專利名稱：觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種定點(diǎn)測(cè)試方法，特別是有關(guān)于一種觸控裝置的定點(diǎn)測(cè)試 改善方法。
背景技術(shù)：
目前，在一般的測(cè)試方法中，由于操作測(cè)試人員的操作誤差與操作時(shí)視覺度 問題，或多或少都會(huì)在作點(diǎn)擊測(cè)試時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤，尤其當(dāng)屏幕尺寸更大時(shí)，容易因?yàn)?肢體碰觸而更容易產(chǎn)生誤差，造成測(cè)試的準(zhǔn)確率大大降低，且需耗費(fèi)更多的時(shí)間在 重復(fù)測(cè)試上。因此如何解決因誤差所耗費(fèi)的時(shí)間、人力及材料，是一項(xiàng)亟待解決的 問題。有鑒于已知技術(shù)的各項(xiàng)問題，為了能夠兼顧解決，本發(fā)明人基于多年研究開 發(fā)與實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，提出一種觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法，以作為改善上述缺點(diǎn)的實(shí) 現(xiàn)方式與依據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是在提供一種觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法，以降低因操作 過程的誤差所耗費(fèi)的生產(chǎn)成本。根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種觸控定點(diǎn)測(cè)試的改善 方法，首先提供多個(gè)正確參考座標(biāo)值，接續(xù)產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值，并判斷第一定點(diǎn) 座標(biāo)值與其鄰靠的正確參考座標(biāo)值的誤差是否在一預(yù)設(shè)誤差范圍內(nèi)。若誤差在一預(yù) 設(shè)誤差范圍內(nèi)，則儲(chǔ)存第一定點(diǎn)座標(biāo)值，否則便重新產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值。接著， 產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)值，并判斷第二定點(diǎn)座標(biāo)值與第一定點(diǎn)座標(biāo)值的誤差是否存在。 若第二定點(diǎn)座標(biāo)值與第一定點(diǎn)座標(biāo)值之間有誤差，則重新產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值，否 則便確認(rèn)第一定點(diǎn)座標(biāo)值。
在上述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法中，該第一定點(diǎn)座標(biāo)值是利用一手寫筆點(diǎn)擊一液 晶顯示模塊所產(chǎn)生。
在上述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法中，該第二定點(diǎn)座標(biāo)值是利用一手寫筆點(diǎn)擊一液晶顯示模塊所產(chǎn)生。
在上述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法中，該第一定點(diǎn)座標(biāo)值是點(diǎn)擊該液晶顯示模塊的 多個(gè)預(yù)設(shè)座標(biāo)所產(chǎn)生。
在上述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法中，判斷該第二定點(diǎn)座標(biāo)值與該第一定點(diǎn)座標(biāo)值 的誤差是否存在，經(jīng)由點(diǎn)擊該液晶顯示模塊多個(gè)小方格作為一驗(yàn)證程序。
承上所述，因依本發(fā)明的觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法，具有以下優(yōu)點(diǎn)
(1) 此改善方法可藉由一預(yù)先記錄的正確參考座標(biāo)值與測(cè)試的點(diǎn)座標(biāo)作比對(duì)， 藉此可提高觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的準(zhǔn)確度。
(2) 此改善方法可藉由多次驗(yàn)證程序以進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證，藉此可確保誤差在允 許的誤差范圍之內(nèi)，不需后續(xù)測(cè)試發(fā)現(xiàn)操作不良，發(fā)生再重新測(cè)試而耗費(fèi)時(shí)間的 問題。
為使本發(fā)明的技術(shù)特征及所達(dá)到的功效有更進(jìn)一步的了解與認(rèn)識(shí)，謹(jǐn)以較佳 的實(shí)施例及配合詳細(xì)的說明如后。


圖1為本發(fā)明的定點(diǎn)測(cè)試改善方法的步驟流程圖，其中 步驟11:提供多個(gè)正確參考座標(biāo)值； 步驟12:產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值；
步驟13:判斷第一定點(diǎn)座標(biāo)值與其鄰靠的正確參考座標(biāo)值的誤差是否在一 預(yù)設(shè)誤差范圍內(nèi)；
步驟131:儲(chǔ)存第一定點(diǎn)座標(biāo)值； 步驟14:產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)值；
步驟15:判斷第二定點(diǎn)座標(biāo)值與第一定點(diǎn)座標(biāo)值的誤差是否存在； 步驟151:確認(rèn)第一定點(diǎn)座標(biāo)值；
圖2為本發(fā)明的定點(diǎn)測(cè)試改善方法的產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值的實(shí)施例示意以及
圖3為本發(fā)明的定點(diǎn)測(cè)試改善方法的第二定點(diǎn)測(cè)試程序的實(shí)施例示意圖。
具體實(shí)施方式
以下將參照相關(guān)附圖，說明依本發(fā)明較佳實(shí)施例的觸控定點(diǎn)測(cè)試的改善方法， 為使便于理解，下述實(shí)施例中的相同元件以相同的符號(hào)標(biāo)示來說明。請(qǐng)參閱圖1 其為本發(fā)明的觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法的步驟流程圖，其步驟流程如下
步驟ll:提供多個(gè)正確參考座標(biāo)值；
步驟12:產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值；
步驟13:判斷第一定點(diǎn)座標(biāo)值與其鄰靠的正確參考座標(biāo)值的誤差是否在一預(yù) 設(shè)誤差范圍內(nèi)，若是則進(jìn)行步驟131，若否則退回步驟12; 步驟131:儲(chǔ)存第一定點(diǎn)座標(biāo)值； 步驟14:產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)值；
步驟15:判斷第二定點(diǎn)座標(biāo)值與第一定點(diǎn)座標(biāo)值的誤差是否存在，若是則退 回步驟12，若否，則進(jìn)行步驟151;以及 步驟151:確認(rèn)第一定點(diǎn)座標(biāo)值。
其中上述的第一定點(diǎn)座標(biāo)值及第二定點(diǎn)座標(biāo)值是利用一手寫筆點(diǎn)擊一液晶顯 示模組(LIQUID CRYSTAL DISPLAY MODULE, LCM )所產(chǎn)生。此外，第一定點(diǎn)座標(biāo) 值是利用手寫筆點(diǎn)擊液晶顯示模組所產(chǎn)生的多個(gè)預(yù)設(shè)座標(biāo)，而第二定點(diǎn)座標(biāo)值是點(diǎn) 擊液晶顯示模塊多個(gè)小方格作為一驗(yàn)證程序。
請(qǐng)參閱圖2A至圖2D,其為本發(fā)明的觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試改善方法的產(chǎn)生第一定 點(diǎn)座標(biāo)值的實(shí)施例示意圖。圖中，由圖2A至圖2D，是在液晶顯示模塊20的四個(gè) 角落分別預(yù)設(shè)十字座標(biāo)21、十字座標(biāo)22、十字座標(biāo)23及十字座標(biāo)24，操作時(shí)首 先利用手寫筆，點(diǎn)選各角落的十字座標(biāo)21、十字座標(biāo)22、十字座標(biāo)23及十字座 標(biāo)24中心，即可產(chǎn)生與其鄰靠的各預(yù)設(shè)座標(biāo)值相對(duì)應(yīng)的第一定點(diǎn)座標(biāo)值，并將 預(yù)設(shè)座標(biāo)值與其所對(duì)應(yīng)的第一定點(diǎn)座標(biāo)值做一比對(duì)，若兩者間的誤差在一預(yù)設(shè)誤差 范圍內(nèi)，即儲(chǔ)存第一定點(diǎn)座標(biāo)值。反之，若兩者間的誤差不在預(yù)設(shè)誤差范圍內(nèi)，則 重復(fù)產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值，如此一來，可以確保產(chǎn)生的第一定點(diǎn)座標(biāo)值在誤差允許 的范圍之內(nèi)，不需后續(xù)測(cè)試發(fā)現(xiàn)操作誤差，再重新整個(gè)流程，而造成損失。
請(qǐng)參閱圖3，其為本發(fā)明的觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試改善方法的產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)值 的實(shí)施例示意圖。由于在觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試改善方法的定點(diǎn)測(cè)試程序中，難免發(fā)生 誤差，所以在產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)后，液晶顯示模塊20即顯示多個(gè)小方格，其中部 分小方格顯示反白，此些小方格所組合而成的測(cè)試區(qū)域31，做為一驗(yàn)證程序。當(dāng)測(cè)試者點(diǎn)擊液晶顯示模塊20中的反白部分小方格后，液晶顯示模塊20依據(jù)測(cè)試
者所點(diǎn)選的位置，產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)，若在驗(yàn)證程序中，將第一定點(diǎn)座標(biāo)與第二 定點(diǎn)座標(biāo)比對(duì)，發(fā)現(xiàn)第二定點(diǎn)座標(biāo)無偏移或誤差的結(jié)果，即可將第一定點(diǎn)座標(biāo)值確 認(rèn)為一定值。
但是，由于在驗(yàn)證程序中，僅僅點(diǎn)擊測(cè)試區(qū)域31中的多個(gè)小方格，所以發(fā) 生失誤的機(jī)率很大，若要把每個(gè)小方格都點(diǎn)擊測(cè)試，又會(huì)浪費(fèi)時(shí)間。為了確保每個(gè) 驗(yàn)證程序后，所得的座標(biāo)確實(shí)在誤差范圍內(nèi)，又不需要很多的驗(yàn)證程序，所以在每 次要儲(chǔ)存所求得的定點(diǎn)座標(biāo)值前，必須在定點(diǎn)程序里添加對(duì)所得座標(biāo)值的正確與否 的判斷，通過驗(yàn)證程序的結(jié)果來判斷，接續(xù)的工作是繼續(xù)作業(yè)、重新定位或者儲(chǔ)存 定點(diǎn)座標(biāo)值。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式的上的限 制，雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉 本技術(shù)領(lǐng)域者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此 本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請(qǐng)專利范圍所界定為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種定點(diǎn)測(cè)試改善方法，該方法包括下列步驟提供多個(gè)正確參考座標(biāo)值；產(chǎn)生第一定點(diǎn)座標(biāo)值；判斷該第一定點(diǎn)座標(biāo)值與該正確參考座標(biāo)值的誤差是否在一預(yù)設(shè)誤差范圍內(nèi)，該第一定點(diǎn)坐標(biāo)臨靠于該正確參考座標(biāo)，若是，則儲(chǔ)存該第一定點(diǎn)座標(biāo)值，若否，重新產(chǎn)生該第一定點(diǎn)座標(biāo)值；產(chǎn)生第二定點(diǎn)座標(biāo)值；以及判斷該第二定點(diǎn)座標(biāo)值與該第一定點(diǎn)座標(biāo)值的誤差是否存在，若是，重新產(chǎn)生該第一定點(diǎn)座標(biāo)值，若否，則確認(rèn)該第一定點(diǎn)座標(biāo)值。
2、 如權(quán)利要求1所述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法，其特征在于，該第一定點(diǎn)座標(biāo)值 是利用一手寫筆點(diǎn)擊一液晶顯示模塊所產(chǎn)生。
3、 如權(quán)利要求l所述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法，其特征在于，該第二定點(diǎn)座標(biāo)值 是利用一手寫筆點(diǎn)擊一液晶顯示模塊所產(chǎn)生。
4、 如權(quán)利要求1所述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法，其特征在于，該第一定點(diǎn)座標(biāo)值 是點(diǎn)擊該液晶顯示模塊的多個(gè)預(yù)設(shè)座標(biāo)所產(chǎn)生。
5、 如權(quán)利要求1所述的定點(diǎn)測(cè)試改善方法，其特征在于，判斷該第二定點(diǎn)座 標(biāo)值與該第一定點(diǎn)座標(biāo)值的誤差是否存在，經(jīng)由點(diǎn)擊該液晶顯示模塊多個(gè)小方格 作為一驗(yàn)證程序。
全文摘要
本發(fā)明揭示了一種觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的改善方法，其主要目的在藉由一預(yù)先記錄的正確參考坐標(biāo)值與測(cè)試的點(diǎn)坐標(biāo)作比對(duì)及多次驗(yàn)證程序以進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證，藉此可提高觸控裝置定點(diǎn)測(cè)試的準(zhǔn)確度并節(jié)省因操作錯(cuò)誤而耗損的時(shí)間。
文檔編號(hào)G06F3/041GK101436109SQ20071004810
公開日2009年5月20日 申請(qǐng)日期2007年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月13日
發(fā)明者劉慶珍, 軍 王 申請(qǐng)人:英華達(dá)(上海)科技有限公司