電阻式觸摸屏的校準方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種電阻式觸摸屏的校準方法，包括步驟：在一批使用電阻式觸摸屏的電子設(shè)備產(chǎn)品中選取m臺電子設(shè)備，對每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏的進行測試，以獲取該電子設(shè)備的校準參數(shù)，：基準點C的物理坐標(Xc，Yc)，基準點C的邏輯坐標(XLc，YLc)，X軸偏差系數(shù)kx以及Y軸偏差系數(shù)ky；取m臺電子設(shè)備的X軸偏差系數(shù)kx，以及Y軸偏差系數(shù)ky，分別得到二者的平均值以及將基準點C的物理坐標(Xc，Yc)，基準點C的邏輯坐標(XLc，YLc)，X軸偏差系數(shù)平均值以及Y軸偏差系數(shù)平均值存入每一臺該批電子設(shè)備中。
【專利說明】電阻式觸摸屏的校準方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子設(shè)備觸摸屏校準的方法，尤其涉及一種電阻式觸摸屏的校準方 法。

【背景技術(shù)】
[0002] 電阻式觸摸屏是一種傳感器，它將矩形區(qū)域中觸摸點（X，Y)的物理位置轉(zhuǎn)換為代 表X坐標和Υ坐標的電壓。很多IXD模塊都采用了電阻式觸摸屏。
[0003] 電阻式觸摸屏是一種傳感器，基本上是薄膜加上玻璃的結(jié)構(gòu)，薄膜和玻璃相鄰的 一面上均涂有ΙΤ0(納米銦錫金屬氧化物）涂層，ΙΤ0具有很好的導(dǎo)電性和透明性。當觸 摸操作時，薄膜下層的ΙΤ0會接觸到玻璃上層的ΙΤ0,經(jīng)由感應(yīng)器傳出相應(yīng)的電信號，經(jīng)過 轉(zhuǎn)換電路送到處理器，通過運算轉(zhuǎn)化為屏幕上的X、Υ值，而完成點選的動作，并呈現(xiàn)在屏幕 上。具體地，電阻觸摸屏的屏體部分是一塊與顯示器表面非常配合的多層復(fù)合薄膜，由一層 玻璃或有機玻璃作為基層，表面涂有一層透明的ΙΤ0導(dǎo)電層，上面再蓋有一層外表面硬化 處理、光滑防刮的塑料層，它的內(nèi)表面也涂有一層ΙΤ0導(dǎo)電層，在兩層導(dǎo)電層之間有許多細 ?。ㄐ∮谇Х种挥⒋纾┑耐该鞲綦x點把它們隔開絕緣。點觸電阻屏?xí)r，兩層ΙΤ0導(dǎo)電層 出現(xiàn)一個接觸點，因其中一面導(dǎo)電層接通Υ軸方向的5V均勻電壓場，使得偵測層的電壓由 零變?yōu)榉橇悖刂破鱾蓽y到這個接通后，進行A/D轉(zhuǎn)換，并將得到的電壓值與5V相比，即可 得觸摸點的Υ軸坐標，同理得出X軸的坐標，這就是電阻技術(shù)觸摸屏的最基本原理。
[0004] 在使用電阻屏的電子設(shè)備組裝完成后，一般在出貨前，會對電阻屏進行校準。電阻 屏校準的基本原理是將CPU采集到的邏輯坐標（通過點擊電阻屏獲?。┡c顯示屏建立一一 對應(yīng)的的關(guān)系。在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中存在如下問題，由于校準工 序的時間關(guān)系，不可能對電阻屏的每個點進行采集，而要保證精度，采集點的數(shù)量又不能太 少，所以校準過程費時費力，而且在校準過程中，很容易出現(xiàn)因為工作人員操作失誤導(dǎo)致校 準失敗，從而需要重新校準或者誤判定電阻屏不合格的情況。特別是，大批量生產(chǎn)時，進行 每一臺設(shè)備的電阻屏進行逐臺校準，生產(chǎn)效率較低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 為此，需要提供一種快捷準確的電阻式觸摸屏的校準方法，以解決大批量生產(chǎn)時 的電阻屏校準時間長、效率低的問題。
[0006] 為實現(xiàn)上述目的，發(fā)明人提供了一種電阻式觸摸屏的校準方法，包括步驟：
[0007] 在一批使用電阻式觸摸屏的電子設(shè)備產(chǎn)品中選取m臺電子設(shè)備，其中1 ;
[0008] 對每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏的進行測試，以獲取該電子設(shè)備的校準參 數(shù)，所述校準參數(shù)包括電阻式觸摸屏上各點的物理坐標與邏輯坐標之間的函數(shù)關(guān)系參數(shù)， 校準參數(shù)的獲取過程包括步驟：
[0009] 在每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏上取η個的測試點，η > 2，
[0010] 點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標， toon] 根據(jù)各測試點的物理坐標與邏輯坐標計算校準參數(shù)；
[0012] 將校準參數(shù)或其平均值存入每一臺該批電子設(shè)備中。
[0013] 其中，對每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏的進行測試，以獲取該電子設(shè)備的 校準參數(shù)，校準參數(shù)的獲取過程包括步驟：
[0014] 在電阻式觸摸屏上取η個的測試點，η彡3,其中包括3個以上不同X坐標的測試 點，以及3個以上不同Υ坐標的測試點，各測試點物理坐標分別表示為（X a，Ya)，（Xb，Yb)…… (Xn，Y n);
[0015] 點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標（Xh, Yj , (Χ&, Υ?)......(\n，Yto);
[0016] 在測試點中，選取p對物理X坐標不同的測試點計算X軸偏差系數(shù)kx，p > 1，選取q 對物理Y坐標不同的測試點計算Y軸偏差系數(shù)ky，q彡1，x軸偏差系數(shù)kx的計算公式如下：

【權(quán)利要求】
1. 一種電阻式觸摸屏的校準方法，包括步驟： 在一批使用電阻式觸摸屏的電子設(shè)備產(chǎn)品中選取m臺電子設(shè)備，其中1 ; 對每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏的進行測試，以獲取該電子設(shè)備的校準參數(shù)， 所述校準參數(shù)包括電阻式觸摸屏上各點的物理坐標與邏輯坐標之間的函數(shù)關(guān)系參數(shù)，校準 參數(shù)的獲取過程包括步驟： 在每臺取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏上取η個的測試點，η > 2， 點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標， 根據(jù)各測試點的物理坐標與邏輯坐標計算校準參數(shù)； 將校準參數(shù)或其平均值存入每一臺該批電子設(shè)備中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，校準參數(shù)包括X軸偏 差系數(shù)kx，Υ軸偏差系數(shù)k y，以及基準點的物理坐標與邏輯坐標，校準參數(shù)的獲取過程包括 步驟： 在電阻式觸摸屏上取η個的測試點，η > 3,其中至少3個測試點的物理X坐標不同， 且至少3個測試點的物理Υ坐標不同，各測試點物理坐標分別表示為（Xa，Ya)，（Xb，Y b)…… (Xn，Yn); 點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標UJ，（XwYj……UJ ; 在測試點中，選取P對物理X坐標不同的測試點計算X軸偏差系數(shù)kx，p > 1，選取q對 物理Y坐標不同的測試點計算Y軸偏差系數(shù)ky，q彡1，X軸偏差系數(shù)kx的計算公式如下 ： -其中Δ\?表示每對物理X坐標不同的點的邏輯X坐標差值，Δχ?表示每對 P i:\ Γ 1 去 ΔΚ. 物理X坐標不同的點的物理X坐標差值，Υ軸偏差系數(shù)ky的計算公式如下：妙=一， 7 /-I A,/ 其中AYU表示每對物理Y坐標不同的點的邏輯Y坐標差值，AYi表示每對物理Y坐標不同 的點的物理Υ坐標差值； 在測試點中選取一點C點（XyY。）點作為基準點，記錄該電子設(shè)備的校準參數(shù)如下：基 準點C的物理坐標（X。，Y。)，基準點C的邏輯坐標（X^ YJ，X軸偏差系數(shù)kx以及Y軸偏差 系數(shù)ky ; 取m臺電子設(shè)備的基準點C的邏輯坐標（H)，X軸偏差系數(shù)kx，以及Y軸偏差系數(shù) ky，分別得到以上參數(shù)的平均值(uy, &以及&， 將基準點c的物理坐標α，γ。)，基準點c的邏輯坐標的平均值，X軸偏差系 數(shù)平均值t以及Y軸偏差系數(shù)平均值I存入每一臺該批電子設(shè)備中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，點觸各測試點，得到 各測試點的邏輯坐標（\a，Yj，（XwYj……（X ta，Yto)之后，比較測試點之間的邏輯坐標的 差值與物理坐標的差值之間的差異，若測試點的邏輯坐標的差值與物理坐標的差值之間的 差異在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)，則進行下一步驟，否則重復(fù)點觸各測試點，以重新得到各測試點的邏 輯坐標（\ a，YJ，（Xw YJ……（Xto，YJ，直至測試點的邏輯坐標的差值與物理坐標的差值 的之間差異在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，獲取電子設(shè)備的校 準參數(shù)還包括步驟： 在測試點中選取一點C點（X。，Y。）點作為基準點，并選取一點E(Xe，YJ點作為校 準點，計算E點的理論邏輯坐標（XJ, YJ ), E點的理論邏輯坐標計算公式如下= XLc+kx(Xe-Xc)，YLe，= YLc+ky(Ye-Yc); 將E點的理論邏輯坐標（Xy，L，）與E點的邏輯坐標YJ進行比對，若E點的理 論邏輯坐標（Xw，Yw)與E點的邏輯坐標（X^YJ的差值在預(yù)設(shè)的范圍之內(nèi)，則記錄該電 子設(shè)備的校準參數(shù)如下：基準點C的物理坐標（X。，Y。)，基準點C的邏輯坐標（\。，\。)，X軸 偏差系數(shù)k x以及Y軸偏差系數(shù)ky，若否，重復(fù)點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標（\a， YLa)，（V YLb)……(XLn，YLn)，并重新計算x軸偏差系數(shù)kx以及Y軸偏差系數(shù)k y，然后計算E 點的理論邏輯坐標，直至若E點的理論邏輯坐標（\e，，Yw)與E點的邏輯坐標的 差值在預(yù)設(shè)的范圍之內(nèi)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2至4任意一項所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，所述電 阻式觸摸屏為矩形，所述測試點數(shù)量η = 5,其中4個測試點分別構(gòu)成一測試矩形的4個頂 點，所述測試矩形的4條邊與電阻式觸摸屏的4條邊分別平行，另一測試點位于測試矩形之 中。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，位于測試矩形之中 的測試點具體位于測試矩形的中點。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1至4任意一項所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，所述測 試點距電阻式觸摸屏的邊緣3mm以上。
【文檔編號】G06F3/045GK104111766SQ201410355371
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月24日
【發(fā)明者】張明輝, 劉勤能 申請人:福建聯(lián)迪商用設(shè)備有限公司