一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟：在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng),從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
【專利說(shuō)明】
一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及材料切割技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在自動(dòng)化需求日益提高的大背景下，為了支持比如牛皮、羊皮等真皮異形材料的自動(dòng)排料計(jì)算，以及運(yùn)用自動(dòng)設(shè)備進(jìn)行切割的需求，必須解決異形材料在切割機(jī)上的矢量化(輪廓輸入)和定位問(wèn)題。隨著數(shù)碼相機(jī)像性能的不斷提高，目前行業(yè)內(nèi)普遍采用的都是單一數(shù)碼相機(jī)拍照輸入材料然后通過(guò)圖像分析輪廓提取來(lái)進(jìn)行矢量化的方法；在定位上是一般采用投影儀投影定位。這二個(gè)方面的技術(shù)都需要對(duì)光路(鏡頭畸變)和位置(成像平面的相對(duì)位置)進(jìn)行校正。
[0003]采用黑白相間的類似國(guó)際象棋棋盤格的校正板進(jìn)行校正的方法是比較流行的方法，也是開源OpenCV中提供的方法，其方法核心是采用微分的思路，把黑白色塊的局部成像變形回其應(yīng)該的大小、位置和形狀。這個(gè)方法的主要問(wèn)題在于校正方法的局部性，由于黑白色塊在成像上有不同的膨脹效果，以及鏡頭邊緣部分對(duì)位置變化更加敏感等各種復(fù)雜原因，會(huì)導(dǎo)致該方法在不同成像位置的精度不同，而且對(duì)相機(jī)位置的輕微變化也比較敏感。
[0004]另外的一個(gè)問(wèn)題是，如果對(duì)異形材料矢量化工作不是一個(gè)獨(dú)立工位，而是直接在切割機(jī)上完成并定位的情況，相機(jī)校正就需要包括切割機(jī)的坐標(biāo)定位。但是對(duì)于目前的切割機(jī)來(lái)說(shuō)，輸出顏色塊要比輸出線條麻煩的多，從而棋盤格校正模版必須通過(guò)其他物理手段間接定位到切割機(jī)坐標(biāo)體系當(dāng)中，這可能帶來(lái)新的誤差。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]鑒于目前異形材料切割圖像校正存在的上述不足，本發(fā)明提供一種異形材料切割圖像校正方法，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
[0006]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0007]—種異形材料切割圖像校正方法，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟:
[0008]在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0009]對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0010]將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0011 ] 將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0012]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)步驟具體為:將打樣紙放置在切割區(qū)域，在打樣紙上排列定位塊組成校正定位的線條框架圖，對(duì)線條框架內(nèi)的定位塊進(jìn)行切割并記錄下定位塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)。
[0013]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟具體為:對(duì)打樣紙上的校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，將圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像并通過(guò)圖像梯度在圖像中查找定位方塊邊界，通過(guò)定位方塊邊界獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)。
[0014]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟執(zhí)行后執(zhí)行以下步驟:通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正。
[0015]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上步驟具體為:將采集的圖像定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)映射到切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上。
[0016]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟中具體包括以下步驟:通過(guò)映射將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)對(duì)應(yīng)到打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上；在圖像中移動(dòng)定位方塊，使每個(gè)映射的定位塊中心點(diǎn)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)的定位方塊中心點(diǎn)位置重合；記錄下圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量，再進(jìn)行映射圖像定位塊像素坐標(biāo)時(shí)根據(jù)偏移量進(jìn)行圖像定位塊坐標(biāo)校正。
[0017]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟執(zhí)行后執(zhí)行以下步驟:根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。
[0018]—種異形材料切割圖像校正系統(tǒng)，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)包括:
[0019]校正定位模塊，用于在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0020]圖像采樣模塊，用于對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0021]映射模塊，用于將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0022]映射校正模塊，用于將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0023]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:圖像變形校正模塊，用于通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正。
[0024]依照本發(fā)明的一個(gè)方面，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:檢驗(yàn)?zāi)K，用于根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。
[0025]本發(fā)明實(shí)施的優(yōu)點(diǎn):通過(guò)在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
【附圖說(shuō)明】
[0026]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法的實(shí)施例1的方法流程圖；
[0028]圖2為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法的實(shí)施例2的方法流程圖；
[0029]圖3為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法的實(shí)施例3的方法流程圖；
[0030]圖4為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖5為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)的線條框架圖；
[0032]圖6為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)的定位方塊邊界映像圖；
[0033]圖7為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)的定位方塊映射圖像；
[0034]圖8為本發(fā)明所述的一種異形材料切割圖像校正方法及系統(tǒng)的定位方塊校正圖。
【具體實(shí)施方式】
[0035]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0036]實(shí)施例1:
[0037]如圖1、圖5所示，一種異形材料切割圖像校正方法，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟:
[0038]步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0039]所述步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)步驟具體為:將打樣紙放置在切割區(qū)域，在打樣紙上排列定位塊組成校正定位的線條框架圖，對(duì)線條框架內(nèi)的定位塊進(jìn)行切割并記錄下定位塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)。
[0040]如圖5所示，線條框架最少由3行4列定位方塊排列而成，，記M列*N行；記定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)為Wi j，i=0?M-l，j = O?N-1，定位方塊長(zhǎng)、寬設(shè)定為20mm，按定位方塊的長(zhǎng)度和寬度將定位方塊切割出來(lái)，在實(shí)際應(yīng)用中線條框架的定位方塊數(shù)量和大小根據(jù)異形材料的大小及樣品圖樣大小而定。
[0041]打樣紙需要以切割區(qū)域中心點(diǎn)為參考來(lái)放置，這樣做可以在采集定位線條框架圖的圖像時(shí)，定位塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)更加精確。
[0042]步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0043]所述步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟具體為:對(duì)打樣紙上的校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，將圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像并通過(guò)圖像梯度在圖像中查找定位方塊邊界，通過(guò)定位方塊邊界獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)。
[0044]如圖5、圖6所示，將采集的圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像是為對(duì)查找圖像中的定位方塊的邊界，定位方塊邊界檢測(cè)的實(shí)質(zhì)是采用算法來(lái)提取出圖像中對(duì)象與背景間的交界線。我們將邊界定義為圖像中灰度發(fā)生急劇變化的區(qū)域邊界。圖像灰度的變化情況可以用圖像灰度分布的梯度來(lái)反映。
[0045]其中圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像公式為:
[0046]pixel (m, n) = (pixel (m, η).R+pixel (m, η).G+pixel (m, η).B)/3。
[0047]圖像梯度(邊界映像)是數(shù)字圖像處理的重要內(nèi)容，是圖像分割、特征提取和圖像識(shí)別等圖像處理技術(shù)的重要前提，圖像梯度反映圖像局部亮度變化最顯著的部分，梯度算法的實(shí)質(zhì)是利用算法提取出圖像中對(duì)象與背景之間的顯著變化。
[0048]其中圖像梯度(邊界映像)公式:
[0049]pixel (m, n) = [pixel (m, n) -pixel (m-l, η) ] 2+[pixel (m, n)-pixel (m, n-1)]"2。
[0050]步驟S3:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0051]所述步驟S3:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上步驟具體為:將采集的圖像定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)映射到切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上。
[0052]映射后察看圖像定位方塊中心點(diǎn)與切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)是否重合，定位方塊重合的數(shù)量有多少，不重合的定位方塊有多少，圖像中定位方塊相對(duì)于打樣紙定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊是放大了還是縮小了，主要是為了觀察映射產(chǎn)生的坐標(biāo)偏差是大還小，定位方塊的偏差率是多少，為后續(xù)校正偏差提供數(shù)據(jù)支持。
[0053]步驟S4:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0054]所述步驟S4:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟中具體包括以下步驟:通過(guò)映射將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)對(duì)應(yīng)到打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上；在圖像中移動(dòng)定位方塊，使每個(gè)映射的定位塊中心點(diǎn)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)的定位方塊中心點(diǎn)位置重合；記錄下圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量。
[0055]如圖7所示，由于分辨率的問(wèn)題，在按照像素級(jí)別移動(dòng)一個(gè)定位塊的時(shí)候，定位塊投影位置和切割機(jī)上紙張上畫的或切的位置一般對(duì)不齊，正確位置可能位于P+( △ /n，△ /m)的位置上。用戶觀察到的投影顯示可能是圖7示意圖的樣子，需要把P向左微調(diào)Δ/3。
[0056]如圖8所示，進(jìn)行亞像素級(jí)別的調(diào)整，每個(gè)定位塊下方有2行文字，其中第一行的(i, j)表示這個(gè)定位塊是第i列，第j行；第二行的(k，I/η)表示投影出來(lái)的定位塊亞像素操作的位置在X，y方向分別移動(dòng)k和I步，每步長(zhǎng)度為△ /η。
[0057]比如，圖8所示，第三列第五行的定位塊下方的兩個(gè)定位塊，其定位塊亞像素操作的位置分別是(1，0/3)，(0，-1/3)，前者表示對(duì)應(yīng)定位塊已經(jīng)在X方向上向右偏了 I個(gè)亞像素單位的位移，后者表示Y方向上向下偏移了 I個(gè)亞像素單位位移，3表示亞像素移動(dòng)單位為A/3。從而將P坐標(biāo)的精度提高到了亞像素級(jí)別。
[0058]在亞像素級(jí)別上移動(dòng)定位塊時(shí)，定位塊的投影顯示并不移動(dòng)，但是最終的投影儀校正變換結(jié)果精度可以提高0.5個(gè)像素級(jí)別。
[0059]在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
[0060]實(shí)施例2:
[0061]如圖2所示，一種異形材料切割圖像校正方法，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟:
[0062]步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0063]所述步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)步驟具體為:將打樣紙放置在切割區(qū)域，在打樣紙上排列定位塊組成校正定位的線條框架，對(duì)線條框架內(nèi)的定位塊進(jìn)行切割并記錄下定位塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)。
[0064]如圖5所示，線條框架最少由3行4列定位方塊排列而成，，記M列*Ν行；記定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)為Wi j，i=0?M-l，j = O?N-1，定位方塊長(zhǎng)、寬設(shè)定為20mm，按定位方塊的長(zhǎng)度和寬度將定位方塊切割出來(lái)，在實(shí)際應(yīng)用中線條框架的定位方塊數(shù)量和大小根據(jù)異形材料的大小及樣品圖樣大小而定。
[0065]打樣紙需要以切割區(qū)域中心點(diǎn)為參考來(lái)放置，這樣做可以在采集定位線條框架圖的圖像時(shí)，定位塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)更加精確。
[0066]步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0067]所述步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟具體為:對(duì)打樣紙上的校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，將圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像并通過(guò)圖像梯度在圖像中查找定位方塊邊界，通過(guò)定位方塊邊界獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)。
[0068]如圖5、圖6所示，將采集的圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像是為對(duì)查找圖像中的定位方塊的邊界，定位方塊邊界檢測(cè)的實(shí)質(zhì)是采用算法來(lái)提取出圖像中對(duì)象與背景間的交界線。我們將邊界定義為圖像中灰度發(fā)生急劇變化的區(qū)域邊界。圖像灰度的變化情況可以用圖像灰度分布的梯度來(lái)反映。
[0069]其中圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像公式為:
[0070]pixel (m, n) = (pixel (m, η).R+pixel (m, η).G+pixel (m, η).B)/3。
[0071]圖像梯度(邊界映像)是數(shù)字圖像處理的重要內(nèi)容，是圖像分割、特征提取和圖像識(shí)別等圖像處理技術(shù)的重要前提，圖像梯度反映圖像局部亮度變化最顯著的部分，梯度算法的實(shí)質(zhì)是利用算法提取出圖像中對(duì)象與背景之間的顯著變化。
[0072]其中圖像梯度(邊界映像)公式:
[0073]pixel (m, n) = [pixel (m, n) -pixel (m-l, η) ] 2+[pixel (m, n)-pixel (m, n-1)]"2。
[0074]步驟S3:通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正；
[0075]采集圖像過(guò)程中，會(huì)因采集鏡頭的變形、采集角度和采集位移造成圖像中定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)的變形，需將圖像輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行變形校正，其中校正公式如下:
[0076]對(duì)每一個(gè)Wij，Pi j，簡(jiǎn)記為W，P，建立如下方程:
[0077](U，V) =P;
[0078](xw，yw, zw) = ff ；
[0079](xc yc zc) ’ = R* (xw yw zw) ’ +t ；
[0080]xl = xc/zc ；yl = yc/zc
[0081]ul = u-uO ；vl = v-vO
[0082]r " 2 = uI*uI+VI*VI ；
[0083]xl = ul*[l+kl*r " 2+...]+pi* (3*ul*ul+vl*vl)+2*p2*ulvl
[0084]yl = vl*[l+kl*r " 2+…]+2*pl*ul*vl+p2*(ul*ul+3*vl*vl)
[0085]其中:
[0086](uO，vO):設(shè)定為圖像的中心
[0087](u，v):圖像中的校正點(diǎn)坐標(biāo)
[0088](xw, yw, zw):校正點(diǎn)世界坐標(biāo)
[0089]鏡頭內(nèi)部參數(shù):(kl，k2 ;pl，p2)，kl, k2表示徑向畸變參數(shù)；
[0090]p I，p2表示切向畸變參數(shù)；
[0091]鏡頭外部參數(shù):R表示鏡頭的旋轉(zhuǎn)矩陣，t表示鏡頭位置向量。
[0092]步驟S4:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0093]所述步驟S4:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上步驟具體為:將采集的圖像定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)映射到切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上。
[0094]映射后察看圖像定位方塊中心點(diǎn)與切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)是否重合，定位方塊重合的數(shù)量有多少，不重合的定位方塊有多少，圖像中定位方塊相對(duì)于打樣紙定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊是放大了還是縮小了，主要是為了觀察映射產(chǎn)生的坐標(biāo)偏差是大還小，定位方塊的偏差率是多少，為后續(xù)校正偏差提供數(shù)據(jù)支持。
[0095]步驟S5:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0096]所述步驟S5:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟中具體包括以下步驟:通過(guò)映射將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)對(duì)應(yīng)到打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上；在圖像中移動(dòng)定位方塊，使每個(gè)映射的定位塊中心點(diǎn)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)的定位方塊中心點(diǎn)位置重合；記錄下圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量。
[0097]如圖7所示，由于分辨率的問(wèn)題，在按照像素級(jí)別移動(dòng)一個(gè)定位塊的時(shí)候，定位塊投影位置和切割機(jī)上紙張上畫的或切的位置一般對(duì)不齊，正確位置可能位于P+( △ /n，△ /m)的位置上。用戶觀察到的投影顯示可能是圖7示意圖的樣子，需要把P向左微調(diào)Δ/3。
[0098]如圖8所示，進(jìn)行亞像素級(jí)別的調(diào)整，每個(gè)定位塊下方有2行文字，其中第一行的(i, j)表示這個(gè)定位塊是第i列，第j行；第二行的(k，I/η)表示投影出來(lái)的定位塊亞像素操作的位置在X，y方向分別移動(dòng)k和I步，每步長(zhǎng)度為△ /η。
[0099]比如，圖8所示，第三列第五行的定位塊下方的兩個(gè)定位塊，其定位塊亞像素操作的位置分別是(1，0/3)，(0，-1/3)，前者表示對(duì)應(yīng)定位塊已經(jīng)在X方向上向右偏了 I個(gè)亞像素單位的位移，后者表示Y方向上向下偏移了 I個(gè)亞像素單位位移，3表示亞像素移動(dòng)單位為A/3。從而將P坐標(biāo)的精度提高到了亞像素級(jí)別。
[0100]在亞像素級(jí)別上移動(dòng)定位塊時(shí)，定位塊的投影顯示并不移動(dòng)，但是最終的投影儀校正變換結(jié)果精度可以提高0.5個(gè)像素級(jí)別。
[0101]在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
[0102]實(shí)施例3:
[0103]如圖3所示，一種異形材料切割圖像校正方法，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟:
[0104]步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0105]所述步驟S1:在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)步驟具體為:將打樣紙放置在切割區(qū)域，在打樣紙上排列定位塊組成校正定位的線條框架，對(duì)線條框架內(nèi)的定位塊進(jìn)行切割并記錄下定位塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)。
[0106]如圖5所示，線條框架最少由3行4列定位方塊排列而成，，記M列*N行；記定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)為Wi j，i=0?M-l，j = O?N-1，定位方塊長(zhǎng)、寬設(shè)定為20mm，按定位方塊的長(zhǎng)度和寬度將定位方塊切割出來(lái)，在實(shí)際應(yīng)用中線條框架的定位方塊數(shù)量和大小根據(jù)異形材料的大小及樣品圖樣大小而定。
[0107]打樣紙需要以切割區(qū)域中心點(diǎn)為參考來(lái)放置，這樣做可以在采集定位線條框架圖的圖像時(shí)，定位塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)更加精確。
[0108]步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0109]所述步驟S2:對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟具體為:對(duì)打樣紙上的校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，將圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像并通過(guò)圖像梯度在圖像中查找定位方塊邊界，通過(guò)定位方塊邊界獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)。
[0110]如圖5、圖6所示，將采集的圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像是為對(duì)查找圖像中的定位方塊的邊界，定位方塊邊界檢測(cè)的實(shí)質(zhì)是采用算法來(lái)提取出圖像中對(duì)象與背景間的交界線。我們將邊界定義為圖像中灰度發(fā)生急劇變化的區(qū)域邊界。圖像灰度的變化情況可以用圖像灰度分布的梯度來(lái)反映。
[0111]其中圖像轉(zhuǎn)換成灰度圖像公式為:
[0112]pixel (m, n) = (pixel (m, η).R+pixel (m, η).G+pixel (m, η).B)/3。
[0113]圖像梯度(邊界映像)是數(shù)字圖像處理的重要內(nèi)容，是圖像分割、特征提取和圖像識(shí)別等圖像處理技術(shù)的重要前提，圖像梯度反映圖像局部亮度變化最顯著的部分，梯度算法的實(shí)質(zhì)是利用算法提取出圖像中對(duì)象與背景之間的顯著變化。
[0114]其中圖像梯度(邊界映像)公式:
[0115]pixel (m, η) = [pixel (m, n) -pixel (m-l, n) ] 2+[pixel (m, n)-pixel (m, n-1)]"2。
[0116]步驟S3:通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正；
[0117]采集圖像過(guò)程中，會(huì)因采集鏡頭的變形、采集角度和采集位移造成圖像中定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)的變形，需將圖像輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行變形校正，其中校正公式如下:
[0118]對(duì)每一個(gè)Wi j，Pi j，簡(jiǎn)記為W，P，建立如下方程:
[0119](u，V) =p;
[0120](xw, yw, zw) = ff ；
[0121](xc yc zc) ’ = R*(xw yw zw) ’ +t ；
[0122]xl = xc/zc ；yl = yc/zc
[0123]ul = u-uO ；vl = v-vO
[0124]r " 2 = ul*ul+vl*vl ；
[0125]xl = ul*[l+kl*r " 2+...]+pi* (3*ul*ul+vl*vl)+2*p2*ulvl
[0126]yl = vl*[l+kl*r " 2+…]+2*pl*ul*vl+p2*(ul*ul+3*vl*vl)
[0127]其中:
[0128](u0，vO):設(shè)定為圖像的中心
[0129](u，v):圖像中的校正點(diǎn)坐標(biāo)
[0130](xw, yw, zw):校正點(diǎn)世界坐標(biāo)
[0131]鏡頭內(nèi)部參數(shù):(kl，k2 ;pl，p2)，kl, k2表示徑向畸變參數(shù)；
[0132]p I，p2表示切向畸變參數(shù)；
[0133]鏡頭外部參數(shù):R表示鏡頭的旋轉(zhuǎn)矩陣，t表示鏡頭位置向量。
[0134]步驟S4:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0135]所述步驟S4:將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上步驟具體為:將采集的圖像定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)映射到切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上。
[0136]映射后察看圖像定位方塊中心點(diǎn)與切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)是否重合，定位方塊重合的數(shù)量有多少，不重合的定位方塊有多少，圖像中定位方塊相對(duì)于打樣紙定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊是放大了還是縮小了，主要是為了觀察映射產(chǎn)生的坐標(biāo)偏差是大還小，定位方塊的偏差率是多少，為后續(xù)校正偏差提供數(shù)據(jù)支持。
[0137]步驟S5:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0138]所述步驟S5:將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟中具體包括以下步驟:通過(guò)映射將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)對(duì)應(yīng)到打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上；在圖像中移動(dòng)定位方塊，使每個(gè)映射的定位塊中心點(diǎn)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)的定位方塊中心點(diǎn)位置重合；記錄下圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量。
[0139]如圖7所示，由于分辨率的問(wèn)題，在按照像素級(jí)別移動(dòng)一個(gè)定位塊的時(shí)候，定位塊投影位置和切割機(jī)上紙張上畫的或切的位置一般對(duì)不齊，正確位置可能位于P+( △ /n，△ /m)的位置上。用戶觀察到的投影顯示可能是圖7示意圖的樣子，需要把P向左微調(diào)Δ/3。
[0140]如圖8所示，進(jìn)行亞像素級(jí)別的調(diào)整，每個(gè)定位塊下方有2行文字，其中第一行的(i, j)表示這個(gè)定位塊是第i列，第j行；第二行的(k，I/η)表示投影出來(lái)的定位塊亞像素操作的位置在X，y方向分別移動(dòng)k和I步，每步長(zhǎng)度為△ /η。
[0141]比如，圖8所示，第三列第五行的定位塊下方的兩個(gè)定位塊，其定位塊亞像素操作的位置分別是(1，0/3)，(0，-1/3)，前者表示對(duì)應(yīng)定位塊已經(jīng)在X方向上向右偏了 I個(gè)亞像素單位的位移，后者表示Y方向上向下偏移了 I個(gè)亞像素單位位移，3表示亞像素移動(dòng)單位為A/3。從而將P坐標(biāo)的精度提高到了亞像素級(jí)別。
[0142]在亞像素級(jí)別上移動(dòng)定位塊時(shí)，定位塊的投影顯示并不移動(dòng)，但是最終的投影儀校正變換結(jié)果精度可以提高0.5個(gè)像素級(jí)別。
[0143]步驟S6:根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。
[0144]在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
[0145]一種異形材料切割圖像校正系統(tǒng)，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)包括:
[0146]校正定位模塊I，用于在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；
[0147]圖像采樣模塊2，用于對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；
[0148]映射模塊3，用于將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；
[0149]映射校正模塊4，用于將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。
[0150]在本實(shí)施例中，異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:圖像變形校正模塊5，用于通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正。
[0151]在本實(shí)施例中，異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:檢驗(yàn)?zāi)K6，用于根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。
[0152]本發(fā)明實(shí)施的優(yōu)點(diǎn):通過(guò)在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)；對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)；將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上；將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正，采用定位方塊映射變換形式進(jìn)行校正，變換具有整體性，變換方法具有更好的誤差全局一致性，對(duì)圖像采集微小變化的容錯(cuò)性更強(qiáng)，從而在生產(chǎn)過(guò)程中可以保持更好的誤差水平。
[0153]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本領(lǐng)域技術(shù)的技術(shù)人員在本發(fā)明公開的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述異形材料切割圖像校正方法包括如下步驟: 在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)； 對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)； 將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上； 將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)步驟具體為:將打樣紙放置在切割區(qū)域，在打樣紙上排列定位塊組成校正定位的線條框架圖，對(duì)線條框架內(nèi)的定位塊進(jìn)行切割并記錄下定位塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟具體為:對(duì)打樣紙上的校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，將圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像并通過(guò)圖像梯度在圖像中查找定位方塊邊界，通過(guò)定位方塊邊界獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)步驟執(zhí)行后執(zhí)行以下步驟:通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上步驟具體為:將采集的圖像定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)映射到切割區(qū)域打樣紙上定位線條框圖內(nèi)相應(yīng)定位方塊的中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟中具體包括以下步驟:通過(guò)映射將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)對(duì)應(yīng)到打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)上；在圖像中移動(dòng)定位方塊，使每個(gè)映射的定位塊中心點(diǎn)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)的定位方塊中心點(diǎn)位置重合；記錄下圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量，再進(jìn)行映射圖像定位塊像素坐標(biāo)時(shí)根據(jù)偏移量進(jìn)行圖像定位塊坐標(biāo)校正。7.根據(jù)權(quán)利要求1至6之一所述的異形材料切割圖像校正方法，其特征在于，所述將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正步驟執(zhí)行后執(zhí)行以下步驟:根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。8.一種異形材料切割圖像校正系統(tǒng)，其特征在于，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)包括: 校正定位模塊，用于在打樣紙上設(shè)置校正定位線條框架圖，標(biāo)定在線條交叉處定位塊中心世界坐標(biāo)； 圖像采樣模塊，用于對(duì)校正定位線條框架框圖進(jìn)行圖像采樣，獲取定位方塊中心點(diǎn)在圖像中的像素坐標(biāo)； 映射模塊，用于將圖像映射到切割區(qū)域打樣紙定位線條框圖上； 映射校正模塊，用于將圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與切割區(qū)域定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)進(jìn)行比對(duì)獲得定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)相對(duì)于定位塊框圖中定位塊中心世界坐標(biāo)的偏移量并根據(jù)偏移量進(jìn)行校正。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的異形材料切割圖像校正系統(tǒng)，其特征在于，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:圖像變形校正模塊，用于通過(guò)線條框架圖中定位塊中心世界坐標(biāo)與圖像中定位方塊中心點(diǎn)的像素坐標(biāo)對(duì)進(jìn)行圖像采樣時(shí)產(chǎn)生的定位方塊中心點(diǎn)坐標(biāo)變形進(jìn)行校正。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的異形材料切割圖像校正系統(tǒng)，其特征在于，所述異形材料切割圖像校正系統(tǒng)還包括:檢驗(yàn)?zāi)K，用于根據(jù)記錄的圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度及圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量再進(jìn)行映射定位校正，檢驗(yàn)圖像中的定位方塊中心點(diǎn)像素坐標(biāo)與打樣紙上線條框架圖內(nèi)相應(yīng)的校正定位方塊中心點(diǎn)世界坐標(biāo)的重合度圖像中各個(gè)定位方塊的偏移校正量是否準(zhǔn)確。
【文檔編號(hào)】G06T7/00GK105989588SQ201510061322
【公開日】2016年10月5日
【申請(qǐng)日】2015年2月5日
【發(fā)明人】孫威
【申請(qǐng)人】上海隸首信息技術(shù)有限公司