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提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法與流程

文檔序號(hào):11063402閱讀:1020來源:國(guó)知局
提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法與制造工藝

本發(fā)明涉及芯片驗(yàn)證技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法。



背景技術(shù):

CPU噪聲測(cè)試是指在芯片內(nèi)部有背景流的情況下,CPU對(duì)芯片內(nèi)寄存器或表項(xiàng)進(jìn)行讀寫操作。傳統(tǒng)的CPU噪聲測(cè)試方法只是在有背景流情況下進(jìn)行CPU讀寫操作,至于CPU讀的值是否正確,寫的值是否真的寫進(jìn)去,邏輯功能是否受到影響,則無法檢查。其檢查的難點(diǎn)主要有兩個(gè)方面:一是對(duì)于CPU只讀、邏輯可寫的寄存器或表項(xiàng),如何檢查任意時(shí)刻CPU讀取的結(jié)果是否正確;另一方面是如何在CPU讀寫寄存器或表項(xiàng)的情況下檢查被測(cè)電路處理背景流的功能正確與否,由于邏輯的功能驗(yàn)證模型的時(shí)序和邏輯的RTL電路的時(shí)序是不一樣的,CPU噪聲測(cè)試時(shí)如果改變了寄存器或表項(xiàng)的值,那么功能驗(yàn)證模型的計(jì)算結(jié)果與RTL電路的計(jì)算結(jié)果就會(huì)不一致,導(dǎo)致功能驗(yàn)證模型報(bào)錯(cuò),使得CPU噪聲測(cè)試失敗。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的主要目的在于:為了解決上述兩個(gè)難點(diǎn),通過腳本自動(dòng)化產(chǎn)生斷言檢查和CPU噪聲測(cè)試用例,實(shí)現(xiàn)CPU噪聲測(cè)試效率的提高,為此提出了一種提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法。

為實(shí)現(xiàn)前述目的,本發(fā)明公開了一種提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法,具體包括:

對(duì)CPU只讀,硬件邏輯可讀寫的寄存器或表項(xiàng),在RTL代碼中嵌入實(shí)時(shí)斷言,當(dāng)CPU進(jìn)行讀取操作時(shí),通過所述斷言檢查CPU讀取寄存器或表項(xiàng)數(shù)據(jù)的正確性;

對(duì)于CPU可讀可寫,硬件邏輯只讀的寄存器或表項(xiàng),在被測(cè)RTL電路正常處理背景流的過程中,CPU通過對(duì)被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取-回寫-再讀取操作,檢查CPU讀寫操作的正確性。

優(yōu)選地,所述實(shí)時(shí)斷言由腳本程序自動(dòng)產(chǎn)生。

優(yōu)選地,所述通過所述斷言檢查CPU讀取寄存器或表項(xiàng)數(shù)據(jù)的正確性包括:通過所述斷言獲取CPU讀取的數(shù)據(jù),以及此時(shí)被訪問的寄存器或表項(xiàng)數(shù)據(jù)的實(shí)際值,判斷CPU讀取的值與寄存器或表項(xiàng)的值是否相同,若相同則表示CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU讀操作正確。

優(yōu)選地,所述檢查CPU讀寫操作的正確性包括:CPU先讀取被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng)的值,再將讀取的值寫回所述被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng),然后再次讀取所述被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng)的值,判斷重新讀取的值與寫入的值是否相同,若相同則表示CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU讀寫操作正確。

優(yōu)選地,通過判斷被測(cè)RTL電路和驗(yàn)證模型的輸出結(jié)果是否相同,檢查被測(cè)RTL電路的邏輯功能正確性。

優(yōu)選地,所述檢查被測(cè)RTL電路的邏輯功能正確性包括:若CPU讀寫操作正確且被測(cè)RTL電路和驗(yàn)證模型的輸出結(jié)果相同,則表示CPU噪聲測(cè)試時(shí)被測(cè)RTL電路的邏輯功能正確。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:本發(fā)明公開的一種提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法,通過加入實(shí)時(shí)斷言和驗(yàn)證模型來檢查CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU訪問和邏輯功能的正確性,有效地提高了CPU噪聲測(cè)試的效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一實(shí)施例提出的CPU噪聲測(cè)試過程中實(shí)現(xiàn)CPU讀取數(shù)據(jù)的正確性檢查的示意圖;

圖2是本發(fā)明一實(shí)施例提出的CPU噪聲測(cè)試過程中實(shí)現(xiàn)CPU讀寫正確性檢查及被測(cè)RTL電路邏輯功能正確性檢查的示意圖。

具體實(shí)施方式

鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的不足,本案發(fā)明人經(jīng)長(zhǎng)期研究和大量實(shí)踐,得以提出本發(fā)明的技術(shù)方案。如下將對(duì)該技術(shù)方案、其實(shí)施過程及原理等作進(jìn)一步的解釋說明。

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。

進(jìn)行CPU噪聲測(cè)試時(shí),針對(duì)芯片內(nèi)部的CPU只讀寄存器或表項(xiàng)進(jìn)行讀操作時(shí),硬件邏輯可能隨時(shí)會(huì)對(duì)寄存器或表項(xiàng)進(jìn)行寫操作,而CPU本身無法判斷其讀取的值是否正確,通過嵌入實(shí)時(shí)斷言則可實(shí)現(xiàn)對(duì)CPU讀取操作正確性的檢查。

圖1是本發(fā)明一實(shí)施例提出的CPU噪聲測(cè)試過程中實(shí)現(xiàn)CPU讀取數(shù)據(jù)的正確性檢查的示意圖,如圖1所示,將CPU讀操作斷言檢查直接嵌入到被測(cè)RTL代碼中,當(dāng)CPU進(jìn)行讀取數(shù)據(jù)操作時(shí),該斷言既能獲取到CPU讀取寄存器或表項(xiàng)的數(shù)據(jù),又能獲取到此時(shí)該寄存器或表項(xiàng)的實(shí)際值,通過斷言對(duì)獲取到的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較是否相同,若相同則表示CPU讀取的數(shù)據(jù)正確。

進(jìn)行CPU噪聲測(cè)試時(shí),針對(duì)CPU可讀可寫、硬件邏輯只讀的寄存器或表項(xiàng),當(dāng)CPU隨機(jī)配置寄存器或表項(xiàng)操作時(shí),需要檢查硬件邏輯電路的功能是否正確。然而芯片驗(yàn)證模型是行為級(jí)描述模型,其在計(jì)算輸出結(jié)果的時(shí)間點(diǎn)與被測(cè)RTL電路不一致,其采樣寄存器或表項(xiàng)配置值的時(shí)間點(diǎn)與被測(cè)RTL電路也不一致,驗(yàn)證模型無法在被測(cè)RTL電路采樣配置值的時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行計(jì)算輸出結(jié)果。由此可知,由于被測(cè)RTL電路與驗(yàn)證模型計(jì)算輸出結(jié)果的時(shí)間點(diǎn)不一致,若隨機(jī)修改寄存器或表項(xiàng)內(nèi)的配置值,則該驗(yàn)證模型的輸出結(jié)果與被測(cè)RTL電路的輸出結(jié)果可能不相同。在這種情況下,無法檢查被測(cè)RTL電路功能是否正確。

然而,由于CPU和硬件邏輯的仲裁電路對(duì)于寄存器或表項(xiàng)的配置值是不敏感的,該仲裁電路只關(guān)心是否有CPU來訪問以及訪問的地址,基于此,可通過CPU對(duì)被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng)進(jìn)行反復(fù)讀取/回寫的操作下,比較被測(cè)RTL電路與驗(yàn)證模型的輸出結(jié)果,以此驗(yàn)證在CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU訪問的正確性以及被測(cè)RTL電路的邏輯功能的正確性。

圖2是本發(fā)明一實(shí)施例提出的CPU噪聲測(cè)試過程中實(shí)現(xiàn)CPU讀寫正確性檢查及被測(cè)RTL電路邏輯功能正確性檢查的示意圖,在被測(cè)RTL電路正常處理背景流的過程中,CPU先讀取被測(cè)RTL電路的寄存器或表項(xiàng)的值,再將讀取的值寫回該寄存器或表項(xiàng),然后再次讀取該寄存器或表項(xiàng)的值,判斷重新讀取的值與寫入的值是否相同,若相同則表示CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU讀寫操作正確,即CPU訪問正常。同時(shí),CPU所進(jìn)行的讀取-回寫-再讀取的操作過程中并未改變寄存器或表項(xiàng)的配置值,被測(cè)RTL電路與驗(yàn)證模型所采樣的配置值是相同的,故被測(cè)RTL電路的計(jì)算輸出結(jié)果與驗(yàn)證模型也應(yīng)該是相同的,從而可通過比較被測(cè)RTL電路與驗(yàn)證模型的輸出結(jié)果是否相同,檢查被測(cè)RTL電路的邏輯功能在CPU噪聲測(cè)試過程中是否正確。

采用本發(fā)明提供的一種提高芯片CPU噪聲測(cè)試效率的方法,通過加入實(shí)時(shí)斷言和驗(yàn)證模型來檢查CPU噪聲測(cè)試時(shí)CPU訪問與被測(cè)RTL電路功能的正確性,有效地提高了CPU噪聲測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。

應(yīng)當(dāng)理解,上述實(shí)施例僅為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn),其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施,并不能以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本發(fā)明精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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