一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，屬于服務(wù)器內(nèi)存測試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的服務(wù)器memory電源自動化測試的方法包括以下步驟：S1：將函數(shù)發(fā)生器和示波器通過GPIB連接，示波器和PC通過GPIB?UB?HS連接；S2：控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，通過讀取測試條件，設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令；S3：根據(jù)采集的示波器波形和數(shù)據(jù)生成transient 3D圖像；S4：根據(jù)transient測試的結(jié)果，提取最worst情況下的測試條件。該發(fā)明的服務(wù)器memory電源自動化測試的方法能減少設(shè)置測試條件的繁瑣計算與校正，直觀顯示采集的所有測試數(shù)據(jù)及3D圖像，具有很好的推廣應(yīng)用價值。
【專利說明】
一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及服務(wù)器內(nèi)存測試技術(shù)領(lǐng)域，具體提供一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著社會經(jīng)濟的飛速發(fā)展，計算機得到越來越廣泛的應(yīng)用。同時，IT領(lǐng)域技術(shù)的不斷發(fā)展，傳統(tǒng)信息化服務(wù)以及日趨強大的云計算服務(wù)，對服務(wù)器的安全可靠性要求越來越高。服務(wù)器memory是服務(wù)器重要的組成部分，內(nèi)存是否穩(wěn)定運行直接影響到服務(wù)器的可靠安全性，因此在生產(chǎn)以及使用過程中對服務(wù)器的memory測試是不可或缺的。在服務(wù)器的memory電源測試中，transient測試是最重要也是最繁瑣的部分?，F(xiàn)有技術(shù)中，在intel VR_TEST_T00L和DDR_TEST_T00L互聯(lián)的基礎(chǔ)上，需要將transient電流范圍換算成電壓范圍并通過示波器進行校正，根據(jù)示波器的顯示調(diào)整slew rate條件，通過PDT設(shè)置測試條件run3D APP，測試出最worst情況，然后重新設(shè)定測試條件，抓取測試波形及數(shù)據(jù)。該方法中，測試條件的設(shè)置需要繁瑣的計算與校正，并且不能直觀的顯示采集的所有數(shù)據(jù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是針對上述存在的問題，提供一種能有效的減少設(shè)置測試條件的繁瑣計算與校正，同時可以直觀的顯示采集的所有測試數(shù)據(jù)及3D圖像，并自動抓取最worst情況下的波形和數(shù)據(jù)與SPEC(Standard Performance Evaluat1n Corporat1n)即系統(tǒng)性能評估測試進行對比的服務(wù)器memory電源自動化測試的方法。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案:
一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，該測試的方法建立在intel DDR_TEST_TOOL基礎(chǔ)上，具體包括以下步驟:
S1:將函數(shù)發(fā)生器和示波器通過GPIB相連接，示波器和PC通過GPIB-UB-HS相連接；
S2:控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，通過讀取測試條件，設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令給memory，采集示波器測試波形及數(shù)據(jù)；
S3:根據(jù)采集的示波器波形和數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像；
S4:根據(jù)transient測試的結(jié)果，提取最worst情況下的測試條件，重新設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取示波器的波形及數(shù)據(jù)到測試表格中，并與測試表格的SPEC值進行比較。
[0005]所述方法能夠?qū)崿F(xiàn)PC、示波器和函數(shù)發(fā)生器的互聯(lián)。自動化測試在設(shè)計初期，通過控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，讀取表格測試條件，計算和實際調(diào)整設(shè)定好函數(shù)發(fā)生器，在測試過程中，只需讀取測試條件就可自動設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，同時采集示波器波形和數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像，提取最worst情況下的測試條件，再重新自動設(shè)定函數(shù)發(fā)生器，抓取示波器測試波形及數(shù)據(jù)，與SPEC值進行比較，即可完成服務(wù)器memory電源自動化測試。減少了設(shè)置測試條件的繁瑣計算與校正，并可以直觀顯示采集的所有測試數(shù)據(jù)及3D圖像。
[0006]作為優(yōu)選，所述步驟S2基于LabVIEW控制示波器和函數(shù)發(fā)生器。
[0007]作為優(yōu)選，步驟S4所述抓取的最worst情況下的測試條件為worstMAX電壓值和worst MIX電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比。根據(jù)提取的worst MAX電壓值和worst MIX電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比，設(shè)定函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取此時對應(yīng)的示波器波形及數(shù)據(jù)，同時與SPEC值進行比較。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下突出的有益效果:
(一)本發(fā)明所述方法的測試建立在intelDDR_TEST_T00L的基礎(chǔ)上，通過GPIB連接示波器和函數(shù)發(fā)生器，再通過GPIB-USB-HS連接示波器和PC，實現(xiàn)PC、示波器和函數(shù)發(fā)生器的互聯(lián)；
(二)基于LabVIEW控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，讀取測試表格中的測試條件，設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，并采集示波器的波形及數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像，可以直觀顯示采集到的所有測試數(shù)據(jù)；
(三)該方法能夠減少設(shè)置測試條件的繁瑣計算與校正，同時可以直觀的顯示采集的所有測試數(shù)據(jù)及其3D圖像，并能自動抓取最worst情況下的波形和數(shù)據(jù)與SPEC進行對比，能夠最大程度上簡化服務(wù)器memory電源測試。
【附圖說明】
[0009]圖1是本發(fā)明所述服務(wù)器memory電源自動化測試的方法的測試架構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面將結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法作進一步詳細說明。
實施例
[0011 ] 如圖1所示，本發(fā)明的一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，該測試的方法建立在intel DDR_TEST_T00L基礎(chǔ)上，具體包括以下步驟:
S1:將函數(shù)發(fā)生器和示波器通過GPIB相連接，示波器和PC通過GPIB-UB-HS相連接。
[0012]S2:控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，通過讀取測試條件，設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令給memory，采集示波器測試波形及數(shù)據(jù)?；贚abVIEW控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，讀取測試條件設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，采集示波器波形及數(shù)據(jù)。
[0013]S3:根據(jù)采集的示波器波形和數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像，可以直觀的顯示采集到的所有測試數(shù)據(jù)。
[0014]S4:根據(jù)transient測試的結(jié)果，提取最worst情況下的測試條件，重新設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取示波器的波形及數(shù)據(jù)到測試表格中，并與測試表格的SPEC值進行比較。提取的最worst情況下的測試條件為worst MAX電壓值和worst MIX電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比。根據(jù)提取的worst MAX電壓值和worst MIX電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比，設(shè)定函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取此時對應(yīng)的示波器波形及數(shù)據(jù)，同時與SPEC值進行比較。
[0015]本發(fā)明所述服務(wù)器memory電源自動化測試的方法的具體過程為:
(1)測試建立在inteI DDR_TEST_T00L基礎(chǔ)上，通過GPIB連接示波器和函數(shù)發(fā)生器，再經(jīng)由GPIB-USB-HS連接示波器和PC;
(2)基于LabVIEW控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，根據(jù)讀取的測試條件設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，采集示波器測試的波形及數(shù)據(jù)；
(3)根據(jù)采集的示波器的數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像，提取worstMAX電壓值和worst MIN電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比；
(4)重新設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取示波器的波形及數(shù)據(jù)到測試表格中，并與表格SPEC進行比較。
[0016]以上所述的實施例，只是本發(fā)明較優(yōu)選的【具體實施方式】，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)進行的通常變化和替換都應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，其特征在于:該測試的方法建立在intelDDR_TEST_T00L基礎(chǔ)上，具體包括以下步驟: S1:將函數(shù)發(fā)生器和示波器通過GPIB相連接，示波器和PC通過GPIB-UB-HS相連接； S2:控制示波器和函數(shù)發(fā)生器，通過讀取測試條件，設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令給memory，采集示波器測試波形及數(shù)據(jù)； S3:根據(jù)采集的示波器波形和數(shù)據(jù)生成transient電壓-頻率-占空比3D圖像； S4:根據(jù)transient測試的結(jié)果，提取最worst情況下的測試條件，重新設(shè)置函數(shù)發(fā)生器并發(fā)送output指令，抓取示波器的波形及數(shù)據(jù)到測試表格中，并與測試表格的SPEC值進行比較。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，其特征在于:所述步驟S2基于LabVIEW控制示波器和函數(shù)發(fā)生器。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的服務(wù)器memory電源自動化測試的方法，其特征在于:步驟S4所述抓取的最worst情況下的測試條件為worst MAX電壓值和worst MIX電壓值所對應(yīng)的頻率和占空比。
【文檔編號】G06F11/22GK105868064SQ201610238838
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年4月15日
【發(fā)明人】王杰
【申請人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司