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一種可配置的射頻功能單元測(cè)試方法與流程

文檔序號(hào):11387121閱讀:560來源:國(guó)知局

本發(fā)明涉及射頻功能單元的測(cè)試技術(shù),尤其是射頻功能單元的可配置自動(dòng)測(cè)試技術(shù)。



背景技術(shù):

目前,電子測(cè)試自動(dòng)化是測(cè)量?jī)x器發(fā)展的主要方向,隨著科技的發(fā)展和進(jìn)步,測(cè)試項(xiàng)目日益增多,測(cè)量范圍越來越大,測(cè)試對(duì)象千變?nèi)f化,尤其對(duì)于生產(chǎn)線批量測(cè)試,更換不同的產(chǎn)品十分困難,因此需要建立可配置的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)多測(cè)試項(xiàng)快速、準(zhǔn)確的測(cè)試,測(cè)試對(duì)象能快速切換。

中國(guó)專利cn205484619u公開了一種微波器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口通過usb轉(zhuǎn)gpib線與pc機(jī)的usb接口連接,pc機(jī)的開關(guān)控制輸出與開關(guān)控制矩陣的控制輸入端連接,此系統(tǒng)僅適用于局部gpib接口的儀器,對(duì)于lan、rs232等其它接口就無能為力,該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試效率低、通用性差。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:針對(duì)上述存在的問題,提供一種可快速配置測(cè)試指標(biāo)、測(cè)試效率高、通用性強(qiáng)的可配置射頻功能單元測(cè)試方法。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:

一種可配置的射頻功能單元測(cè)試方法,具體包括:

步驟a、獲取射頻功能單元的配置文件,生成測(cè)試序列;

步驟b、檢測(cè)測(cè)試裝置是否滿足測(cè)試序列的硬件要求,若滿足執(zhí)行步驟c,否則結(jié)束測(cè)試。

步驟c、解析調(diào)度所述測(cè)試序列生成相應(yīng)的測(cè)試指令集;

步驟d、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試指令集對(duì)射頻功能單元進(jìn)行測(cè)試;

步驟e、獲取射頻功能單元根據(jù)所述測(cè)試序列給出激勵(lì)做出的響應(yīng)信息;

步驟f、判決測(cè)試結(jié)果,顯示并存儲(chǔ)所述響應(yīng)信息和判決結(jié)果,完成測(cè)試。

所述測(cè)試方法由測(cè)試執(zhí)行器完成,所述配置文件由配置生成器生成。

進(jìn)一步地,步驟f中,執(zhí)行所述測(cè)試序列中的判據(jù)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行判決。

進(jìn)一步地,所述判據(jù)包括標(biāo)準(zhǔn)模型判據(jù)和通過判據(jù)方法接口鏈接的動(dòng)態(tài)判據(jù)。

進(jìn)一步地,獲取射頻功能單元配置文件的方法包括根據(jù)射頻功能單元特征自動(dòng)獲取與其匹配的配置文件。

進(jìn)一步地,所述測(cè)試執(zhí)行器可根據(jù)配置文件設(shè)置控制模塊來實(shí)現(xiàn)對(duì)射頻功能單元控制接口的管理。

進(jìn)一步地,所述測(cè)試執(zhí)行器通過讀取射頻功能單元對(duì)應(yīng)配置文件調(diào)用動(dòng)態(tài)測(cè)試方法庫(kù)進(jìn)行測(cè)試。

進(jìn)一步地,測(cè)試前,所述測(cè)試執(zhí)行器根據(jù)射頻功能單元需求,在接入系統(tǒng)的儀器資源庫(kù)中搜索待檢測(cè)射頻功能單元需要的儀器,并生成測(cè)試工位。

綜上所述,由于采用了上述技術(shù)方案,本發(fā)明的有益效果是:射頻功能單元配置文件的生成與測(cè)試執(zhí)行器分離,配置文件修改方便,便于管理,能夠?qū)崿F(xiàn)針對(duì)具體微波器件射頻指標(biāo)的快速測(cè)試;便于統(tǒng)一測(cè)試方法和測(cè)試判據(jù),適用于快速測(cè)試射頻功能單元;可根據(jù)不同射頻功能單元的測(cè)試指標(biāo),快速配置與其相應(yīng)的配置文件,無需對(duì)測(cè)試執(zhí)行器進(jìn)行更改,測(cè)試效率高,通用性強(qiáng)。

附圖說明

本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明,其中:

圖1為本發(fā)明提供的可配置射頻功能單元測(cè)試方法流程圖

具體實(shí)施方式

本說明書中公開的所有特征,或公開的所有方法或過程中的步驟,除了互相排斥的特征和/或步驟以外,均可以以任何方式組合。

本說明書中公開的任一特征,除非特別敘述,均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即,除非特別敘述,每個(gè)特征只是一系列等效或類似特征中的一個(gè)例子而已。

圖1為本發(fā)明提供的可配置射頻功能單元測(cè)試方法流程圖,所述測(cè)試方法由測(cè)試執(zhí)行器完成。如圖1所示,一種可配置的射頻功能單元測(cè)試方法,具體包括:

步驟a、獲取射頻功能單元的配置文件,生成測(cè)試序列;

步驟b、檢測(cè)測(cè)試裝置是否滿足測(cè)試序列的硬件要求,若滿足執(zhí)行步驟c,否則結(jié)束測(cè)試。

步驟c、解析調(diào)度所述測(cè)試序列生成相應(yīng)的測(cè)試指令集;

步驟d、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試指令集對(duì)射頻功能單元進(jìn)行測(cè)試;

步驟e、獲取射頻功能單元根據(jù)所述測(cè)試序列給出激勵(lì)做出的響應(yīng)信息;

步驟f、判決測(cè)試結(jié)果,顯示并存儲(chǔ)所述響應(yīng)信息和判決結(jié)果,完成測(cè)試。

所述測(cè)試方法由測(cè)試執(zhí)行器完成,所述配置文件由配置生成器生成。

所述配置文件由配置生成器根據(jù)射頻功能單元的測(cè)試指標(biāo)、激勵(lì)、指標(biāo)判據(jù)、響應(yīng)和控制協(xié)議生成。根據(jù)任務(wù)目標(biāo)或生產(chǎn)工序不同,配置生成器可利用不同的配置方法對(duì)同一射頻功能單元生成不同的配置文件,不同版本配置文件對(duì)應(yīng)的測(cè)試序列相互獨(dú)立。同時(shí),可將所述配置文件上傳至服務(wù)器進(jìn)行管理,并可通過所述配置生成器對(duì)所述配置文件進(jìn)行修改和劃分,可根據(jù)產(chǎn)品名稱、測(cè)試環(huán)境狀態(tài)(高溫、低溫、常溫、振動(dòng)等)、測(cè)試端口、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)射頻功能單元的配置文件進(jìn)行劃分,下層設(shè)置默認(rèn)上層設(shè)置,特殊情況下可個(gè)性化設(shè)置代替上層設(shè)置。

測(cè)試執(zhí)行器獲取射頻功能單元的配置文件生成測(cè)試序列。測(cè)試前,測(cè)試執(zhí)行器根據(jù)射頻功能單元需求和系統(tǒng)具備的總線能力,在接入系統(tǒng)的儀器資源庫(kù)中搜索待檢測(cè)射頻功能單元需要的儀器,生成測(cè)試工位。測(cè)試執(zhí)行器獲取射頻功能單元配置文件的方式包括根據(jù)射頻功能單元特征自動(dòng)獲取與其匹配的配置文件,自動(dòng)確定射頻功能單元儀器的控制總線方式。

測(cè)試序列包含激勵(lì)、判據(jù)和多個(gè)測(cè)試步驟,測(cè)試執(zhí)行器一次可執(zhí)行單個(gè)或多個(gè)測(cè)試步驟。測(cè)試執(zhí)行器檢查測(cè)試裝置是否符合測(cè)試序列的硬件要求,不符合停止測(cè)試,符合則繼續(xù)執(zhí)行測(cè)試。測(cè)試執(zhí)行器解析調(diào)度測(cè)試序列生成相應(yīng)的測(cè)試指令集,并驅(qū)動(dòng)測(cè)試指令集中的設(shè)置對(duì)射頻功能單元進(jìn)行測(cè)試。同時(shí),射頻功能單元根據(jù)測(cè)試序列中的激勵(lì)做出響應(yīng),測(cè)試執(zhí)行器驅(qū)動(dòng)測(cè)試指令集中的設(shè)置獲取此響應(yīng)。

測(cè)試執(zhí)行器可執(zhí)行測(cè)試序列中的判據(jù)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行判決,顯示并存儲(chǔ)判決結(jié)果,若超差,則給出超差的數(shù)據(jù),所述判據(jù)包括標(biāo)準(zhǔn)模型判據(jù)和通過判據(jù)方法接口鏈接的動(dòng)態(tài)判據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)模型判據(jù)包括大于/小于/大于等于/小于等于某值、兩值之間、兩條多線段之間、某范圍內(nèi)允許超差百分比、最大最小值之差等,通過標(biāo)準(zhǔn)模型判據(jù)可以實(shí)現(xiàn)常用射頻功能單元指標(biāo)符合性判決;對(duì)無法使用標(biāo)準(zhǔn)模型判據(jù)判決的測(cè)試對(duì)象,針對(duì)不同的測(cè)試對(duì)象采用不同的判據(jù),系統(tǒng)設(shè)計(jì)判據(jù)方法接口用來動(dòng)態(tài)鏈接不同判據(jù)。

所述測(cè)試執(zhí)行器可根據(jù)配置文件設(shè)置控制模塊來實(shí)現(xiàn)對(duì)射頻功能單元控制接口的管理。測(cè)試執(zhí)行器根據(jù)配置文件對(duì)控制模塊進(jìn)行設(shè)置,控制模塊根據(jù)外部總線類型和物理接口特性管理射頻功能單元的控制接口。相比傳統(tǒng)的直接控制,該種控制方式節(jié)約了測(cè)試資源,更加符合模塊化的管理和外部接口多變的測(cè)試需求。

優(yōu)化地,所述測(cè)試執(zhí)行器集成有不同類型射頻功能單元的測(cè)試方法,并可通過添加包含測(cè)試方法的動(dòng)態(tài)庫(kù)來補(bǔ)充測(cè)試方法。進(jìn)行測(cè)試時(shí),測(cè)試執(zhí)行器通過讀取待測(cè)射頻功能單元對(duì)應(yīng)的配置文件來調(diào)用對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試。隨著測(cè)試技術(shù)的發(fā)展,測(cè)試方法不斷更新進(jìn)步。針對(duì)新的測(cè)試方法,系統(tǒng)通過c#中的反射機(jī)制動(dòng)態(tài)調(diào)用新的測(cè)試方法,無需重新編譯新的測(cè)試執(zhí)行器。測(cè)試人員不涉及編程,測(cè)試方法簡(jiǎn)單,通用性更強(qiáng)。

本發(fā)明并不局限于前述的具體實(shí)施方式。本發(fā)明擴(kuò)展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合,以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。

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