Nand flash管理軟件的測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試方法，特別涉及一種NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]NAND FLASH內(nèi)存是flash內(nèi)存中的一種，其內(nèi)部采用非線性宏單元模式，為固態(tài)大容量?jī)?nèi)存的實(shí)現(xiàn)提供了廉價(jià)有效的解決方案。NAND-FLASH存儲(chǔ)器具有容量較大，改寫速度快等優(yōu)點(diǎn)，適用于大量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)，因而在業(yè)界得到了越來越廣泛的應(yīng)用，如嵌入式產(chǎn)品中包括數(shù)碼相機(jī)、MP3隨身聽記憶卡、體積小巧的U盤等。然而，NAND FLASH內(nèi)存容易出現(xiàn)位反轉(zhuǎn)的情況，必須配備可靠的NAND FLASH管理軟件才可以保證NAND FLASH內(nèi)存的可靠性。
[0003]現(xiàn)有NAND FLASH管理軟件的原理是在NAND FLASH翻轉(zhuǎn)位達(dá)到設(shè)計(jì)的臨界值時(shí)觸發(fā)數(shù)據(jù)搬移機(jī)制，將經(jīng)過糾錯(cuò)的數(shù)據(jù)搬移到另一地址，并將NAND FLASH的物理地址映射到操作系統(tǒng)所使用的邏輯地址。依靠這套管理軟件NAND FLASH內(nèi)存才可以在一些對(duì)安全要求比較高的場(chǎng)合使用，比如工業(yè)機(jī)器，汽車等。因此，產(chǎn)品所使用的NAND FLASH管理軟件的可靠性與覆蓋范圍便成為事關(guān)產(chǎn)品壽命與可靠性的重要因素。
[0004]為了測(cè)試NAND FLASH管理軟件的可靠性，一般是在管理軟件提供的讀寫接口之上編寫測(cè)試程序，測(cè)試程序?qū)AND FLASH內(nèi)存做多次讀寫操作，再配合電壓波動(dòng)測(cè)試，以使NAND FLASH盡早達(dá)到位翻轉(zhuǎn)或損壞的情況，以觸發(fā)數(shù)據(jù)搬移機(jī)制，驗(yàn)證NAND FLASH管理軟件的作用。然而，通過掉電測(cè)試往往需要幾萬次以上才能觸發(fā)數(shù)據(jù)搬移機(jī)制，需要耗時(shí)幾天到幾個(gè)星期的時(shí)間，效率低，很大程度上影響了產(chǎn)品推出的時(shí)間。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種可在短時(shí)間內(nèi)完成NAND FLASH管理軟件的測(cè)試過程的NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法。
[0006]一種NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法，其用于對(duì)運(yùn)行在處理器上的NAND FLASH管理軟件進(jìn)行測(cè)試。NAND FLASH內(nèi)存通過一 NAND FLASH控制器連接在所述處理器上。所述測(cè)試方法包括四個(gè)步驟。其中步驟一，通過所述NAND FLASH管理軟件從所述NAND FLASH內(nèi)存上讀取指定邏輯地址的塊的數(shù)據(jù)區(qū)和備份區(qū)數(shù)據(jù)作為第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，并同時(shí)獲取第一數(shù)據(jù)的物理地址。步驟二，關(guān)閉所述NAND FLASH控制器的ECC校驗(yàn)功能，繞過所述NAND FLASH管理軟件，根據(jù)所述物理地址直接物理擦除所述NAND FLASH內(nèi)存塊上的數(shù)據(jù)。步驟三，繞過所述NAND FLASH管理軟件，直接在所述物理地址的數(shù)據(jù)區(qū)寫入第三數(shù)據(jù)，在備份區(qū)寫入所述第二數(shù)據(jù)，其中第三數(shù)據(jù)與第一數(shù)據(jù)相比所不同的數(shù)據(jù)位的數(shù)量大于所述NAND FLASH管理軟件的ECC臨界值并小于ECC的最大糾錯(cuò)位數(shù)。步驟四，打開所述NANDFLASH控制器的ECC校驗(yàn)功能，連續(xù)兩次通過所述NAND FLASH管理軟件讀取NAND FLASH內(nèi)存的所述指定邏輯地址的數(shù)據(jù)，在第二次讀取時(shí)獲取此時(shí)所述指定邏輯地址對(duì)應(yīng)的物理地址，并根讀取的結(jié)果輸出驗(yàn)證結(jié)果。
[0007]優(yōu)選的，所述處理器還通過串口與一外接計(jì)算機(jī)設(shè)備相連，所述步驟一中讀取第一和第二數(shù)據(jù)的動(dòng)作是所述處理器在接收到所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備發(fā)送過來的讀取所述NAND FLASH內(nèi)存的指定邏輯地址的數(shù)據(jù)的請(qǐng)求時(shí)執(zhí)行的，所述處理器讀取到所述第一和第二數(shù)據(jù)后發(fā)送給所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備保存，同時(shí)獲取第一數(shù)據(jù)的物理地址并發(fā)送給所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備。
[0008]優(yōu)選的，所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備接收到所述第一和第二數(shù)據(jù)后，根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)生成第三數(shù)據(jù)，然后控制所述處理器執(zhí)行所述步驟二至步驟四。
[0009]優(yōu)選的，步驟四中，如果兩次讀取中的第一次讀取的數(shù)據(jù)為所述第三和第二數(shù)據(jù)，第二次讀取的數(shù)據(jù)是第一和第二數(shù)據(jù)，且第二次獲取的物理地址與與步驟一獲得的物理地址不同，則判斷所述NAND FLASH管理軟件正確，所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備通過顯示設(shè)備輸出驗(yàn)證通過的信息；如果第二次讀取的數(shù)據(jù)仍然為所述第三和第二數(shù)據(jù)，則判斷所述NANDFLASH管理軟件出錯(cuò)，所述外接計(jì)算機(jī)設(shè)備通過顯示設(shè)備輸出驗(yàn)證失敗的信息。
[0010]本發(fā)明的NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法通過采用讀取NAND FLASH內(nèi)存的數(shù)據(jù)時(shí)采用邏輯讀取，在NAND FLASH內(nèi)存寫入數(shù)據(jù)時(shí)采用物理直接寫入的方式快速觸發(fā)NANDFLASH管理軟件的數(shù)據(jù)搬移機(jī)制，可以減少產(chǎn)品的測(cè)試時(shí)間，節(jié)約測(cè)試經(jīng)費(fèi)。該測(cè)試方法可應(yīng)用于不同操作系統(tǒng)的不同的NAND FLASH管理軟件。
【附圖說明】
[0011]圖1為一實(shí)施例的NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法應(yīng)用的系統(tǒng)架構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面將結(jié)合具體實(shí)施例及附圖對(duì)本發(fā)明NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
[0013]一實(shí)施例中，本發(fā)明的NAND FLASH管理軟件的測(cè)試方法應(yīng)用于如圖1所示的系統(tǒng)中，該系統(tǒng)包括處理器、連接在處理器上的NAND FLASH控制器(以下簡(jiǎn)稱控制器)以及通過控制器連接在處理器上的NAND FLASH內(nèi)存(以下簡(jiǎn)稱內(nèi)存)。此外，處理器還通過串行通信接口與外接計(jì)算機(jī)設(shè)備相連。控制器是處理器連接內(nèi)存的橋梁，主要負(fù)責(zé)控制讀寫及ECC(Error Correcting Code,錯(cuò)誤檢查和糾正碼)校驗(yàn)操作。
[0014]本實(shí)施例中，處理器為車載電氣設(shè)備所使用的ARM處理器，其運(yùn)行WinCE操作系統(tǒng)，且內(nèi)裝NAND FLASH管理軟件(以下簡(jiǎn)稱管理軟件)及熟冊(cè)FLASH測(cè)試軟件(以下簡(jiǎn)稱測(cè)試軟件)。外接計(jì)算機(jī)設(shè)備上運(yùn)行有串口測(cè)試軟件，主要用于控制處理器執(zhí)行測(cè)試軟件。
[0015]NAND FLASH管理軟件負(fù)責(zé)核對(duì)并處理ECC校驗(yàn)結(jié)果，管理NAND FLASH內(nèi)存的壞塊，其通過設(shè)置每一個(gè)sector (扇區(qū))區(qū)域的data (數(shù)據(jù))區(qū)允許出錯(cuò)位數(shù)的臨界值，及時(shí)搬移出錯(cuò)位數(shù)達(dá)到臨界值的sector數(shù)據(jù)，確保在出現(xiàn)ECC不能糾正的錯(cuò)誤前保護(hù)數(shù)據(jù)。NANDFLASH管理軟件向WinCE操作系統(tǒng)暴露讀寫及獲取NAND FLASH內(nèi)存中數(shù)據(jù)的接口。并將NAND FLASH內(nèi)存的物理地址映射為操作系統(tǒng)使用的邏輯地址。
[0016]NAND FLASH測(cè)試軟件負(fù)責(zé)實(shí)現(xiàn)通過管理軟件對(duì)內(nèi)存進(jìn)行邏輯讀操作，還負(fù)責(zé)繞過管理軟件直接對(duì)內(nèi)存進(jìn)行物理寫操作，還負(fù)責(zé)通過串行通信接口與外接計(jì)算機(jī)設(shè)備通信。其中邏輯讀操作需要通過操作系統(tǒng)調(diào)用控制器的NAND FLASH讀接口。
[0017]串口測(cè)試軟件負(fù)責(zé)向用戶輸出測(cè)試界面，該測(cè)試界面包括但不限于測(cè)試過程和結(jié)果展示，參數(shù)的設(shè)定框等。用戶可通過該測(cè)試界面對(duì)測(cè)試時(shí)進(jìn)行的邏輯讀和物理寫的操作次數(shù)、以及對(duì)內(nèi)存的操作地址進(jìn)行設(shè)定和修改。
[0018]一實(shí)施例中，本發(fā)明的NAND FLASH管