專利名稱：：光拾取裝置的評價方法、測試盤及光盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種光拾取裝置的評價方法以及測試盤，特別適合在評價HDDVD(High—DefinitionDigitalVersatileDisc)的記錄/再生中使用的光拾取裝置的特性時應用。再有，本發(fā)明涉及一種根據(jù)上述評價方法以及測試盤認為適當?shù)墓馐叭⊙b置中適用的光盤。
背景技術(shù)：
：現(xiàn)在，作為下一代光盤，正在進行HDDVD(以下，稱為"HD")的商品化。在直徑12cm的HD中，在一個記錄層就能記錄15G字節(jié)的數(shù)據(jù)，在各面各具有2層記錄層的兩面2層型的HD中，合計能記錄60G字節(jié)的數(shù)據(jù)。在這樣，疊層2個記錄層的HD中，能顯著提高記錄容量。但是，另一方面，會產(chǎn)生了層間串擾以及層間分離的問題，因此，在HD用的光拾取裝置中，必須要求高的光學性能。圖6(a)以及(b)，分別表示對2層型的DVD以及HD進行聚焦搜索時的聚焦誤差信號的理想波形的圖。如圖所示，如果在這些記錄裝置中進行聚焦搜索的話，激光的焦點在第1個記錄層(層L0)與第2個記錄層(層L1)上分別接近時產(chǎn)生S形曲線SO、Sl。這些S形曲線S0、Sl與基準等級(出現(xiàn)S形曲線的前后的區(qū)域中的聚焦誤差信號的等級)相交叉的位置F0、F1，為層L0、L1所對應的激光的在焦(onfocus)位置。如果激光的焦點在這些記錄層之間配置的中間層(ML)移動的話，聚焦誤差信號就變得平坦。在HD中，為了盤片的高密度化而使再生波長變短等，其結(jié)果，使得層L0、Ll間的間隙為DVD的一半左右，因此如該圖(a)以及(b)所示，聚焦誤差信號上，中間層(ML)所對應的區(qū)域(以下，稱為"ML區(qū)間")，HD比DVD小的多。因此，在HD中，很難從聚焦誤差信號檢測出ML區(qū)間。g卩，在HD中，很難分離S形曲線S0、Sl。這里，在該圖(b)中，表示了理想的聚焦誤差信號，但如果光拾取裝置的光學特性比理想光學系統(tǒng)差的話，則如該圖(c)所示，ML區(qū)間中聚焦誤差信號并不平坦，該區(qū)間的信號，成為從基準等級起向上抬起并傾斜的狀態(tài)。這種傾向會使光學特性的惡化更顯著(參照該圖(d))。因此，如果象這樣光學特性的惡化更進一步的話，在圖中，用虛線圓圍住的部分的信號W就會漸漸與前后的S形曲線同化，盤片裝置一側(cè)中不能順利判別的ML區(qū)間。這樣，在HD中，原本就短很難判別的ML區(qū)間，由于光拾取裝置的光學特性的惡化變得更難判別了。如果ML區(qū)間的判別變得困難的話，就會很難判別2個S形曲線S0、Sl的邊界，例如，不能順利進行使讀取位置在層間跳躍時的動作。通常，在將光拾取裝置的讀取位置從層LO轉(zhuǎn)換成層Ll時，必須識別作為跳躍目的地層的層L1的S形曲線S1。然而，如上所述，如果ML區(qū)間傾斜而與前后的S形曲線同化，則S形曲線SO、Sl的邊界就變得不清楚，在裝置側(cè)，存在不能順利判別層Ll的S形曲線Sl的開始端的問題。這樣的話，就不能進行向?qū)?的跳躍動作，其結(jié)果，在向?qū)?的跳躍動作未完時就結(jié)束了。這時，進行聚焦搜索，進行對層l的導入。但是，因為要進行該動作，會延遲向?qū)?的移轉(zhuǎn)時間。如果象這樣延遲移轉(zhuǎn)的話，就會延遲開始對層l的再生，其結(jié)果，存在不能保證數(shù)據(jù)的無縫性的問題。在跨層間記錄有電影內(nèi)容等時，如果像這樣無縫性發(fā)生問題的的話，就會產(chǎn)生圖像不連續(xù)等的不希望的情形，因此，就會存在顯著損害播放機的商品價值的問題。為了預先回避這樣的問題，在HD播放機裝載的光拾取裝置中，就必須具有能適當分離2個S形曲線的性能(以下，稱為"層間分離特性")。另外，在以下的專利文獻l中，記載了根據(jù)在用光檢測器接受透過板狀材料的激光時輸出的信號的脈沖形狀，來評價光拾取裝置的性能的方法。專利文獻h日本國特開2004—310952號公報
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明正是為了解決上述課題而提出的，其目的為提供一種能順利評價光拾取裝置中的S形曲線的分離性能(層間分離特性)的評價方法以及其使用的測試盤。再有，本發(fā)明的目的還提供一種根據(jù)該評價方法以及測試盤認為適當?shù)墓馐叭⊙b置中適用的光盤。本發(fā)明鑒于上述課題，具有以下特征。本發(fā)明的第l發(fā)明，為一種光拾取裝置的評價方法，使用在疊層方向上具有多個記錄層的測試盤對光拾取裝置的性能進行評價，其特征在于，包括第1工序，使評價對象的光拾取裝置，進行對上述測試盤的聚焦搜索；第2工序，根據(jù)在上述第1工序中對上述光拾取裝置取得的聚焦誤差信號，檢測該聚焦誤差信號上連續(xù)出現(xiàn)的第1以及第2個S形曲線的分離度；禾口，第3工序，判定用上述第2工序檢測出的上述分離度是否在閾值范圍內(nèi)，上述第2工序，判定在上述第1個S形曲線與上述第2個S形曲線之間存在的上述聚焦誤差信號的平坦區(qū)間(B)，根據(jù)該平坦區(qū)間(B)與上述第l以及第2個S形曲線的間隔(A)的比率，檢測上述分離度。本發(fā)明的第2發(fā)明為根據(jù)第1發(fā)明所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第2工序具有求出第l切線的工序，該第l切線是在從上述第1個S形曲線的第2個峰值位置起到終止端為止的區(qū)間的預先決定的位置上對該第1個S形曲線引出的切線；求出第2切線的工序，該第2切線是在從上述第2個S形曲線的開始端起到第1個峰值位置為止的區(qū)間的預先決定的位置上對該第2個S形曲線引出的切線；和，取得上述平坦區(qū)間(B)的工序，該平坦區(qū)間為上述聚焦誤差信號的基準等級與上述第1切線相交的第1交點、和上述基準等級與上述第2切線相交的第2交點之間的區(qū)間。本發(fā)明的第3發(fā)明為根據(jù)第2發(fā)明所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第1切線，在相對于上述第1個S形曲線的第2個峰值的振幅為給定比例大小的上述第1個S形曲線上的位置上求出，上述7第2切線，在相對于上述第2個S形曲線的第1個峰值的振幅為大小與上述比例同樣的比例的上述第2個S形曲線上的位置上求出。本發(fā)明的第4發(fā)明為根據(jù)第2發(fā)明所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第1切線，在從上述第1個S形曲線的第2個峰值往終止端側(cè)錯位給定的信號區(qū)間后的上述第1個S形曲線的位置上求出，上述第2切線，在從上述第2個S形曲線的第1個峰值往開始端側(cè)錯位與上述信號區(qū)間相同的信號區(qū)間后的上述第2個S形曲線的位置上求出。本發(fā)明的第5發(fā)明為根據(jù)第1至4中的任一項發(fā)明所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述測試盤中，相鄰的上述記錄層的標準間隔設定為20pm，上述分離度，通過B/A的計算求出，上述第3工序中，判定B/A是否為0.1以上或者超過O.l。本發(fā)明的第6發(fā)明為一種測試盤，用于評價光拾取裝置的性能，其特征在于，在疊層方向上具有多個記錄層，將相鄰的上述記錄層間的標準間隔設定為從131im開始到40^im為止的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第7發(fā)明為根據(jù)第6發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為從20|im開始到35pm為止的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第8發(fā)明為根據(jù)第6發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為從25pm開始到3(^m為止的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第9發(fā)明為根據(jù)第6發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為20(im。本發(fā)明的第IO發(fā)明為一種測試盤，為本發(fā)明的第1中所述的評價方法中使用的測試盤，其特征在于，在用具有基準光學系統(tǒng)的光拾取裝置進行上述工序1至3得到的上述參數(shù)值A以及B，并據(jù)此求出B/A時，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得B/A的標準值包含在0.1至0.7的范圍內(nèi)的值。本發(fā)明的第11發(fā)明為根據(jù)第IO發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.2至0.6的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第12發(fā)明為根據(jù)第10發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.4至0.5的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第13發(fā)明為根據(jù)第10發(fā)明所述的測試盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值是0.2。本發(fā)明的第14發(fā)明為一種再生專用的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得B/A的標準值包含在從0.1到0.7的范圍內(nèi)，其中B/A表示，在用具有基準光學系統(tǒng)的光拾取裝置對該光盤進行聚焦搜索時，在聚焦誤差信號上連續(xù)出現(xiàn)的第1以及第2個S形曲線間的平坦區(qū)間(B)與上述第1以及第2個S形曲線的間隔(A)的比率。本發(fā)明的第15發(fā)明為根據(jù)第14發(fā)明所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.2到0.6的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第16發(fā)明為根據(jù)第14發(fā)明所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.4到0.5的范圍內(nèi)。本發(fā)明的第17發(fā)明為根據(jù)第14發(fā)明所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值是0.2。另外，所謂本發(fā)明的第2發(fā)明所述的"標準等級"，是S形曲線出現(xiàn)前后的區(qū)間中的聚焦誤差信號的信號等級。另外，所謂本發(fā)明的第5至9發(fā)明所述的"標準間隔"，是在不存在因形成誤差等引起的間隔變化時的記錄層間的間隔。例如，"標準間隔"，相當于對記錄層間的間隔在測試盤的全部區(qū)域內(nèi)進行平均化時的間隔。另外，所謂本發(fā)明的第10至13發(fā)明以及本發(fā)明的第14至17發(fā)明所述的"標準值"，是在不存在因形成誤差等引起的記錄層間的間隔變化時，對標準光學系統(tǒng)求出的B/A的值。例如，"標準值"相當于對該B/A的值在測試盤的全部區(qū)域內(nèi)進行平均化時的間隔。再有，所謂本發(fā)明的第10以及14發(fā)明所述的"基準光學系統(tǒng)"，是光學設計值以及光學設計正規(guī)的光學系統(tǒng)。例如，"基準光學系統(tǒng)"的光學設計值，為HDDVD標準中規(guī)定的光學設計值的容許范圍的中心值。根據(jù)本發(fā)明，能順利地評價光拾取裝置中的S形曲線地分離性能(層間分離特性)。通過由本發(fā)明來管理特性，能提供層間分離性能均一的光拾取裝置。另外，光盤只要具有本發(fā)明的第14至17發(fā)明的特征，就能通過這樣管理特性的光拾取裝置來順利地再生該光盤。各本發(fā)明的第發(fā)明效果以及意義，通過以下所述的實施方式的說明能清楚理解。但是，以下的實施方式，只是將本發(fā)明實施化的一個示例，本發(fā)明以及各構(gòu)成要素的術(shù)語的意義，并不限制于以下的實施方式所述的內(nèi)容。圖1是表示實施方式的測試盤10的構(gòu)成的圖。圖2是表示實施方式的測試盤10的區(qū)域格式的圖。圖3是說明實施方式的平坦區(qū)間的時間長B的測定方法的圖。圖4是表示實施方式的光拾取裝置的評價方法的流程圖。圖5是說明實施方式的閾值a的設定方法的圖。圖6是說明本發(fā)明的課題的圖。圖中10—測試盤，ll一基板，12—記錄層，13—中間層，14一記錄層，15—基板，100—光拾取裝置。具體實施例方式以下，參照本發(fā)明的實施方式。本實施方式中，在評價可對應HD的光拾取裝置的特性時的評價方法中應用本發(fā)明。首先，圖1表示在光拾取裝置的評價中使用的測試盤10的構(gòu)成。測試盤10，具有與再生專用型的HDDVD—ROM大致相同的物理格式。如圖所示，測試盤10在基板11上，具有以記錄層12、中間層13、記錄層14、基板15和印刷層16的順序疊層的構(gòu)造。在這里，中間層的厚度(記錄層12、14間的間隔)和基板ll、15的厚度以及折射率，如下設定。(1)基板ll、15的厚度0.590(mm)(2)基板ll、15的折射率1.6(波長405nm時)(3)中間層13的厚度20pm基板ll、15由聚碳酸酯等、容易透過波長400nm左右的激光的材料形成。此外，作為形成基板ll、15的材料，也能使用以聚烯烴以及聚乙烯乳酸等為主成分的生物降解材料?；?1、15由使用具有軌跡圖案(凹點列)的壓模的噴射模塑法而形成。在基板11、15的表面上，轉(zhuǎn)印壓模上的軌跡圖案。另外，也能由玻璃材料形成基板11、15的雙方或者任何一方。該情況下，在比0.590mm還稍薄的玻璃板上涂紫外線固化樹脂，在其上壓上具有上述軌跡圖案的壓模后照射紫外線。之后，通過從玻璃板分離壓模，玻璃板上被轉(zhuǎn)印軌跡圖案。這種情況下，進行調(diào)整，使得玻璃板與紫外線固化樹脂的層加起來的厚度為0.590(mm)。這樣，通過由玻璃材料形成基板11、15的雙方或者任何一方，能抑制測試盤IO的翹曲以及面抖動。另外，特別是優(yōu)選用玻璃形成基板11。這樣做，即使在光拾取裝置100的特性評價時萬一物鏡與基板11表面沖撞，也能防止基板ll表面受創(chuàng)傷，能提高測試盤io的耐久性。另外，若基板15也由玻璃形成，能更徹底地抑制測試盤10的翹曲以及面抖動，能更順利地進行光拾取裝置的特性評價。再有，因為由于測定時的溫度變化以及濕度變化而產(chǎn)生的翹曲以及面抖動不易產(chǎn)生，因此非常有利?；錶l、15為玻璃時，由于減少了翹曲以及面抖動，因此在光拾取裝置的評價時這些影響得以減少，不易產(chǎn)生測定的偏差。記錄層12，由銀合金等的半透過性材料形成。另外，記錄層14由鋁以及銀等的高反射率材料形成。這些記錄層12、14，通過濺射等的手法，在轉(zhuǎn)印有軌跡圖案的基板11、15的表面上薄膜狀形成。中間層13，由對波長400nm左右的光的吸收率低的紫外線固化樹脂形成。中間層13，作為粘合疊層有記錄層12的基板11、和疊層有記錄層14的基板15時的粘結(jié)層發(fā)揮作用。在粘合時，在記錄層12的表面上，涂敷形成中間層13的紫外線固化樹脂，在其上，從記錄層14側(cè)重合基板15。之后，從基板ll側(cè)照射紫外線來固化紫外線固化樹脂。ii由此，形成中間層13，該中間層13作為媒介，粘合基板11與基板15。另外，在這里，將基板ll、15的厚度設為0.590mm，將折射率設為1.6，但并不限定于此，基板ll、15的厚度也可以是0.570.63mm，折射率也可以是1.51.7(在波長400410的范圍中)。圖2表示測試盤10的區(qū)域格式。層0(記錄層12)，從盤內(nèi)周側(cè)起，依次區(qū)域分割為系統(tǒng)導入?yún)^(qū)域、連接區(qū)域、數(shù)據(jù)導入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、中間區(qū)域。另外，層l(記錄層14)從盤內(nèi)周側(cè)起，依次區(qū)域分割為突發(fā)分割區(qū)(BCA:BurstCuttingArea)、系統(tǒng)導出區(qū)域、連接區(qū)域、數(shù)據(jù)導出區(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、中間區(qū)域。另外，在層O中沒有配置BCA。在BCA中，通過使平坦的記錄層14在盤圓周方向上間歇消失，記錄有所依照的規(guī)格書的登記信息等。另外，記錄層14的消失，例如通過使用高功率激光器燒斷記錄層14來進行。在系統(tǒng)導入?yún)^(qū)域中，螺旋狀排列凹點列，由此，記錄與該測試盤IO的物理參數(shù)(凹點大小，軌道間距)相關(guān)的信息。連接區(qū)域與層O、l一起形成平坦的鏡面。在層O的數(shù)據(jù)導入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、中間區(qū)域中，螺旋狀地形成凹點列。在層1的數(shù)據(jù)導出區(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、中間區(qū)域中，也螺旋狀形成凹點列。但是，該凹點列與層O的凹點列反方向旋轉(zhuǎn)。在系統(tǒng)導出區(qū)域中，記錄有給定的信息。另外，本實施方式中的測試盤10的物理格式如下表所示。表1系統(tǒng)導入?yún)^(qū)域系統(tǒng)導出區(qū)域數(shù)據(jù)區(qū)域數(shù)據(jù)位長0.36um0.153um信道位長0.204um0.102um最小凹點長(2T)0.408um0.204腿最大凹點長(13T)2.652匿1.326um軌道間距0.68um0,4碰盤直徑12cm12<table>tableseeoriginaldocumentpage13</column></row><table>接著，說明光拾取裝置的評價方法。首先，參照圖3說明在2個S形曲線之間出現(xiàn)的平坦區(qū)間的時間長B的測定手法。該圖(a)是示意表示使用評價對象的光拾取裝置來對上述測試盤10進行聚焦搜索時的聚焦誤差信號的波形的圖。如圖所示，對測試盤IO進行聚焦搜索后，就會在聚焦誤差信號上出現(xiàn)2個S形曲線S0、Sl。如上面以往技術(shù)所述，中間層13對應的ML區(qū)間的信號W，由于光拾取裝置的層間分離特性不斷惡化，逐漸與前后的S形曲線SO、SI同化了。因此，信號W的平坦區(qū)間由于光拾取裝置的層間分離特性不斷惡化而變短了。該圖(b)是說明平坦區(qū)間的時間長B的測定方法的圖。在該測定方法中，首先，對上述2個S形曲線S0、S1求出切線L0、Ll。這里，切線LO如圖所示，在聚焦誤差信號為S形曲線SO的第2個峰值的振幅Pb的1/2大小的位置上被求出，另外，切線L1在聚焦誤差信號為S形曲線S1的第1個峰值的振幅Pa的1/2大小的位置上被求出。接著，求出聚焦誤差信號的基準等級與切線LO、Ll相交的2個交點，這些交點間的時間幅，設為平坦區(qū)間的時間長B。另外，在這里，雖然在聚焦誤差信號為峰值振幅Pb、Pa的l/2大小的位置上求出了切線LO、Ll，但只要在相對峰值振幅Pb、Pa為相同比率的位置上求出切線LO、Ll就可以，例如，也可以在聚焦誤差信號為峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切線L0、Ll。另外，在這里，雖然規(guī)定了由峰值振幅Pb、Pa所對應的比率求出切線L0、Ll的位置，但如該圖(b)所示，也可以從S形曲線S0的第2個峰值時刻與S形曲線Sl的第1個峰值時刻起、往ML區(qū)間一側(cè)分別移動相同的時間幅At得到的聚焦誤差信號的位置上，求出切線L0、Ll。在本實施方式中，如此求出平坦區(qū)間的時間長B，再有，在求出該圖(a)所示的S形曲線SO、Sl間的時間間隔A的基礎上，計算B/A，將其計算結(jié)果設為S形曲線SO、Sl的分離度。在這里，時間間隔A，通過測定S形曲線SO、Sl與基準等級分別相交的2個焦點間的間隔來求出。這樣求出的分離度如下所述，適合作為表示S形曲線SO、Sl的分離情況的指標。艮口，中間層13所對應的ML區(qū)間的信號W，隨著光拾取裝置的層間分離特性惡化，逐漸從基準等級起抬高并從平坦變?yōu)閮A斜，存在與前后的S形曲線SO、Sl同化的傾向。參照該圖(b)可知，如果相對前后的S形曲線SO、Sl的信號W進一步同化的話，前后的S形曲線SO、Sl的波形的傾斜度就變緩了，并且，切線LO、Ll的傾斜度也變緩了。如果象這樣切線LO、Ll的傾斜度變緩的話，這些切線LO、Ll與基準等級的交點的間隔就會縮小，平坦區(qū)間的時間長B就變短了。因此，如果相對于前后的S形曲線SO、S1的信號W進一步同化、S形曲線SO、Sl的分離情況下降的話，平坦區(qū)間的時間長B就會變短。另外，時間間隔A與S形曲線SO、Sl的分離情況無關(guān)，總為固定值。因此，計算B/A的話，其結(jié)果就表示平坦區(qū)間的時間長B的長短的程度，S卩，S形曲線SO、Sl的分離情況。圖4是表示評價光拾取裝置的特性時的流程的流程圖。參照圖4(a)，在特性評價時，首先，使用評價對象的光拾取裝置，對測試盤10進行聚焦搜索(S101)。接著，如上所述，求出該聚焦搜索時取得的聚焦誤差信號上的2個S.形曲線SO、Sl的時間間隔A(S102)。另外，如參照上述圖3(b)說明的那樣，對于S形曲線SO、Sl，求出切線LO、Ll(S103)。這里，如上述圖3(b)所示，在為峰值振幅Pb、Pa的1/2大小的位置上求出切線L0、Ll。接著，求出切線LO、Ll與聚焦誤差信號的基準等級相交的交點間的時間間隔，作為平坦區(qū)間的時間長B(S104)。這樣求出時間間隔A與時間長B后，接著，計算B/A，對其計算結(jié)果是否為預先決定的閾值a以上進行判別(S105)。如上所述，在測試盤10的中間層13的厚度為20nm時，閾值ot設定成a二O.l。這里，如果B/A^a的話(S105:YES)，評價為該光拾取裝置的層間分離特性合適(S106)。另外，如果不是B/A^a的話(S105:NO)，評價為該光拾取裝置的層間分離特性不合適(S107)。另外，在圖4(a)的流程S103中，雖然在為峰值振幅Pb、Pa的1/2大小的位置上求出切線LO、Ll，但也可以在為峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切線L0、Ll。另外，如圖4(b)的S110所示，也可以從S形曲線S0的第2個峰值時刻和S形曲線Sl的第1個峰值時刻起、往ML區(qū)間側(cè)分別移動相同的時間幅At得到的聚焦誤差信號的位置上，求出切線L0、Ll。圖4(b)的其它的步驟，與該圖(a)相同。另外，在S105中，雖然判別計算值B/A是否為a(=0.1)以上，但也可以判別其是否超過a(二O.l)。接著，參照圖5(a)，說明上述閾值a的設定方法。該圖(a)是表示在使測試盤10的中間層13的厚度不斷變化的情況下，使用具備基準光學系統(tǒng)的光拾取裝置實測上述計算值B/A的測定結(jié)果的圖。實測值在該圖中表示為標繪圖(plot)。另外，所謂"基準光學系統(tǒng)"，就是光學設計值以及光學設計正規(guī)的光學系統(tǒng)。這里，基準光學系統(tǒng)的激光波長X與物鏡的數(shù)值孔徑(NA)，分別設定為X二405nm，NA=0.65。另夕卜，上述圖3中的切線L0、Ll，被在為峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出。即使在為峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切線L0、Ll，中間層13的厚度與計算值B/A的關(guān)系，也與圖5(a)的情況大致相同。參照圖5(a)，在將測試盤10的中間層13的厚度如上所述設定成2(Hmi時，對基準光學系統(tǒng)實測的計算值B/A，稍微超過0.2。因此，上述的情況下，如果計算值B/A為0.2以上的話，就評價認為評價對象的光拾取裝置的層間分離特性合適。但是，中間層13的厚度，會因測試盤10的形成誤差等，而導致有可能產(chǎn)生以20^im為中心的搖擺。因此，如果在評價時，進行聚焦搜索的區(qū)域的中間層13的厚度從20pm變動了的話，即使層間分離特性合適，計算值B/A也有可能低于0.2。例如，假設盤全面中的變動幅度的最大值為7pm，評價時進行聚焦搜索的區(qū)域就是該最大變動幅度的位置的話，此時的中間層13的厚度就變成了13|im。這時，如果由具有與基準光學系統(tǒng)同等的層間分離特性的光拾取裝置進行評價的話，參照圖5(a)可知，計算值B/A變成0.1左右。在上述圖4的流程圖中，為了在這種情況下也判別光拾取裝置的層間分離特性合適，將閾值a設定成a二O.l。另外，在嚴格進行評價、要求層間分離特性合適時，優(yōu)選將閾值cc設定成0.10.2的范圍內(nèi)。另外，在上述說明中，為了將測試盤10的中間層13的厚度設定成20|im，考慮到盤片導致的偏差，將閾值ot設定成了O.l，但是例如，在測試盤10的中間層13的厚度設定成30pm時，根據(jù)圖5(a)，將閾值a設定成0.4左右。這樣，閾值a對應于測試盤10的中間層13的厚度做適當變更。如上所述，根據(jù)本實施方式，能順利地且適當?shù)卦u價光拾取裝置的層間分離特性。另外，按照上述圖4的流程圖的評價，優(yōu)選在凹點長和軌道間距不同的系統(tǒng)導入?yún)^(qū)域/系統(tǒng)導出區(qū)域以及數(shù)據(jù)區(qū)域(圖2的數(shù)據(jù)/數(shù)據(jù)導入/數(shù)據(jù)導出)的雙方來進行，另外，希望在測試盤10的內(nèi)周部、中周部、外周部來進行。這樣的話，就能確認即使在軌道間距與標記(mark)長不同導致光學的干擾不同時，也能正確地進行層間分離。另外，在沒有凹點的連接區(qū)域中也可以進行測定評價。再有，在上述實施方式中，雖然在測試盤IO上形成了凹點，但也可以不形成凹點，將記錄層12、14用鏡面形成。這時，因為在連接區(qū)域等的鏡面中沒有凹點以及軌道，因此能在基于此的沒有光學干擾的狀態(tài)下確認光拾取裝置的特性。然而，雖然在上述實施方式中，將測試盤10的中間層13的厚度設定成20nm，但也可以設定成此之外的厚度。參照圖5(a)，在中間層13的厚度為1340pm的范圍時，中間層13的厚度與計算值B/A的關(guān)系為線性關(guān)系，該范圍的前后，兩者的關(guān)系急劇變化。即，中間層13的厚度比13nm小時，計算值B/A急劇降低，一般認為這是因為層間串擾的影響。圖5(b)仿真了中間層13的厚度與層間串擾(xtalk)的關(guān)系。從該圖可知，層間串擾(xtalk)在記錄層12、14的間隔(中間層13的厚度)越小時越大，間隔在14pm以下時達到了50%以上。在該圖(a)的實測結(jié)果中，之所以中間層13的厚度若比13pm小則計算值b/a急劇降低，是因為層間串擾導致S形曲線SO、Sl的分離達到了界限。因此，測試盤10的中間層13的厚度，必須設定為13pm以上。因為在中間層13的厚度為13pm時，根據(jù)基準光學系統(tǒng)測定時的計算值B/A為0.1，因此在用計算值B/A規(guī)定中間層13的厚度時，必須將中間層13的厚度設定為使得計算值B/A為0.1以上。另外，在中間層13的厚度超過40pm時，計算值B/A急劇降低。這是因為產(chǎn)生了球面像差，表示出若中間層13的厚度超過40|am就不能得到基于層間隔的正確的S形曲線。這時的計算值B/A為0.7。因此，測試盤10的中間層13的厚度必須設定為40pm以下，或者使計算值B/A為0.7以下。如上所述，中間層13的厚度必須設定為131im4(Him左右。但是，這是在假設中間層13的厚度不變時的情況，實際上，如上所述，由于盤形成誤差等，中間層13的厚度會有偏差。因此，考慮該偏差的話，測試盤10的中間層13的厚度優(yōu)選設定為20^im35pm左右，進一步限定的話，為了進行更安定的評價，優(yōu)選設定為25pm30^im左右。另外，在用計算值B/A規(guī)定中間層13的厚度時，中間層13的厚度必須設定為使計算值B/A為0.10.7左右。但是，這也與上述的情況相同，假設為中間層13的厚度不變的情況。因此，考慮該偏差的話，測試盤10的中間層13的厚度優(yōu)選設定成使計算值B/A為0.20.6左右，進一步限定的話，優(yōu)選設定成使計算值B/A為0.40.5左右時的值。基于本實施方式的評價也可以在盤靜止的狀態(tài)下進行。這是因為在測試盤10為ROM盤時，不照射相當強的激光就不會變形的緣故，如果像這樣在靜止的狀態(tài)下進行評價的話，就能抑制基于盤旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)抖動的影響，能提高測定精度。本實施方式中的評價方法，是適合用在能將表1所示的盤參數(shù)的數(shù)據(jù)正確再生的光拾取裝置中的檢查方法，適于對如下所述的光拾取裝置進行檢査，該光拾取裝置具備N.A.為0.60.9、激光波長為395420nm的范圍的光學系統(tǒng)，且能再生基板的折射率在1.41.75的范圍內(nèi)、基板ii的厚度為0.580.65、最短凹點長(2T)為0.408pm以下(系統(tǒng)17導入)以及軌道間距為0.68pm以下(系統(tǒng)導入)的高密度多層光盤。以上，說明了本發(fā)明的實施方式，但本發(fā)明并不只限于上述實施方式，另外，本發(fā)明的實施方式也能為上述以外的各種變更。例如，本發(fā)明也能適用于層間窄、且層分離重要的多層藍光盤(BD:Blue-rayDisc)的記錄/再生中使用的光拾取裝置的特性評價，以及為此使用的測試盤。因為，雖然藍光盤中，記錄層間的厚度與HD相同，但保護層的厚度與HD的基板厚度不相同，因此通過將上述實施方式的測試盤10的基板11設定為厚度0.1pm的保護層，就能作成藍光盤用的測試盤。另外，雖然上述說明中表示了測試盤中的層間間隔的范圍，但只要將再生專用盤設定為與測試盤中的層間間隔相同的范圍，就能用上述評價方法認為適當?shù)墓馐叭⊙b置，順利地再生該再生專用盤。本發(fā)明的實施方式能在權(quán)利要求的范圍所示的技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進行適當?shù)母鞣N的變更。18權(quán)利要求1.一種光拾取裝置的評價方法，使用在疊層方向上具有多個記錄層的測試盤對光拾取裝置的性能進行評價，其特征在于，包括第1工序，使評價對象的光拾取裝置，進行對上述測試盤的聚焦搜索；第2工序，根據(jù)在上述第1工序中對上述光拾取裝置取得的聚焦誤差信號，檢測該聚焦誤差信號上連續(xù)出現(xiàn)的第1以及第2個S形曲線的分離度；和，第3工序，判定用上述第2工序檢測出的上述分離度是否在閾值范圍內(nèi)，上述第2工序，判定在上述第1個S形曲線與上述第2個S形曲線之間存在的上述聚焦誤差信號的平坦區(qū)間B，根據(jù)該平坦區(qū)間B與上述第1以及第2個S形曲線的間隔A的比率，檢測上述分離度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第2工序具有求出第1切線的工序，該第1切線是在從上述第1個S形曲線的第2個峰值位置起到終止端為止的區(qū)間的預先決定的位置上對該第1個S形曲線引出的切線；求出第2切線的工序，該第2切線是在從上述第2個S形曲線的開始端起到第1個峰值位置為止的區(qū)間的預先決定的位置上對該第2個S形曲線引出的切線；禾口，取得上述平坦區(qū)間B的工序，該平坦區(qū)間B為上述聚焦誤差信號的基準等級與上述第1切線相交的第1交點、和上述基準等級與上述第2切線相交的第2交點之間的區(qū)間。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第1切線，在相對于上述第1個S形曲線的第2個峰值的振幅為給定比例大小的上述第1個S形曲線上的位置上求出，上述第2切線，在相對于上述第2個S形曲線的第1個峰值的振幅為大小與上述比例同樣的比例的上述第2個S形曲線上的位置上求出。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述第1切線，在從上述第1個S形曲線的第2個峰值往終止端側(cè)錯位給定的信號區(qū)間后的上述第1個S形曲線的位置上求出，上述第2切線，在從上述第2個S形曲線的第1個峰值往開始端側(cè)錯位與上述信號區(qū)間相同的信號區(qū)間后的上述第2個S形曲線的位置上求出。5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中的任一項所述的光拾取裝置的評價方法，其特征在于，上述測試盤中，相鄰的上述記錄層的標準間隔設定為20jim，上述分離度，通過B/A的計算求出，上述第3工序中，判定B/A是否為0.1以上或者超過O.l。6.—種測試盤，用于評價光拾取裝置的性能，其特征在于，在疊層方向上具有多個記錄層，將相鄰的上述記錄層間的標準間隔設定為從13pm開始到40|^m為止的范圍內(nèi)。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為從20|am開始到35(im為止的范圍內(nèi)。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為從25pm開始到30pm為止的范圍內(nèi)。9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試盤，其特征在于，將上述標準間隔設定為20pm。10.—種測試盤，為權(quán)利要求1中所述的評價方法中使用的測試盤，其特征在于，在用具有基準光學系統(tǒng)的光拾取裝置進行上述工序1至3得到的上述參數(shù)值A以及B，并據(jù)此求出B/A時，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得B/A的標準值包含在0.1至0.7的范圍內(nèi)。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試盤，其特征在于，.將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.2至0.6的范圍內(nèi)。12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.4至0.5的范圍內(nèi)。13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值是0.2。14.一種再生專用的光盤，其特征在于，將相鄰的記錄層間的間隔，設定為使得B/A的標準值包含在從0.1到0.7的范圍內(nèi)，其中B/A表示，在用具有基準光學系統(tǒng)的光拾取裝置對該光盤進行聚焦搜索時，在聚焦誤差信號上連續(xù)出現(xiàn)的第1以及第2個S形曲線間的平坦區(qū)間B與上述第1以及第2個S形曲線的間隔A的比率。15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.2到0.6的范圍內(nèi)。16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值包含在從0.4到0.5的范圍內(nèi)。17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤，其特征在于，將相鄰的上述記錄層間的間隔，設定為使得上述B/A的標準值是0.2。全文摘要本發(fā)明提供一種可以順利評價光拾取裝置中的S形曲線的分離性能(層間分離特性)的評價方法以及其使用的測試盤。判定S形曲線S0與S形曲線S1間存在的聚焦誤差信號的平坦區(qū)間的時間長B，從該時間長B與S形曲線S0、S1的時間間隔A的比率B/A檢測S形曲線S0、S1的分離度。然后，在該比率B/A為閾值α以上時，評價為光拾取裝置的層間分離特性合適。文檔編號G11B7/09GK101471092SQ200810185258公開日2009年7月1日申請日期2008年12月24日優(yōu)先權(quán)日2007年12月25日發(fā)明者中谷守雄,日比野清司,鷲見聰申請人:三洋電機株式會社;三洋光學設計株式會社