專利名稱：一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試技術(shù)，特別涉及一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列。
背景技術(shù)：
磁盤陣列(RAID,Redundant Arrays of Inexpensive Disks)是指由一系列價(jià)格較便宜、容量較小、穩(wěn)定性較高、速度較慢的磁盤組合而成的一個(gè)大型的磁盤組。利用同樣的一系列磁盤，如4個(gè)磁盤，通過不同的組合方式，可以得到不同的磁盤陣列，對(duì)于得到的各不同磁盤陣列，通常還需要對(duì)其進(jìn)行測試，以確定其性能是否符合要求
坐寸ο可以看出，如果要對(duì)組合得到的各不同磁盤陣列的性能進(jìn)行測試，上述4個(gè)磁盤就會(huì)被不斷的重復(fù)利用，即上述4個(gè)磁盤將一直處于高速運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)，從而可能導(dǎo)致出現(xiàn)以下問題I)磁盤的溫度不斷升高，從而可能影響到磁頭的電阻感應(yīng)靈敏度，進(jìn)而產(chǎn)生讀寫錯(cuò)誤;2)磁盤在高速運(yùn)轉(zhuǎn)過程中，由于振動(dòng)等原因，磁頭可能會(huì)撞擊到盤片，從而導(dǎo)致盤片壞軌或磁頭損壞；無論出現(xiàn)上述哪種情況，均會(huì)影響測試結(jié)果，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供了一種磁盤陣列測試方法以及一種磁盤陣列，能夠提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種磁盤陣列測試方法，包括確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個(gè)磁盤分別對(duì)應(yīng)的磁盤模擬卡，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發(fā)送測試信號(hào)，并獲取所述磁盤陣列對(duì)接收到的測試信號(hào)進(jìn)行處理后返回的測試結(jié)果。一種磁盤陣列，包括兩個(gè)以上磁盤模擬卡；每個(gè)磁盤模擬卡，分別用于替代對(duì)應(yīng)的磁盤得到所述磁盤陣列，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分?？梢?，采用本發(fā)明所述方案，可利用磁盤模擬卡來替代磁盤得到待測試的磁盤陣列，磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分，即去除了磁頭、電機(jī)、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片等機(jī)械部件，從而避免了出現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中的問題，進(jìn)而提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。


圖1為本發(fā)明磁盤陣列測試方法實(shí)施例的流程圖。圖2為現(xiàn)有磁盤的組成結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為本發(fā)明磁盤模擬卡的組成結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明中提出一種改進(jìn)后的磁盤陣列測試方法以及一種改進(jìn)后的磁盤陣列，相比于現(xiàn)有技術(shù)，能夠提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。為了使本發(fā)明的技術(shù)方案更加清楚、明白，以下參照附圖并舉實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明所述方案作進(jìn)一步地詳細(xì)說明。圖1為本發(fā)明磁盤陣列測試方法實(shí)施例的流程圖。如圖1所示，包括步驟11 :確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤。本步驟中，確定要得到待測試的磁盤陣列，需要用到哪些磁盤，其具體實(shí)現(xiàn)為現(xiàn)有技術(shù)。步驟12 :獲取每個(gè)磁盤分別對(duì)應(yīng)的磁盤模擬卡，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分。圖2為現(xiàn)有磁盤的組成結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，包括接口、微處理器、高速緩存、數(shù)字信號(hào)處理器、前置信號(hào)處理器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片、主軸電機(jī)、音圈電機(jī)、磁頭等。其中，接口、微處理器、高速緩存、數(shù)字信號(hào)處理器和前置信號(hào)處理器為信號(hào)處理部分，主要用于進(jìn)行信號(hào)處理；電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片、主軸電機(jī)、音圈電機(jī)和磁頭等為機(jī)械部分，主要用于進(jìn)行數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)及讀取?？舍槍?duì)每個(gè)磁盤，分別生成一個(gè)對(duì)應(yīng)的磁盤模擬卡，其中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分，即去除了機(jī)械部分。圖3為本發(fā)明磁盤模擬卡的組成結(jié)構(gòu)示意圖?？梢钥闯?，相比于圖2所示磁盤，去除了虛線框內(nèi)的組成部分，即將圖2中除虛線框內(nèi)的組成部分之外的其它組成部分均集成到了磁盤模擬卡中。步驟13 :用獲取到的各磁盤模擬卡得到待測試的磁盤陣列。在實(shí)際應(yīng)用中，可將各磁盤模擬卡設(shè)置在待測試的磁盤陣列主板的背板上，如果未用磁盤模擬卡替代磁盤的話，磁盤也應(yīng)該設(shè)置在該位置。步驟14 向待測試的磁盤陣列發(fā)送測試信號(hào)，并獲取待測試的磁盤陣列對(duì)接收到的測試信號(hào)進(jìn)行處理后返回的測試結(jié)果。本步驟中，測試設(shè)備如計(jì)算機(jī)向待測試的磁盤陣列發(fā)送測試信號(hào)，待測試的磁盤陣列接收到測試信號(hào)后，對(duì)其進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果即測試結(jié)果返回給測試設(shè)備。另外，測試設(shè)備在獲取到測試結(jié)果之后，還可進(jìn)一步進(jìn)行以下處理確定獲取到的測試結(jié)果是否為所需的測試結(jié)果，如果是，則利用獲取到的測試結(jié)果對(duì)待測試的磁盤陣列的性能進(jìn)行評(píng)估，否則，報(bào)告產(chǎn)生故障。對(duì)于測試設(shè)備來說，針對(duì)其發(fā)出的測試信號(hào)，其預(yù)先知道如果是磁盤組合而成的磁盤陣列的話，應(yīng)該返回什么測試結(jié)果，所以如何獲取到的測試結(jié)果和預(yù)期的測試結(jié)果不一致，則可報(bào)告產(chǎn)生故障。測試設(shè)備獲取到所需的測試結(jié)果后，可利用其對(duì)待測試的磁盤陣列的性能進(jìn)行評(píng)估，如評(píng)估待測試的磁盤陣列處理信號(hào)所用的時(shí)長等?；谏鲜鼋榻B，本發(fā)明同時(shí)公開了一種磁盤陣列，其中包括兩個(gè)以上磁盤模擬卡。每個(gè)磁盤模擬卡，分別用于替代對(duì)應(yīng)的磁盤得到所述磁盤陣列，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分。 每個(gè)磁盤模擬卡均位于所述磁盤陣列主板的背板上?？傊捎帽景l(fā)明所述方案，可利用磁盤模擬卡來替代磁盤得到待測試的磁盤陣列，磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分，即去除了磁頭、電機(jī)、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片等機(jī)械部件，從而避免了出現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中的問題，進(jìn)而提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。而且，通常來說，磁盤本身質(zhì)量較大，因此如果磁盤陣列中包括很多磁盤的話，磁盤陣列的質(zhì)量就會(huì)很大，從而不便于進(jìn)行測試，而磁盤模擬卡的質(zhì)量則較小，從而更加便于進(jìn)行測試。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種磁盤陣列測試方法，其特征在于，包括確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個(gè)磁盤分別對(duì)應(yīng)的磁盤模擬卡，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發(fā)送測試信號(hào)，并獲取所述磁盤陣列對(duì)接收到的測試信號(hào)進(jìn)行處理后返回的測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述測試結(jié)果之后，進(jìn)一步包括確定所述測試結(jié)果是否為所需的測試結(jié)果，如果是，則利用所述測試結(jié)果對(duì)所述磁盤陣列的性能進(jìn)行評(píng)估，否則，報(bào)告產(chǎn)生故障。
3.一種磁盤陣列，其特征在于，包括兩個(gè)以上磁盤模擬卡；每個(gè)磁盤模擬卡，分別用于替代對(duì)應(yīng)的磁盤得到所述磁盤陣列，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁盤陣列，其特征在于，每個(gè)磁盤模擬卡均位于所述磁盤陣列主板的背板上。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種磁盤陣列測試方法確定得到待測試的磁盤陣列所需的磁盤；獲取每個(gè)磁盤分別對(duì)應(yīng)的磁盤模擬卡，每個(gè)磁盤模擬卡中僅保留有對(duì)應(yīng)的磁盤中的信號(hào)處理部分；用獲取到的各磁盤模擬卡得到所述磁盤陣列；向所述磁盤陣列發(fā)送測試信號(hào)，并獲取所述磁盤陣列對(duì)接收到的測試信號(hào)進(jìn)行處理后返回的測試結(jié)果。本發(fā)明同時(shí)公開了一種磁盤陣列。應(yīng)用本發(fā)明所述方案，能夠提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G06F11/22GK103019901SQ20121053508
公開日2013年4月3日 申請日期2012年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月12日
發(fā)明者李文杰 申請人:創(chuàng)新科存儲(chǔ)技術(shù)有限公司, 創(chuàng)新科存儲(chǔ)技術(shù)(深圳)有限公司