專利名稱：用于恢復(fù)光盤信號的系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及校正在恢復(fù)信號中的誤差，并且尤其涉及恢復(fù)從光盤中用光學(xué)方法拾取的射頻(RF)信號。
背景技術(shù)：
存儲在致密盤(CD)中的數(shù)據(jù)使用八位到十四位調(diào)制(以下稱為“EFM”)編碼，并且存儲在數(shù)字化視頻光盤(DVD)中的數(shù)據(jù)使用八位到十六位調(diào)制(以下稱為“EFM+”)編碼。格式化EFM信號，以使相同的邏輯值不能超過預(yù)定次數(shù)接連出現(xiàn)。做到這點(diǎn)以使在播放期間能移除直流分量并且易于時(shí)鐘恢復(fù)。
就CD來說，具有信息的凹坑是串聯(lián)放置地，并且其中排列所述凹坑的軌道以1.6的軌道間距來同心放置。所述凹坑的長度和所述凹坑的間距根據(jù)所述時(shí)鐘脈沖的寬度被分為九個(gè)值，即3T到11T。這里，術(shù)語T表示一個(gè)時(shí)鐘脈沖的周期；并且所述術(shù)語3T和11T分別表示三個(gè)時(shí)鐘脈沖周期和十一個(gè)時(shí)鐘脈沖周期。
由于光盤的材料特性和存在于光盤生產(chǎn)技術(shù)中的固有約束，很難制造具有均勻表面的光盤。同樣，由于光學(xué)拾取設(shè)備的機(jī)械缺點(diǎn)，不能保持光束投射于其上的光盤表面區(qū)域的恒定形狀和大小。從而，從光盤中用光學(xué)方法拾取的RF信號的波長可能超出特定的范圍，結(jié)果導(dǎo)致EFM信號中的誤差。
為了在光盤上記錄更多的信息，光盤上的凹坑應(yīng)該具有高密度。因此，結(jié)果在相鄰凹坑之間的干擾增加了RF信號中的噪聲，使得EFM數(shù)據(jù)的差錯率增加。特別的是，最經(jīng)常出現(xiàn)的3T最易受到由于來自干擾而產(chǎn)生的噪聲帶來誤差的影響。結(jié)果，由于相鄰凹坑間的干擾使3T的凹坑長度看來似乎減少，從而3T可能被錯誤地認(rèn)為是1T或2T。在這種情況下，所述EFM解調(diào)不能正確地執(zhí)行，結(jié)果導(dǎo)致由EFM解調(diào)的數(shù)據(jù)中的誤差。
在試圖解決這個(gè)問題的常規(guī)設(shè)備里，在具有小于3T的長度的EFM信號的脈沖正沿處測量相位誤差。在所述正沿比較信號相位。如果確定在所述正沿處出現(xiàn)了1T的損失，該正沿示出了更大的相位，那么校正所測量的相位誤差。在這種情況下，為了測量所述相位誤差，使用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)將光學(xué)拾取的RF信號的電平轉(zhuǎn)換為所述相位誤差。作為選擇，使用具有比正常時(shí)鐘信號高得多的頻率的信號，來測量在所述正常時(shí)鐘信號和由所述RF信號調(diào)制產(chǎn)生的EFM信號之間的相位誤差。
圖1是光盤的常規(guī)恢復(fù)系統(tǒng)的框圖。
參照圖1，所述常規(guī)恢復(fù)系統(tǒng)包括限幅器110、時(shí)鐘恢復(fù)鎖相環(huán)(時(shí)鐘恢復(fù)PLL)120、鎖存電路130和解調(diào)器140。所述限幅器110采樣用光學(xué)方法拾取的RF信號。所述時(shí)鐘恢復(fù)PLL 120接收來自于所述限幅器110的信號EFMI并且產(chǎn)生通道時(shí)鐘信號PCLK。所述鎖存電路130接收來自于所述限幅器110的信號EFMI和來自于所述時(shí)鐘恢復(fù)PLL 120的通道時(shí)鐘信號PCLK，以輸出與所述通道時(shí)鐘信號PCLK同步的信號EFMNRZI。所述解調(diào)器140解調(diào)從所述鎖存電路130接收的信號EFMNRZI。
為了進(jìn)行誤差校正，所述常規(guī)恢復(fù)系統(tǒng)必須包括ADC，否則要求具有比正常時(shí)鐘信號更高頻率的信號。然而，并不希望所述恢復(fù)系統(tǒng)包括ADC，這是因?yàn)樾枰蟪叽绨鍋砣菁{所述ADC。同樣，從集成電路(IC)芯片外面提供具有比正常時(shí)鐘信號更高頻率的信號，或在板上為這樣的信號安裝信號發(fā)生器是不經(jīng)濟(jì)的。還有，這樣的處理使所述光盤系統(tǒng)復(fù)雜，并且，特別不適合于高速操作。因此，需要用于恢復(fù)光盤信號的恢復(fù)系統(tǒng)和方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例提供了一種恢復(fù)系統(tǒng)，所述恢復(fù)系統(tǒng)在不使用ADC或具有比所述通道時(shí)鐘信號更高頻率的時(shí)鐘信號的情況下，使用限幅信號和通道時(shí)鐘信號來執(zhí)行誤差校正。
本發(fā)明的一方面還提供了一種恢復(fù)方法，通過該方法使用限幅信號和通道時(shí)鐘信號來執(zhí)行誤差校正。
依照本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種恢復(fù)系統(tǒng)，所述恢復(fù)系統(tǒng)從光盤中用光學(xué)方法拾取信息并且恢復(fù)所述信息。所述恢復(fù)系統(tǒng)包括限幅器電路、鎖相環(huán)、鎖存電路、3T校正電路和解調(diào)器。所述限幅器采樣從光盤中用光學(xué)方法拾取的信號。所述鎖相環(huán)接收從所述限幅器輸出的信號并且產(chǎn)生通道時(shí)鐘信號。所述鎖存電路接收從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號；并且所述鎖存電路響應(yīng)所述通道時(shí)鐘信號來輸出從所述限幅器輸出的信號。所述3T校正電路接收所述通道時(shí)鐘信號、從所述限幅器輸出的信號和從所述鎖存電路輸出的信號，并且輸出其中校正3T的信號。所述解調(diào)器解調(diào)從所述3T校正電路輸出的信號。
所述3T校正電路包括擴(kuò)展存儲裝置、長度測量裝置、相位檢測器和擴(kuò)展確定器。所述擴(kuò)展存儲裝置響應(yīng)所述鎖相環(huán)的通道時(shí)鐘信號、在預(yù)定存儲裝置中存儲從所述鎖存電路輸出的信號，輸出存儲狀態(tài)，并且響應(yīng)從擴(kuò)展確定器輸出的信號輸出所存儲的數(shù)據(jù)。所述長度測量裝置接收來自于所述擴(kuò)展存儲裝置的存儲狀態(tài)，檢測所述存儲狀態(tài)的預(yù)定脈沖周期(2T/1T)，分別測量在預(yù)定脈沖信號前后的先前和下一脈沖，并且依照所述周期的測量結(jié)果輸出所述預(yù)定脈沖的當(dāng)前長度、先前脈沖的先前長度和下一脈沖的下一長度。所述相位檢測器測量所述通道時(shí)鐘信號和從所述限幅器輸出的信號之間的相位差。
此后所述相位檢測器依照測量結(jié)果輸出前部(leading)相位，其表明當(dāng)啟動預(yù)定脈沖時(shí)、在從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；后部(trail)相位，其表明當(dāng)啟動下一脈沖時(shí)、從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；以及先前相位，其表明當(dāng)啟動先前脈沖時(shí)、從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差。所述擴(kuò)展確定器接收當(dāng)前長度、先前長度、下一長度、前部相位、后部相位和先前相位，并且確定校正的需要和所述校正的方向。
所述擴(kuò)展存儲裝置包括多個(gè)移位寄存器。
依照本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種恢復(fù)方法。所述方法恢復(fù)信號，在所述方法中通過使用以下信號來校正3T，所述信號為從限幅器輸出的信號，所述限幅器用于采樣從光盤中用光學(xué)方法拾取的信號；從鎖相環(huán)中輸出的通道時(shí)鐘信號，所述鎖相環(huán)用于接收從所述限幅器輸出的信號；以及從鎖存電路輸出的信號，所述鎖存電路用于接收從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號，并且將從所述限幅器輸出的信號與所述通道時(shí)鐘信號同步地輸出。
所述方法包括檢測從所述鎖存電路輸出的信號的當(dāng)前脈沖的當(dāng)前長度；在所述當(dāng)前脈沖之前緊接著的先前脈沖的先前長度；和在所述當(dāng)前脈沖之后緊接著的下一脈沖的下一長度。此外，所述方法當(dāng)啟動從所述限幅器輸出的信號時(shí)，檢測表明所述通道時(shí)鐘信號和從所述限幅器輸出的信號之間的差的前部相位；當(dāng)啟動下一脈沖時(shí)，輸出表明從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差的后部相位；以及當(dāng)啟動所述先前相位時(shí)，輸出表明從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差的先前相位。此外，所述方法包括確定當(dāng)前長度是否小于2T；如果所述當(dāng)前長度小于2T則選擇雙向校正或無校正；并且如果所述當(dāng)前長度等于2T則選擇正向校正或反向校正。
所述雙向校正和無校正中的一個(gè)的選擇包括確定當(dāng)前長度是否等于1T；如果所述當(dāng)前長度不等于1T則選擇無校正；并且如果所述當(dāng)前長度等于1T，當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都小于或等于3T時(shí)則選擇無校正，當(dāng)先前長度和下一長度都大于3T時(shí)，則選擇所述雙向校正。
如果所述下一長度和先前長度都小于或等于3T，那么無校正、正向校正和反向校正中的一個(gè)的選擇將是選擇無校正。如果所述先前長度大于3T而所述下一長度小于或等于3T，那么選擇技術(shù)將選擇正向校正。此外，如果所述先前長度小于或等于3T而所述下一長度大于3T，那么選擇技術(shù)將選擇反向校正。此外，如果下一相位和后部相位均有第一相位誤差或所述先前相位有第二相位誤差，那么當(dāng)先前長度和下一長度都大于3T時(shí)，所述技術(shù)可以選擇正向校正。然而，如果所述下一相位和所述后部相位均有第二相位誤差或所述先前相位有第一相位誤差，那么當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都大于3T時(shí)，選擇反向校正。
第一相位誤差表明從所述限幅器輸出的信號是快的，并且第二相位誤差表明從所述限幅器輸出的信號是慢的。


參考附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，其中圖1是光盤的常規(guī)恢復(fù)系統(tǒng)的框圖。
圖2是依照本發(fā)明的示例性實(shí)施例的光盤恢復(fù)系統(tǒng)的框圖。
圖3是圖2的3T校正電路的框圖；圖4是圖3的3T校正電路的內(nèi)部信號的時(shí)序圖；圖5是當(dāng)前部相位LP是快的并且后部相位TP是快的時(shí)，圖3的3T校正電路的內(nèi)部信號的時(shí)序圖；圖6是當(dāng)前部相位LP是慢的并且后部相位TP是慢的，圖3的3T校正電路的內(nèi)部信號的時(shí)序圖；和圖7是舉例說明圖3的擴(kuò)展確定器257的確定過程的信號流程圖。
具體實(shí)施例方式
參考附圖將描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
圖2是依照本發(fā)明的示例性實(shí)施例的光盤恢復(fù)系統(tǒng)的框圖。
參照圖2，所述光盤恢復(fù)系統(tǒng)包括限幅器210，鎖相環(huán)220，鎖存電路230，3T校正電路250和解調(diào)器240。
所述限幅器210采樣從光盤上光學(xué)拾取的模擬信號RF。所述鎖相環(huán)220接收來自于所述限幅器210的信號EFMI并且產(chǎn)生通道時(shí)鐘信號PCLK。所述鎖存電路230接收來自于所述限幅器210的信號EFMI和所述通道時(shí)鐘信號PCLK，并且與所述通道時(shí)鐘信號PCLK同步地輸出信號EFMNRZI。所述3T校正電路250接收來自于所述鎖存電路230的信號EFMNRZI、來自于所述限幅器210的信號EFMI和來自于所述鎖相環(huán)220的通道時(shí)鐘信號PCLK，并且輸出其中校正了3T凹坑長度的信號EFMNRZI’。所述解調(diào)器240解調(diào)從所述3T校正電路250輸出的信號EFMNRZI’。
圖3是圖2的3T校正電路250的框圖。
參照圖3，所述3T校正電路250包括擴(kuò)展存儲裝置251，長度測量裝置253，相位檢測器255和擴(kuò)展確定器257。
所述擴(kuò)展存儲裝置251響應(yīng)所述通道時(shí)鐘信號PLCK在預(yù)定的存儲裝置(未示出)中存儲信號EFMNRZI，向長度測量裝置253輸出所述預(yù)定存儲裝置的存儲狀態(tài)S，并且響應(yīng)從所述擴(kuò)展確定器257接收的信號D而輸出所存儲的數(shù)據(jù)信號EFMNRZI。優(yōu)選的是，所述預(yù)定存儲裝置使用移位寄存器實(shí)現(xiàn)。
所述長度測量裝置253接收來自于所述擴(kuò)展存儲裝置251的存儲狀態(tài)S，如果其檢測到2T/1T凹坑長度，那么在測量于2T/1T凹坑長度的脈沖的前后、測量所述脈沖的長度，并且根據(jù)所述測量結(jié)果輸出當(dāng)前長度CL、先前長度PL和下一長度NL。
所述相位檢測器255測量所述通道時(shí)鐘信號PLCK和所述信號EFMI之間的相位差，并且根據(jù)所述測量結(jié)果輸出前部相位LP、后部相位TP和先前相位PP。所述擴(kuò)展確定器257接收當(dāng)前長度CL、先前長度PL、下一長度NL、前部相位LP、后部相位TP和先前相位PP，確定校正的必要性和校正的方向，并且向所述擴(kuò)展存儲裝置251輸出用于執(zhí)行校正的信號D。
現(xiàn)在參考圖4描述所述當(dāng)前長度CL、先前長度PL、下一長度NL、前部(leading)相位LP、后部(trailing)相位TP和先前相位PP。
圖4是圖3的3T校正電路250的內(nèi)部信號時(shí)序圖。
參照圖4，所述相位檢測器255將限幅器210的輸出信號EFMI和通道時(shí)鐘信號PLCK之間的相位誤差分類為前部相位誤差(LPE)和后部相位誤差(TPE)，并且按快的或慢的來分類所述LPE和TPE。
換句話說，當(dāng)鎖相環(huán)220鎖定在信號EFMI邊沿的通道時(shí)鐘信號PLCK的低狀態(tài)時(shí)，如果所述通道時(shí)鐘信號PLCK在所述信號EFMI的邊沿是邏輯高(‘1’)，那么信號EFMI早于通道時(shí)鐘信號PCLK并且可以表示為快的。另一方面，當(dāng)信號EFMI在通道時(shí)鐘信號PCLK之后時(shí)，所述信號EFMI可以表示為慢的。因此，如圖4中舉例說明的那樣，先前相位PP是慢的，前部相位LP是快的，并且后部相位TP是慢的。
參照圖4，先前長度PL是4T，當(dāng)前長度CL是2T，并且下一長度NL大于或等于3T。因?yàn)镃L等于2T，所以響應(yīng)信號EFMI和通道時(shí)鐘信號PLCK而從鎖存電路230輸出的信號EFMNRZI具有誤差。當(dāng)信號EFMI的長度小于3T，并且對應(yīng)于通道時(shí)鐘信號PLCK(即對應(yīng)于P4到P6)的信號EFMI長度大于2T但小于3T時(shí)，所述誤差就出現(xiàn)了。這里，T表示通道時(shí)鐘信號PLCK的脈沖周期。如果擴(kuò)展確定器257確定需要考慮預(yù)定條件(如下所述)來校正誤差，那么通過正向擴(kuò)展、反向擴(kuò)展或雙向擴(kuò)展來校正所述誤差。
圖5是當(dāng)所述前部相位LP是快的并且所述后部相位TP是快的時(shí)，所述3T校正電路250(圖3中所示)的內(nèi)部信號時(shí)序圖。圖6是當(dāng)所述前部相位LP是慢的并且所述后部相位TP是慢的時(shí)，圖3的所述3T校正電路250的內(nèi)部信號時(shí)序圖。
參照附圖5和6，可以按照在信號EFMI的兩個(gè)邊沿上的通道時(shí)鐘信號PLCK的邏輯狀態(tài)來比較差錯率。為了說明，假定當(dāng)3T降低到2T時(shí)，降低兩個(gè)邊沿，應(yīng)該考慮兩種情況。第一種情況為F1，其中在通道時(shí)鐘信號PCLK的上升沿之前，信號EFMI的前沿出現(xiàn)；并且第二種情況為B1，其中在通道時(shí)鐘信號PLCK的上升沿之前，信號EFMI的后沿出現(xiàn)。
參照圖5，當(dāng)前部相位LP和后部相位TP是快的時(shí)，如果在正向上降低1T，那么從0.5T到1T范圍內(nèi)的相位誤差出現(xiàn)在所述情況F1中。如果在反向上降低1T，那么從1T到1.5T范圍內(nèi)的相位誤差出現(xiàn)在所述情況B1中。因此，在情況F1中誤差出現(xiàn)的概率大于在情況B1中的。從而，將正向擴(kuò)展用于錯誤校正。
參照圖6，當(dāng)LP和TP都是慢的時(shí)，如果在反向上降低1T，從0.5T到1T的相位誤差出現(xiàn)在情況B2中。如果在正向上降低1T，從1T到1.5T的相位誤差出現(xiàn)在情況F2中。因此，確定在情況B2中的誤差出現(xiàn)的概率比情況F2中的誤差要高。從而，將反向擴(kuò)展用于誤差校正。
在附圖5和6中，LP和TP都是快的或慢的。然而，當(dāng)LP和TP具有不同的值時(shí)，如果PP是慢的，那么在通道時(shí)鐘信號PLCK的上升沿之前，存在出現(xiàn)信號EFMI的前沿的概率高。另一方面，如果PP是快的，那么在通道時(shí)鐘信號PLCK上升沿之前，出現(xiàn)信號EMI后沿的概率高。從而，將正向擴(kuò)展和反向擴(kuò)展分別地用于所述兩種情況。
圖7是舉例說明圖3的擴(kuò)展確定器257的確定過程的信號流程圖。
參照圖7，所述擴(kuò)展確定器257的確定過程可以被分為檢測步驟(未示出)、第一確定步驟710、第二確定步驟720、第三確定步驟730、無校正740、雙向擴(kuò)展校正750、正向擴(kuò)展校正760和反向擴(kuò)展校正770。
所述檢測步驟包括檢測在信號EFMNRZI的預(yù)定周期期間的當(dāng)前長度CL，在具有當(dāng)前長度CL的脈沖之前緊接著的脈沖的先前長度PL；檢測在具有當(dāng)前長度CL的脈沖之后緊接著的脈沖的下一長度NL；當(dāng)啟動所述信號EFMNRZI時(shí)，檢測表明信號EFMI和當(dāng)前時(shí)鐘信號PLCK之間誤差的前部相位LP；當(dāng)啟動在具有當(dāng)前長度CL的脈沖之后緊接著的脈沖時(shí)，檢測表明信號EFMI和通道時(shí)鐘信號PLCK之間誤差的后部相位TP；檢測表明信號EFMI之間誤差的先前相位PP；和當(dāng)啟動在具有當(dāng)前長度CL的脈沖之后緊接著的脈沖時(shí)檢測通道時(shí)鐘信號PLCK。
在第一確定步驟710里，確定當(dāng)前長度CL是否小于2T。如果當(dāng)前長度CL是3T，那么執(zhí)行正常操作并且不要求錯誤校正。只有當(dāng)當(dāng)前長度CL小于3T時(shí)才考慮誤差校正。
在第二確定步驟720，如果當(dāng)前長度CL不等于1T，那么選擇無校正(子確定步驟721)。如果當(dāng)前長度CL等于1T，并且此外如果下一長度NL和先前長度PL都大于3T，那么選擇雙向校正。但是如果下一長度NL和先前長度PL中的其中一個(gè)小于或等于3T，那么選擇無校正(子確定步驟723)。
在第三確定步驟730，當(dāng)前長度CL等于2T。如果下一長度NL和先前長度PL都小于或等于3T(731)，那么選擇無校正(740)。如果先前長度PL大于3T并且下一長度NL小于或等于3T(732)，那么選擇正向擴(kuò)展(760)。如果先前長度PL小于或等于3T并且下一長度NL大于3T(733)，那么選擇反向擴(kuò)展(770)。
當(dāng)先前長度PL和下一長度NL都大于3T時(shí)，如果前部相位LP和后部相位TP都有第一相位誤差(734)或鎖相環(huán)有第二相位誤差(736)，那么選擇正向擴(kuò)展(760)。然而，如果前部相位LP和后部相位TP都有第二相位誤差(735)或先前相位PP有第一相位誤差(736)，那么選擇反向擴(kuò)展(770)。
優(yōu)選的是，第一相位誤差表明信號EFMI是快的，并且第二相位誤差表明通道時(shí)鐘信號PCLK是慢的。
本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解的是，圖3的框圖和圖7的信號流程圖是為了說明和理解目的而僅作為例子示出的，并且可以在不同的條件下變化。
如上所述，依照本發(fā)明至少一個(gè)實(shí)施例的用于光盤的所述恢復(fù)系統(tǒng)和方法在沒有使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器或具有比通道時(shí)鐘信號更高頻率的時(shí)鐘信號的情況下，使用通常被用于系統(tǒng)的限幅信號(EFMI)和通道時(shí)鐘信號(PLCK)來執(zhí)行誤差校正。結(jié)果達(dá)到改善在光盤系統(tǒng)中的恢復(fù)可靠性的目的。
雖然已經(jīng)參考其示例性實(shí)施例詳細(xì)地示出并描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解的是，在不脫離由所附權(quán)利要求及其等效形式所定義的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以在形式和細(xì)節(jié)上進(jìn)行各種變化。
權(quán)利要求
1.一種恢復(fù)系統(tǒng)，其從光盤上用光學(xué)方法拾取信息并且恢復(fù)所述信息，所述恢復(fù)系統(tǒng)包括用于采樣從所述光盤上用光學(xué)方法拾取的信號的限幅器；鎖相環(huán)，用于接收從所述限幅器輸出的信號并產(chǎn)生通道時(shí)鐘信號；鎖存電路，用于接收從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號，并且響應(yīng)所述通道時(shí)鐘信號輸出從所述限幅器輸出的信號；3T校正電路，用于接收所述通道時(shí)鐘信號、從所述限幅器輸出的信號和從所述鎖存電路輸出的信號，并且輸出其中校正了3T的信號；和解調(diào)器，用于解調(diào)從所述3T校正電路輸出的信號。
2.如權(quán)利要求1所述的恢復(fù)系統(tǒng)，其中所述3T校正電路包括擴(kuò)展存儲裝置，用于響應(yīng)所述鎖相環(huán)的通道時(shí)鐘信號、在預(yù)定存儲裝置中存儲從所述鎖存電路輸出的信號，輸出存儲狀態(tài)，并且響應(yīng)從擴(kuò)展確定器輸出的信號來輸出所存儲的數(shù)據(jù)；長度測量裝置，用于接收來自所述擴(kuò)展存儲裝置的存儲狀態(tài)，檢測所述存儲狀態(tài)的預(yù)定脈沖周期(2T/1T)，所述長度測量裝置分別地測量在所述預(yù)定脈沖信號的前后的先前和下一脈沖，并且依照所述周期測量結(jié)果輸出所述預(yù)定脈沖的當(dāng)前長度，所述先前脈沖的先前長度和所述下一脈沖的下一長度；相位檢測器，用于測量所述通道時(shí)鐘信號和從所述限幅器輸出的信號之間的相位差，并且依照測量結(jié)果輸出前部相位、后部相位和先前相位；所述前部相位表明當(dāng)啟動所述預(yù)定脈沖時(shí)、從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；所述后部相位表明當(dāng)啟動所述下一脈沖時(shí)、從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；所述先前相位表明當(dāng)啟動所述先前脈沖時(shí)、從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；和擴(kuò)展確定器，用于接收所述當(dāng)前長度、所述先前長度、所述下一長度、所述前部相位、所述后部相位和所述先前相位，并且確定校正的需要和所述校正的方向。
3.如權(quán)利要求2所述的恢復(fù)系統(tǒng)，其中所述擴(kuò)展存儲裝置包括多個(gè)移位寄存器。
4.一種恢復(fù)方法，用于恢復(fù)信號，其中通過使用從用于采樣于光盤上用光學(xué)方法拾取的信號的限幅器輸出的信號，從用于接收從所述限幅器輸出的信號的鎖相環(huán)上輸出的通道時(shí)鐘信號，和從用于接收從所述限幅器輸出的信號和通道時(shí)鐘信號、并將從所述限幅器輸出的信號與所述通道時(shí)鐘信號同步地輸出的鎖存電路輸出的信號來校正3T，所述方法包括檢測從所述鎖存電路輸出的信號的當(dāng)前脈沖的當(dāng)前長度，在所述當(dāng)前脈沖之前緊接著的先前脈沖的先前長度，和在所述當(dāng)前脈沖之后緊接著的下一脈沖的下一長度，前部相位，后部相位和先前相位；所述前部相位表明當(dāng)啟動從限幅器輸出的信號時(shí)、所述通道時(shí)鐘信號和從限幅器輸出的信號之間的差；所述后部相位表明當(dāng)啟動所述下一脈沖時(shí)、從限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；所述先前相位表明當(dāng)啟動所述先前相位時(shí)、從限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差；確定所述當(dāng)前長度是否小于2T；如果所述當(dāng)前長度小于2T選擇雙向校正或無校正；和如果所述當(dāng)前長度等于2T選擇正向校正或反向校正。
5.如權(quán)利要求4所述的恢復(fù)方法，其中雙向校正和無校正之一的選擇包括確定所述當(dāng)前長度是否等于1T；如果所述當(dāng)前長度不等于1T選擇所述無校正；并且如果所述當(dāng)前長度等于1T，當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都小于或等于3T時(shí)選擇所述無校正；并且當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都大于3T時(shí)選擇所述雙向校正。
6.如權(quán)利要求4所述的恢復(fù)方法，其中無校正、正向校正和反向校正之一的選擇包括如果所述下一長度和所述先前長度都小于或等于3T，選擇所述無校正；如果所述先前長度大于3T并且所述下一長度小于或等于3T，選擇所述正向校正；如果所述先前長度小于或等于3T并且所述下一長度大于3T，選擇所述反向校正；如果所述下一相位和所述后部相位均有第一相位誤差或所述先前相位有第二相位誤差，那么當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都大于3T時(shí)，選擇所述正向校正；和如果所述下一相位和所述后部相位均有第二相位誤差或所述先前相位有第一相位誤差，那么當(dāng)所述先前長度和所述下一長度都大于3T時(shí)，選擇所述反向校正。
7.如權(quán)利要求6所述的恢復(fù)方法，其中第一相位誤差表明從所述限幅器輸出的信號是快的，而第二相位誤差表明從所述限幅器輸出的信號是慢的。
8.一種用于恢復(fù)來源于光盤上的信號的方法，所述方法包括對來源于所述光盤的信號進(jìn)行限幅處理以產(chǎn)生限幅輸出信號；由鎖相環(huán)接收所述限幅輸出信號和通道時(shí)鐘信號；由鎖存電路利用作為輸入的所述限幅輸出信號和所述通道時(shí)鐘信號來輸出鎖存輸出信號；由3T校正電路接收所述通道時(shí)鐘信號、所述限幅輸出信號和所述鎖存輸出信號來校正3T誤差，以產(chǎn)生3T校正的信號；和解調(diào)所述3T校正信號以產(chǎn)生校正后的輸出信號。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中所述3T校正步驟還包括響應(yīng)所述鎖相環(huán)的通道時(shí)鐘信號、在擴(kuò)展存儲裝置中存儲所述鎖存輸出信號；輸出來自于所述擴(kuò)展存儲裝置的存儲狀態(tài)；通過測量三個(gè)脈沖的周期并且確定預(yù)定的當(dāng)前脈沖周期屬于1T和2T中的至少一個(gè)，來測量包括預(yù)定當(dāng)前脈沖、先前脈沖和下一脈沖的三個(gè)脈沖的長度；測量所述通道時(shí)鐘信號和所述限幅輸出信號之間的相位差；和利用相位檢測器輸出相位。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中測量相位差的步驟還包括當(dāng)啟動所述預(yù)定當(dāng)前脈沖時(shí)，輸出表明所述限幅器輸出信號和所述通道輸出信號之間的差的前部相位。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中測量相位差的步驟還包括當(dāng)啟動所述下一脈沖時(shí)，輸出表明所述限幅輸出信號和所述通道輸出信號之間的差的后部相位。
12.如權(quán)利要求9所述的方法，其中測量相位差的步驟還包括當(dāng)啟動所述下一脈沖時(shí)，輸出表明所述限幅器輸出信號和所述通道輸出信號之間的差的先前相位。
13.一種用于從光盤接收的信號的信號校正電路，所述系統(tǒng)包括擴(kuò)展存儲裝置，用于響應(yīng)通道時(shí)鐘信號在預(yù)定存儲裝置中存儲從鎖存電路輸出的信號；長度測量裝置，用于確定源于所述擴(kuò)展存儲裝置的預(yù)定當(dāng)前脈沖、在所述當(dāng)前脈沖之前的先前脈沖和在所述當(dāng)前脈沖之后的下一脈沖的長度；相位檢測器，用于測量所述通道時(shí)鐘信號和所述從限幅器輸出的信號之間的相位差，所述相位檢測器輸出前部相位、后部相位和先前相位；和擴(kuò)展確定器，接收并利用所述當(dāng)前脈沖、先前脈沖、下一脈沖、前部相位、后部相位和先前相位的長度，以確定用于所述信號的校正的需要和信號校正的方向。
14.如權(quán)利要求13所述的信號校正電路，其中所述擴(kuò)展存儲裝置向長度測量裝置輸出存儲狀態(tài)，所述擴(kuò)展存儲裝置響應(yīng)從所述擴(kuò)展確定器輸出的信號、向長度測量裝置輸出所存儲的數(shù)據(jù)。
15.如權(quán)利要求14所述的信號校正電路，其中所述長度測量裝置接收從所述擴(kuò)展存儲裝置輸出的存儲狀態(tài)，所述長度測量裝置檢測所述存儲狀態(tài)的預(yù)定當(dāng)前脈沖的2T和1T的至少一個(gè)周期，所述長度測量裝置測量所述先前脈沖和下一脈沖的周期以確定所述當(dāng)前脈沖、先前脈沖和下一脈沖的長度。
16.如權(quán)利要求15所述的信號校正電路，其中所述相位檢測器當(dāng)啟動所述預(yù)定當(dāng)前脈沖時(shí)，輸出表示從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差的前部相位；并且當(dāng)啟動所述下一脈沖時(shí)，輸出表示從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差的后部相位；當(dāng)啟動所述先前脈沖時(shí)，輸出表示從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號之間的差的先前相位。
17.如權(quán)利要求13所述的信號校正電路，其中所述擴(kuò)展存儲裝置包括多個(gè)移位寄存器。
18.如權(quán)利要求13所述的信號校正電路，還包括解調(diào)器，用于解調(diào)所述信號校正電路的輸出，其中所述限幅器采樣從光盤用光學(xué)方法拾取的信號，所述鎖存電路接收從所述限幅器輸出的信號和所述通道時(shí)鐘信號，并且所述鎖存電路響應(yīng)所述通道時(shí)鐘信號輸出從所述限幅器輸出的信號。
全文摘要
提供一種用于光盤的恢復(fù)系統(tǒng)和方法，通過該系統(tǒng)和方法恢復(fù)從光盤上用光學(xué)方法拾取的射頻信號。所述恢復(fù)系統(tǒng)包括限幅器、鎖相環(huán)、鎖存電路、3T校正電路和解調(diào)器。特別的是，所述3T校正電路包括擴(kuò)展存儲裝置、長度測量裝置、相位檢測器和擴(kuò)展確定器，所述3T校正電路校正從所述擴(kuò)展存儲裝置輸出的數(shù)據(jù)。在所述恢復(fù)方法中，檢測用于確定校正的需要和校正的方向所需的數(shù)據(jù)，執(zhí)行用于選擇無校正、雙向校正、正向校正和反向校正的多個(gè)步驟，從而依照所述高射頻信號的條件來校正所述高射頻信號。優(yōu)選的是，所述恢復(fù)系統(tǒng)依照所述恢復(fù)方法操作。
文檔編號G11B7/005GK1645501SQ20041008226
公開日2005年7月27日 申請日期2004年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月16日
發(fā)明者李秀雄, 金大雄 申請人:三星電子株式會社