行地執(zhí)行OPC重試。如上所述，當利用多個光學頭在光盤上記錄信息時，通過執(zhí)行OPC控制，可以在很短時間內容易地設定每個光學頭的最優(yōu)記錄功率。
[0084] 圖7為說明不同于集中控制部140的控制操作且便于設定OPC執(zhí)行地址的OPC操作的流程圖。在該操作中，在所有通道中執(zhí)行OPC操作，且依據設定處理結果為每個通道執(zhí) 行重試。在此，如果在一個通道中未完成最優(yōu)記錄功率的設定，則執(zhí)行重試。此外，如果通過重試完成設定，或如果重試次數(shù)等于或大于預定次數(shù)，則結束處理，并將OPC使用區(qū)域的末尾地址通知下一通道。在下一通道中，依據設定處理結果執(zhí)行重試。此外，在重試中，利用前一通道的末尾地址確定OPC執(zhí)行地址。因此，由于OPC的使用區(qū)域能被依次設定，因此便于設定OPC執(zhí)行地址。但是，如果未完成某個通道的處理，則不開始下一通道的處理。因此，重試次數(shù)增加，所有通道中完成OPC所需的時間較長。此外，隨著通道增加，所有通道中完成OPC所需的時間可能會進一步延長。
[0085] 對于控制操作，集中控制部140執(zhí)行OPC控制，從而在多個重試目標通道中并行地執(zhí)行重試。因此，由于最遲在重試次數(shù)達到預定次數(shù)時完成每個通道的0PC，即使通道數(shù)量很大，光盤設備也可以在很短時間內完成OPC處理。此外，由于可以避免增加 OPC處理所需時間的變化，因此可以減少開始記錄操作時的變化，并在光盤設備中快速地執(zhí)行記錄操作。
[0086] 此外，舉例來說，在日本未審專利申請公開No. 2012-133844中，分配另一通道的使用區(qū)域或分配具有預定大小的用于重試的使用區(qū)域，從而不是基于一個通道的OPC開始地址復制OPC的使用區(qū)域。在具有預定大小的用于重試的區(qū)域中，為每個通道分配該使用區(qū)域，且該使用區(qū)域不再用于另一通道。但是，在集中控制部140中，由于所有通道的使用區(qū)域ARa至ARd或重試目標通道的使用區(qū)域被連續(xù)提供給已使用區(qū)域，因此，如果使用一次寫入光盤的話，可以使用OPC區(qū)域而不會有損耗。
[0087] 3.其他實施方式
[0088] 在上述實施方式中，螺紋架103-1中提供有光學頭IlOa和110b，螺紋架103-2中提供有光學頭IlOc和110d，且說明了在四個通道中執(zhí)行記錄再現(xiàn)。但是，光盤設備不限于上述實施方式。例如，如圖8A所示，僅提供螺紋架103-1，且在螺紋架103-1中提供有光學頭 IlOa 至 IlOcL
[0089] 此外，舉例來說，即使提供并非四個的多個光學頭，且在所述并非四個的多個光學頭中執(zhí)行記錄再現(xiàn)，也可以通過執(zhí)行圖4所示的OPC控制操作而在重試目標通道中并行地執(zhí)行重試。因此，可以很方便地對通道數(shù)量或多個通道的改變等作出反應。例如，如圖8B所示，即使通過在螺紋架103-1和103-2中分別提供四個光學頭IlOa至IlOd和IlOe至IlOh 而在八個通道中執(zhí)行記錄再現(xiàn)，也可以容易地作出反應。此外，雖然未顯示，但即使通過重新提供兩個螺紋架并在四個螺紋架中分別提供兩個光學頭而在八個通道中執(zhí)行記錄再現(xiàn)，也可以容易地作出反應。
[0090] 此外，在上述實施方式中，描述了使用一次寫入光盤的情況中的操作，但也可以使用可重寫光盤。
[0091] 如圖6B所示，由于可重寫光盤即使在OPC區(qū)域的已使用區(qū)域中也能寫入數(shù)據，因此在集中控制部中不需要連續(xù)地將該區(qū)域提供至已使用區(qū)域。因此，在集中控制部中，如果使用可重寫光盤，則圖4的步驟STl或步驟ST7中的OPC執(zhí)行地址可以是OPC區(qū)域中的隨機位置。如上所述，如果已設定OPC執(zhí)行地址，則可以避免將數(shù)據重復記錄在OPC中的特定區(qū)域中。
[0092] 此外，本說明書中所描述的一系列處理可以用硬件或軟件或其復合配置來實現(xiàn)。如果利用軟件來執(zhí)行處理，則通過安裝到專用硬件中內置的計算機存儲器而執(zhí)行其中記錄了處理順序的程序。否則，可以通過將程序安裝到能執(zhí)行多種不同處理的通用計算機中而執(zhí)行程序。
[0093] 例如，可以預先將程序記錄在記錄介質中，例如硬盤、固態(tài)硬盤（SSD)、或只讀存儲器（ROM)。此外，可以臨時或永久地將程序存儲（或記錄）在可移動記錄介質中，例如軟盤、壓縮盤只讀存儲器（CD-ROM)、磁光盤（MO)、數(shù)字多功能光盤（DVD)、藍光光盤（BD)(注冊商標）、電磁盤和半導體存儲卡?？梢宰鳛樗^的打包軟件來提供可移動記錄介質。
[0094] 此外，除了將程序從可移動記錄介質安裝到計算機中之外，還可以用有線或無線方式通過諸如局域網（LAN)或互聯(lián)網之類的網絡將程序從下載站點傳輸?shù)接嬎銠C。在計算機中，可以接收以上述方式傳輸?shù)某绦?，并將程序安裝在諸如內置硬盤之類的記錄介質中。 [0095] 此外，本發(fā)明并非解釋為僅限于上述實施方式。本發(fā)明的多個實施方式以舉例方式公開了本發(fā)明，且對于本領域技術人員而言顯而易見的是，可以在不脫離本發(fā)明的保護范圍的前提下作出上述實施方式的修改和替換。也就是說，為了確定本發(fā)明的保護范圍，應當考慮附加的權利要求的范圍。
[0096] 此外，本發(fā)明的實施方式中的光盤設備還可以采用以下配置。
[0097] (1) -種光盤設備，包括：多個光學頭；光學頭控制部，其利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域為多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中，第一光輸出配置處理為多個光學頭中的每個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；以及集中控制部，其控制光學頭控制部，從而為多個光學頭中的每個光學頭并行地執(zhí)行第一光輸出配置處理，并且基于第一光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0098] (2)按照⑴的光盤設備，其中，基于第一光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的兩個或多個光學頭并行地執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0099] (3)按照⑴或⑵的光盤設備，其中，集中控制部為多個光學頭中的每個光學頭確定測試寫入區(qū)域。
[0100] (4)按照（1)至（3)的光盤設備，其中，集中控制部基于預定數(shù)控制光輸出配置處理的執(zhí)行次數(shù)。
[0101] (5)按照（1)至（4)的光盤設備，其中，集中控制部基于表示第一光輸出配置處理期間尚未設定最優(yōu)記錄功率的結果確定要執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0102] (6)按照（1)至（5)的光盤設備，其中，光學頭控制部基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量滿足預定質量，則為光學頭設定最優(yōu) 記錄功率。
[0103] (7)按照（1)至￠)的光盤設備，其中，光學頭控制部基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量不滿足預定質量，則不為光學頭設定最優(yōu)記錄功率。
[0104] (8)按照（1)至（7)的光盤設備，其中，光盤是一次寫入光盤，且集中控制部連續(xù)地將用于光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域設定為已使用區(qū)域。
[0105] (9)按照（1)至⑶的光盤設備，其中，光盤是可重寫光盤，且集中控制部隨機地確定用作光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域。
[0106] (10)按照（1)至（9)的光盤設備，其中，集中控制部執(zhí)行將要記錄在光盤上的信息分配給多個光學頭的處理，且其中集中控制部執(zhí)行從光盤中并行地讀取信息并將從光盤中并行讀取的信息恢復為信息在光盤上存在的順序的處理。
[0107] (11)按照⑴至（10)的光盤設備，其中，基于第二光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第三光輸出配置處理。
[0108] (12) -種光盤記錄方法，包括：
[0109] 利用光盤上所提供的測試寫入區(qū)域，為多個光學頭中的每個光學頭并行地執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中，在光學頭控制部中，第一光輸出配置處理為多個光學頭中的至少一個設定最優(yōu)記錄功率；以及基于第一光輸出配置的結果，為多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0110] (13)按照（12)的光盤記錄方法，進一步包括，基于第一光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的兩個或多個光學頭并行地執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0111] (14)按照（12)或（13)的光盤記錄方法，進一步包括，為多個光學頭中的每個光學頭確定測試寫入區(qū)域。
[0112] (15)按照（12)至（14)的光盤記錄方法，進一步包括，基于表示第一光輸出配置處理期間尚未設定最優(yōu)記錄功率的結果確定要執(zhí)行第二光輸出配置處理。
[0113] (16)按照（12)至（15)的光盤記錄方法，進一步包括，基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量滿足預定質量，則為光學頭設定最優(yōu) 記錄功率。
[0114] (17)按照（12)至（16)的光盤記錄方法，進一步包括，當光盤是一次寫入光盤時，集中控制部連續(xù)地將用于光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域設定為已使用區(qū)域。
[0115] (18)按照（12)至（17)的光盤記錄方法，進一步包括，當光盤是可重寫光盤時，集中控制部隨機地確定用作光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域。
[0116] (19)按照（12)至（18)的光盤記錄方法，進一步包括，修改第二光輸出配置處理期間的測試數(shù)據以及記錄功率范圍中的至少一個。
[0117] (20)按照（12)至（19)的光盤記錄方法，進一步包括，基于第二光輸出配置處理的結果為多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第三光輸出配置處理。
【權利要求】
1. 一種光盤設備，包括：多個光學頭；光學頭控制部，其利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域為所述多個光學頭中的每個光學頭執(zhí)行第一光輸出配置處理，其中，第一光輸出配置處理為所述多個光學頭中的每個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；以及集中控制部，其控制光學頭控制部，從而并行地執(zhí)行對于所述多個光學頭中的每個光學頭的第一光輸出配置處理，并且基于第一光輸出配置處理的結果為所述多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
2. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，基于第一光輸出配置處理的結果，為所述多個光學頭中的兩個或多個光學頭并行地執(zhí)行第二光輸出配置處理。
3. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，集中控制部為所述多個光學頭中的每個光學頭確定測試寫入區(qū)域。
4. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述集中控制部基于預定數(shù)控制第一光輸出配置處理的執(zhí)行次數(shù)。
5. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述集中控制部基于表示第一光輸出配置處理期間尚未設定最優(yōu)記錄功率的結果，確定要執(zhí)行第二光輸出配置處理。
6. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述光學頭控制部基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量滿足預定質量，則為光學頭設定最優(yōu)記錄功率。
7. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述光學頭控制部基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量不滿足預定質量，則不為光學頭設定最優(yōu)記錄功率。
8. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述光盤是一次寫入光盤，且其中，所述集中控制部連續(xù)地將用于光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域設定為已使用區(qū)域。
9. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述光盤是可重寫光盤，且其中，所述集中控制部隨機地確定用作光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域。
10. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，所述集中控制部執(zhí)行將要記錄在所述光盤上的信息分配給所述多個光學頭的處理，且其中所述集中控制部執(zhí)行從所述光盤中并行地讀取信息并將從光盤中并行讀取的信息恢復為信息在光盤上存在的順序的處理。
11. 根據權利要求1所述的光盤設備，其中，基于第二光輸出配置處理的結果，為所述多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第三光輸出配置處理。
12. -種光盤記錄方法，包括：利用光盤中所提供的測試寫入區(qū)域，并行地執(zhí)行對于多個光學頭中的每個光學頭的第一光輸出配置處理，其中，在光學頭控制部中，第一光輸出配置處理為所述多個光學頭中的至少一個光學頭設定最優(yōu)記錄功率；以及基于第一光輸出配置的結果，為所述多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第二光輸出配置處理。
13. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，基于第一光輸出配置處理的結果，為所述多個光學頭中的兩個或多個光學頭并行地執(zhí)行第二光輸出配置處理。
14. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，為所述多個光學頭中的每個光學頭確定測試寫入區(qū)域。
15. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，基于表示第一光輸出配置處理期間尚未設定最優(yōu)記錄功率的結果，確定要執(zhí)行第二光輸出配置處理。
16. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，基于測試寫入區(qū)域獲得第一光輸出配置處理期間的寫入質量，并且如果寫入質量滿足預定質量，則為光學頭設定最優(yōu) 記錄功率。
17. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，當光盤是一次寫入光盤時，集中控制部連續(xù)地將用于光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域設定為已使用區(qū)域。
18. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，當光盤是可重寫光盤時，集中控制部隨機地確定用作光輸出設定處理的測試寫入區(qū)域的使用區(qū)域。
19. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，修改第二光輸出配置處理期間的測試數(shù)據以及記錄功率范圍中的至少一個。
20. 根據權利要求12所述的光盤記錄方法，進一步包括，基于第二光輸出配置處理的結果，為所述多個光學頭中的至少一個光學頭執(zhí)行第三光輸出配置處理。
【文檔編號】G11B7/0045GK104517617SQ201410484618
【公開日】2015年4月15日申請日期:2014年9月19日優(yōu)先權日:2013年9月27日
【發(fā)明者】村山敏之申請人:索尼公司

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