專利名稱：一種用于從多層光學(xué)信息載體再現(xiàn)信息的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于從多層光學(xué)信息載體再現(xiàn)信息和/或?qū)⑿畔⒂?錄到該載體的方法，該載體例如是雙層光學(xué)信息載體。本發(fā)明還涉及 一種用于從多層載體再現(xiàn)/記錄到該載體的光學(xué)裝置。
背景技術(shù)：
為了滿足增加信息存儲容量的要求，目前可用的光學(xué)媒質(zhì)，例如數(shù)字通用盤(DVD)和藍(lán)光盤(BD)在存儲容量方面表現(xiàn)出穩(wěn)定的發(fā) 展勢頭。已經(jīng)提出了雙層光學(xué)媒質(zhì)或者更多層的光學(xué)媒質(zhì)來進(jìn)一步提 高存儲容量。在雙層媒質(zhì)中以及尤其在多層媒質(zhì)中記錄和再現(xiàn)信息成為了 一個 技術(shù)上的挑戰(zhàn)，這是因?yàn)楣鈱W(xué)硬件自身必須適合超大范圍的變化。常 規(guī)上，光盤具有其編制在扇區(qū)中的信息，扇區(qū)是能夠在光盤上記錄的 最小單位。每個扇區(qū)具有標(biāo)頭區(qū)域，其包含有關(guān)數(shù)據(jù)的實(shí)際物理位置 的信息，即物理識別數(shù)據(jù)(PID)，還具有數(shù)據(jù)區(qū)域以及誤差校正編碼 區(qū)域(ECC)?？蛇x或此外，可以將扇區(qū)和層信息存儲在凹槽軌道上的擺動中或者預(yù)制坑中。信息的再現(xiàn)包括預(yù)備步驟，如盤類型識別、球差補(bǔ)償、優(yōu)化閉合 徑向回路跟蹤以啟動信號讀取、決定螺旋跟蹤方向、嘗試讀取預(yù)制槽 (ADIP)中的地址以及重復(fù)優(yōu)化球差補(bǔ)償。為了從多層媒質(zhì)的特定信 息層快速地而可靠地再現(xiàn)信息，有益的是將光學(xué)驅(qū)動器的參數(shù)設(shè)定為 或優(yōu)化為與所討論的特定信息層相關(guān)的參數(shù)設(shè)定?？梢杂砷]合回路控 制方案或類似的方案事前給出和/或優(yōu)化這些參數(shù)設(shè)定，例如焦點(diǎn)偏移 和徑向誤差信號比例。在例如US6101156中，公開了一種用在多層記 錄媒質(zhì)上的聚焦控制設(shè)備。特別是，存在控制步驟，判斷光是否聚焦 在希望聚焦的層上，如果不是，則利用所謂的層間搜索將聚焦光改變 為聚焦到希望聚焦的層號上。在該搜索過程中，將參數(shù)設(shè)定為目標(biāo)層 所需的設(shè)定。在提高光學(xué)媒質(zhì)和相應(yīng)光學(xué)驅(qū)動器的復(fù)雜度同時，由于世界范圍
的對光學(xué)媒質(zhì)市場的高度竟?fàn)帲枰肿⒁夤鈱W(xué)媒質(zhì)的成本?？上?的是，趨勢是許多多層光學(xué)媒質(zhì)不按照適用的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)要求制造的，這是因?yàn)?)越來越復(fù)雜的結(jié)構(gòu)和/或制造以及光學(xué)媒質(zhì)；2)節(jié) 約光學(xué)媒質(zhì)制造成本的嘗試只是部分成功。在本領(lǐng)域中，這類光學(xué)媒 質(zhì)稱作邊緣盤或者不合要求的盤。這種邊緣盤的出現(xiàn)激勵了光學(xué)驅(qū)動 器的制造者設(shè)計能夠從邊緣盤再現(xiàn)信息的光學(xué)驅(qū)動器，即更加穩(wěn)固并 且更適合光學(xué)媒質(zhì)以確保可穩(wěn)定和可靠地再現(xiàn)信息的光學(xué)驅(qū)動器。因此，經(jīng)改進(jìn)的從多層載體再現(xiàn)信息的方法會是有利的，尤其是 更快和/或更可靠地從多層載體再現(xiàn)信息的方法會是有利的。發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明優(yōu)選尋求單獨(dú)地或者以任意組合地方式來減輕、緩 解或消除上述缺點(diǎn)中的一個或多個缺點(diǎn)。尤其是，本發(fā)明的目的可以 看作是提供一種可以解決現(xiàn)有技術(shù)中從多層載體再現(xiàn)信息時存在的上 述問題的方法，該載體可能是不合要求的載體。在本發(fā)明的第一方面中，提供了 一種用于通過使光照射到光學(xué)裝 置中的光學(xué)信息栽體上，而從該光學(xué)信息載體再現(xiàn)信息和/或?qū)⑿畔⒂?錄到該載體的方法，該載體具有多個信息層，該方法實(shí)現(xiàn)了上述的目 的和幾個其它的目的，并包括以下步驟-使光聚焦到第一信息層，所述第一層具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu) 化再現(xiàn)相關(guān)的多個第 一層參數(shù)設(shè)定，-檢測從該載體反射的光，以及-提供表示光所聚焦于的實(shí)際信息層的信息，-當(dāng)獲得了由于誤差造成的光基本上聚焦在笫二信息層的指示 時，所述第二層具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第二層 參數(shù)設(shè)定，采取以下步驟-將至少一個第一層參數(shù)設(shè)定實(shí)質(zhì)上改變?yōu)橄鄳?yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定。本發(fā)明特別地但不排他地有利于獲得一種改進(jìn)的方法，該方法用 于從光學(xué)信息載體再現(xiàn)信息和/或?qū)⑿畔⒂涗浀皆撦d體，因?yàn)椋绻?于例如外部振動或者光學(xué)載體的缺陷而產(chǎn)生了誤差，光聚焦在錯誤的 層上，則光學(xué)裝置將一個或多個層參數(shù)設(shè)置為當(dāng)前層參數(shù)會大大提高
快速恢復(fù)的可能性。這是因?yàn)?，至今已知的光學(xué)驅(qū)動器在獲知光聚焦 在錯誤的層上時，會立刻執(zhí)行層搜索過程，返回到希望聚焦的或者說 正確的信息層。然而，這樣存在較大的風(fēng)險，由于層參數(shù)是未優(yōu)化的， 該層搜索程序會失敗。這就會導(dǎo)致另一層搜索程序，并因此會使有效 的恢復(fù)時間較長。通過應(yīng)用本發(fā)明，大大提高了該層搜索程序一次成 功的概率。本發(fā)明并不限于雙層媒質(zhì)。更確切地，本發(fā)明可以有利地用于三 層、四層、五層等等，由于隨著信息層數(shù)量的增大，復(fù)雜的程度通常 也會增大，因此本發(fā)明的優(yōu)勢意義就越來越深遠(yuǎn)。層參數(shù)的變化通常可以延續(xù)到1毫秒，而由于聚焦和徑向跟蹤控 制回路等的停用以及所造成的機(jī)械的臨時不穩(wěn)定性，使得層搜索程序可能會延續(xù)大約ioo毫秒。因此，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)本發(fā)明似乎不會節(jié)約太多時間。然而，如果較長地延續(xù)層搜索程序可能會在進(jìn)行首次恢復(fù)時更 有效，即立刻重新聚焦到正確的層而無需任何第二次的嘗試，那么本 發(fā)明將使光學(xué)裝置的工作更可靠。在本發(fā)明的上下文中，用于優(yōu)化再現(xiàn)的該多個參數(shù)設(shè)定不一定代 表最佳的參數(shù)設(shè)定，但是用于優(yōu)化再現(xiàn)的該多個參數(shù)設(shè)定仍可代表能 夠使該光學(xué)裝置按照令人滿意和穩(wěn)定的方式從載體再現(xiàn)信息的一組參 數(shù)。因此，在實(shí)際情況下，通常許多最佳參數(shù)的設(shè)定是可以滿足信息再現(xiàn)的需求的，這是因?yàn)閮?yōu)化參數(shù)的問題是個數(shù)學(xué)的多維問題。應(yīng)當(dāng)提到的是，當(dāng)光實(shí)質(zhì)上聚焦在第二信息層，即錯誤的層時， 這可能是先前的焦點(diǎn)捕獲過程的結(jié)果?？蛇x的是，如果環(huán)境正好允許， 光可以直接從聚焦在第一層，即正確的層轉(zhuǎn)變?yōu)榫劢乖诘诙樱村e 誤的層。有益的是，該方法還可以包括使光重新聚焦到第一信息層上的步 驟，即該光學(xué)裝置將實(shí)施恢復(fù)。有益的是，可以從以下非窮舉組中選擇第一和第二信息層參數(shù) 焦點(diǎn)偏移、焦點(diǎn)控制器增益、焦點(diǎn)跳躍方向、徑向誤差信號標(biāo)度、軌 道方向、準(zhǔn)直透鏡位置以及RF信號標(biāo)度。這些取決于層的各個參數(shù)及 其相關(guān)性將在以下的具體說明部分進(jìn)行進(jìn)一步闡述。在一個實(shí)施例中，可以由存儲在信息載體上的信息，即來自扇區(qū) 標(biāo)頭、DVD和BD格式中凹槽的擺動或者DVD-R格式的紋間預(yù)制坑的 地址信息，來提供表示光所聚焦于的實(shí)際信息層的信息。尤其是，可以由光學(xué)裝置的當(dāng)前層參數(shù)設(shè)定提供表示光所聚焦于 的實(shí)際信息層的信息。盡管難以由光學(xué)裝置的當(dāng)前配置獲得該層的身 份，但是可以獲得對光聚焦在其上的實(shí)際層的估計。 一種可能性是利 用從多層載體的不同層反射的光的差別。尤其是，誤差至少部分是由于對光學(xué)裝置和/或光學(xué)信息載體的外 部干擾而造成的，該干擾例如物理影響，如振動等。因此，本發(fā)明提 供了一種在哿刻條件下從光學(xué)載體再現(xiàn)信息的解決方案，該苛刻條件 例如在膝上型電腦中、在汽車中、人在慢跑中等。在一個實(shí)施例中，誤差至少部分是由于光學(xué)裝置和/或光學(xué)信息載 體中對于應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)的一個或多個偏離而造成的，即光學(xué)驅(qū)動器或者載 體具有某些缺陷。對于光學(xué)信息載體而言，如上所述，這種狀況越來 越頻繁，因此其與本發(fā)明的關(guān)聯(lián)不斷提高。非窮舉列表可以包括諸如ECMA-267、 ISO/IEC16448、 ECMA畫268和ISO/IEC16449的載體標(biāo)準(zhǔn)。 在第二方面，本發(fā)明涉及一種適合于從光學(xué)信息載體再現(xiàn)信息和/ 或?qū)⑿畔⒂涗浀皆撦d體的光學(xué)裝置，該光學(xué)裝置包括-用于使光聚焦到第一信息層的聚焦裝置，所述第一層具有與光學(xué) 裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第一層參數(shù)設(shè)定， -用于檢測從該載體反射的光的檢測裝置，以及 -用于提供表示光所聚焦于的實(shí)際信息層的信息的提供裝置， 其中，當(dāng)獲得了由于誤差造成的光基本上聚焦在笫二信息層的指 示時，所述第二層具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第二 層參數(shù)設(shè)定，該裝置適用于將至少一個第一層參數(shù)設(shè)定實(shí)質(zhì)上改變?yōu)?相應(yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定。在第三方面中，本發(fā)明涉及一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，其適合使計算 機(jī)系統(tǒng)控制根據(jù)本發(fā)明第二方面的光學(xué)記錄裝置，該計算機(jī)系統(tǒng)包括 至少一個計算機(jī)，該計算機(jī)具有與其相關(guān)的數(shù)據(jù)存儲裝置。 本發(fā)明的這個方面特別地但不排他地有利于可以利用計算機(jī)程序 產(chǎn)品來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，該計算機(jī)程序產(chǎn)品可以使計算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行才艮據(jù)本 發(fā)明第一方面的操作。因此，可以想到通過將計算機(jī)程序產(chǎn)品安裝在 控制所述光學(xué)記錄裝置的計算機(jī)系統(tǒng)上，而將某些已知的光學(xué)記錄/再 現(xiàn)裝置改變?yōu)楦鶕?jù)本發(fā)明工作?？梢栽谌我忸愋偷挠嬎銠C(jī)可讀媒質(zhì)上
提供這種計算機(jī)程序產(chǎn)品，該媒質(zhì)例如是基于磁或光的媒質(zhì)，或者通 過基于計算機(jī)的網(wǎng)絡(luò)來提供該計算機(jī)程序產(chǎn)品，例如互聯(lián)網(wǎng)。本發(fā)明的第一、第二和第三方面每個都可以分別與任意的其它方 面相組合。本發(fā)明的這些及其它方面將通過參照下文中所述的實(shí)施例 的闡述而顯而易見。


現(xiàn)在參照附圖描述本發(fā)明，在附圖中圖l是根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)記錄裝置的實(shí)施例的示意圖，圖2是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
圖1表示了根據(jù)本發(fā)明第二方面的光學(xué)裝置，其具有光學(xué)記錄載 體l。該載體1通過固定裝置30固定并旋轉(zhuǎn)。該載體1可以包括適合利用輻射光束5記錄信息的材料。該記錄 材料可以是例如磁光型、相變型、染料型、諸如Cu/Si的金屬合金或者 任何其它適當(dāng)?shù)牟牧??？梢詫⑿畔⒁怨鈱W(xué)可檢測區(qū)域的形式記錄到栽 體1上，對于可改寫媒質(zhì)該區(qū)域也稱作標(biāo)記，對于一次性寫入媒質(zhì)該 區(qū)域也稱作坑?？蛇x的是，由例如鋁或銀制成的反射層中的突起可以 提供如同只讀媒質(zhì)所具有的光學(xué)可讀取效果。該載體1分別包括兩個 層L1和L0，其中L0是最接近輻射光束5在載體1上的入射點(diǎn)的層。該裝置包括光頭20，利用致動裝置21例如步進(jìn)電機(jī)可以使該光頭 20位移。該光頭20包括光檢測系統(tǒng)10、輻射源4、分束器6、物鏡7 和透鏡位移裝置9。該分束器6用于將反射輻射8分路到光檢測裝置 10，其可以是偏振型或非偏振型，或者全息或光柵。該光頭20還包括 分束裝置(未示出)，例如能夠?qū)⑤椛涔馐?分成用于三光點(diǎn)差分推 挽徑向跟蹤控制方法的至少三個分量的光柵或全息圖案。為了清楚， 將輻射光束5表示為單一光束。類似的是，所反射的輻射8也可以包 括不只一個分量，但是圖3中為了清楚僅示出了一個光束8。該透鏡位 移裝置9是所謂的三維類型，其當(dāng)然地能夠沿著聚焦方向(z方向)移 動透鏡7，也能夠沿著載體1的徑向移動透鏡7。此外，該透鏡位移裝 置9能夠使透鏡7圍繞位于基本上平行于載體1的平面中的軸并且沿著垂直于載體1徑向的方向略微旋轉(zhuǎn)或傾斜，以便補(bǔ)償例如載體1的 "傘-似"缺陷。該光頭20還包括準(zhǔn)直裝置，即準(zhǔn)直透鏡22，其用于將輻射源4發(fā) 射的發(fā)散光5從點(diǎn)光源變成平行光束5。然而為了清楚，從圖3中無法 看出這些。利用專用的致動裝置23，即步進(jìn)電機(jī)，可以使準(zhǔn)直透鏡22 基本上沿著光束5的光軸位移。在圖1所示的實(shí)施例中，該準(zhǔn)直裝置是準(zhǔn)直透鏡，但是準(zhǔn)直裝置 還可以包括位于物鏡7之前的一個或多個液晶(LC)元件，或者位于 分束器6與物鏡7之間的一個或多個望遠(yuǎn)鏡頭。光檢測系統(tǒng)IO的功能是將從載體l反射的輻射8轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘枴?因此，該光檢測系統(tǒng)10包括幾種光檢測器，例如光電二極管、電荷耦 合器件(CCD)等，其能夠生成發(fā)送到預(yù)處理器11的一個或多個電輸 出信號。該光檢測器在空間上彼此相鄰設(shè)置，并且具有足夠的時間分 辨率，從而能夠檢測預(yù)處理器ll中的聚焦誤差(FE)和徑向跟蹤誤差 (RTE)。因此，該預(yù)處理器11將聚焦誤差和徑向跟蹤誤差信號發(fā)送 到處理器50。該光檢測系統(tǒng)IO還能夠?qū)⒈硎緩妮d體1讀取的信息的讀 取信號或RF信號通過預(yù)處理器11發(fā)送到處理器50。 RF信號的重要 層參數(shù)是RF信號標(biāo)度，這是由于反射率差造成的，在L0和L1上， RF信道的振幅和偏移都是不同的。實(shí)踐中能夠發(fā)現(xiàn)兩倍的差。使用錯 誤的設(shè)定會造成RF讀取故障。為了獲得徑向方向上的誤差，即實(shí)際徑向位置相對于希望或理想 徑向位置的偏差，可以使用幾種方法， 一種這樣的方法為推挽(PP) 方法，其中根據(jù)光學(xué)再現(xiàn)裝置的光學(xué)傳感器中檢測到的光學(xué)信號之間 的水平差來生成跟蹤誤差信號。另一種選擇是差分時間(或相位)檢 測(DTD)方法，其中將光學(xué)再現(xiàn)裝置的光學(xué)傳感器中檢測到的光學(xué) 信號之間的相位差用于生成徑向跟蹤誤差信號。一個重要的取決于層的參數(shù)是徑向誤差信號標(biāo)度，這是因?yàn)長O和 Ll的徑向誤差信號的振幅和偏移均不同。2倍的振幅變化是常見的。 使用不正確的設(shè)定的問題在于徑向伺服系統(tǒng)會變得不穩(wěn)定。另一個取 決于層的參數(shù)是跟蹤方向。當(dāng)從具有相對軌道路徑(OTP)的載體1 再現(xiàn)時，該格式的螺旋線在層L0和L1上具有相反的方向，這對于光 頭IO的徑向跟蹤位移而言是重要的。
為了獲得聚焦方向(FE)上的誤差，即實(shí)際聚焦位置相對于希望 或理想聚焦位置的偏差，可以使用幾種方法。理想上，應(yīng)當(dāng)消除聚焦 誤差，但是實(shí)際情況下，具有少量焦點(diǎn)偏移是有益的，這是因?yàn)榻?jīng)驗(yàn) 表明這樣可以提高穩(wěn)定性。聚焦偏移對于L0和L1而言幾乎總具有不 同的值，這是由于這兩個層在該載體1中的不同位置的光學(xué)作用造成 的。該參數(shù)對于RF信道最相關(guān)；當(dāng)使用誤差的焦點(diǎn)偏移值時，差異變得更大，使得不能夠在無誤差的情況下讀取數(shù)據(jù)。此外，焦點(diǎn)偏移對 于徑向推挽信號而言是個重要的因素。類似的是，焦點(diǎn)控制器增益是 一個重要的參數(shù)，這是因?yàn)榻裹c(diǎn)s曲線的形狀能夠在LO與Ll之間非 常大地變化(達(dá)到1.5倍振幅差)，因此該控制器增益適用于特定的層。 如果不是這樣，聚焦伺服可能運(yùn)轉(zhuǎn)不穩(wěn)定，并且從一層再次聚焦到另 一層會困難。用于聚焦的另一個相關(guān)的層參數(shù)是焦點(diǎn)跳躍方向。當(dāng)從 例如LO改變和跳躍到Ll時，在聚焦致動器9上存在正或負(fù)加速度電壓。如果沒有將該層參數(shù)設(shè)定準(zhǔn)確，則會導(dǎo)致沿著錯誤方向的焦點(diǎn)跳 躍。用于發(fā)射輻射光束5的輻射源4可以是例如具有可變功率的半導(dǎo) 體激光器，還可能具有可變的輻射波長。可選的是，該輻射源4可以 包括不只一個激光器。在本發(fā)明的上下文中，術(shù)語"光"應(yīng)理解為等 同于輻射光束5。光學(xué)設(shè)置該光頭20，從而將輻射光束5經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡22、分束器 6和物鏡7引導(dǎo)到光學(xué)載體1。物鏡7收集從載體1反射的輻射8，在 穿過分束器6之后，該輻射入射到光檢測系統(tǒng)10上，該光檢測系統(tǒng)將 入射輻射8轉(zhuǎn)變?yōu)槿缟纤龅碾娸敵鲂盘?。處理?0接收并分析來自預(yù)處理器11的輸出信號。該處理器50 還能夠?qū)⒖刂菩盘栞敵龅綀D1所示的致動裝置21、輻射源4、透鏡位 移裝置9、準(zhǔn)直器致動裝置23、預(yù)處理器11和固定裝置30。類似的是， 該處理器50能夠接收數(shù)據(jù)，例如將要寫入載體1上的信息(如61所 示)，并且處理器50可以輸出來自讀取程序的數(shù)據(jù)(如60所示)。 如果該處理器50獲得了光5聚焦在錯誤的層LO的指示，則該處理器 50會使一個或多個當(dāng)前的參數(shù)設(shè)定SL1變成與光5實(shí)際聚焦的層LO 相關(guān)的相應(yīng)層參數(shù)SLO。在變?yōu)閷訁?shù)SLO之后，該處理器50啟動對 希望層L1的層搜索或者重新聚焦過程。本發(fā)明特別有益于，由于校正
或修改層參數(shù)，使得在笫一次嘗試中成功恢復(fù)的概率增大。圖2是根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。在笫一步S1中，使光5聚焦在第一信息層L1，該第一層具有與光 學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第 一層參數(shù)設(shè)定SL1 。在第二步S2中，利用光檢測裝置IO檢測來自栽體1的反射光8。在第三步S3中，提供表示光5聚焦于的實(shí)際信息層Ll或LO的信 息?？梢杂蓮男畔⑤d體1上的地址讀取的信息證明該信息，該地址例 如在扇區(qū)的標(biāo)頭區(qū)域中，或者根據(jù)該光學(xué)裝置的指示符來證明該信 息，例如該絕對聚焦設(shè)定、由于多層媒質(zhì)具有多個不同反射率而造成 的反射光級別等。還可以進(jìn)一步想到采用徑向跟蹤的推挽振幅和RF振 幅來提供對實(shí)際層L1或LO的鑒別。然后，在第四步S4中，獲得了由于某種誤差使得光5基本上聚焦 在第二信息層L0，即錯誤層的指示。在步驟五S5中，進(jìn)行實(shí)際決定，即光5的聚焦不正確。最后，在第六步S6中，該處理器50將至少一個第一層參數(shù)設(shè)定 SL1實(shí)質(zhì)上改變?yōu)橄鄳?yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定SLO。優(yōu)選的是，將所有笫一 層參數(shù)設(shè)定SL1都變?yōu)榕c其相應(yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定SL0。在純以電子 方法改變的層參數(shù)(例如標(biāo)度因數(shù)等)與需要致動器(例如聚焦致動 器9)的實(shí)際位移決定的機(jī)械層參數(shù)之間進(jìn)行辨別。當(dāng)然，純粹的電子 參數(shù)可以比機(jī)械層參數(shù)更快地改變。在一個實(shí)施例中，僅僅或主要改 變?nèi)Q于電子層的參數(shù)，以提高改變程序的速度。盡管結(jié)合特定實(shí)施例描述了本發(fā)明，但無意將本發(fā)明限制為本文 中提出的特定形式。相反，本發(fā)明的范圍僅由權(quán)利要求進(jìn)行限定。在 權(quán)利要求中，術(shù)語"包括，，不排除其它元件或步驟的存在。此外，盡 管在不同權(quán)利要求中包括單獨(dú)的特征，但是有利的是也可以將這些特 征進(jìn)行組合，這些特征包含在不同權(quán)利要求中并不表示對其的組合是 不可行和/或不利的。此外，單數(shù)冠詞不排除多個。因此，冠詞"一，，、 "一個"、"第一"、"第二"等不排除多個。此外，權(quán)利要求中的 附圖標(biāo)記不應(yīng)理解為對范圍的限制。
權(quán)利要求
1.一種用于通過使光(5)照射到光學(xué)裝置中的光學(xué)信息載體(1)上，而從該光學(xué)信息載體(1)再現(xiàn)信息和/或?qū)⑿畔⒂涗浀皆撦d體的方法，該載體(1)具有多個信息層(L1、L0)，該方法包括以下步驟-使光(5)聚焦到第一信息層(L1)，所述第一層具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第一層參數(shù)設(shè)定(SL1)，-檢測從該載體(1)反射的光(8)，以及-提供表示光(5)所聚焦于的實(shí)際信息層(L1、L0)的信息，-當(dāng)獲得了由于誤差造成的光(5)基本上聚焦在第二信息層(L0)的指示時，所述第二層(L0)具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第二層參數(shù)設(shè)定(SL0)，采取以下步驟-將至少一個第一層參數(shù)設(shè)定(SL1)實(shí)質(zhì)上改變?yōu)橄鄳?yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定(SL0)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的方法，該方法還包括使光(5)重新聚焦到 第一信息層(Ll)上的步驟。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其中從以下組中選擇第一和笫二信息 層參數(shù)(SL1、 SLO):焦點(diǎn)偏移、焦點(diǎn)控制器增益、焦點(diǎn)跳躍方向、 徑向誤差信號標(biāo)度、軌道方向、準(zhǔn)直透鏡位置以及RF信號標(biāo)度。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其中根據(jù)存儲在信息載體上的信息提 供表示光(5)聚焦于的實(shí)際信息層(Ll、 L0)的信息。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其中根據(jù)該光學(xué)裝置的當(dāng)前層參數(shù)設(shè) 定(SL1、 SLO)提供表示光(5)所聚焦于的實(shí)際信息層(Ll、 LO) 的信息。
6. 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其中誤差至少部分上是由于對光學(xué)裝 置和/或光學(xué)信息載體(1)的外部干擾而造成的。
7. 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其中誤差至少部分上是由于光學(xué)裝置 和/或光學(xué)信息載體(1)中對于應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)的一個或多個偏離而造成的。
8. —種適合于從光學(xué)信息載體(1)再現(xiàn)信息和/或?qū)⑿畔⒂涗浀?該載體的光學(xué)裝置，該光學(xué)裝置包括誦用于使光聚焦到第一信息層(Ll)的聚焦裝置(7、 9)，所述 第一層具有與光學(xué)裝置中的信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第一層參數(shù)設(shè)定 (SL1)， -用于檢測從該載體(1)反射的光(8)的檢測裝置(10)，以及 誦用于提供表示光(5)所聚焦于的實(shí)際信息層(Ll、 L0)的信息 的提供裝置(11、 50)，在該光學(xué)裝置中，當(dāng)獲得了由于誤差造成的光(5)基本上聚焦在 第二信息層(L0)的指示時，所述第二層(L0)具有與光學(xué)裝置中的 信息優(yōu)化再現(xiàn)相關(guān)的多個第二層參數(shù)設(shè)定(SL0)，該裝置適用于將至 少一個第一層參數(shù)設(shè)定(SL1)實(shí)質(zhì)上變?yōu)橄鄳?yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定 (SU))。
9. 一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，其適于使計算機(jī)系統(tǒng)根據(jù)權(quán)利要求l所述的信息再現(xiàn)和/或記錄方法來控制光學(xué)裝置，該計算機(jī)系統(tǒng)包括至少 一個計算機(jī)，該計算機(jī)具有與其相關(guān)的數(shù)據(jù)存儲裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于從多層光學(xué)信息載體(1)再現(xiàn)的方法，該載體例如是諸如DVD或者BD盤的雙層媒質(zhì)。首先，將光(5)聚焦在第一信息層(L1)，其中該第一層具有用于在特定光學(xué)驅(qū)動器中優(yōu)化信息再現(xiàn)的一定范圍的參數(shù)設(shè)定(SL1)。其次，檢測從載體反射的光(8)，并且隨后提供表示光(5)所聚焦于的實(shí)際信息層(L1或者L0)的信息。由于誤差，光可能會聚焦到“錯誤的”第二信息層(L0)，其中該第二層具有用于在特定光學(xué)驅(qū)動器中優(yōu)化信息再現(xiàn)的一定范圍的第二層參數(shù)設(shè)定(SL0)。本發(fā)明通過在對預(yù)期的層(L1)實(shí)施重新聚焦之前，將至少一個第一層參數(shù)設(shè)定改變?yōu)橄鄳?yīng)的第二層參數(shù)設(shè)定，由此提供一種經(jīng)改進(jìn)的修復(fù)機(jī)會。
文檔編號G11B7/085GK101151665SQ200680010282
公開日2008年3月26日 申請日期2006年3月21日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月31日
發(fā)明者H·A·J·盧伊曼斯, J·H·J·格爾茨 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司