專利名稱：Plc中的sd卡檢測電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及自動(dòng)控制領(lǐng)域，特別是一種可編程邏輯控制器中的SD卡檢測電路。
背景技術(shù)：
SD卡(Secure Digital Memory Card,安全數(shù)碼存儲(chǔ)卡)是一種基于半導(dǎo)體快閃記憶器的新一代記憶設(shè)備，超小型的存儲(chǔ)卡產(chǎn)品Micro SD卡也開始被廣泛使用于各種便攜式裝置上。在工業(yè)領(lǐng)域中，很多型號(hào)的可編程邏輯控制器(PLC)也可以使用標(biāo)準(zhǔn)SD卡或MicroSD卡作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，在本實(shí)用新型中統(tǒng)稱為“SD卡”?！闱闆r下,SD卡的插入偵測是通過PLC中的卡槽機(jī)械結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)的。在SD卡插入之前機(jī)械偵測腳會(huì)被上拉，當(dāng)SD插入時(shí)會(huì)使該偵測腳和接地的外殼相連，這時(shí)偵測腳上的電平發(fā)生從高到低的變化，從而實(shí)現(xiàn)偵測功能。但是，因?yàn)殡姶鸥蓴_或者其它特殊原因，有可能出現(xiàn)卡槽外殼不能接地或機(jī)械偵測腳不能使用的情況，這時(shí)機(jī)械機(jī)構(gòu)的偵測腳就失去了作用，SD卡的偵測就會(huì)出現(xiàn)問題。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型的目的是提出一種PLC中的SD卡檢測電路，使得即使在機(jī)械結(jié)構(gòu)偵測腳失去作用的時(shí)候仍能夠準(zhǔn)確檢測SD卡的插入，從而提高SD卡檢測的穩(wěn)定性。根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供一種PLC中的SD卡檢測電路，所述檢測電路包括一反相器電路和一下拉電阻器，所述反相器電路一端與MCU的中斷輸入端口連接，另一端與PLC中一電接觸點(diǎn)連接,所述下拉電阻器一端與該電接觸點(diǎn)連接,另一端接地，其中，該電接觸點(diǎn)在SD卡插入PLC時(shí)與SD卡的DATA3管腳電接觸。優(yōu)選地，所述下拉電阻器的阻值大于SD卡內(nèi)部上拉電阻阻值的4倍。優(yōu)選地，當(dāng)SD卡內(nèi)部上拉電阻阻值為50kΩ時(shí)，所述下拉電阻器的阻值是220kQ。優(yōu)選地，所述SD卡包括標(biāo)準(zhǔn)SD卡和Micro SD卡。從上述方案中可以看出，由于本實(shí)用新型的SD卡檢測電路通過MCU的中斷檢測來實(shí)現(xiàn)SD卡插入的檢測，使得即使在機(jī)械結(jié)構(gòu)偵測腳失去作用的時(shí)候仍能夠準(zhǔn)確地檢測SD卡的插入，從而提高了 SD卡檢測的穩(wěn)定性。

下面將通過參照附圖詳細(xì)描述本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，使本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員更清楚本實(shí)用新型的上述及其它特征和優(yōu)點(diǎn)，附圖中:圖1是本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
中SD卡插入PLC前SD卡檢測電路的電路示意圖；圖2是本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
中SD卡插入PLC后SD卡檢測電路的電路示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下舉實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖1是本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
中SD卡插入PLC前SD卡檢測電路的電路示意圖。其中，P3V3代表PLC的3.3V供電電源，V_I/0點(diǎn)代表MCU的電源接口，電阻3為MCU中連接在該電源接口與中斷輸入端口 B之間的內(nèi)部上拉電阻。如圖1所示，在一個(gè)具體實(shí)施方式
中，本實(shí)用新型的SD卡檢測電路包括反相器電路I和下拉電阻器2。其中，反相器電路I的一端與MCU的中斷輸入端口 B連接，另一端與PLC中的電接觸點(diǎn)A連接，該下拉電阻器2的一端與該電接觸點(diǎn)A連接，另一端接地。即，如圖1所示的SD卡插入前的狀態(tài)下，該反相器電路I和該下拉電阻器2在MCU的中斷輸入端口 B與地之間串聯(lián)連接，該反相器電路I和該下拉電阻器2之間存在電接觸點(diǎn)A。其中，該電接觸點(diǎn)A在SD卡插入PLC之后會(huì)與該SD卡的DATA3管腳發(fā)生電接觸。如圖1所示，在SD卡插入PLC之前，由于反相器電路I的阻值通常遠(yuǎn)大于該下拉電阻器2，因此電接觸點(diǎn)A為下拉后的低電平，經(jīng)過反相器電路I之后的MCU中斷輸入端口B點(diǎn)則為高電平(邏輯I)。圖2是本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
中SD卡插入PLC后SD卡檢測電路的電路示意圖。如圖2所示，此時(shí)SD卡的DATA3管腳與電接觸點(diǎn)A發(fā)生電接觸。電阻4是SD卡內(nèi)部的上拉電阻，其在SD卡插入PLC之后等效連接在3.3V供電電源與DATA3管腳(電接觸點(diǎn)A)之間。本實(shí)用新型中SD卡檢測電路中的下拉電阻器2的阻值明顯大于SD卡內(nèi)部的該上拉電阻4，例如大于該上拉電阻4阻值的4倍。在一個(gè)具體實(shí)施方式
中，該上拉電阻4阻值為50k Ω，而下拉電阻器2的阻值為220k Ω。如圖2所示，在SD卡插入PLC之后，由于該上拉電阻4和阻值明顯大于該上拉電阻4的下拉電阻器2串聯(lián)在供電電源與地之間，因此電接觸點(diǎn)A為上拉后的高電平，經(jīng)過反相器電路I之后的MCU中斷輸入端口 B點(diǎn)則為低電平(邏輯O)。由此可見，本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
中的SD卡檢測電路可以復(fù)用SD卡的DATA3管腳，通過MCU的中斷輸入端口 B的電平變化來觸發(fā)MCU的中斷信號(hào)，從而檢測SD卡的插入。這樣，即使在用于檢測SD插入的機(jī)械結(jié)構(gòu)偵測腳失去作用的時(shí)候仍能夠準(zhǔn)確地檢測SD卡的插入，從而提高了 SD卡檢測的穩(wěn)定性。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種PLC中的SD卡檢測電路，其特征在于，所述檢測電路包括一反相器電路和一下拉電阻器，所述反相器電路一端與MCU的中斷輸入端口連接，另一端與PLC中一電接觸點(diǎn)連接，所述下拉電阻器一端與該電接觸點(diǎn)連接，另一端接地， 其中，該電接觸點(diǎn)在SD卡插入PLC時(shí)與SD卡的DATA3管腳電接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD卡檢測電路，其特征在于，所述下拉電阻器的阻值大于SD卡內(nèi)部上拉電阻的阻值的4倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SD卡檢測電路，其特征在于，當(dāng)SD卡內(nèi)部上拉電阻的阻值為50kΩ時(shí)，所述下拉電阻器的阻值是220kQ。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD卡檢測電路，其特征在于，所述SD卡包括標(biāo)準(zhǔn)SD卡和Micro SD 卡。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種PLC中的SD卡檢測電路，該檢測電路包括一反相器電路和一下拉電阻器，該反相器電路一端與MCU的中斷輸入端口連接，另一端與PLC中一電接觸點(diǎn)連接，該下拉電阻器一端與該電接觸點(diǎn)連接，另一端接地，其中該電接觸點(diǎn)在SD卡插入PLC時(shí)與SD卡的DATA3管腳電接觸。本實(shí)用新型的SD卡檢測電路通過MCU的中斷檢測來實(shí)現(xiàn)SD卡插入的檢測，使得即使在機(jī)械結(jié)構(gòu)偵測腳失去作用的時(shí)候仍能夠準(zhǔn)確地檢測SD卡的插入，從而提高了SD卡檢測的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G11C29/56GK202976859SQ20122064081
公開日2013年6月5日 申請(qǐng)日期2012年11月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月28日
發(fā)明者王曉惠, 陳東山 申請(qǐng)人:西門子公司