時隙不同的 時間發(fā)生的隨后的時隙中，處理裝置120可W利用TX信號145驅(qū)動電容傳感陣列110的一個 或更多個列，并測量行上的電容，W生成RX信號135。處理裝置120可W使用來自第一時隙的 RX信號145來確定觸摸體的X軸坐標，并使用來自第二時隙的RX信號135來確定觸摸體的巧由 坐標。
[0023] 圖2是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的電容傳感系統(tǒng)200的方框圖。在一個實施例中， 如上關于圖1所述，系統(tǒng)200包括：電容傳感陣列110、處理裝置120和復用器130、140。在電容 傳感陣列110中，單獨的行電極RO-Rm和列電極CO-Cn被示出。在不同是實施例中，在電容傳 感陣列110中可W有任何數(shù)目的行電極和列電極。
[0024] 行電極RO-Rm中的每一個可W被連接到行復用器130,行復用器130控制信號135的 應用。行復用器130可W基于控制信號(未示出)選擇性地將信號135施加到一個或更多個行 電極RO-Rm?？刂菩盘柨蒞從處理裝置120或一些其它來源接收。行復用器130可W-次（例 如，T0-T3)將信號135施加到（即驅(qū)動)選定數(shù)目的行電極或可W同時驅(qū)動所有行電極?？蒞 利用信號135順序地（即一次一個)驅(qū)動行電極，或可W同時驅(qū)動選定數(shù)目。一次驅(qū)動的行電 極的數(shù)目也可W基于電容傳感陣列110和處理裝置120的電氣考慮，諸如列電極CO-Cn能處 理的電荷水平，或信號135能提供的最大電荷。在一個實施例中，通過處理裝置120的發(fā)送源 部件222提供信號135。然而，在其它實施例中，可W通過其它源提供信號135。在一些實施例 中，發(fā)送源部件222可W利用具有多個相、頻率和幅值的發(fā)送信號135驅(qū)動多個行電極。
[0025] 列電極CO-Cn中的每一個可W被連接到列復用器140,列復用器140控制接收信號 到到處理裝置120的施加用于測量和處理。在一個實施例中，處理裝置120包括接收器模塊 224。接收器模塊224可W禪合到若干接收通道把1、把2、把3、把11，每個接收通道可構(gòu)造為測 量和處理來自一個或更多個列電極CO-化的接收信號。在其它實施例中，可W具有其它數(shù)目 的接收通道。例如，在電容傳感陣列110中每個列電極可W有一個接收通道，因而允許同時 測量每一列。然而，在某些實施例中，接收通道的數(shù)目可W小于接收電極的數(shù)目，因而防止 一次測量所有接收電極。列復用器140可W基于控制信號（未示出）選擇性地將來自若干列 電極(例如，C0-C3)的接收信號施加到一個接收通道(例如，Rxl)用于測量?？蒞從處理裝置 120或其它源接收控制信號。
[0026] 在一個實施例中，上述構(gòu)造可W在第一時隙中使用，W確定接近電容傳感陣列110 的觸摸體的X軸坐標。由于可W同時感應所有列CO-Cn,所W由LCD噪音或充電噪音引起的噪 音在電極上將是一致的。在隨后的時隙中，構(gòu)造可W被改變使得TX源部件222被連接到列復 用器140并且接收器模塊224被連接到行復用器130。處理裝置120可W包括開關電路，W使 構(gòu)造能夠改變或在處理裝置的外部可W有附加的開關電路(未示出）。在第二構(gòu)造中，可W 利用發(fā)送信號驅(qū)動列CO-Cn,并且所有行RO-Rm可W同時被感應，W確定觸摸體的Y軸坐標。 盡管與X軸坐標的確定相比，Y軸坐標的確定發(fā)生在不同的時隙，但是在第二時隙內(nèi)噪音將 是一致的，允許觸摸體位置的精確確定。
[0027] 圖3A是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的共模充電噪音的影響和在觸摸傳感器裝置的 傳感器元件上測得的電容值的圖表。充電噪音是在觸摸的存在期間桶過電池充電器被物理 禪合在觸摸傳感器裝置中的噪音。它可W被看作是觸摸的退化的精確度或線性度、假的或 虛的觸摸、或甚至是不響應的或不穩(wěn)定的觸摸屏。充電噪音通?？赡苁嵌壥袌龅牡统杀?充電器造成的。
[0028] 在圖3A的圖表300中，電容值A和B可W表示當沒有導電體存在時由各傳感器（例 如，電極)確定的計數(shù)值與基準值之間的差異。圖表300的水平軸對應于傳感器元件數(shù)目（例 如，電容傳感陣列110的行電極RO-Rm)。在豎直軸上的列的高度表示，在諸如手指或其它電 容體的觸摸體存在的情況下，對于每個電極的測出差異計數(shù)。標有AA和AB的各列的散列 部分表示由充電噪音引起的測出電容的部分。如該實施例中圖示的，充電噪音AA和AB與 各電極上的測出電容A和B成比例。因而，因為測出電容A小于測出電容B，所W充電噪音AA 小于充電噪音AB。在該實施例中，測出電容B是峰值(可能是由于位于相應的電極附近的觸 摸體的存在導致的），并且因而，最大數(shù)量的充電器噪音AB也在該相同電極上被觀察到。
[0029] 圖3B是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的共模顯示器噪音的影響和在觸摸傳感器裝置 的傳感器元件上測得的電容值的圖表。在電子裝置中的顯示器諸如在觸摸屏中使用的LED 能產(chǎn)生相當多的噪音，運些噪音能被直接引導進入電容觸摸屏傳感器中。圖3B的圖表350包 括相同的電容值A和BW及顯示器噪音部分AC。如該實施例中圖示的，顯示器噪音AC在觸 摸傳感器裝置中的各電極上是相等的，并且不受各電極上的測出電容A和B的數(shù)量的影響。
[0030] 圖4是圖示根據(jù)實施例的用于在觸摸應用中消除共模噪音的兩部分掃描過程的簡 圖。在一個實施例中，掃描過程可W由處理邏輯執(zhí)行，該處理邏輯包括硬件(例如，電路、專 用邏輯、可編程邏輯、微代碼）、軟件(例如，在處理裝置上運行W執(zhí)行硬件仿真的指令)或其 組合。處理邏輯在第一時隙期間掃描觸摸傳感器裝置的一側(cè)并在第二時隙期間掃描觸摸傳 感器裝置的正交側(cè)，W確定觸摸體的位置。在一個實施例中，如圖1和圖2所示的處理裝置 120可W執(zhí)行運里所描述的操作。
[0031] 在一個實施例中，在412,在第一操作或時隙A410期間，處理裝置120掃描沿著電容 傳感陣列110的第一軸的多個電極CO-Cn, W產(chǎn)生對應于在電容傳感陣列110的電極交叉處 的互電容的多個信號。列復用器140可W將測出信號提供到處理裝置120的對應的接收通道 Rxl-Rxn。在一個實施例中，發(fā)送源222利用TX信號135驅(qū)動沿著電容傳感陣列110的第二軸 的一個或更多個電極RO-RmnTX信號135激發(fā)電極W在各電極交叉處產(chǎn)生互電容。
[0032] 在一個實施例中，在424，在第二操作或時隙B420期間，處理裝置120掃描沿著電容 傳感陣列110的第二軸的多個第二電極RO-Rn, W產(chǎn)生對應于在電容傳感陣列110的電極交 叉處的互電容的多個信號。行復用器130可W將測出信號提供到處理裝置120的對應的接收 通道Rxl-Rxn。在一個實施例中，發(fā)送源222利用TX信號驅(qū)動沿著電容傳感陣列110的第一軸 的一個或更多個電極CO-Cn。在一個實施例中，在處理裝置120中具有至少和電容傳感陣列 110中的列電極或行電極一樣多的接收通道。在一個實施例中，第二時隙B420包括不同于第 一時隙A410的一段時間，并且在不重疊的情況下繼第一時隙A410之后發(fā)生。在其它實施例 中，掃描電容傳感陣列110的行和列的順序可W是相反的。因而，在一個實施例中個，處理裝 置120可W在時隙A410掃描行電極，并在時隙B420掃描列電極。
[0033] 在一個實施例中，在436,處理裝置120基于在時隙410測得的信號確定接近電容傳 感陣列110的導電體的第一坐標。處理裝置120也可W基于在時隙B420測得的信號確定導電 體的第二坐標。在一個實施例中，處理裝置120可W在第=操作或時隙C430期間確定運些坐 標。在其它實施例中，處理裝置120可W在分開的時間確定各坐標，例如，在完成在某個時隙 期間的掃描之后但在下一個時隙的掃描開始之前。被確定的坐標可W指示觸摸體在電容傳 感陣列110上的位置。
[0034] 在一個實施例中，盡管在時隙C430期間計算觸摸位置坐標436,但是在432,處理裝 置120重新掃描沿著電容傳感陣列110的第一軸的多個第一電極CO-Cn, W產(chǎn)生對應于在電 容傳感陣列110的電極交叉處的互電容的多個信號。在第四操作或時隙D440,在444,處理裝 置120重新掃描沿著電容傳感陣列110的第二軸的多個第二電極RO-化，W產(chǎn)生對應于在電 容傳感陣列110的電極交叉處的互電容的多個信號。同樣在時隙D440期間，在446,處理裝置 120基于在424和432測得的信號計算接近電容傳感陣列110的導電體的X坐標和Y坐標。在第 五操作或時隙E450,在452,處理裝置120再次重新掃描沿著電容傳感陣列110的第一軸的多 個第一電極CO-Cn, W產(chǎn)生對應于在電容傳感陣列110的電極交叉處的互電容的多個信號， 并且在456,處理裝置120基于在434和444測得的信號計算接近電容傳感陣列110的導電體 的X坐標和Y坐標。在向前的交替的時隙中，處理裝置120可W交替掃描電