專利名稱：光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在光盤上記錄/再現(xiàn)信息的光盤裝置的光盤的焦點(diǎn)位置 調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置。
背景技術(shù)：
將激光束照射在圓盤狀的記錄介質(zhì)的光盤上，在光盤上記錄信息 或者將其反射光變換為電信號，讀出再現(xiàn)記錄的信息的光盤裝置，由
于近年來的HD-DVD或BD等大容量的記錄介質(zhì)的出現(xiàn)，由個人計(jì)算
機(jī)等開始，廣泛用作各種裝置的信息記錄介質(zhì)。
然而，在這種光盤裝置中，在光盤上記錄或再現(xiàn)信息時，必需調(diào)
整照射在光盤上的激光束的焦點(diǎn)位置。因此已知，以下的專利文獻(xiàn)等
記載的焦點(diǎn)控制裝置/方法。:日本專利特開2000-155961號公報(bào)， [專利文獻(xiàn)2]:日本專利特開2001-184678號公報(bào)。

發(fā)明內(nèi)容
艮口，上述專利文獻(xiàn)1的焦點(diǎn)控制裝置，在其制造的生產(chǎn)線上，預(yù) 先存儲誤差成為最小的焦點(diǎn)位置信息，以該焦點(diǎn)位置信息作為焦點(diǎn)位 置調(diào)整的開始點(diǎn)。另外，作為裝置的調(diào)整方法，再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)(焦 點(diǎn)位置信息)，另一方面，如果未記錄該數(shù)據(jù)，則在驅(qū)動測試區(qū)域中進(jìn) 行數(shù)據(jù)記錄，同時再現(xiàn)該數(shù)據(jù)。因此在誤差最小而RF信號振幅最大的 中間設(shè)定焦點(diǎn)位置。
另外，在上述專利文獻(xiàn)2的焦點(diǎn)控制方法中，進(jìn)行如下控制，在 記錄有預(yù)先信息的區(qū)域的缺陷信息管理區(qū)(所謂的DMA (defect management aria))為未記錄的情況下，對PID區(qū)域進(jìn)行再現(xiàn)，并設(shè)定 焦點(diǎn)位置，以使PID錯誤量成為最小，并利用驅(qū)動測試區(qū)進(jìn)行信息的 記錄*再現(xiàn)，并在凸區(qū)和凹區(qū)上設(shè)定焦點(diǎn)位置，以使該再現(xiàn)信號的抖
動量或該再現(xiàn)信號的數(shù)據(jù)錯誤量成為最小，另外，在缺陷信息管理區(qū) 中記錄有信息的情況下，對缺陷信息管理區(qū)中的信號進(jìn)行再現(xiàn)，并設(shè) 定焦點(diǎn)位置，以使該信號的抖動量成為最小，并進(jìn)行信息的記錄或再 現(xiàn)。
然而，在上述的以往技術(shù)中，特別是在光盤的DMA (缺陷管理區(qū)
域)部分因破損或缺陷不能讀取的情況下，存在在驅(qū)動測試區(qū)記錄-再 現(xiàn)信息，調(diào)整時間長的問題。特別是在驅(qū)動測試區(qū)域中進(jìn)行數(shù)據(jù)的記 錄-再現(xiàn)的方法中，記錄時的焦點(diǎn)位置使記錄的標(biāo)記形狀變化，必需進(jìn) 行調(diào)整使得在該記錄信號中的數(shù)據(jù)錯誤量最小，但仍存在得不到適當(dāng) 的光束點(diǎn)形狀(例如最小彌散圓)的問題。
本發(fā)明是考慮上述以往技術(shù)的問題而提出的，其目的是要提供即
使在該DMA部分由于破損或缺陷不能讀取的情況下，也可以適當(dāng)?shù)卣{(diào) 整焦點(diǎn)在光盤上的焦點(diǎn)位置的調(diào)整方法和利用該方法的光盤裝置。
為達(dá)到上述目的，根據(jù)本發(fā)明首先提供一種光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整 方法，是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記 錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學(xué)再現(xiàn)模塊的焦點(diǎn)位置，并記錄或再現(xiàn)信 息的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法，預(yù)先，對從光盤的記錄了上述預(yù)先信 息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息進(jìn)行存儲，在 將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，利用上述 預(yù)先存儲的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息間的關(guān)系，由從上 述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的上 述光盤的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整。
另外，為了達(dá)到上述目的，根據(jù)本發(fā)明提供一種光盤裝置，是對 在介質(zhì)的一部分上具有記錄了預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)記錄 或再現(xiàn)信息的光盤裝置，至少具有，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動搭載在裝置中的光信息 記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊；在利用上述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的 光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，照射用于記錄、再現(xiàn)信息的光束的光學(xué) 再現(xiàn)模塊；對上述光學(xué)再現(xiàn)模塊的光信息記錄介質(zhì)的半徑方向位置， 以及照射在該光信息記錄介質(zhì)的記錄面上的光束的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整 的控制模塊，其中，上述控制模塊，預(yù)先對從光盤的記錄了上述預(yù)先 信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定焦點(diǎn)位置的多個信息進(jìn)行存儲，然 后，在將光盤搭載在裝置中且不能對記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域的信 息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，利用上述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位 置的多個信息間的關(guān)系，由從上述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1 個信號，來對搭載在裝置中的上述光盤的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整。
另外，在本發(fā)明中，上述光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法或利用該方法 的光盤裝置優(yōu)選為，預(yù)先從記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域得到的多個信 息包含，最密信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置，疏信號的振幅成為最 大的焦點(diǎn)位置，和PID信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置。進(jìn)一步優(yōu)選 為，在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域中的 信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，從上述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個
信號為上述PID信號。
如以上那樣，提供了即使在因該DMA部分破損或缺陷不能讀取的 情況下，頁可以適當(dāng)?shù)卣{(diào)整焦點(diǎn)的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法。利用該 方法可以提供性能優(yōu)良的光盤裝置，并具有實(shí)用上優(yōu)良的效果。


圖1為表示本發(fā)明的一個實(shí)施方式的光盤裝置的大致結(jié)構(gòu)的方框
圖2為可利用本發(fā)明的實(shí)施方式的光盤裝置對信息進(jìn)行再現(xiàn) 記 錄的DVD的外觀圖3為上述圖2的DVD中的信息記錄部的凸區(qū)域和凹區(qū)域的截面
圖4為上述圖2的DVD中的凸區(qū)域和凹區(qū)域的形成格式的說明
圖5為在上述圖2的DVD中的凸區(qū)域和凹區(qū)域之間形成的坑地址 區(qū)域的一部分放大立體圖6為上述光盤裝置的光學(xué)再現(xiàn)模塊的光拾取器和處理其檢測信 號的信號處理部，以及包含其周邊部分的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的方框圖7為在上述光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法的處理的流程圖8為在上述光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法中利用的各種焦點(diǎn)位置和 振幅的關(guān)系的一個例子的圖9為求得最密信號(3T信號)成為最大的焦點(diǎn)位置和振幅飽和 的疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號)成為最大的焦點(diǎn)位置的具 體的電路結(jié)構(gòu)的一個例子的圖IO為求得表示PID信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置的具體電路 結(jié)構(gòu)的一個例子的圖。
符號說明100:光盤(高密度光記錄介質(zhì))，
210:半導(dǎo)體激光器
220:聚光用光學(xué)透鏡，
230:半反射鏡
250:物鏡
260:受光元件(檢測器)
303、304:加法電路，
311:減法電路，
313、316: D/A
314:加法器，
317:模擬開關(guān)sw，
351:二進(jìn)制化電路，
352:抖動測定電路，
354:數(shù)據(jù)解調(diào)電路，
361:PLL相位誤差檢測電路
362:積分電路
363:比較電路
400:微機(jī)。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖，詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施方式。
首先參照圖1說明本發(fā)明的一個實(shí)施方式的光盤裝置的概略結(jié)構(gòu)。
圖1所示的光盤裝置為表示作為DVD"RAM等圓盤狀的高密度信息記 錄介質(zhì)的所謂可在光盤上讀寫的光盤裝置的大致結(jié)構(gòu)的方框圖。
在圖1中，符號100表示上述光盤(例如，DVD—RAM等)。另
外，符號200表示光拾取器，在其內(nèi)部構(gòu)成光學(xué)再現(xiàn)模塊，該光學(xué)再 現(xiàn)模塊例如包括，作為產(chǎn)生所希望的波長的激光的發(fā)光元件的半導(dǎo)體
激光器210;將發(fā)出的激光變?yōu)槠叫泄獾臏?zhǔn)直透鏡220;將入射光引導(dǎo)
至后述的反射鏡，將反射光引導(dǎo)至后述的受光元件的半反射鏡(half mirror) 230;改變光的方向的反射鏡240，使激光收束為規(guī)定的光束直 徑并照射在上述光盤100的記錄面上的物鏡250;對來自上述半反射鏡 230的反射光進(jìn)行受光并檢測的受光元件260等。
在該實(shí)施方式中，為了使物鏡250與光盤100的厚度一致，改變 焦距，通常跟蹤伺服系統(tǒng)進(jìn)行工作。在這種情況下，由于穩(wěn)定點(diǎn)在最 優(yōu)位置，如果在透鏡移動時，向跟蹤控制系統(tǒng)施加突跳脈沖(kickpulse) 信號，則透鏡發(fā)生瞬時水平移動，快速達(dá)到另一透鏡的跟蹤穩(wěn)定點(diǎn)。
另外，在圖1中，符號300為信號處理部，用于將由上述光學(xué)再 現(xiàn)模塊的受光元件260檢測的反射光變換為電信號，并進(jìn)行規(guī)定的處 理。該信號處理部300與為了對光盤裝置全體進(jìn)行控制而設(shè)置的微型 計(jì)算機(jī)(以下簡稱為微機(jī))400連接，并進(jìn)行包括以后詳細(xì)說明的聚焦 控制的方法等的各種控制。即，該微機(jī)400與激光驅(qū)動部500、送進(jìn)部 600、主軸控制部700、 二維促動器控制電路800連接，以進(jìn)行各種控 制。
艮口，根據(jù)上述構(gòu)成，半導(dǎo)體激光器210為上述光學(xué)再現(xiàn)模塊的光 拾取器200的發(fā)光元件，并由微機(jī)400控制向半導(dǎo)體激光器210供給 的電流，控制其發(fā)光強(qiáng)度，另外，通過控制送機(jī)控制用馬達(dá)650的旋 轉(zhuǎn)，控制上述光拾取器200在光盤100的半徑方向上的位置。在該實(shí) 施方式中，作為光盤100的半徑方向上的移動機(jī)構(gòu)，由齒輪660表示， 其用于根據(jù)上述送進(jìn)控制用馬達(dá)650的旋轉(zhuǎn)，使光拾取器200在半徑 方向上移動，但是，在本發(fā)明中，并不限定于此。
另外，上述微機(jī)400，通過控制旋轉(zhuǎn)驅(qū)動主軸的馬達(dá)750的旋轉(zhuǎn)， 實(shí)現(xiàn)CLV (固定線速度)或ZCLV (區(qū)域的固定線速度)控制，它們 是在上述高密度信息記錄介質(zhì)中廣泛采用的線速度一定的控制。而且， 該微機(jī)400還通過二維促動器控制電路800，利用電磁線圈850作為其 動作模塊，由電磁作用實(shí)現(xiàn)上述光拾取器200的物鏡250的焦點(diǎn)位置 控制。這里，利用該二維促動器控制電路800實(shí)現(xiàn)的二維位置控制，
除了與上述光盤100的記錄面垂直的方向的物鏡250的位置控制(聚 焦控制)以外，還包含通過與其成直角的半徑方向上的微小的位置調(diào) 整，用于軌道跟隨的跟蹤位置控制，而且還進(jìn)行上述聚光用光學(xué)透鏡 220的控制。
而且，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)的光盤裝置，可以利用接口控制電路(圖中 沒有示出)解讀來自個人計(jì)算機(jī)等圖中沒有示出的主機(jī)(外部設(shè)備) 發(fā)出的命令或信息數(shù)據(jù)，在基于微機(jī)400的控制下，執(zhí)行信息的記錄 再現(xiàn)或查找動作等。另外，還可以利用信號處理部300進(jìn)行信號變換， 通過光拾取器200，將信息記錄在光盤IOO上，而且還可以將通過受光 元件260讀入的各種信號，經(jīng)信號處理部300解調(diào)為原來的數(shù)據(jù)，對 該解調(diào)后的數(shù)據(jù)與再現(xiàn)命令對應(yīng)地，從上述接口控制電路傳送至主機(jī)。 這里，省略信息的記錄和再現(xiàn)動作的詳細(xì)說明。
其次，參照圖2 圖5，在上述信息記錄介質(zhì)中，特別詳細(xì)說明 DVD—RAM的光盤100。首先，圖2為利用光盤裝置進(jìn)行信息記錄，再 現(xiàn)的光盤100的外觀圖。圖2 (a)表示其立體圖，圖2 (b)表示其平 面圖。另外，圖3為圖2所示的光盤100的信息記錄部的凸區(qū)(land) L和凹區(qū)(groove) G的截面圖。圖4為表示光盤IOO的凸區(qū)L和凹區(qū) G的形成格式的說明圖。圖5為表示在光盤100的凸區(qū)L和凹區(qū)G之 間形成的坑地址區(qū)域的一部分放大立體圖。
首先，說明圖2所示的光盤100。在這種光盤中，特別是稱為 DVD—RAM的可記錄的介質(zhì)中，在其透明的基板上的記錄層上利用相 變化由激光照射作出結(jié)晶狀態(tài)或非晶狀態(tài)的標(biāo)記(坑)，這樣可以寫入 信息。另外，再通過讀取由作出標(biāo)記(坑)形成的結(jié)晶非晶的光反射 率的變化，再現(xiàn)記錄在光盤100上的信息。作為圖2所示的光盤100 的一個例子，可舉出上述稱為DVD—RAM的可記錄的信息記錄介質(zhì)。 如圖2所示，其分為在其中央部分上記錄規(guī)定的控制信息等(控制數(shù) 據(jù))的ROM區(qū)域110，和其周邊的RAM區(qū)域120。如圖2 (b)所示， 上述RAM區(qū)域120作為其信息記錄部分，沿著用于在圓盤上連續(xù)記錄 信息的的螺旋狀的軌道T，為了提高記錄密度，分別形成稱為凸區(qū) (land)及凹區(qū)(groove)的區(qū)域，由此可進(jìn)行信息的記錄和讀取。
另外，上述RAM區(qū)域120分割成幾個區(qū)域，具體地是在RAM區(qū)
域120的內(nèi)側(cè)和外側(cè)，具有有關(guān)裝置控制的信息的管理區(qū)域121， 122， 在其間設(shè)置讀寫用戶信息的用戶區(qū)域123。上述管理區(qū)域121和122 圖中沒有示出，但是更詳細(xì)為，分成PID區(qū)域(物理ID)，光盤測試 區(qū)，驅(qū)動測試區(qū)，缺陷信息管理區(qū)等。驅(qū)動測試區(qū)在進(jìn)行預(yù)寫時，作 為寫入?yún)^(qū)域使用。缺陷信息管理區(qū)為記錄光盤的缺陷管理信息的區(qū)域， 也稱為上述的DMA區(qū)域(DMA部分)。另外，上述用戶區(qū)域123還
由在半徑方向上進(jìn)行多個分割的多個區(qū)域(區(qū))構(gòu)成。
其次，圖3表示這種信息記錄部的凸區(qū)L和凹區(qū)G的截面，這些 凸區(qū)L和凹區(qū)G在圓盤狀記錄介質(zhì)100的半徑方向交替地形成，且， 在這些凸區(qū)L和凹區(qū)G中分別有由圖中虛線表示的部分標(biāo)記，作與其 以外的部分不同的狀態(tài)(非晶狀態(tài)或結(jié)晶狀態(tài))記錄信息。
另外，在圖4中表示上述高密度信息記錄介質(zhì)中的上述凸區(qū)L和 凹區(qū)G的形成格式。在該圖中，凸區(qū)L用斜線部分表示，另一方面， 在這些斜線部分之間形成凹區(qū)G。而且，這些凸區(qū)L和凹區(qū)G以光盤 100的一周為單位，在凸區(qū)L和凹區(qū)G之間交替地變化形成。在該圖 中，以點(diǎn)劃線的部分為邊界，凸區(qū)L和凹區(qū)G切換。另外，在這些凸 區(qū)L和凹區(qū)G中，利用多個稱為區(qū)段(sector)的單位構(gòu)成，各個區(qū)段 之間利用稱為坑地址區(qū)域PA的區(qū)域進(jìn)行劃分。光盤內(nèi)RAM區(qū)域120， 從內(nèi)周向著外周分為多個區(qū)域(區(qū))。在各區(qū)域內(nèi)由同一區(qū)段數(shù)構(gòu)成。
而且，在圖5中表示這些形成在凸區(qū)L和凹區(qū)G之間坑地址區(qū)域。 首先，在圖5 (a)中表示從凸區(qū)L向凹區(qū)G移行的部分(上述圖4的 點(diǎn)劃線部分的坑地址區(qū)域)。檢測記錄信號的激光，如圖中點(diǎn)劃線的箭 頭所示，從凸區(qū)L,通過坑地址區(qū)域PA，向凹區(qū)G移動。
另一方面，在圖5(b)表示從凸區(qū)L向凸區(qū)L移行的部分。這里， 檢測記錄信號的激光，如圖中的點(diǎn)劃線箭頭所示，從凸區(qū)L通過坑地 址區(qū)域PA，向下一個凸區(qū)L移動。從凹區(qū)G向另一凹區(qū)G移動時， 與上述同樣，也通過坑地址區(qū)域PA。
在以上說明的光盤100中，信息交替地記錄在高度不同的凸區(qū)L 和凹區(qū)G中。由于這樣，為了可靠地從這種光盤100再現(xiàn)信息，必需 利用光學(xué)方法，分別對高度不同的凸區(qū)L和凹區(qū)G最優(yōu)地控制，作為 利用激光的反射，再現(xiàn)信息的光學(xué)由現(xiàn)裝置的光拾取器，特別是使激
光在記錄介質(zhì)表面收束照射的光學(xué)透鏡(物鏡)的焦點(diǎn)位置。另外，
由于檢測系統(tǒng)的像差，必需分別在凸區(qū)和凹區(qū)上加不同的偏移(offset)。 又，從圖可以看出，同時利用多個坑列P， P…，在上述坑地址區(qū)域PA 的兩側(cè)記錄上述光盤100上的地址編號。由于這樣，為了從光盤100 再現(xiàn)信息，必需正確地檢測坑地址區(qū)域PA上的這些多個坑P。
因此，在從上述光盤100再現(xiàn)信息時，進(jìn)行最優(yōu)地控制上述光學(xué) 再現(xiàn)模塊的光學(xué)透鏡的焦點(diǎn)位置的所謂最優(yōu)位置控制是重要的，同時 必需可靠地檢測記錄上述坑地址區(qū)域PA的地址編號的坑列P。另外， 上述圖3 6中沒有示出，但在凸區(qū)L和凹區(qū)G的半經(jīng)方向的邊界上， 以一定的頻率為中心調(diào)制地址信息，形成蜿蜓的(半徑方向的微少量 搖動)凹區(qū)方式。通過擺動檢測電路(圖中沒有示出)檢測每旋轉(zhuǎn)一 周的擺動個數(shù)，可以通過上述主軸控制部700高效率而且穩(wěn)定對馬達(dá) 750進(jìn)行旋轉(zhuǎn)控制。
另外，上述坑地址區(qū)域PA在圓周方向分為二個，分別設(shè)置坑列P。 通過比較從二個坑列P得到的ID信號，可以確定相鄰的區(qū)段的數(shù)據(jù)。
其次，在圖6中表示在本發(fā)明的一個實(shí)施方式中，對上述光盤進(jìn) 行記錄，再現(xiàn)的光盤裝置，特別是作為光學(xué)再現(xiàn)模塊的光拾取器200的 受光元件260或處理其檢測信號的信號處理部300及其周邊部分的詳 細(xì)結(jié)構(gòu)。
從圖6可看出，受光元件260分割為4個檢測部分A,B，C，D。由上 述光盤100的記錄面反射，并入射在受光元件260上的反射光，利用 上述分割的各個檢測部分而分別變換為電信號輸出。將從上述分割的 各個檢測部分A，B，C，D的輸出，輸入至加法電路301 304，分別進(jìn)行 (A+C)， (B+D)， (A+D)， (B+C)的加法運(yùn)算。再將從上述加法電路 301和302的輸出，輸入至加法電路305，由此，輸出對來自上述各檢 測部分A,B,C，D的全部輸出進(jìn)行加法運(yùn)算后的(A+B+C+D)的信號(FR 信號)。
再將來自上述加法電路301和302的輸出同時輸入至減法電路 306，由此，在該輸出中輸出由((A+C) -(B+D))表示的用于跟蹤控 制的信號，即跟蹤誤差信號TE。
另一方面，該跟蹤誤差信號TE同時通過低通濾波器(LPF) 308
后，利用加法器309與來自D/A變換器310的偏移值進(jìn)行加法運(yùn)算。 為了進(jìn)行凹區(qū)G中的跟蹤控制，首先利用反轉(zhuǎn)電路312使跟蹤誤差信 號TE的極性反轉(zhuǎn)，然后，通過開關(guān)元件315輸出至上述二維促動器控 制電路800。另一方面，為了進(jìn)行凸區(qū)L的跟蹤控制，在其后通過開關(guān) 元件318，輸出至上述二維促動器控制電路800。其中，在其一方的開 關(guān)元件，即通過凸區(qū)L的跟蹤誤差信號的開關(guān)元件318中，經(jīng)由反轉(zhuǎn) 電路312輸入上述L/G切換信號。g卩，由此，根據(jù)跟蹤誤差信號TE， 交替地將凸區(qū)L的跟蹤控制信號和凹區(qū)G的跟蹤控制信號輸出至上述 二維促動器控制電路800。該輸出成為用于進(jìn)行跟蹤控制的TR信號， 利用上述圖1的送進(jìn)控制部600控制光拾取器200的半徑方向的位置。 在D/A變換部310中，從上述微機(jī)400經(jīng)由其A/D變換部施加偏離值。 這里，由于與本這明的關(guān)系不大，省略其詳細(xì)說明。
另外，將從上述加法電路303， 304輸出的信號(A+D)和(B+C) 輸入減法電路311，這樣，得到由((A+D) - (B+C))表示的聚焦誤 差信號FE。而且，聚焦誤差信號FE分成上述凸區(qū)L的聚焦誤差信號 FE和凹區(qū)G的聚焦誤差信號FE來處理，然后，通過二維促動器控制 電路800，控制上述光拾取器200的物鏡250的焦點(diǎn)位置(與光盤100 的表面垂直的方向)。
艮口，作為來自減法電路311的輸出的聚焦誤差信號FE ((A+D)-(B+C))，利用加法器314加聚焦偏移，輸出至二維促動器控制電路 800。在D/A313和D/A316中的凹區(qū)G、凸區(qū)L的偏移設(shè)定，通過模 擬開關(guān)SW317加在加法器314上。而且，在D/A變換器313， 316中， 由微機(jī)400施加上述凹區(qū)G和凸區(qū)L的聚焦控制用的偏移值。另外， 在上述模擬開關(guān)SW317的控制輸入中，仍輸入從微機(jī)400輸出的切換 控制信號，即凸區(qū)L/凹區(qū)G的切換信號。
另外，通過上述D/A變換器313， 316對聚焦誤差信號FE進(jìn)行加 法運(yùn)算的偏離值，在本發(fā)明中，成為在將光學(xué)透鏡的焦點(diǎn)位置控制在 最優(yōu)位置而采用的學(xué)習(xí)控制中所學(xué)習(xí)的、結(jié)果發(fā)生變動的變數(shù)。而且， 作為該光盤裝置的制品在出廠時等，初始設(shè)定為預(yù)先規(guī)定的值。該初 始設(shè)定值記錄在作為上述微機(jī)400的記錄裝置的EPROM等中。然后， 來自上述加法電路305的和信號(A+B+C+D)，通過高通濾波器(HPF)
320，低通濾波器(LPF) 321，并經(jīng)過二進(jìn)制化電路351，由數(shù)據(jù)解調(diào) 電路354解調(diào)信息記錄數(shù)據(jù)，在微機(jī)400中，讀入作為來自光盤100 的讀取數(shù)據(jù)。另外，在本實(shí)施方式中，與數(shù)據(jù)解調(diào)同時，在微機(jī)400 中分別通過355， 356讀入ECC錯誤計(jì)數(shù)和PID錯誤計(jì)數(shù)。如后所述， 抖動(jitter)測定電路352，將基于二進(jìn)制化電路351輸出的抖動量的 數(shù)據(jù)變換為抖動錯誤脈沖數(shù)而輸出。該脈沖數(shù)通過抖動錯誤脈沖計(jì)數(shù) 器353讀入微機(jī)400。
然而， 一般當(dāng)利用上述以往技術(shù)的光盤裝置，對記錄在光盤上的 信息進(jìn)行記錄 再現(xiàn)時，對記錄在作為信息記錄區(qū)域的一部分的上述 缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域)中的數(shù)據(jù)(焦點(diǎn)位置信息)進(jìn)行再現(xiàn)， 并進(jìn)行焦點(diǎn)位置的最優(yōu)位置控制。然而，在該區(qū)域中沒記錄(未記錄) 該數(shù)據(jù)的情況下，則在驅(qū)動測試區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄，同時，再現(xiàn)該 記錄的數(shù)據(jù)，并使誤差最小，而且在RF信號振幅成為最大的中間，設(shè) 定焦點(diǎn)位置(上述專利文獻(xiàn)l)?；蛘?，在上述缺陷信息管理區(qū)(DMA 區(qū)域)中記錄信息的情況下，設(shè)定焦點(diǎn)位置，以使對記錄在該區(qū)域中 的信號進(jìn)行再現(xiàn)，且信號的抖動量或數(shù)據(jù)錯誤量成為最?。涣硪环矫?， 在DMA區(qū)域?yàn)槲从涗浀那闆r下，再現(xiàn)PID區(qū)域，設(shè)定焦點(diǎn)位置，以 使PID的誤差量成為最??；還對驅(qū)動測試區(qū)中的信息進(jìn)行記錄，再現(xiàn)， 并設(shè)定凸區(qū)域和凹區(qū)域上的焦點(diǎn)位置，以使該再現(xiàn)信號的抖動量或該 再現(xiàn)信號的數(shù)據(jù)錯誤量成為最小(上述專利文獻(xiàn)2)。
但是，如上所述，當(dāng)上述缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域)因破損或 缺陷而不能再現(xiàn)的情況下，不能調(diào)整聚焦。因此，在本發(fā)明中，預(yù)先 在生產(chǎn)線中存儲，作為焦點(diǎn)位置調(diào)整的結(jié)果的焦點(diǎn)位置(Padj)，和PID (物理標(biāo)識Physical Identification)信號電平成為最大的焦點(diǎn)位置 (PPIDmaX)的信息。然后，在利用該缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域) 的振幅信息調(diào)整焦點(diǎn)位置的情況下，特別是在該DMA區(qū)域因破損或缺 陷而不能再現(xiàn)的情況下，例如，利用上述預(yù)先記錄的信息(Padj及 PPIDmax)，和搭載光盤后實(shí)際上使焦點(diǎn)位置可變(即，在使焦點(diǎn)位置控 制電路閉合的狀態(tài)下)并使上述PID信號電平成為最大的焦點(diǎn)位置， 來設(shè)定適當(dāng)?shù)慕裹c(diǎn)位置。
而且，在本發(fā)明中，作為求得最優(yōu)的焦點(diǎn)位置的方法有，找到DMA
區(qū)域中的最密信號(例如3T-3T信號)的振幅成為最大(max)的焦點(diǎn) 位置，和疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號(作為一個例子8T-8T 信號))的振幅成為最大(或飽和)的焦點(diǎn)位置，在它們之間設(shè)定焦點(diǎn) 位置(例如，其中間值)。在最密信號成為最大的情況下，存在光點(diǎn)寬 度在軌道行進(jìn)方向上變小，而在與軌道垂直方向上加寬的可能。在最 疏信號成為最大的情況下，存在光點(diǎn)寬度大，而在與軌道垂直的方向 上變窄的可能。在其間存在，軌道行進(jìn)方向和垂直的方向同時都小， 而成為適合記錄再現(xiàn)的所謂最小彌散圓的焦點(diǎn)位置。而且此時，在該 DMA區(qū)域(部分)因破損或缺陷不能再現(xiàn)的情況下，不能進(jìn)行調(diào)整， 因此采用對策。
艮口，例如在生產(chǎn)線等上，預(yù)先在例如構(gòu)成上述微機(jī)400的一部分 的存儲器內(nèi)存儲，在DMA區(qū)域中使焦點(diǎn)位置可變(由焦點(diǎn)位置控制電 路)得到的、上述密信號成為最大(max)的焦點(diǎn)位置(P密信號max)， 和上述疏信號成為最大(max)的焦點(diǎn)位置(P疏信號max)，以及PID 信號的振幅成為最大(max)的焦點(diǎn)位置(PPIDmax)的信息。
然后，在將光盤搭載在裝置內(nèi)并進(jìn)行記錄，再現(xiàn)動作的情況下，再 現(xiàn)記錄在DMA區(qū)域中的數(shù)據(jù)(焦點(diǎn)位置信息)，進(jìn)行焦點(diǎn)位置的最優(yōu) 位置控制。但是，其結(jié)果是，在該DMA區(qū)域中有缺陷的情況下，在搭 載光盤后，進(jìn)行圖7所示的處理。在上述微機(jī)400中，利用存儲在其 一部分的存儲器內(nèi)的軟件執(zhí)行該處理。
在圖7中，當(dāng)處理開始時，首先判定該DMA區(qū)域中是否有缺陷(即 是否因破損或缺陷而不能再現(xiàn))(S71)。其結(jié)果，在沒有缺陷(NO)， 即該(DMA區(qū)域)的缺陷信息管理信息可以讀取的情況下，利用其振 幅信息執(zhí)行通常的焦點(diǎn)位置調(diào)整(S72)。
另一方面，在上述判定(S71)的結(jié)果為，判定在該DMA區(qū)域中 有缺陷(YES)的情況下，首先，使焦點(diǎn)位置可變(由焦點(diǎn)位置控制 電路)求得該DMA區(qū)域中的PID信號電平成為最大(max)的焦點(diǎn)位 置(S73)。其次，如以下那樣，由上述預(yù)先記錄的(1)上述密信號成 為最大(max)的焦點(diǎn)位置(P密信號max), (2)上述疏信號電平成 為最大(max)的焦點(diǎn)位置(p疏信號max)，和(3) PID信號電平成 為最大(max)的焦點(diǎn)位置(PPIDmax)的信息，求得作為焦點(diǎn)位置調(diào) 整結(jié)果的焦點(diǎn)位置(Padj)和PID (物理標(biāo)識)信號電平最大(max) 的焦點(diǎn)位置(PpIDmaX)之間的關(guān)系(例如差分)(S74)。 (P密信號max + P疏信號max) /2-PPIDmax=AP。
而且，在圖8中表示上述DVD-RAM的上述各種焦點(diǎn)位置和振幅 的關(guān)系的一個例子。圖中的"L"表示凸區(qū)的焦點(diǎn)位置，"G"表示凹區(qū)的 焦點(diǎn)位置。而且如上所述，這些有關(guān)焦點(diǎn)位置的信息(調(diào)整值)保持 在EEPROM等存儲器內(nèi)。
然后，在搭載于裝置內(nèi)的光盤的DMA區(qū)域屮，使焦點(diǎn)位置可變， (山焦點(diǎn)位置控制電路(lo叩))求得PID信號電平成為最大(max) 的焦點(diǎn)位置(PPIDmax') (S75)。然后，考慮(修正)由上述得到的調(diào) 整焦點(diǎn)位置的結(jié)果的焦點(diǎn)位置(Padj)和PID信號的電平成為最大(max) 的焦點(diǎn)位置(PPIDmax)之間的關(guān)系(差分-AP)，并如下那樣，設(shè)定 該搭載的光盤的焦點(diǎn)位置P (S76)，從而結(jié)束一系列的處理。
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艮口，調(diào)整預(yù)先求出的焦點(diǎn)位置的結(jié)果的焦點(diǎn)位置(Padj)，即P密 信號max與PPIDmax，以及PID信號的電平成為最大(max)的焦點(diǎn) 位置(PPIDmax)之間的關(guān)系，具體地說為，若其間的差分(=AP)，則 即使在搭載于裝置內(nèi)的光盤的該DMA區(qū)域中有缺陷的情況下，因?yàn)榭?在該DMA區(qū)域中檢測上述PID信號，因此可以求得其電平成為最大 (max)的焦點(diǎn)位置(PPIDmax)。然后，由此，可根據(jù)由預(yù)先求出的結(jié) 果而求得的上述關(guān)系(差分二AP)，適當(dāng)?shù)卣{(diào)整所搭載的光盤上的焦點(diǎn) 位置。
通常，在裝置的生產(chǎn)線上，搭載測試用光盤進(jìn)行在焦點(diǎn)位置調(diào)整， 然后通過進(jìn)行記錄，再現(xiàn)，進(jìn)行該裝置的性能測試。這時，通常，焦點(diǎn) 位置調(diào)整的判定是根據(jù)記錄，再現(xiàn)動作產(chǎn)生的錯誤率(error rate)來確 認(rèn)是否得到良好的記錄，再現(xiàn)。在錯誤率不好的情況下，在記錄的區(qū)域 中，使焦點(diǎn)位置可變，再進(jìn)行再現(xiàn)，以使錯誤率為最小。在本發(fā)明中， 優(yōu)選為，以預(yù)先在生產(chǎn)線上，存儲作為焦點(diǎn)位置調(diào)整的結(jié)果的焦點(diǎn)位 置(Padj)和PID (物理標(biāo)識)信號電平成為最大(max)的焦點(diǎn)位置 (PPIDmax)的信息(關(guān)系)為目的，在該狀態(tài)再次進(jìn)行測試，同時記錄 其焦點(diǎn)位置。
艮P，在記錄錯誤率最小(min)的信息的情況下，有必要在對發(fā)生 串話(crosstalk)的相鄰軌道進(jìn)行記錄的區(qū)域中進(jìn)行聚焦調(diào)整。在這種 情況下，主要是在光點(diǎn)在與軌道垂直的方向?qū)挼那闆r下發(fā)生。然而， 在上述DMA區(qū)域中，由于在相鄰的兩個軌道(凸區(qū)域和凹區(qū)域)上不 進(jìn)行記錄，因此在這種裝置中，不能進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整。與此相對，在生 產(chǎn)線上測試時，因?yàn)樵跀?shù)十個軌道以上進(jìn)行記錄，再現(xiàn)，因此存在對相 鄰軌道進(jìn)行記錄的區(qū)域，可以更適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整。
另外，在上述例子中，由搭載后進(jìn)行調(diào)整的焦點(diǎn)位置(PPIDmax)， 考慮上述差異成分(例如，加法運(yùn)算或減法修正)而對焦點(diǎn)位置進(jìn)行 設(shè)定，但是，特別是在對上述的DVD-RAM等在串話大的高密度信息 記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄，再現(xiàn)的裝置中，不能只用從光盤表面得到的信號電 平(例如RF信號)設(shè)定適當(dāng)?shù)慕裹c(diǎn)位置。
而且，在上述例子中，作為由DMA區(qū)域中的最密信號(3T信號) 成為最大的聚焦位置，和振幅飽和的疏信號(例如6T或其以上寬度的 信號)成為最大的焦點(diǎn)位置求得最優(yōu)的焦點(diǎn)位置的方法，如上所述， 說明了對記錄信號影響沒有影響的調(diào)整方法，S卩，測定密信號和長標(biāo) 記或長空白的信號(疏信號)的各振幅成為最大的焦點(diǎn)位置，并在其 中間調(diào)整為光點(diǎn)直徑成為最小的彌散圓的最優(yōu)的焦點(diǎn)位置。然而，也 存在利用光拾取器，使最小彌散圓，和密信號成為最大的焦點(diǎn)位置一 致的情況。因此，將焦點(diǎn)位置調(diào)整設(shè)定為密信號成為最大的位置和疏 信號成為最大的位置的中間的何位置，可利用光拾取器特性進(jìn)行評價 及最終設(shè)定。例如，除了上述例子以外，可在密信號成為最大的位置 和疏信號成為最大的位置之間，調(diào)整為2: 1比例的位置。
另外，在圖9中表示用于求得最密信號(3T信號)成為最大(max) 的焦點(diǎn)位置，和振幅飽和的疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號) 成為最大(max)的焦點(diǎn)位置的具體的電路結(jié)構(gòu)的一個例子。在圖10 中表示用于求得PID信號的振幅成為最大(max)的焦點(diǎn)位置的具體 的電路結(jié)構(gòu)的一個例子。
另外，由于密信號和疏信號成為最大的焦點(diǎn)位置與記錄信號品質(zhì) 無關(guān)，而相同，因此即使為記錄功率不適合的錯誤(error)多的信號， 也可適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整。特別是在DVD-RAM中，在市售的光盤上設(shè)置
有預(yù)先記錄的DMA (缺陷管理區(qū)域defect management aria)區(qū)域。 這是記錄稱為主要缺陷清單(Primary defect list: PDL)和次要缺陷清 單(secondary defect list: SDL)的交換(交替)信息的地方，在光盤 的最內(nèi)周上有2個，在最外周上也有二個。在有驗(yàn)證(Verify)狀態(tài)下 對該部分進(jìn)行記錄時，在記錄區(qū)域上有缺陷，其結(jié)果，在空白區(qū)域中 進(jìn)行改寫，此時為了更新信息而需要對其進(jìn)行改寫。即如果在這個區(qū) 域中進(jìn)行焦點(diǎn)位置調(diào)整，則也可以在購入的空白(Blank)(未記錄) 盤上進(jìn)行調(diào)整。
而且，在這個區(qū)域中進(jìn)行調(diào)整時的問題是，由于該區(qū)域?yàn)槭芟薜?部分，在因?yàn)閭刍蛭廴厩啡钡那闆r下，不能調(diào)整。作為與這個問題 對應(yīng)的方法，如在上述以往技術(shù)中那樣，有在光盤測試區(qū)域記錄，在 該部分上調(diào)整的方法。然而，利用這種方法，在裝置達(dá)到可以記錄再 現(xiàn)狀態(tài)，即準(zhǔn)備好狀態(tài)前需要時間、使用方便性惡化。
在本發(fā)明中，焦點(diǎn)位置調(diào)整時，除了密信號和疏信號的振幅成為 最大的焦點(diǎn)位置以外，還優(yōu)選偏移該位置以便不受損傷或污染的影響， 而對可取得的信號和焦點(diǎn)位置的信息進(jìn)行取得。而且，例如，除上述 PID(物理ID)信號的振幅，還考慮擺動(wobble)振幅或推挽(push-pull) 振幅。特別是，作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，優(yōu)選取得上述PID信號 的VFO (4T-4T重復(fù)信號、Date PLL (數(shù)據(jù)推挽)相位同步用)部分 的振幅(PID二VFO振幅)成為最大的焦點(diǎn)位置的信息。而且，該P(yáng)ID 信號作為DVD-RAM盤的RAM區(qū)域的地址用信號，是預(yù)寫入 (prewrite)的信號，在光盤的全部表面上，設(shè)置于各個區(qū)段(sector) 的每一個(全部為2376143個區(qū)段)。
另外，當(dāng)進(jìn)行上述焦點(diǎn)位置調(diào)整時，將密信號成為最大、疏信號 成為最大以及PID-VFO成為最大的焦點(diǎn)位置，記錄在例如EEPROM 等非易失性存儲器中，然后，可以利用密信號成為最大和疏信號成為 最大的位置的規(guī)定比率，設(shè)定為焦點(diǎn)位置。又如上所述，焦點(diǎn)位置調(diào) 整可在光盤的最內(nèi)周和最外周上進(jìn)行調(diào)整，在其間，優(yōu)選由其結(jié)果設(shè) 定為線形，另外，由于基本上在生產(chǎn)線上進(jìn)行測試時進(jìn)行，沒有上述 DMA欠缺，調(diào)整可正常地結(jié)束。然而，在上述DMA欠缺的情況下， 可以設(shè)定為PID-VFO最大的焦點(diǎn)位置。然后，如果搭載光盤時，上述
DMA沒有欠缺，則與上述同樣，進(jìn)行測定，并利用密信號成為最大和 疏信號成為最大的規(guī)定比率，設(shè)定為焦點(diǎn)位置。
權(quán)利要求
1. 一種光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法，是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學(xué)再現(xiàn)模塊的焦點(diǎn)位置，并記錄或再現(xiàn)信息的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法，其特征在于預(yù)先，對從光盤的記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息進(jìn)行存儲，在將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，利用所述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息間的關(guān)系，由從所述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的所述光盤的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法，其特征在于 預(yù)先從記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到的多個信息包含，最密信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置，疏信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置， 和PID信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置。
3. 如權(quán)利要求2所述的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法，其特征在于 在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域中的信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，從所述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個 信號為所述PID信號。
4. 一種光盤裝置，是對在介質(zhì)的一部分上具有記錄了預(yù)先信息的 區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)記錄或再現(xiàn)信息的光盤裝置，其特征在于，至 少具有，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動搭載在裝置中的光信息記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊； 在利用所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，照射用于記錄、再現(xiàn)信息的光束的光學(xué)再現(xiàn)模塊；對所述光學(xué)再現(xiàn)模塊的光信息記錄介質(zhì)的半徑方向位置，以及照射在該光信息記錄介質(zhì)的記錄面上的光束的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整的控制 模塊，其中，所述控制模塊，預(yù)先對從光盤的記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到 的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定焦點(diǎn)位置的多個信息進(jìn)行存儲，然后，在將光盤搭 載在裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域的信息進(jìn)行再現(xiàn)的情 況下，利用所述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息間 的關(guān)系，由從所述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個信號，來對搭 載在裝置中的所述光盤的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整。
5. 如權(quán)利要求4所述的光盤裝置，其特征在于在所述控制模塊中，預(yù)先從記錄了所述預(yù)先信息區(qū)域得到的多個 信號包含，最密信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置，疏信號的振幅為最 大的焦點(diǎn)位置，和PID信號的振幅成為最大的焦點(diǎn)位置。
6. 如權(quán)利要求5所述的光盤裝置，其特征在于-在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域中的 信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，在所述控制模塊中，從所述光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個信號為所述PID信號。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置，即使DMA部分因破損或缺陷不能讀取的情況下，可以適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行聚焦調(diào)整。是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學(xué)再現(xiàn)模塊的焦點(diǎn)位置，并記錄或再現(xiàn)信息的光盤的焦點(diǎn)位置調(diào)整方法中，預(yù)先，對從光盤的記錄了預(yù)先信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息進(jìn)行存儲，在將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，利用預(yù)先存儲的、有關(guān)適當(dāng)設(shè)定的焦點(diǎn)位置的多個信息間的關(guān)系，由從光盤得到的有關(guān)焦點(diǎn)位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的光盤的焦點(diǎn)位置進(jìn)行調(diào)整。
文檔編號G11B7/09GK101377932SQ20081012811
公開日2009年3月4日 申請日期2008年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月27日
發(fā)明者原井充, 山田敦史, 川嶋徹, 星倫哉 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司