一種基于射頻門的rfid性能測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于無線通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種基于射頻門的RFID性能測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對于很多企業(yè)，倉儲管理是公司物料管理的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。尤其是在當(dāng)今競爭激烈的經(jīng)濟(jì)環(huán)境下，一個(gè)科學(xué)高效的倉儲管理系統(tǒng)往往會提高企業(yè)的競爭力和降低企業(yè)的運(yùn)作成本，所以如何優(yōu)化升級倉儲管理系統(tǒng)受到越來越多企業(yè)的重視。目前，很多企業(yè)的物資管理采用是條形碼技術(shù)。條形碼技術(shù)雖然在一定程度上提高了工作效率，但是在管理大批量貨物出入庫時(shí)仍需要依靠傳統(tǒng)的人工逐件掃碼操作。此時(shí)不可避免的就需要考慮到提高工作效率，降低人工失誤的概率，減少公司在物資管理方面的支出成本等問題。
[0003]當(dāng)前不少企業(yè)考慮到這些問題而試圖采用最新的RFID電子標(biāo)簽入庫檢測技術(shù)，但就目前來看，行業(yè)內(nèi)基于RFID電子標(biāo)簽入庫檢測技術(shù)多為采集單標(biāo)簽環(huán)境下單標(biāo)簽信息，但在實(shí)際應(yīng)用中往往是大批量貨物出入庫的管理。此時(shí)不可避免的就需要考慮到群標(biāo)簽環(huán)境下單標(biāo)簽信息的采集以及群標(biāo)簽環(huán)境下群標(biāo)簽信息的采集等問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、靈敏度高、安全可靠的基于射頻門的RFID性能測試裝置。
[0005]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0006]一種基于射頻門的RFID性能測試裝置，其特征在于:包括轉(zhuǎn)盤、天線以及待測電表固定點(diǎn)，轉(zhuǎn)盤上端同軸固裝有天線，轉(zhuǎn)盤在電機(jī)驅(qū)動下水平轉(zhuǎn)動從而帶動天線轉(zhuǎn)動；以天線為原點(diǎn)的立面圓周上間隔安裝有多個(gè)待測電表固定點(diǎn)，該多個(gè)待測電表固定點(diǎn)到天線之間的距離相等。
[0007]而且，所述待測電表固定點(diǎn)為四個(gè)，該四個(gè)待測電表固定點(diǎn)間隔均布設(shè)置在以天線為原點(diǎn)的同一立面圓周上，每個(gè)待測電表固定點(diǎn)均限位固定一個(gè)帶有電子標(biāo)簽的待測電表。
[0008]而且，所述四個(gè)待測電表與天線中心軸之間的夾角記分別為:θ= 0°、30°、60°、
90°，轉(zhuǎn)臺以30°為步進(jìn)轉(zhuǎn)動一周。
[0009]而且，所述待測電表固定點(diǎn)采用支撐平臺或電表固定托盤。
[0010]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:
[0011]本實(shí)用新型在傳統(tǒng)單標(biāo)簽性能評估的基礎(chǔ)上，提出了針對群標(biāo)簽、射頻門場景應(yīng)用中的評估方法。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型測試示意圖；
[0013]圖2為A-A向采樣平面的角度示意；
[0014]圖3為測試轉(zhuǎn)動采樣位置示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖并通過具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳述，以下實(shí)施例只是描述性的，不是限定性的，不能以此限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0016]一種基于射頻門的RFID性能測試裝置，包括轉(zhuǎn)盤3、天線2以及待測電表固定點(diǎn)，轉(zhuǎn)盤上端同軸固裝有天線，轉(zhuǎn)盤在電機(jī)驅(qū)動下水平轉(zhuǎn)動從而帶動天線轉(zhuǎn)動；以天線為原點(diǎn)的立面圓周上間隔安裝有多個(gè)待測電表固定點(diǎn)，該多個(gè)待測電表固定點(diǎn)到天線之間的距離相等。
[0017]本實(shí)施例具體結(jié)構(gòu)參見說明書附圖1所示，四個(gè)待測電表固定點(diǎn)間隔均布設(shè)置在以天線為原點(diǎn)的同一立面圓周上，每個(gè)待測電表固定點(diǎn)均限位固定一個(gè)帶有電子標(biāo)簽的待測電表，該四個(gè)待測電表與天線中心軸之間的夾角記分別為:9 = 0°、30°、60°、90°，轉(zhuǎn)臺以30°為步進(jìn)轉(zhuǎn)動一周，因而每個(gè)待測電表固定點(diǎn)形成的轉(zhuǎn)動平面上均可取得12個(gè)測試位置，如圖2所示；
[0018]其中，在0°角時(shí)轉(zhuǎn)動所得的12個(gè)點(diǎn)重合在一起，表現(xiàn)為I個(gè)點(diǎn)；在其他圓周面上相鄰兩個(gè)夾角成30° (旋轉(zhuǎn)夾角記為β，β = 0°、30。、60。、90° ".、330° )，如圖3所示。
[0019]待測電表固定點(diǎn)采用支撐平臺或電表固定托盤均可。
[0020]測試說明:
[0021]①單標(biāo)簽應(yīng)用性能測試；
[0022]本實(shí)施例采用Voyantic公司的Tagformance標(biāo)簽性能檢測設(shè)備測試標(biāo)簽在電表上的性能。
[0023]②電表方向性測試；
[0024]本部分測試對象為電力單相表(含電子標(biāo)簽，三款電表:杭州百富、杭州海興、深圳航天)，測試電表與天線呈不同角度時(shí)所表現(xiàn)出來的性能;該部分采集數(shù)據(jù)為在不同頻點(diǎn)、不同位置測得的:標(biāo)簽靈敏度、標(biāo)簽前向識讀距離、標(biāo)簽反向散射功率。
[0025]③群環(huán)境下單標(biāo)簽測試；
[0026]前面兩部分對單獨(dú)標(biāo)簽的性能、同類標(biāo)簽性能的一致性、標(biāo)簽方向性進(jìn)行了分析；在射頻門實(shí)際應(yīng)用中，是多個(gè)標(biāo)簽一起工作的環(huán)境，即群標(biāo)簽工作環(huán)境。標(biāo)簽彼此之間及電表間都會對標(biāo)簽的性能有影響，所以該部分將針對群標(biāo)簽環(huán)境重點(diǎn)做相關(guān)測試。
[0027]群環(huán)境下單標(biāo)簽測試分為以下步驟:
[0028]第一步:利用Tagformance測試24塊電表，從中選取15塊性能比較接近的電表用于第二步的測試；
[0029]第二步:將選出的的15塊電表放在20箱電表的不同位置，并將20箱電表按順序放在托盤上，運(yùn)至射頻門內(nèi)；
[°03°] 第三步:使用Tagformance連接至射頻門內(nèi)天線，此次測試共選取射頻門內(nèi)一組(上、下各一個(gè)，射頻門在四個(gè)方向各有一組天線)，通過天線依次識讀選取的15塊電表，記錄讀取到電表的發(fā)射功率及接收到的標(biāo)簽返回信號功率；
[0031]第四步:因?yàn)樯漕l門在實(shí)際工作時(shí)會控制轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，所以測試選取兩個(gè)特征方向:進(jìn)門方向和出門方向。
[0032]④群環(huán)境下群標(biāo)簽測試
[0033]在實(shí)際應(yīng)用中，電子標(biāo)簽可用于批量產(chǎn)品、貨物的盤存，所以在多標(biāo)簽環(huán)境下進(jìn)行群讀測試也是應(yīng)用場景分析的重要部分。
[0034]針對上面所列的測試基本參數(shù)，根據(jù)實(shí)際情況，選取能夠測試的參數(shù)，在應(yīng)用場景下放入與實(shí)際數(shù)量較為相符的標(biāo)簽，進(jìn)行群標(biāo)簽的測試并記錄測試數(shù)據(jù)。該項(xiàng)測試亦可以根據(jù)實(shí)際情況分為多項(xiàng)測試，比如靜止?fàn)顟B(tài)群標(biāo)簽環(huán)境下群標(biāo)簽信息采集和運(yùn)動狀態(tài)群標(biāo)簽環(huán)境下群標(biāo)簽信息采集。
[0035]盡管為說明目的公開了本實(shí)用新型的實(shí)施例和附圖，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解:在不脫離本實(shí)用新型及所附權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)，各種替換、變化和修改都是可能的，因此，本實(shí)用新型的范圍不局限于實(shí)施例和附圖所公開的內(nèi)容。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于射頻門的RFID性能測試裝置，其特征在于:包括轉(zhuǎn)盤、天線以及待測電表固定點(diǎn)，轉(zhuǎn)盤上端同軸固裝有天線，轉(zhuǎn)盤在電機(jī)驅(qū)動下水平轉(zhuǎn)動從而帶動天線轉(zhuǎn)動；以天線為原點(diǎn)的立面圓周上間隔安裝有多個(gè)待測電表固定點(diǎn)，該多個(gè)待測電表固定點(diǎn)到天線之間的距離相等。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于射頻門的RFID性能測試裝置，其特征在于:所述待測電表固定點(diǎn)為四個(gè)，該四個(gè)待測電表固定點(diǎn)間隔均布設(shè)置在以天線為原點(diǎn)的同一立面圓周上，每個(gè)待測電表固定點(diǎn)均限位固定一個(gè)帶有電子標(biāo)簽的待測電表。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于射頻門的RFID性能測試裝置，其特征在于:所述四個(gè)待測電表與天線中心軸之間的夾角記分別為:θ = 0°、30°、60°、90°，轉(zhuǎn)臺以30°為步進(jìn)轉(zhuǎn)動一周。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于射頻門的RFID性能測試裝置，其特征在于:所述所述待測電表固定點(diǎn)采用支撐平臺或電表固定托盤。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種基于射頻門的RFID性能測試裝置，包括轉(zhuǎn)盤、天線以及待測電表固定點(diǎn)，轉(zhuǎn)盤上端同軸固裝有天線，轉(zhuǎn)盤在電機(jī)驅(qū)動下水平轉(zhuǎn)動從而帶動天線轉(zhuǎn)動；以天線為原點(diǎn)的立面圓周上間隔安裝有多個(gè)待測電表固定點(diǎn)，該多個(gè)待測電表固定點(diǎn)到天線之間的距離相等。本實(shí)用新型在傳統(tǒng)單標(biāo)簽性能評估的基礎(chǔ)上，提出了針對群標(biāo)簽、射頻門場景應(yīng)用中的評估方法。
【IPC分類】G06K17/00, G01R35/04
【公開號】CN205210916
【申請?zhí)枴緾N201520920294
【發(fā)明人】劉雪, 趙勇, 趙婧, 陳磊, 李剛, 張兆杰, 劉凱, 許迪, 金學(xué)明, 梁勇, 曾世杰
【申請人】國網(wǎng)天津市電力公司, 國家電網(wǎng)公司
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年11月18日