一種pdk自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種PDK自動(dòng)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方法，屬于IC?CAD工具中PDK設(shè)計(jì)、測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】。該方法通過程序?qū)崿F(xiàn)了PDK單元的批量產(chǎn)生和測(cè)試。通過讀取配置文件中設(shè)置的PDK庫名、單元名、路徑、以及單元的參數(shù)組合，可以自動(dòng)生成對(duì)應(yīng)的電路圖和版圖，包含不同參數(shù)的大量PDK單元；并且可以批量的進(jìn)行DRC,LVS驗(yàn)證，有效的驗(yàn)證了技術(shù)文件，Symbol，CDF,?Callback，參數(shù)化單元，物理驗(yàn)證規(guī)則，Spice?Model的正確性。依照本發(fā)明，程序內(nèi)定義了測(cè)試單元的產(chǎn)生、測(cè)試過程，測(cè)試結(jié)果的整理，以及用戶進(jìn)行不同測(cè)試步驟的選擇。
【專利說明】—種PDK自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]一種F1DK自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法是通過EDA (Electronic Design Automation)工具來進(jìn)行F1DK(PrC)Cess Design Kits)庫的自動(dòng)測(cè)試的方法。本發(fā)明屬于集成電路計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(IC CAD )領(lǐng)域，尤其是IC CAD工具中PDK設(shè)計(jì)、測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002]PDK是溝通IC設(shè)計(jì)公司、代工廠與EDA廠商的橋梁。當(dāng)我們需要開始采用一個(gè)新的半導(dǎo)體工藝時(shí)，首先需要開發(fā)一套PDK，PDK用代工廠的語言定義了一套反映代工廠工藝的文檔資料，是設(shè)計(jì)公司用來做物理驗(yàn)證的基石。PDK包含了反映制造工藝基本的“積木塊”:晶體管、接觸孔，互連線等。
[0003]除PDK的參考手冊(cè)(Documentation)外，PDK的內(nèi)容還包括:
[0004](I)器件模型(Device Model):由Foundry提供的仿真模型文件
[0005](2) Symbols和View:用于原理圖設(shè)計(jì)的符號(hào)，參數(shù)化的設(shè)計(jì)單元都通過了SPICE仿真的驗(yàn)證
[0006](3) CDF(Component Description Format,組件描述格式)& Callback:器件的屬性描述文件，定義了器件類型、器件名稱、器件參數(shù)及參數(shù)調(diào)用關(guān)系函數(shù)集Callback、器件模型、器件的各種視圖格式等
[0007](4)Pcell (Parameterized Cell,參數(shù)化單元):它由EDA工具所支持的語言編寫，其對(duì)應(yīng)的版圖通過了 DRC和LVS驗(yàn)證，方便設(shè)計(jì)人員進(jìn)行Schematic Driven Layout (原理圖驅(qū)動(dòng)的版圖)設(shè)計(jì)流程
[0008](5)技術(shù)文件(Technology File):用于版圖設(shè)計(jì)和驗(yàn)證的工藝文件，包含⑶SII的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)層和工藝層的映射關(guān)系定義、設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)層的屬性定義、在線設(shè)計(jì)規(guī)則、電氣規(guī)則、顯示色彩定義和圖形格式定義等
[0009](6) PV Rule (物理驗(yàn)證規(guī)則)文件:包含版圖驗(yàn)證文件DRC/LVS/RC提取等
[0010]為了驗(yàn)證PDK的正確性，往往需要對(duì)不同的PDK單元進(jìn)行不同的參數(shù)設(shè)置，生成大量的單元，然后來進(jìn)行正確性的檢查，包括DRC(Design Rule Check), LVSCLayout VersusSchematic)等，這個(gè)過程需要占用設(shè)計(jì)人員和測(cè)試人員的大量時(shí)間。通過程序來進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，不僅大大減少了重復(fù)勞動(dòng)，增加了驗(yàn)證的樣本；而且非常有利于設(shè)計(jì)者查看驗(yàn)證結(jié)果，修改PDK設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)過程的快速驗(yàn)證；并在自動(dòng)化測(cè)試的過程中調(diào)用了 TOK中的不同組成部分，很好的進(jìn)行了相互驗(yàn)證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]本發(fā)明公開一種TOK自動(dòng)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方法。該方法通過程序?qū)崿F(xiàn)了 PDK單元的批量產(chǎn)生和測(cè)試。通過讀取配置文件中設(shè)置的PDK庫名、單元名、路徑、以及單元的參數(shù)組合，可以自動(dòng)生成對(duì)應(yīng)的電路圖和版圖，包含不同參數(shù)的大量PDK單元；通過對(duì)這些單元進(jìn)行批量DRC，LVS等驗(yàn)證過程，有效的驗(yàn)證了技術(shù)文件，Symbol，⑶F，Callback，參數(shù)化單元，物理驗(yàn)證規(guī)則，Spice Model的正確性。依照本發(fā)明，程序內(nèi)定義了測(cè)試單元的產(chǎn)生過程，測(cè)試過程，測(cè)試結(jié)果的整理，以及根據(jù)用戶的需要進(jìn)行不同測(cè)試步驟的選擇。
[0012]>基本思想:
[0013]PDK庫的測(cè)試存在大量的重復(fù)性工作，當(dāng)測(cè)試發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤并修改后，仍然需要對(duì)相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，而這些工作往往可以通過EDA工具所支持的編程語言來完成。通過程序來調(diào)用EAD工具和EDA工具所支持的編程語言，就可以自動(dòng)完成測(cè)試的過程并將結(jié)果整理輸出，這可以節(jié)省設(shè)計(jì)、測(cè)試人員的大量時(shí)間。將輸入條件包括PDK庫的路徑、名字，工藝文件，顯示文件，測(cè)試庫的名字，被測(cè)試單元的名字、CDF參數(shù)組合等寫在配置文件中，通過程序來調(diào)用對(duì)應(yīng)的EDA工具和EDA工具所支持的編程語言，根據(jù)配置文件的內(nèi)容來生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試單元；并通過程序來調(diào)用對(duì)應(yīng)的EDA工具來進(jìn)行DRC，LVS驗(yàn)證，輸出整理后的測(cè)試結(jié)果，可以完成PDK庫的自動(dòng)測(cè)試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1PDK自動(dòng)測(cè)試的配置文件
[0015]圖2根據(jù)配置文件所生成的測(cè)試單元的電路圖
[0016]圖3根據(jù)配置文件所生成的測(cè)試單元的版圖
[0017]圖4對(duì)版圖進(jìn)行自動(dòng)DRC檢查的結(jié)果
[0018]圖5對(duì)版圖進(jìn)行自動(dòng)LVS檢查的結(jié)果
[0019]具體實(shí)施步驟:
[0020]PDK自動(dòng)測(cè)試是通過編寫的程序和EDA工具來共同實(shí)現(xiàn)的。最終生成的測(cè)試單元依賴于EDA工具和給定的參數(shù)取值。使用程序來實(shí)現(xiàn)單元批量測(cè)試的自動(dòng)化，操作流程步驟如下:
[0021]( I )首先定義配置文件，包括PDK庫的路徑、名字、工藝文件、顯示文件、測(cè)試庫的名字、被測(cè)試單元的名字、CDF參數(shù)組合、物理驗(yàn)證規(guī)則、仿真模型文件；
[0022]( 2 )通過程序來調(diào)用電路圖編輯工具，根據(jù)配置文件的內(nèi)容來生成大量測(cè)試單元電路圖；
[0023]( 3 )通過程序自動(dòng)導(dǎo)出各測(cè)試單元電路的網(wǎng)表文件；
[0024]( 4 )通過程序來調(diào)用版圖編輯工具，根據(jù)配置文件的內(nèi)容來生成大量測(cè)試單元版圖。
[0025]( 5 )通過程序自動(dòng)導(dǎo)出各測(cè)試單元版圖的⑶S文件；
[0026]( 6 )通過程序來調(diào)用版圖驗(yàn)證工具，對(duì)生成的⑶S，網(wǎng)表文件進(jìn)行自動(dòng)化，批量化的DRC和LVS檢查；
[0027]( 7 )通過程序?qū)?6)的檢查結(jié)果進(jìn)行整理后輸出，根據(jù)結(jié)果判斷測(cè)試單元是否通過了 DRC和LVS檢查；
[0028]( 8 )可通過程序順序執(zhí)行上述步驟或選擇執(zhí)行某一步驟，來選擇所需檢查的內(nèi)容。
【權(quán)利要求】
1.一種TOK自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法，主要涉及通過程序來實(shí)現(xiàn)PDK單元的批量產(chǎn)生和測(cè)試的過程。具體特征如下: (I )首先定義配置文件，包括roK庫的路徑、名字、工藝文件、顯示文件、測(cè)試庫的名字、被測(cè)試單元的名字、CDF參數(shù)組合、物理驗(yàn)證規(guī)則、仿真模型文件； (2 )通過程序來調(diào)用電路圖編輯工具，根據(jù)配置文件的內(nèi)容來生成大量測(cè)試單元電路圖； (3 )通過程序自動(dòng)導(dǎo)出各測(cè)試單元電路的網(wǎng)表文件； (4 )通過程序來調(diào)用版圖編輯工具，根據(jù)配置文件的內(nèi)容來生成大量測(cè)試單元版圖。 (5 )通過程序自動(dòng)導(dǎo)出各測(cè)試單元版圖的⑶S文件； (6 )通過程序來調(diào)用版圖驗(yàn)證工具，對(duì)生成的⑶S，網(wǎng)表文件進(jìn)行自動(dòng)化，批量化的DRC和LVS檢查； (7 )通過程序?qū)?6)的檢查結(jié)果進(jìn)行整理后輸出，根據(jù)結(jié)果判斷測(cè)試單元是否通過了DRC和LVS檢查； (8 )可通過程序順序執(zhí)行上述步驟或選擇執(zhí)行某一步驟，來選擇所需檢查的內(nèi)容。
【文檔編號(hào)】G06F17/50GK103838894SQ201210487094
【公開日】2014年6月4日 申請(qǐng)日期:2012年11月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月26日
【發(fā)明者】任叢飛, 張效通, 呂昌, 李起宏 申請(qǐng)人:北京華大九天軟件有限公司