半導體存儲裝置的溫度檢測電路的制作方法
【專利摘要】半導體存儲裝置的溫度檢測電路包括固定周期振蕩器、溫度可變信號發(fā)生單元和計數(shù)單元。振蕩器被配置成當使能信號被使能時，生成固定周期振蕩信號。溫度可變信號發(fā)生單元被配置成當使能信號被使能時，生成其使能間隔基于溫度變化而改變的溫度可變信號。計數(shù)單元被配置成在溫度可變信號的使能間隔期間，對振蕩信號計數(shù)以生成溫度信息信號。
【專利說明】半導體存儲裝置的溫度檢測電路
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]本申請是 申請人:于2009年12月18日向中華人民共和國國家知識產(chǎn)權局提出的申請?zhí)枮镃N200910260968.7、發(fā)明名稱為“半導體存儲裝置的溫度檢測電路”的中國發(fā)明專利申請的分案申請。
【技術領域】
[0003]實施例涉及半導體存儲裝置，以及更具體地，涉及半導體存儲裝置的溫度檢測電路。
【背景技術】
[0004]通常，半導體存儲裝置通過在電容器中電氣地充入或放出電荷來存儲數(shù)據(jù)。因此，將半導體存儲裝置如此設計使得半導體存儲裝置能執(zhí)行用于基本上維持電容器的電壓電平的刷新操作。換句話說，半導體存儲裝置通過周期地和重復地執(zhí)行刷新操作，可以保持所存儲的數(shù)據(jù)。
[0005]隨著半導體存儲裝置近來趨向低功耗，已經(jīng)提供了降低刷新操作期間所消耗的功率的各種技術。作為降低刷新操作期間所消耗的功率的技術中的一種，存在這樣的技術，其通過基于溫度變化來改變刷新操作的重復周期，執(zhí)行刷新操作。
[0006]因此，為了基于溫度變化改變刷新操作的重復周期，在半導體存儲裝置內(nèi)部需要溫度檢測電路。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的實施例包括半導體存儲裝置的溫度檢測電路，其能夠檢測半導體存儲裝置內(nèi)部的溫度變化。
[0008]在本發(fā)明的一個實施例中，一種半導體存儲裝置的溫度檢測電路包括:固定周期振蕩器，被配置成當使能信號被使能時，生成振蕩信號；溫度可變信號發(fā)生單元，被配置成當使能信號被使能時，生成其使能間隔基于溫度變化而變化的溫度可變信號；以及計數(shù)單元，被配置成在溫度可變信號的使能間隔期間，對振蕩信號計數(shù)，以生成溫度信息信號。
[0009]在本發(fā)明的另一實施例中，一種半導體存儲裝置的溫度檢測電路包括:溫度可變信號發(fā)生單元，被配置成當使能信號被使能時，使能溫度可變信號，并且對電容器充電，以及當電容器的電壓電平升高到高于參考電壓電平時，使電容器放電，以及當電容器的電壓電平降低到低于參考電壓電平時，禁用溫度可變信號；以及計數(shù)單元，被配置成在溫度可變信號的使能間隔期間，對振蕩信號計數(shù)，以生成溫度信息信號。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]結合附圖描述各個特征、方面和實施例，其中:
[0011]圖1是示意性地示出根據(jù)實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電路的結構的方框圖；
[0012]圖2是示出圖1的固定周期振蕩器的實施例的結構的圖；以及
[0013]圖3是示出圖1的溫度可變信號發(fā)生單元的實施例的結構的圖。
【具體實施方式】
[0014]在下文中，將通過優(yōu)選實施例、參考附圖描述根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電路。
[0015]圖1是示意性地示出根據(jù)實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電路的結構的方框圖。如圖1所示，根據(jù)所公開的實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電路包括固定周期振蕩器100，溫度可變信號發(fā)生單元200和計數(shù)單元300。
[0016]當使能信號‘en’被使能時，固定周期振蕩器100生成振蕩信號‘osc’。使能信號‘en’可以是片內(nèi)終結(on-die termination)使能信號。通常,將半導體存儲裝置配置成當半導體存儲裝置通過焊點輸出數(shù)據(jù)時，通過將半導體存儲裝置的外部和內(nèi)部的阻抗值進行匹配，可以使輸出數(shù)據(jù)的噪聲最小。這樣，執(zhí)行用于匹配半導體存儲裝置的外部阻抗和內(nèi)部阻抗的操作的電路就稱為片內(nèi)終結電路。通過將片內(nèi)終結使能信號用作實施例的使能信號‘en’，該實施例的溫度檢測電路可以在半導體存儲裝置執(zhí)行阻抗匹配操作的期間檢測溫度變化。
[0017]圖2是示出圖1的固定周期振蕩器的示例性實施例的結構的圖。
[0018]如圖2所示，固定周期振蕩器100包括第一至第六反相器IVl I至IV16和第一 NAND門NDlI。第一至第六反相器IVll至IV16串聯(lián)耦合。第一 NAND門NDll接收第六反相器IV16的輸出信號和使能信號‘en’，并將其輸出信號輸出到第一反相器IV11。
[0019]參考圖1，當使能信號‘en’被使能時，溫度可變信號發(fā)生單元200生成溫度可變信號‘signal_temp’，該溫度可變信號的使能間隔基于溫度變化而改變。即，當使能信號‘en’被使能時，溫度可變信號發(fā)生單元200使能該溫度可變信號‘signal_temp’，然后基于溫度變化，改變溫度可變信號‘signal_temp’的禁用時間。
[0020]圖3是示出圖1的溫度可變信號發(fā)生單元200的示例性實施例的結構的圖。
[0021]參考圖3，當使能信號‘en’在邏輯高電平被使能時，溫度可變信號發(fā)生單元200升高電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。此后，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平升高到高于參考電壓(Vref)電平時，溫度可變信號發(fā)生單元200降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平，然后當電壓節(jié)點“V_node”的電壓電平降低到低于參考電壓(Vref)電平時，禁用被使能的溫度可變信號“signal_temp”。此時，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平升高到高于參考電壓(Vref)電平，并且隨后電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平降低時，溫度可變信號發(fā)生單元200隨溫度升高而增加電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度，以及隨溫度降低而減小電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度。
[0022]如圖3所示，溫度可變信號發(fā)生單元200包括控制單元210、電壓節(jié)點電平控制單元220、比較單元230和頻分單元240。
[0023]響應使能信號‘en’和比較信號‘com’，控制單元210生成控制信號‘Ctrl’和反相的控制信號‘ctrlb’，即控制信號‘Ctrl’的反相信號。例如，當使能信號‘en’在邏輯低電平被禁用時，不論比較信號‘com’如何，控制單元210禁用控制信號‘Ctrl’至邏輯高電平。另一方面，當使能信號‘en’在邏輯高電平被使能時，控制單元210響應比較信號‘com’，生成控制信號‘ctrl’。具體來說，如果使能信號‘en’在邏輯高電平被使能并且比較信號‘com’在邏輯高電平被使能，則控制單元210禁用控制信號‘Ctrl’至邏輯高電平，并且如果使能信號‘en’在邏輯高電平被使能并且比較信號‘com’在邏輯低電平被禁用，則使能控制信號‘Ctrl’至邏輯低電平。
[0024]控制單元210包括第七至第九反相器IV21至IV23和第二 NAND門ND21。第七反相器IV21接收比較信號‘com’。第二 NAND門ND21接收使能信號‘en’和第七反相器IV21的輸出信號。第八反相器IV22接收第二 NAND門ND21的輸出信號以輸出反相的控制信號‘ctrlb’。第九反相器IV23接收第八反相器IV22的輸出信號以輸出控制信號‘Ctrl’。
[0025]當控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能時，電壓節(jié)點電平控制單元220升高電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平，并且當控制信號‘Ctrl’在邏輯高電平被禁用時，降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。
[0026]如圖3所示，電壓節(jié)點電平控制單元220包括充電單元221和放電單元222。
[0027]當控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能時，充電單元221對電容器C21充電以升高電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。
[0028]充電單元221包括第一晶體管P21和電容器C21。第一晶體管P21具有配置成接收控制信號‘Ctrl’的柵極和配置成接收外部電壓VDD的源極。電容器C21的一端耦合到第一晶體管P21的漏極，而另一端耦合到接地端VSS。
[0029]當控制信號‘Ctrl’在邏輯高電平被禁用時，放電單元222使電容器C21放電以降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。另一方面，當控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能時，放電單元222基本上防止電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平降低。
[0030]放電單元222包括第二至第四晶體管N21、N22和P22。第二晶體管N21具有共同耦合到電壓節(jié)點‘V_node’的柵極和漏極。第三晶體管N22具有共同耦合到第二晶體管N21的源極的柵極和漏極，并且具有耦合到接地端VSS的源極。第四晶體管P22具有配置成接收控制信號‘Ctrl’的柵極、配置成接收外部電壓VDD的源極和耦合到第二和第三晶體管N21和N22共同耦合的節(jié)點的漏極。
[0031]在此，當溫度上升時，閾值電壓電平降低，由此第二和第三晶體管N21和N22增加從電壓節(jié)點‘V_node’流向接地端VSS的電流量。因此，當溫度上升時，電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度增加。另一方面，當溫度下降時，閾值電壓電平上升，由此第二和第三晶體管N21和N22減小從電壓節(jié)點‘V_node’流向接地端VSS的電流量。因此，當溫度下降時，電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度減小。
[0032]當溫度上升時，放電單元222使高于參考電平(Vref)電平的電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平更快速地降低到低于參考電壓(Vref)電平，并且當溫度下降時，放電單元222使高于參考電壓(Vref)電平的電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平更緩慢地降低到低于參考電壓(Vref)電平。另外，當控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能時，第四晶體管P22升高第二晶體管N21的源極的電壓電平以斷開第二晶體管N21。因此，當控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能時，放電單元222不降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平，并且只有當控制信號‘Ctrl’在邏輯高電平被禁用時，才降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。因此，由于第四晶體管P22確定放電單元222是否操作，第四晶體管P22可以稱為放電控制單元。[0033]比較單元230將電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平與參考電壓(Vref )電平進行比較以生成比較信號‘com’。具體來說，如果電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平低于參考電壓(Vref)電平，則比較單元230輸出在邏輯低電平被禁用的比較信號‘com’，并且如果電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平高于參考電壓(Vref)電平，則比較單元230輸出在邏輯高電平被使能的比較信號‘com’。
[0034]比較單元230包括第五至第九晶體管N23至N25，P23和P24。第五晶體管N23通過其柵極接收參考電壓Vref。第六晶體管N24具有耦合到電壓節(jié)點‘V_node’的柵極。第七晶體管N25具有配置成接收參考電壓Vref的柵極、耦合到第五和第六晶體管N23和N24的源極共同耦合至的節(jié)點的漏極，以及耦合到接地端VSS的源極。第八晶體管P23具有配置成接收外部電壓VDD的源極和耦合到第五晶體管N23的漏極的漏極。第九晶體管P24具有配置成接收外部電壓VDD的源極，以及共同耦合到第八晶體管P23的柵極和第六晶體管N24的漏極的共同耦合至的節(jié)點的柵極和漏極。
[0035]接著，頻分單元240響應反相的控制信號‘ctrlb’，生成溫度可變信號‘signal—temp’。具體來說，每當反相的控制信號‘ctrlb’轉變到邏輯高電平，頻分單元240就使溫度可變信號‘signal_temp’的電壓電平反相。這里，從頻分單元240輸出的溫度可變信號‘signal_temp’具有作為其初始值的邏輯低電平。
[0036]頻分單元240包括第十反相器IV24和觸發(fā)器FF21。觸發(fā)器FF21通過其時鐘輸入端接收反相的控制信號‘ctrlb’。第十反相器IV24接收觸發(fā)器FF21的輸出信號，以便將其輸出信號輸出作為觸發(fā)器FF21的輸入信號。這里，觸發(fā)器FF21的輸出信號被輸出作為溫度可變信號‘signal_temp’。
[0037]參考圖1，在溫度可變信號‘signal_temp’被使能的間隔期間，計數(shù)單元300對振蕩信號‘osc’計數(shù)，并且隨后生成溫度信息信號‘Temp_COde〈0:n>’。使用傳統(tǒng)的計數(shù)電路可以實現(xiàn)計數(shù)單元300。
[0038]下文將描述根據(jù)所公開的實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電路在這樣的結構中的操作。
[0039]首先，將描述在邏輯低電平被禁用的使能信號‘en’的狀態(tài)。此時，頻分單元240的輸出信號，即溫度可變信號‘signal_temp’處于邏輯低電平的禁用狀態(tài)。
[0040]參考圖3，在這種狀態(tài)下，由于使能信號‘en’處于邏輯低電平，控制單元210使控制信號‘Ctrl’禁用至邏輯高電平。相應地，由于反相的控制信號‘ctrlb’是控制信號‘Ctrl’的反相信號，則反相控制信號‘ctrlb’處于邏輯低電平。
[0041]另外，由于控制信號‘Ctrl’處于邏輯高電平，放電單元222降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。此時，由于電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平低于參考電壓(Vref)電平，比較單元230輸出在邏輯低電平被禁用的比較信號‘com’。
[0042]接著，將假定使能信號‘en’被使能至邏輯高電平。在這種狀態(tài)下，由于比較信號‘com’處于邏輯低電平和使能信號‘en’處于邏輯高電平，控制單元210將控制信號‘Ctrl’使能至邏輯低電平。因此，反相的控制信號‘ctrlb’轉變成邏輯高電平，從而頻分單元240將溫度可變信號‘signal_temp’轉變到邏輯高電平。
[0043]另外，由于控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能，放電單元222停止降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。同時，由于控制信號‘Ctrl’在邏輯低電平被使能，充電單元221對電容器C21充電以升高電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。此時，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平升高到高于參考電壓(Vref)電平時，比較單元230輸出在邏輯高電平被使能的比較信號‘com’。在這種狀態(tài)下，由于使能信號‘en’處于邏輯高電平以及比較信號‘com’處于邏輯高電平，控制單元210再次將控制信號‘Ctrl’禁用至邏輯高電平。在這種情況下，反相的控制信號‘ctrlb’也轉變成邏輯低電平。
[0044]另外，由于控制信號‘ ctrI ’在邏輯高電平被禁用，充電單元221停止對電容器C21的充電操作。同時，由于控制信號‘ ctrI ’被禁用至邏輯高電平，放電單元222使電容器C21放電以降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。此時，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平降低到低于參考電壓(Vref)電平時，比較單元230將比較信號‘com’禁用至邏輯低電平。因此，由于使能信號‘en’處于邏輯高電平以及比較信號‘com’處于邏輯低電平，控制單元210將控制信號‘Ctrl’再次使能至邏輯低電平。在這種情況下，反相的控制信號‘ctrlb’也再次轉變到邏輯高電平。因此，頻分單元240將在邏輯高電平被使能的溫度可變信號‘signal_temp’禁用至邏輯低電平。
[0045]用這種方式，溫度可變信號‘signal_temp’被使能至邏輯高電平,然后又被禁用至邏輯低電平。即，在溫度可變信號‘signal_temp’被使能和禁用的過程期間，根據(jù)所述實施例的溫度檢測電路對電容器C21充電和使電容器C21放電，并且基于電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平和參考電壓(Vref)電平的比較結果，使能和禁用溫度可變信號‘signal_temp’，由此重復地執(zhí)行該操作。
[0046]S卩，如果使能信號‘en’被使能，根據(jù)所述實施例的溫度可變信號發(fā)生單元200使能溫度可變信號‘signal_temp’，并對電容器C21充電以升高電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平。此后，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平升高到高于參考電壓(Vref)電平時，溫度可變信號發(fā)生單元200使電容器C21放電。隨著電容器C21被放電，當電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平降低到低于參考電壓(Vref)電平時，溫度可變信號發(fā)生單元200禁用溫度可變信號‘signal_temp’。此時,用來降低電壓節(jié)點‘V_node’的電壓電平也就是使電容器C21放電的第二和第三晶體管N21和N22以二極管結構彼此耦合，并且第二和第三晶體管N21和N22基于溫度變化控制電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度。具體來說，由于當溫度上升時，閾值電壓電平降低，則當溫度上升時，第二和第三晶體管N21和N22增加電壓節(jié)點‘V_node’的壓降寬度，并且當溫度下降時，第二和第三晶體管N21和N22減小電壓節(jié)點‘V_node’的壓降覽度。
[0047]結果，溫度可變信號發(fā)生單元200使能溫度可變信號‘signal_temp’，并且當溫度上升時，使溫度可變信號‘signal_temp’的禁用時間更早，以及當溫度下降時，使溫度可變信號‘signal_temp’的禁用時間更晚。
[0048]因此，只在溫度可變信號‘signal_temp’的使能間隔期間才對振蕩信號‘osc’計數(shù)的計數(shù)單元300輸出編碼信號即溫度信息信號‘Temp_COde〈0:n>’，當溫度上升時，溫度信息信號‘Temp_code〈0:n>’具有低計數(shù)值，以及當溫度下降時,溫度信息信號‘Temp_code〈0:n>’具有高計數(shù)值。
[0049]根據(jù)示例性實施例的半導體存儲裝置的溫度檢測電可以基于溫度變化，增加和減小溫度可變信號的使能間隔，以及在使能間隔期間對振蕩信號計數(shù)，從而最終輸出包含有關溫度變化的信息的多位編碼信號。[0050]盡管上面已經(jīng)描述了某些實施例，但本領域的技術人員將理解到上述實施例只是以實例的方式來描述。因此，在此所述的設備和方法不應當基于所述實施例進行限制。相反，結合上述說明和附圖考慮，在此所述的裝置僅受下述的權利要求的限制。
【權利要求】
1.一種半導體存儲裝置的溫度檢測電路，包括: 溫度可變信號發(fā)生單元，被配置成當使能信號被使能時，使能溫度可變信號，并且對電容器充電，以及當所述電容器的電壓電平升高到高于參考電壓電平時，使所述電容器放電，以及當所述電容器的電壓電平降低到低于所述參考電壓電平時，禁用所述溫度可變信號；以及 計數(shù)單元，被配置成在所述溫度可變信號的使能間隔期間，對振蕩信號計數(shù)來生成溫度信息信號。
2.如權利要求1所述的溫度檢測電路，其中，所述溫度信息信號包括多位編碼。
3.如權利要求2所述的溫度檢測電路，其中，所述溫度可變信號發(fā)生單元包括: 充電單元，被配置成當所述使能信號被使能時，將外部電壓施加到所述電容器以對所述電容器充電；以及 放電單元，被配置成當所述電容器的電壓電平升高到高于所述參考電壓電平時，使所述電容器放電，以及 所述溫度可變信號發(fā)生單元被配置成當所述使能信號被使能時，使能所述溫度可變信號，以及當所述電容器的電壓電平降低到低于所述參考電壓電平時，禁用所述溫度可變信號。
4.如權利要求3所述的溫度檢測電路，其中，所述放電單元包括: 第一晶體管，被配置成具有共同耦合到所述電容器的柵極和漏極； 第二晶體管，被配置成具有共同耦合到所述第一晶體管的源極的柵極和漏極，以及耦合到接地端的源極；以及 放電控制單元，被配置成當所述電容器的電壓電平降低到低于所述參考電壓電平時，升高所述第一晶體管和第二晶體管共同耦合到的節(jié)點的電壓電平。
5.如權利要求4所述的溫度檢測電路，其中，將所述第一晶體管和第二晶體管配置成當溫度上升時，升高從所述電容器流向所述接地端的電流量，以及當溫度下降時，降低從所述電容器流向所述接地端的電流量。
【文檔編號】G11C11/406GK103956178SQ201410079844
【公開日】2014年7月30日 申請日期:2009年12月18日 優(yōu)先權日:2009年6月16日
【發(fā)明者】金帝潤, 李鍾天 申請人:愛思開海力士有限公司