專(zhuān)利名稱(chēng)：缺陷檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在光盤(pán)裝置中使用的、檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷(不能正常寫(xiě)入及讀出的部分)的缺陷檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
近幾年來(lái)，在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中，伴隨著處理的信息量的大幅度增加，作為數(shù)據(jù)的記錄再生裝置，大容量、高速而且可以隨機(jī)存取的光盤(pán)裝置，得到廣泛采用。這種裝置，作為記錄媒體，例如使用CD-R(Compact Disc-Recordable)、CD-RW(CD-ReWritabie)、DVD-R/RW(Digital VersatileDisc-Recordable/ReWritabie)、DVD-RAM(DVD-Random AccessMemory)等光盤(pán)。
在這種光盤(pán)裝置中使用的缺陷檢測(cè)裝置，一般地說(shuō)，是將光束收斂照射在光盤(pán)上，通過(guò)檢測(cè)與由光盤(pán)反射的反射光的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的信號(hào)的包絡(luò)線(xiàn)變化，來(lái)檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷，輸出顯示有無(wú)缺陷的缺陷檢測(cè)信號(hào)。該缺陷檢測(cè)信號(hào)，作為前值保持用信號(hào)，被控制對(duì)光盤(pán)進(jìn)行跟蹤及聚焦伺服的伺服電路利用，或者使用作為各種控制用裝入光盤(pán)裝置的CPU，為了獲得判斷光盤(pán)的不能記錄區(qū)域的抽出信號(hào)而被利用。
圖9是表示現(xiàn)有技術(shù)的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。圖10是表示圖9的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)波形的曲線(xiàn)圖。講述圖9的缺陷檢測(cè)裝置。
首先，光束收斂照射光盤(pán)，與被光盤(pán)反射的光的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的反射信號(hào)AS，被輸入可變?cè)鲆娣糯笃?02?？勺?cè)鲆娣糯笃?02，用與表示是向光盤(pán)記錄時(shí)或是來(lái)自光盤(pán)的再生時(shí)的記錄門(mén)信號(hào)WTGT對(duì)應(yīng)的增益，將反射信號(hào)AS，放大到所定的振幅，并向高速包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)電路940輸出。使用可變?cè)鲆娣糯笃?02后，可以不將根據(jù)記錄時(shí)或再生時(shí)中的某一個(gè)而變化的光盤(pán)的反射光的電平差，作為包絡(luò)線(xiàn)變化而檢測(cè)。
接著，高速包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)電路940，檢測(cè)輸入信號(hào)的包絡(luò)線(xiàn)，向差動(dòng)電路906及積分電路960輸出。積分電路960，將高速包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)電路940的輸出積分，向差動(dòng)電路906輸出。例如，假設(shè)由于光盤(pán)存在缺陷，反射信號(hào)AS的包絡(luò)線(xiàn)急劇變化。這時(shí)，具有較小時(shí)間常數(shù)的包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)電路940輸出的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM，如圖10所示，成為與包絡(luò)線(xiàn)的急劇變化對(duì)應(yīng)的波形。另一方面，積分電路的輸出信號(hào)IS，卻與反射信號(hào)AS的急劇變化無(wú)關(guān)，如圖10所示，成為緩慢變化的波形。
差動(dòng)電路906，將與包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM和積分電路960的輸出信號(hào)1S的差值對(duì)應(yīng)的差分信號(hào)DF向比較器908輸出。比較器908將D/A變換器912輸出的信號(hào)SD作為限幅電平使用，通過(guò)將差分信號(hào)DF雙值化，生成缺陷檢測(cè)信號(hào)DD后輸出(例如，參閱日本國(guó)特開(kāi)2003-196853號(hào)公報(bào))。
可是，采用圖9的電路后，當(dāng)可變?cè)鲆娣糯笃?02的增益設(shè)定存在偏差等時(shí)，就不可能消除記錄時(shí)和再生時(shí)反射光的電平差異。因此，對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作，在從記錄變成再生，或由再生變成記錄時(shí)，如圖10所示，可變?cè)鲆娣糯笃?02的輸出AP就要產(chǎn)生電平差。
特別是對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作，從記錄變成再生時(shí)，包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)電路940輸出的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM，雖然跟蹤反射信號(hào)AS的電平差，但它被積分的信號(hào)IS跟蹤卻需要時(shí)間。因此，差分信號(hào)OF超過(guò)信號(hào)SD，長(zhǎng)時(shí)間輸出錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)DD(圖10的脈沖FS)，所以不能進(jìn)行穩(wěn)定性高的再生。另外，在對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作，由再生切換為記錄時(shí)，雖然不輸出錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)DD，但是要經(jīng)過(guò)好長(zhǎng)時(shí)間才能進(jìn)行正確的缺陷檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，為了進(jìn)行穩(wěn)定性高的記錄及再生，更正確地檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷。
為了解決上述課題，本發(fā)明之1的發(fā)明采取的手段，作為缺陷檢測(cè)裝置，包括將與由被光束照射的光盤(pán)反射的光的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的反射信號(hào)，用與表示應(yīng)該對(duì)所述光盤(pán)進(jìn)行記錄或再生中的某一個(gè)的控制信號(hào)對(duì)應(yīng)的增益放大后輸出的放大部；求出所述放大部的輸出的包絡(luò)線(xiàn)后輸出的包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部；在所述控制信號(hào)變化時(shí)，輸出所定長(zhǎng)度的脈沖的第1脈沖生成部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出積分后輸出的積分部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出作為第1輸入信號(hào)、所述積分部的輸出作為第2輸入信號(hào)接收，生成與第1輸入信號(hào)和第2輸入信號(hào)之差對(duì)應(yīng)的差分信號(hào)后輸出的差分信號(hào)生成部；比較所述差分信號(hào)生成部的輸出和所定的值，將其結(jié)果作為表示有無(wú)缺陷的缺陷檢測(cè)信號(hào)輸出的比較部；在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，使所述差分信號(hào)生成部的第2輸入信號(hào)變化，以便降低表示所述缺陷檢測(cè)信號(hào)有缺陷的可能性。
采用本發(fā)明之1的發(fā)明后，由于在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，表示所述缺陷檢測(cè)信號(hào)有缺陷的可能性變小，所以可以減少在對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作剛向記錄或再生切換后，盡管沒(méi)有缺陷卻輸出表示有缺陷的錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)的輸出頻度。
本發(fā)明之2的發(fā)明，在本發(fā)明之1所述的缺陷檢測(cè)裝置中，還具有在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間選擇所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)，在其它期間選擇所述積分部輸出的信號(hào)，作為所述差分信號(hào)生成部的第2輸出入信號(hào)輸出的開(kāi)關(guān)。
采用本發(fā)明之2的發(fā)明后，由于在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，差分信號(hào)生成部的第1及第2輸出入信號(hào)相等，所以能夠不輸出錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)。
本發(fā)明之3的發(fā)明，在本發(fā)明之1所述的缺陷檢測(cè)裝置中，所述積分部，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，減少其時(shí)間常數(shù)。
采用本發(fā)明之3的發(fā)明后，由于在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，差分信號(hào)生成部的第2輸出入信號(hào)迅速跟蹤差分信號(hào)生成部的第1輸出入信號(hào)，所以能夠減少錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)的輸出頻度。
本發(fā)明之4的發(fā)明，在本發(fā)明之1所述的缺陷檢測(cè)裝置中，還具有在所述第1脈沖生成部結(jié)束輸出脈沖后，輸出所定長(zhǎng)度的脈沖的第2脈沖生成部；所述積分部，具有一端接地，另一端是該積分部的輸出的第1電容器，而且，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，將在沒(méi)有缺陷時(shí)對(duì)所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)，在有缺陷時(shí)處于所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)一側(cè)的所定的電壓，給予所述第1電容器，在所述第2脈沖生成部輸出脈沖的期間，減小該積分部的時(shí)間常數(shù)。
采用本發(fā)明之4的發(fā)明后，能夠在第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，不輸出錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)。另外，由于在第2脈沖生成部輸出脈沖的期間，能夠減少積分部的時(shí)間常數(shù)，所以在第1脈沖生成部輸出脈沖的期間結(jié)束后，可以迅速重新開(kāi)始缺陷檢測(cè)。
本發(fā)明之5的發(fā)明，在本發(fā)明之4所述的缺陷檢測(cè)裝置中，所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部，具有一端接地，另一端是該包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出的第2電容器，而且，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，將所述所定的電壓，給予所述第2電容器。
采用本發(fā)明之5的發(fā)明后，因?yàn)樵诘?脈沖生成部輸出脈沖的期間，將和積分部的第1電容器相同的電壓，給予包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的第2電容器，所以差分信號(hào)生成部不輸出與缺陷檢測(cè)時(shí)極性相反的信號(hào)。由于可以縮小差分信號(hào)生成部輸出的動(dòng)態(tài)范圍，所以能夠提高缺陷檢測(cè)的靈敏度。
本發(fā)明之6的發(fā)明，其特征在于在本發(fā)明之5所述的缺陷檢測(cè)裝置中，所述積分部，具有將所述所定的電壓給予所述第1電容器的第1開(kāi)關(guān)；所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部，具有將所述所定的電壓給予所述第2電容器的第2開(kāi)關(guān)；所述第1電容器的容量和所述第1開(kāi)關(guān)的ON電阻之積，和所述第2電容器的容量和所述第2開(kāi)關(guān)的ON電阻之積成為基本相等的結(jié)構(gòu)。
采用本發(fā)明之6的發(fā)明后，因?yàn)樵诘?脈沖生成部輸出脈沖的期間，第1電容器及第2電容器的電壓達(dá)到所定電壓的時(shí)間，可以基本相等，所以可以可靠地減小差分信號(hào)生成部輸出的動(dòng)態(tài)范圍。
綜上所述，采用本發(fā)明后，可以降低輸出錯(cuò)誤的缺陷檢測(cè)信號(hào)的可能性，可以更正確地檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷。其結(jié)果就能進(jìn)行穩(wěn)定性高的記錄及再生。


圖1是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。
圖2是表示圖1的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
圖3是表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。
圖4是表示圖3的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
圖5是表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。
圖6是表示圖5的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
圖7是表示本發(fā)明的第4實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。
圖8是表示圖7的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
圖9是表示現(xiàn)有技術(shù)的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。
圖10是表示圖9的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)波形的曲線(xiàn)圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參閱附圖，講述本發(fā)明的實(shí)施方式。
(第1實(shí)施方式)圖1是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。圖1的缺陷檢測(cè)裝置，包括作為放大部的可變?cè)鲆娣糯笃?02，開(kāi)關(guān)104，作為差分信號(hào)生成部的差動(dòng)電路106，作為比較部的比較器108，D/A變換器112，邊緣檢測(cè)電路122，作為第1脈沖生成部的單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩(單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器)電路124，作為包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140，作為積分部的積分電路160。圖2是表示圖1的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
收斂照射光盤(pán)的光束，被該光盤(pán)反射。多個(gè)受光元件(圖中未示出)接收被反射的光，變換成與其強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的電信號(hào)后輸出。將這些多個(gè)受光元件的輸出全部相加后得出的全加信號(hào)，作為反射信號(hào)AS輸入可變?cè)鲆娣糯笃?02。
另外，還給可變?cè)鲆娣糯笃?02輸入記錄門(mén)信號(hào)WTGT。記錄門(mén)信號(hào)WTGT，是表示應(yīng)該對(duì)光盤(pán)進(jìn)行記錄或再生中的哪一個(gè)的信號(hào)，例如往光盤(pán)上記錄時(shí)，成為“H”；來(lái)自光盤(pán)的再生時(shí)，成為“L”(“H”及“L”分別表示高邏輯狀態(tài)及低邏輯狀態(tài))。
在記錄時(shí)，照射光盤(pán)的光束，調(diào)制成例如在從最大15mW到最小0.5mW的范圍內(nèi)進(jìn)行功率變化。另外，在再生時(shí)，光束用比較小的一定的功率照射。光束的功率越大、越明亮，反射信號(hào)AS的電平就變大，所以再生時(shí)的反射信號(hào)AS的電平和記錄時(shí)的反射信號(hào)AS的平均電平，產(chǎn)生較大的差(參閱圖2)?？勺?cè)鲆娣糯笃?02按照記錄門(mén)信號(hào)WTGT變更增益，以便使該差變小。就是說(shuō)，可變?cè)鲆娣糯笃?02在記錄時(shí)使增益變小，再生時(shí)使增益變大，將反射信號(hào)AS放大，將得到的放大器輸出信號(hào)AP向高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140輸出。
高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140，是一般的檢波電路，求出放大器輸出信號(hào)AP上側(cè)(明側(cè))包絡(luò)線(xiàn)后輸出。高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140包括放大器142，電流源144、148，電容器146。電容器146的一端接地，另一端成為高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140的輸出。在高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140中，電流源144用大小與放大器輸出信號(hào)AP對(duì)應(yīng)的電流給電容器146充電，電流源148用大小已經(jīng)設(shè)定的電流給電容器146放電。高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140將電容器146的電壓，作為包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM，向開(kāi)關(guān)104、差動(dòng)電路106的反相輸入端子及積分電路160輸出。
積分電路160具有電阻162和電容器164。電阻162的一端，被給予包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。電阻162的另一端，與開(kāi)關(guān)104連接，進(jìn)而與電容器164的一端連接。電容器164的另一端接地。就是說(shuō)，積分電路160，向開(kāi)關(guān)104輸出將包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM積分后得到的信號(hào)。
邊緣檢測(cè)電路122，在記錄門(mén)信號(hào)WTGT的信號(hào)電平變化后，向單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124輸出脈沖。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124接收來(lái)自邊緣檢測(cè)電路122的脈沖后，在所定長(zhǎng)度的時(shí)間t1中，生成成為“H”的脈沖后輸出。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124，將其輸出信號(hào)MM1向開(kāi)關(guān)104輸出。
開(kāi)關(guān)104，在信號(hào)MM1是“L”時(shí)，選擇積分電路160的輸出，在信號(hào)MM1是“H”時(shí)，選擇包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM，向差動(dòng)電路106的正相輸入端子輸出。
差動(dòng)電路106，求出高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140給予的輸入信號(hào)——包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM和開(kāi)關(guān)104給予的輸入信號(hào)IS之差，作為差分信號(hào)DF，向比較器108輸出。
向D/A變換器112預(yù)先輸入數(shù)字值，將該值變換成電壓，作為閾值SD，向比較器108輸出。比較器108比較差分信號(hào)DF和閾值SD，將差分信號(hào)DF大于閾值SD時(shí)成為“H”的信號(hào)、差分信號(hào)DF小于閾值SD時(shí)成為“L”的信號(hào)，作為缺陷檢測(cè)信號(hào)DD輸出。由于可以將任意的值給予D/A變換器112，所以可以自由設(shè)定旨在進(jìn)行缺陷檢測(cè)的閾值。
下面，講述在進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí)圖1的缺陷檢測(cè)裝置的動(dòng)作。在這里，作為例子，講述再生時(shí)的情況，但記錄時(shí)的情況也一樣。再生開(kāi)始后稍過(guò)一會(huì)，由于單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124的輸出信號(hào)MM1是“L”，所以開(kāi)關(guān)104選擇積分電路160的輸出。
在光盤(pán)上存在在缺陷時(shí)，從那兒反射的光變?nèi)?，所以反射信?hào)AS及放大器輸出信號(hào)AP的電平通常降低。高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140跟蹤電平因缺陷而降低的放大器輸出信號(hào)AP，輸出電平與該信號(hào)基本上相同的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。
另一方面，積分電路160，因其時(shí)間常數(shù)比高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路160長(zhǎng)，所以不跟蹤包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM的電平因缺陷而出現(xiàn)的降低。就是說(shuō)，選擇積分電路160的輸出的開(kāi)關(guān)104的輸出IS，在包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM的電平因缺陷而出現(xiàn)降低的期間，電平幾乎不變。
所以，存在缺陷時(shí)，求出開(kāi)關(guān)104的輸出IS和包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM之差的差動(dòng)電路106輸出的差分信號(hào)DF就要變大。于是，比較器108將表示檢測(cè)到缺陷的脈沖TS1，作為缺陷檢測(cè)信號(hào)DD輸出(參閱圖2)。
下面，講述將對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作、即將光束的光輸出及光盤(pán)裝置的狀態(tài)由記錄切換成再生或由再生切換成記錄時(shí)，圖1的缺陷檢測(cè)裝置的動(dòng)作。在可變?cè)鲆娣糯笃?02的增益設(shè)定存在偏差等、增益不適當(dāng)時(shí)，如圖2所示，在記錄時(shí)和再生時(shí)，放大器輸出信號(hào)AP的包絡(luò)線(xiàn)(上側(cè)包絡(luò)線(xiàn))的電平往往產(chǎn)生差異。
將對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄切換成再生或由再生切換成記錄時(shí)，放大器輸出信號(hào)AP的上側(cè)包絡(luò)線(xiàn)的電平降低后，就成為與缺陷檢測(cè)時(shí)同樣的狀態(tài)，所以比較器108，作為缺陷檢測(cè)信號(hào)DD輸出脈沖(偽缺陷信號(hào)FS1)。
因此，如圖2所示，記錄門(mén)信號(hào)WTGT的信號(hào)電平變化后，在時(shí)間t1的期間，使單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器124的輸出信號(hào)MM1成為“H”，使開(kāi)關(guān)104選擇包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。于是，給差動(dòng)電路106的2個(gè)輸入信號(hào)成為相同的信號(hào)，所以差動(dòng)電路106輸出的差分信號(hào)DF成為零。因?yàn)椴罘中盘?hào)DF小于閾值SD，所以比較器106輸出的缺陷檢測(cè)信號(hào)DD仍舊是“L”，不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)FS1。雖然經(jīng)過(guò)時(shí)間t1后，要產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)FS1。但如果將時(shí)間t1設(shè)定得足夠長(zhǎng)，就可以防止產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)FS1。
這樣，采用第1實(shí)施方式的缺陷檢測(cè)裝置后，在單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124輸出脈沖的期間，可以不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)，所以可以降低偽缺陷信號(hào)FS1產(chǎn)生的可能性。
(第2實(shí)施方式)圖3是表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。圖3的缺陷檢測(cè)裝置，是在圖1的缺陷檢測(cè)裝置中，不包括開(kāi)關(guān)104，取代積分電路160，具有積分電路260。
另外，圖3的缺陷檢測(cè)裝置，包括可變?cè)鲆娣糯笃?02，差動(dòng)電路206，比較器208，D/A變換器212，邊緣檢測(cè)電路222，單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路224及高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140。它們分別與圖1的缺陷檢測(cè)裝置中的可變?cè)鲆娣糯笃?02、差動(dòng)電路106、比較器108、D/A變換器112、邊緣檢測(cè)電路122、單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路124及高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140對(duì)應(yīng)，具有相同的結(jié)構(gòu)，所以不再贅述。圖4是表示圖3的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
在圖3中，積分電路260具有電阻262、電容器264和開(kāi)關(guān)266。電阻262的一端，被給予包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。電阻262的另一端，與差動(dòng)電路206的正相輸入端子連接，進(jìn)而與電容器264的一端連接。電容器264的另一端接地。就是說(shuō)，積分電路260，將包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM積分后得到的信號(hào)，作為信號(hào)IS，給予差動(dòng)電路206。由于開(kāi)關(guān)266與電阻262的兩端連接，所以積分電路260的時(shí)間常數(shù)可隨著開(kāi)關(guān)266的動(dòng)作切換。更具體地說(shuō)，開(kāi)關(guān)266，在單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路224的輸出信號(hào)MM1是“H”時(shí)成為ON狀態(tài)，是“L”時(shí)成為OFF狀態(tài)。
差動(dòng)電路206，求出高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路240給予的輸入信號(hào)——包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM和積分電路260給予的輸入信號(hào)IS之差，作為差分信號(hào)DF，向比較器208輸出。
將對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄切換成再生或由再生切換成記錄時(shí)，記錄門(mén)信號(hào)WTGT的電平變化。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器224，在記錄門(mén)WTGT的信號(hào)電平變化后、在時(shí)間t1的期間，使輸出信號(hào)MM1成為“H”。于是，開(kāi)關(guān)266成為ON狀態(tài)，積分電路260的時(shí)間常數(shù)變小。
其結(jié)果，如圖4所示，由于積分電路260的輸出信號(hào)IS的變化加快，與包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM的差減小，所以差動(dòng)電路206輸出的差分信號(hào)DF不太大，能夠大幅度縮短產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)FS2的期間。如果將積分電路260的時(shí)間常數(shù)減少得非常小，也能防止偽缺陷信號(hào)FS2的產(chǎn)生。
這樣，采用第2實(shí)施方式的缺陷檢測(cè)裝置后，即使對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄剛切換成再生或由再生剛切換成記錄時(shí)，也能通過(guò)減小積分電路260的時(shí)間常數(shù)，降低偽缺陷信號(hào)產(chǎn)生的可能性。
(第3實(shí)施方式)圖5是表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。圖5的缺陷檢測(cè)裝置，是在圖3的缺陷檢測(cè)裝置中，還具有作為第2脈沖生成部的第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326，取代積分電路260，具有積分電路360。
另外，圖5的缺陷檢測(cè)裝置，包括可變?cè)鲆娣糯笃?02，差動(dòng)電路306，比較器308，D/A變換器312，邊緣檢測(cè)電路322，第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路324及高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路340。它們分別與圖3的缺陷檢測(cè)裝置中的可變?cè)鲆娣糯笃?02、差動(dòng)電路206、比較器208、D/A變換器212、邊緣檢測(cè)電路222、單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路224及高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路240對(duì)應(yīng)，具有相同的結(jié)構(gòu)，所以不再贅述。圖6是表示圖5的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
在圖5中，第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路324，將其輸出信號(hào)MM1向第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326及積分電路360輸出。第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326，將其輸出信號(hào)MM2向積分電路360輸出。第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326在第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路324輸出的脈沖結(jié)束后，即信號(hào)MM1的電平由“H”變?yōu)椤癓”后，在所定的長(zhǎng)度的t2中，生成成為“H”的脈沖輸出(參閱圖6)。
積分電路360具有電阻362、電容器364和開(kāi)關(guān)366、368、372。電阻362的一端，被給予包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。電阻362的另一端，與差動(dòng)電路206的正相輸入端子連接，進(jìn)而通過(guò)開(kāi)關(guān)368與電容器364的一端連接。電容器364的另一端接地。就是說(shuō)，積分電路360，將包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM積分后得到的信號(hào)，作為信號(hào)IS，給予差動(dòng)電路306。
開(kāi)關(guān)368，在信號(hào)MM1是“L”時(shí)選擇電容器364，是“H”時(shí)選擇基準(zhǔn)電壓VREF，與差動(dòng)電路306的正相輸入端子連接。開(kāi)關(guān)372僅在信號(hào)MM1為“H”時(shí)成為ON狀態(tài)，將基準(zhǔn)電壓VREF給予電容器364。由于開(kāi)關(guān)366與電阻362的兩端連接，所以積分電路360的時(shí)間常數(shù)可隨著開(kāi)關(guān)366的動(dòng)作切換。更具體地說(shuō)，開(kāi)關(guān)366，在第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326的輸出信號(hào)MM2是“H”時(shí)成為ON狀態(tài)，是“L”時(shí)成為OFF狀態(tài)。
差動(dòng)電路306，求出高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路340給予的輸入信號(hào)——包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM和積分電路360給予的輸入信號(hào)IS之差，作為差分信號(hào)DF，向比較器308輸出。
將對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄切換成再生或由再生切換成記錄時(shí)，記錄門(mén)信號(hào)WTGT的電平變化。如圖6所示，第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器324，在記錄門(mén)WTGT的信號(hào)電平變化后、在時(shí)間t1的期間，使輸出信號(hào)MM1成為“H”。于是，由于開(kāi)關(guān)368選擇基準(zhǔn)電壓VREF，所以積分電路360輸出的信號(hào)IS成為基準(zhǔn)電壓VREF，開(kāi)關(guān)372成為ON狀態(tài)，將基準(zhǔn)電壓VREF給予電容器364，所以電容器364的電壓被基準(zhǔn)電壓VREF初始化。
對(duì)沒(méi)有缺陷時(shí)的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM而言，基準(zhǔn)電壓VREF是有缺陷時(shí)的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM一側(cè)的電壓。在這里，使基準(zhǔn)電壓VREF成為比包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM的電壓低的電壓。
第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326在第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路324輸出的脈沖結(jié)束后，在時(shí)間t2期間，使輸出信號(hào)MM2為“H”，于是開(kāi)關(guān)366成為ON狀態(tài)，積分電路360的時(shí)間常數(shù)變小。
其結(jié)果，如圖6所示，積分電路360的輸出信號(hào)IS，在第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路324輸出脈沖的期間，被固定成低電壓，然后，在第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路326輸出脈沖的期間，火速接近包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM。就是說(shuō)，由于在時(shí)間t1+t2的期間，使差動(dòng)電路306輸出的差動(dòng)信號(hào)DF朝著與缺陷檢測(cè)時(shí)相反的方向(即成為負(fù)電壓)變化，所述比較器308不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)。
這樣，采用第3實(shí)施方式的缺陷檢測(cè)裝置后，即使對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄剛切換成再生或由再生剛切換成記錄時(shí)，也能夠通過(guò)將積分電路360的輸出信號(hào)IS固定成為低電平，然后通過(guò)減小積分電路360的時(shí)間常數(shù)，從而可以不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)。所以可以杜絕誤檢，進(jìn)行可靠性很高的缺陷檢測(cè)。
(第4實(shí)施方式)圖7是表示本發(fā)明的第4實(shí)施方式涉及的缺陷檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示例的方框圖。圖7的缺陷檢測(cè)裝置，是在圖5的缺陷檢測(cè)裝置中，取高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路340，具有高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440。
另外，圖7的缺陷檢測(cè)裝置，包括可變?cè)鲆娣糯笃?02，差動(dòng)電路406，比較器408，D/A變換器412，邊緣檢測(cè)電路422，第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路424，第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路426及積分電路460。它們分別與圖5的缺陷檢測(cè)裝置中的可變?cè)鲆娣糯笃?02、差動(dòng)電路306、比較器308、D/A變換器312、邊緣檢測(cè)電路322、第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路224、第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路226及積分電路360對(duì)應(yīng)，具有相同的結(jié)構(gòu)，所以不再贅述。圖8是表示圖7的缺陷檢測(cè)裝置中的信號(hào)的波形的曲線(xiàn)圖。
積分電路460具有電阻462、電容器(第1電容器)464和開(kāi)關(guān)466、468、472。它們分別與圖5的積分電路360中的電阻362、電容器364和開(kāi)關(guān)366、368、372對(duì)應(yīng)，具有相同的結(jié)構(gòu)。開(kāi)關(guān)472構(gòu)成第1開(kāi)關(guān)。
高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440。是在圖1的高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路140中，還具有開(kāi)關(guān)(第2開(kāi)關(guān))452。另外，高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440還包括放大器442、電源444、448、電容器(第2電容器)446。它們分別與圖1的高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440中的放大器142、電源144、148、電容器146對(duì)應(yīng)，具有相同的結(jié)構(gòu)。
開(kāi)關(guān)452被連接成僅在第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路424的信號(hào)MM1為“H”時(shí)成為ON狀態(tài)，將基準(zhǔn)電壓VREF給予高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440的輸出，即將基準(zhǔn)電壓VREF給予電容器446。
將對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄切換成再生或由再生切換成記錄時(shí)，記錄門(mén)信號(hào)WTGT的電平變化。如圖8所示，第1單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器424，在記錄門(mén)WTGT的信號(hào)電平變化后、在時(shí)間t1的期間，使輸出信號(hào)MM1成為“H”。于是，開(kāi)關(guān)452成為ON狀態(tài)，電容器446的電壓、即高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440輸出的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM被基準(zhǔn)電壓VREF初始化。其后，開(kāi)關(guān)452成為OFF狀態(tài)，包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM迅速接近原來(lái)的值。
其結(jié)果，如圖8所示，在第1及第2單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路424、426輸出脈沖的期間(時(shí)間t1+t2)，包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM和積分電路360的輸出信號(hào)IS的電平，基本相等。由于差動(dòng)電路406輸出幾乎為零，所述比較器408不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)。
另外，在這期間，由于差動(dòng)電路406不輸出與缺陷檢測(cè)時(shí)極性相反的信號(hào)(負(fù)值信號(hào))，所以可以不加大輸出的動(dòng)態(tài)范圍。這樣就能夠不改變向比較器408輸出閾值SD的D/A變換器412的分辯能力(輸入的數(shù)字值的比特?cái)?shù))，縮小其量化臺(tái)階。由于能更適當(dāng)?shù)卦O(shè)定閾值SD，所以可以提高缺陷檢測(cè)的靈敏度。
由于開(kāi)關(guān)452、472在成為ON狀態(tài)時(shí)也具有電阻(ON電阻)，所以在被信號(hào)MM1的脈沖初始化之際，電容器446、464的電壓緩慢小降。由于電容器446、464的電壓被給予差動(dòng)電路406，所以至少直到信號(hào)MM1的脈沖結(jié)束為止，可望使電容器446、464的電壓相等。
因此，可以將高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440和積分電路460采用如下結(jié)構(gòu)。即使電容器446的容量和開(kāi)關(guān)452的ON電阻之積和電容器464的容量和開(kāi)關(guān)472的ON電阻之積基本相等。
這樣，采用第4實(shí)施方式的缺陷檢測(cè)裝置后，即使對(duì)光盤(pán)的動(dòng)作由記錄剛切換成再生或由再生剛切換成記錄時(shí)，也能夠通過(guò)將高速包絡(luò)線(xiàn)檢波電路440輸出的包絡(luò)線(xiàn)信號(hào)EM及積分電路460的輸出信號(hào)IS固定成為低電平，然后通過(guò)減小積分電路460的時(shí)間常數(shù)，從而可以不產(chǎn)生偽缺陷信號(hào)。所以可以杜絕誤檢，進(jìn)行可靠性很高的缺陷檢測(cè)，并且能夠提高缺陷檢測(cè)的靈敏度。
綜上所述，本發(fā)明涉及的缺陷檢測(cè)裝置，可以更加正確地檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷，作為在光盤(pán)裝置等中使用的缺陷檢測(cè)裝置等，大有用處。
權(quán)利要求
1.一種缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于包括將與由被光束照射的光盤(pán)反射的光的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的反射信號(hào)，用與表示要對(duì)所述光盤(pán)進(jìn)行記錄或再生中的某一個(gè)的控制信號(hào)對(duì)應(yīng)的增益進(jìn)行放大后輸出的放大部；求出所述放大部的輸出的包絡(luò)線(xiàn)后輸出的包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部；在所述控制信號(hào)變化時(shí)，輸出所定長(zhǎng)度的脈沖的第1脈沖生成部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出積分后輸出的積分部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出作為第1輸入信號(hào)、所述積分部的輸出作為第2輸入信號(hào)接收，生成與第1輸入信號(hào)和第2輸入信號(hào)之差對(duì)應(yīng)的差分信號(hào)后輸出的差分信號(hào)生成部；以及比較所述差分信號(hào)生成部的輸出和所定的值，將其結(jié)果作為表示有無(wú)缺陷的缺陷檢測(cè)信號(hào)輸出的比較部，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，使所述差分信號(hào)生成部的第2輸入信號(hào)變化，以便降低表示所述缺陷檢測(cè)信號(hào)有缺陷的可能性。
2.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于還具有在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間選擇所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)，在其它期間選擇所述積分部輸出的信號(hào)，來(lái)作為所述差分信號(hào)生成部的第2輸入信號(hào)輸出的開(kāi)關(guān)。
3.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于所述積分部，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，減少其時(shí)間常數(shù)。
4.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于還具有在所述第1脈沖生成部輸出的脈沖結(jié)束后，輸出所定長(zhǎng)度的脈沖的第2脈沖生成部，所述積分部，具有一端接地，另一端是該積分部的輸出的第1電容器，而且，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，將相對(duì)在沒(méi)有缺陷時(shí)所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)而言，在有缺陷時(shí)處于所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部輸出的信號(hào)一側(cè)的所定的電壓，給予所述第1電容器，在所述第2脈沖生成部輸出脈沖的期間，減小該積分部的時(shí)間常數(shù)。
5.如權(quán)利要求4所述的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部，具有一端接地，另一端是該包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出的第2電容器，而且，在所述第1脈沖生成部輸出脈沖的期間，將所述所定的電壓，給予所述第2電容器。
6.如權(quán)利要求5所述的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于所述積分部，具有將所述所定的電壓給予所述第1電容器的第1開(kāi)關(guān)，所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部，具有將所述所定的電壓給予所述第2電容器的第2開(kāi)關(guān)，所述第1電容器的容量與所述第1開(kāi)關(guān)的ON電阻之積，和所述第2電容器的容量與所述第2開(kāi)關(guān)的ON電阻之積，基本相等。
全文摘要
一種缺陷檢測(cè)裝置，用與表示記錄或再生中的某一個(gè)的控制信號(hào)對(duì)應(yīng)的增益，將與光盤(pán)反射的光的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的反射信號(hào)放大后輸出的放大部；求出所述放大部的輸出的包絡(luò)線(xiàn)后輸出的包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部；在所述控制信號(hào)變化時(shí)，輸出所定長(zhǎng)度的脈沖的第1脈沖生成部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出積分后輸出的積分部；將所述包絡(luò)線(xiàn)檢測(cè)部的輸出作為第1輸入信號(hào)、所述積分部的輸出作為第2輸入信號(hào)接收，生成差分信號(hào)后輸出的差分信號(hào)生成部；比較所述差分信號(hào)生成部的輸出和所定的值，將其結(jié)果作為表示有無(wú)缺陷的缺陷檢測(cè)信號(hào)輸出的比較部。在所述脈沖的期間，使所述第2輸入信號(hào)變化，以便降低表示所述缺陷檢測(cè)信號(hào)有缺陷的可能性。從而更加正確地檢測(cè)光盤(pán)上的缺陷。
文檔編號(hào)G11B7/0037GK1580750SQ20041005646
公開(kāi)日2005年2月16日 申請(qǐng)日期2004年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月8日
發(fā)明者和泉光彥 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社