專利名稱：周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種檢測(cè)裝置，特別有關(guān)于一種應(yīng)用于主機(jī)板中對(duì)于其周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參考圖1所示，其為現(xiàn)有技術(shù)的主機(jī)板的架構(gòu)示意圖。在現(xiàn)有技術(shù)中主機(jī)板 100的組成由基板管理控制單元110連接于南橋芯片組121、切換邏輯單元122 (Switching logic)、串行端口 123或網(wǎng)絡(luò)連接端IM等各項(xiàng)周邊組件。在各項(xiàng)周邊組件中均具有相應(yīng)的控制單元(Micro Control Unit，MCU)。在各項(xiàng)周邊組件會(huì)以不同的總線進(jìn)行連接，例如 低腳位計(jì)數(shù)總線(Low Pin count Bus)、電力管理總線(Power Management Bus)或內(nèi)部智能平臺(tái)管理總線 intelligent Platform Management Interface, IPMI)。在現(xiàn)有技術(shù)中是由基板管理控制單元110檢測(cè)主機(jī)板100的運(yùn)作，并由基板管理控制單元110通過(guò)內(nèi)部整合電路總線連接至網(wǎng)絡(luò)接口。接著，主機(jī)板100的開發(fā)廠商在通過(guò)網(wǎng)絡(luò)接口逐一的向主機(jī)板100上的各項(xiàng)周邊組件進(jìn)行測(cè)試。開發(fā)廠商在根據(jù)所接收到的響應(yīng)信息用以判斷主機(jī)板100上的周邊組件是否發(fā)生異?！，F(xiàn)有的測(cè)試方式雖然可以提供完整的測(cè)試流程與測(cè)試項(xiàng)目。但是以上的測(cè)試都需要通過(guò)網(wǎng)絡(luò)才能實(shí)現(xiàn)。因此開發(fā)廠商需要另外建置獨(dú)立的局域網(wǎng)絡(luò)，例如建立動(dòng)態(tài)網(wǎng)域名稱服務(wù)器(DHCP server)、設(shè)定每一個(gè)主機(jī)板100的聯(lián)機(jī)參數(shù)(例如網(wǎng)絡(luò)地址、端口號(hào)或子網(wǎng)掩碼等)或不同版本的測(cè)試程序的設(shè)定。此外，現(xiàn)有的內(nèi)部整合電路總線的參考設(shè)計(jì)使用一個(gè)7位長(zhǎng)度的地址空間但保留了 16個(gè)地址，所以在一組內(nèi)部整合電路總線中最多可和112個(gè)節(jié)點(diǎn)(意即112個(gè)周邊組件)通訊。雖然內(nèi)部整合電路總線的最大的節(jié)點(diǎn)數(shù)目是被地址空間所限制住，但實(shí)際上也會(huì)被總線上的總電容所限制住?；骞芾砜刂茊卧?10上并無(wú)設(shè)置有電力管理總線與其裝置，所以每一塊主機(jī)板 100在測(cè)試時(shí)需要由人工另行開啟。就開發(fā)廠商而言，現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試環(huán)境的建立就是一項(xiàng)負(fù)擔(dān)。再者，若是在主機(jī)板100上另設(shè)置其它的測(cè)試治具。這對(duì)于開發(fā)廠商又是另一項(xiàng)成本上的負(fù)擔(dān)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上的問(wèn)題，本發(fā)明在于提供一種周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，通過(guò)主機(jī)板用以檢測(cè)主機(jī)板所連接的多個(gè)周邊組件的使用狀態(tài)。本發(fā)明所公開的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置包括基板管理控制單元(Baseboard Management Controller)與復(fù)雜可編程邏輯組件?；骞芾砜刂茊卧ㄟ^(guò)內(nèi)部整合電路總線電性連接于周邊組件；基板管理控制單元用以接收測(cè)試信號(hào)并產(chǎn)生相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)；復(fù)雜可編程邏輯組件通過(guò)內(nèi)部整合電路總線電性連接于基板管理控制單元；復(fù)雜可編程邏輯組件中更包括協(xié)議擴(kuò)展模塊，協(xié)議擴(kuò)展模塊用以轉(zhuǎn)換內(nèi)部整合電路總線與序列周邊接口總線間所傳遞的測(cè)試信號(hào)。該些周邊組件包括南橋芯片組、新世代外圍連接介面接口(peripheral component interconnect express, PCI-E)、內(nèi)部智能平臺(tái)管理總線(Intelligent Platform Management Bus，IPMB)、雙_(dual in-linememory module，DIMM)、串行端口或網(wǎng)絡(luò)連接端。該內(nèi)部整合電路總線包括一數(shù)據(jù)線(SDATA)腳位與一頻率信號(hào)(SCLK)腳位。該序列周邊接口總線包括一從屬選擇腳位(SS)、一序列周邊接口頻率腳位(SPI CLK)、一主輸入從輸出腳位(Master-In-Slave-Out)與一從輸入主輸出腳位 (Master-Out-Slave-in)。該復(fù)雜可編程邏輯組件還包括一數(shù)據(jù)緩存器，用以記錄每一該周邊組件的該響應(yīng)信息。在本發(fā)明的另一實(shí)施例更包括輸出裝置。輸出裝置電性連接于復(fù)雜可編程邏輯組件；當(dāng)復(fù)雜可編程邏輯組件接收響應(yīng)信息時(shí)，復(fù)雜可編程邏輯組件將響應(yīng)信息傳送至輸出裝置，藉以通知測(cè)試人員該主機(jī)板的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目的結(jié)果。本發(fā)明所提供的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置不需藉由網(wǎng)絡(luò)接口進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。此夕卜，在本發(fā)明中的復(fù)雜可編程邏輯組件可驅(qū)動(dòng)內(nèi)部整合電路總線向基板管理控制單元取得各項(xiàng)周邊組件的使用狀態(tài)。如此一來(lái)，就可以不用額外的增加測(cè)試治具的開發(fā)成本，就可以對(duì)主機(jī)板進(jìn)行測(cè)試。有關(guān)本發(fā)明的特征與實(shí)作，配合附圖作最佳實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的主機(jī)板的架構(gòu)示意圖；圖2A為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖；圖2B為本發(fā)明的本發(fā)明的協(xié)議轉(zhuǎn)換裝置的架構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明的復(fù)雜可編程邏輯組件對(duì)序列周邊接口總線的架構(gòu)示意圖。其中，附圖標(biāo)記主機(jī)板100基板管理控制單元110南橋芯片組121切換邏輯單元122串行端口 123網(wǎng)絡(luò)連接端124檢測(cè)裝置200基板管理控制單元210復(fù)雜可編程邏輯組件220協(xié)議擴(kuò)展模塊221數(shù)據(jù)緩存器222周邊組件230第一周邊組件231第二周邊組件232
內(nèi)部整合電路總線先進(jìn)先出模塊Ml序列周邊接口總線先進(jìn)先出模塊M2讀取式先進(jìn)先出緩存器M3寫入式先進(jìn)先出緩存器M4序列周邊接口總線310內(nèi)部整合電路總線320
具體實(shí)施例方式本發(fā)明應(yīng)用于具有基板控制單元(Baseboard Management Controller,BMC)的主機(jī)板中，因此主機(jī)板可以是服務(wù)器、個(gè)人計(jì)算機(jī)或筆記型計(jì)算機(jī)所使用的主機(jī)板。請(qǐng)參考圖 2A所示，其為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖。周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置200包括基板管理控制單元 210 與復(fù)雜可編程邏輯組件 220 (Complex Programmable Logic Device，CPLD)?；骞芾砜刂茊卧?10通過(guò)內(nèi)部整合電路總線anter-htegrated Circuit, I2C)電性連接于周邊組件230?；骞芾砜刂茊卧?10用以接收測(cè)試信號(hào)并產(chǎn)生相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)。復(fù)雜可編程邏輯組件220通過(guò)內(nèi)部整合電路總線電性連接于基板管理控制單元210。一個(gè)基板管理控制單元210通常會(huì)有幾組內(nèi)部整合電路總線和外圍的傳感器Censor)、序列式電子抹除式可復(fù)寫只讀存儲(chǔ)器(Serial Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory)溝通，以讀取系統(tǒng)檢測(cè)值及記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。另外也可外接一些通用型的輸入輸出(General Purposel/0, GPI0)控制器來(lái)擴(kuò)充基板管理控制單元 210的檢測(cè)功能。復(fù)雜可編程邏輯組件220中更包括協(xié)議擴(kuò)展模塊221與數(shù)據(jù)緩存器222。協(xié)議擴(kuò)展模塊221用以轉(zhuǎn)換內(nèi)部整合電路總線與序列周邊接口總線(Serial Peripheral Interface Bus, SPI)間所傳遞的測(cè)試信號(hào)。數(shù)據(jù)緩存器222用以記錄每一周邊組件230的響應(yīng)信息。內(nèi)部整合電路總線為一種雙線傳輸協(xié)議。內(nèi)部整合電路總線具有數(shù)據(jù)線(SDATA) 腳位與頻率信號(hào)(SCLK)腳位。內(nèi)部整合電路總線通過(guò)數(shù)據(jù)線腳位與頻率信號(hào)腳位間所形成的電阻對(duì)電位進(jìn)行調(diào)整。因此，本發(fā)明通過(guò)內(nèi)部整合電路總線連接基板管理控制單元210 與復(fù)雜可編程邏輯組件220。而協(xié)議擴(kuò)展模塊221用以轉(zhuǎn)換內(nèi)部整合電路總線與序列周邊接口總線所傳遞的測(cè)試信號(hào)。為能清楚說(shuō)明本發(fā)明的協(xié)議轉(zhuǎn)換處理，還請(qǐng)參考圖2B所示。在此一實(shí)施態(tài)樣中， 協(xié)議擴(kuò)展模塊221更包括內(nèi)部整合電路總線先進(jìn)先出模塊(I2C to FIFO module) 241、序列周邊接口總線先進(jìn)先出模塊(SPI to FIFO module) 242、讀取式先進(jìn)先出緩存器(FIFO register for read) 243 與寫入式先進(jìn)先出緩存器(FIFO register for write) 244。內(nèi)部整合電路總線先進(jìn)先出模塊241將內(nèi)部整合電路總線所收到的信號(hào)發(fā)送到寫入式先進(jìn)先出緩存器對(duì)4，再通過(guò)寫入式先進(jìn)先出緩存器244將信號(hào)逐一的發(fā)送到序列周邊接口總線先進(jìn)先出模塊M2。而序列周邊接口總線先進(jìn)先出模塊242在接收到序列周邊接口總線所傳送過(guò)來(lái)的信號(hào)，則序列周邊接口總線先進(jìn)先出模塊242將信號(hào)傳送至讀取式先進(jìn)先出緩存器M3。 讀取式先進(jìn)先出緩存器243再將信號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)至內(nèi)部整合電路總線先進(jìn)先出模塊Ml。內(nèi)部整合電路總線先進(jìn)先出模塊241再通過(guò)內(nèi)部整合電路總線將相應(yīng)的信號(hào)傳送給對(duì)應(yīng)的裝置。
請(qǐng)參考圖3所示，其為本發(fā)明的復(fù)雜可編程邏輯組件220對(duì)序列周邊接口總線的架構(gòu)示意圖。一般而言，利用序列周邊接口總線可在軟件的控制下構(gòu)成各種系統(tǒng)。例如由一個(gè)主控制單元(master MCU)的第一周邊組件231和幾個(gè)從屬控制單元(slave MCU)的第二周邊組件232相互連接構(gòu)成多主機(jī)系統(tǒng)或者是由一個(gè)主控制單元和多個(gè)從屬式的輸入輸出(I/O)設(shè)備所構(gòu)成的各種系統(tǒng)等。在大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，可使用一個(gè)控制單元作為主控單元來(lái)控制數(shù)據(jù)，并向多個(gè)從屬控制單元傳送該數(shù)據(jù)。在圖3中的復(fù)雜可編程邏輯組件220的左側(cè)通過(guò)序列周邊接口總線310的從屬端 (SPI slave)連接至第一周邊組件231，而在圖3中的復(fù)雜可編程邏輯組件220的右側(cè)則通過(guò)內(nèi)部整合電路總線320連接至第二周邊組件232。換言之，第一周邊組件231會(huì)通過(guò)復(fù)雜可編程邏輯組件220對(duì)第二周邊組件232進(jìn)行信號(hào)的轉(zhuǎn)換。在本發(fā)明的另一實(shí)施例包括基板管理控制單元210、復(fù)雜可編程邏輯組件220與輸出裝置。輸出裝置電性連接于復(fù)雜可編程邏輯組件220。當(dāng)復(fù)雜可編程邏輯組件220接收響應(yīng)信息時(shí)，復(fù)雜可編程邏輯組件220將響應(yīng)信息傳送至輸出裝置，藉以通知測(cè)試人員該主機(jī)板的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目的結(jié)果。輸出裝置可以是屏幕、喇叭或是發(fā)光二極管。本發(fā)明所提供的周邊組件230狀態(tài)的檢測(cè)裝置200不需藉由網(wǎng)絡(luò)接口進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。此外，在本發(fā)明中的復(fù)雜可編程邏輯組件220可驅(qū)動(dòng)內(nèi)部整合電路總線320向基板管理控制單元210取得各項(xiàng)周邊組件230的使用狀態(tài)。如此一來(lái)，就可以不用額外的增加測(cè)試治具的開發(fā)成本，就可以對(duì)主機(jī)板進(jìn)行測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，通過(guò)一主機(jī)板用以檢測(cè)該主機(jī)板所連接的多個(gè)周邊組件的使用狀態(tài)，其特征在于，該檢測(cè)裝置包括一基板管理控制單元，其通過(guò)一內(nèi)部整合電路總線電性連接于該些周邊組件，該基板管理控制單元用以接收一測(cè)試信號(hào)并產(chǎn)生相應(yīng)的一響應(yīng)信息；以及一復(fù)雜可編程邏輯組件，其通過(guò)該內(nèi)部整合電路總線電性連接于該基板管理控制單元，該復(fù)雜可編程邏輯組件中還包括一協(xié)議擴(kuò)展模塊，該協(xié)議擴(kuò)展模塊用以轉(zhuǎn)換該內(nèi)部整合電路總線與一序列周邊接口總線間所傳遞的該測(cè)試信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，該些周邊組件包括南橋芯片組、PCI-E、內(nèi)部智能平臺(tái)管理總線、雙線內(nèi)存模塊、串行端口或網(wǎng)絡(luò)連接端。
3.如權(quán)利要求1所述的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，該內(nèi)部整合電路總線包括一數(shù)據(jù)線腳位與一頻率信號(hào)腳位。
4.如權(quán)利要求1所述的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，該序列周邊接口總線包括一從屬選擇腳位、一序列周邊接口頻率腳位、一主輸入從輸出腳位與一從輸入主輸出腳位。
5.如權(quán)利要求1所述的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，該復(fù)雜可編程邏輯組件還包括一數(shù)據(jù)緩存器，用以記錄每一該周邊組件的該響應(yīng)信息。
6.如權(quán)利要求1所述的周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括一輸出裝置，電性連接于該復(fù)雜可編程邏輯組件，當(dāng)該復(fù)雜可編程邏輯組件接收該響應(yīng)信息時(shí)，該復(fù)雜可編程邏輯組件將該響應(yīng)信息傳送至該輸出裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種周邊組件狀態(tài)的檢測(cè)裝置，通過(guò)主機(jī)板用以檢測(cè)主機(jī)板所連接的多個(gè)周邊組件的使用狀態(tài)。檢測(cè)裝置包括基板管理控制單元與復(fù)雜可編程邏輯組件?；骞芾砜刂茊卧ㄟ^(guò)內(nèi)部整合電路總線連接于周邊組件；基板管理控制單元接收測(cè)試信號(hào)并產(chǎn)生相應(yīng)的響應(yīng)信息；復(fù)雜可編程邏輯組件通過(guò)內(nèi)部整合電路總線連接于基板管理控制單元；復(fù)雜可編程邏輯組件中包括協(xié)議擴(kuò)展模塊，協(xié)議擴(kuò)展模塊轉(zhuǎn)換內(nèi)部整合電路總線與序列周邊接口總線間所傳遞的測(cè)試信號(hào)；經(jīng)由復(fù)雜可編程邏輯組件的切換可以取得基板管理控制單元所連接的各項(xiàng)周邊組件的使用狀態(tài)。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102479129SQ20101059097
公開日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2010年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者范雅靜, 鄭全階, 金志仁, 陳志豐 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司