專(zhuān)利名稱：一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法及其設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉及一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法及其設(shè)備。
背景技術(shù)：
在進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試的時(shí)，某些基本的業(yè)務(wù)功能和流程通常在產(chǎn)品的每個(gè)版本都需要進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于這些重復(fù)的測(cè)試工作可采用自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在自動(dòng)化測(cè)試中的一個(gè)重要內(nèi)容就是動(dòng)作詞(Action Word，AW)的編寫(xiě)和維護(hù)。AW是實(shí)現(xiàn)一項(xiàng)功能的命令行腳本，使對(duì)被測(cè)產(chǎn)品的操作命令和功能的“封裝”，它是測(cè)試邏輯的組成元素，眾多的AW組成一個(gè)可重復(fù)使用的函數(shù)庫(kù)。一系列按特定順序執(zhí)行的AW的組合可以組成測(cè)試邏輯。
自動(dòng)化測(cè)試在執(zhí)行的過(guò)程中，測(cè)試報(bào)告分析是一項(xiàng)重要內(nèi)容，通過(guò)這些可以對(duì)測(cè)試報(bào)告進(jìn)行分析并確定問(wèn)題的所在。但是現(xiàn)有的報(bào)告往往給出的信息不夠，特別在測(cè)試用例在測(cè)試失敗時(shí)，即測(cè)試用例不通過(guò)(Not Good，NG)，測(cè)試過(guò)程中所記錄的信息(如被測(cè)設(shè)備的配置、狀態(tài)以及周邊設(shè)備的配置)不夠豐富，因而不能很好的進(jìn)行測(cè)試報(bào)告的分析，不能在測(cè)試過(guò)程中準(zhǔn)確地確定測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題所在。
在現(xiàn)有的技術(shù)方案中采用的在測(cè)試步驟出現(xiàn)NG的時(shí)候，調(diào)用一個(gè)統(tǒng)一的處理模塊，檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中所有的配置參數(shù)以及被測(cè)設(shè)備當(dāng)前主要狀態(tài)參數(shù)，通過(guò)被測(cè)設(shè)備的這些參數(shù)值和狀態(tài)值可以定位測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題，但是在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中需要參數(shù)的參數(shù)值和狀態(tài)值很多，因而查詢的時(shí)間比較長(zhǎng)，并且不同的被測(cè)產(chǎn)品的復(fù)雜程度不同，查詢的時(shí)間也有差異，這樣會(huì)影響到自動(dòng)化執(zhí)行的效率。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法及其設(shè)備，根據(jù)測(cè)試用例在測(cè)試用例失敗時(shí)檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，對(duì)自動(dòng)化測(cè)試失敗后測(cè)試中所出現(xiàn)的問(wèn)題快速定位查詢，提高了自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的執(zhí)行效率。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)備，包括測(cè)試用例模塊，用于存儲(chǔ)測(cè)試用例；問(wèn)題定位模塊，用于存儲(chǔ)測(cè)試用例在測(cè)試失敗中所出現(xiàn)的問(wèn)題信息并為測(cè)試失敗后提供問(wèn)題的定位查詢；統(tǒng)一處理模塊，用于調(diào)用測(cè)試用例模塊中的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試失敗后檢測(cè)被測(cè)設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，并生成問(wèn)題報(bào)告信息。
相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，該方法包括以下步驟調(diào)用相應(yīng)的測(cè)試用例并在被測(cè)設(shè)備中運(yùn)行測(cè)試用例；在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗后根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值；根據(jù)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值查找所述參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題。
本發(fā)明實(shí)施例提供的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試方法及其設(shè)備，通過(guò)在被測(cè)設(shè)備運(yùn)行相應(yīng)的測(cè)試用例，在檢測(cè)到測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)測(cè)試失敗時(shí)，根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，通過(guò)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值能夠?qū)y(cè)試失敗出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行快速查詢，這種測(cè)試的方法加快了自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的執(zhí)行效率，縮短了測(cè)試過(guò)程中所需的時(shí)間。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例中快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的系統(tǒng)圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試用例的用例屬性劃分示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試用例中的用例屬性標(biāo)識(shí)示意圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例中問(wèn)題類(lèi)別劃分示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例中快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試流程圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例中快速定位測(cè)試問(wèn)題的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)提供一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法及其設(shè)備，根據(jù)被測(cè)設(shè)備的不同使用相應(yīng)的測(cè)試用例，并對(duì)被測(cè)設(shè)備中運(yùn)行測(cè)試用例過(guò)程中出現(xiàn)的測(cè)試問(wèn)題進(jìn)行問(wèn)題類(lèi)別劃分，在自動(dòng)化測(cè)試的時(shí)候能夠?qū)y(cè)試中所出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行快速定位分析。
下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
在本發(fā)明實(shí)施例中，圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的系統(tǒng)圖，該系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備11和被測(cè)設(shè)備12。其中測(cè)試設(shè)備11包括存儲(chǔ)模塊111、測(cè)試用例模塊112、問(wèn)題定位模塊113以及統(tǒng)一處理模塊114。所述測(cè)試用例模塊112用于存儲(chǔ)至少一種測(cè)試用例以及與各種測(cè)試用例相對(duì)應(yīng)的用例屬性標(biāo)識(shí)；所述問(wèn)題定位模塊113用于存儲(chǔ)在某測(cè)試用例檢測(cè)失敗時(shí)所出現(xiàn)的問(wèn)題信息，并為測(cè)試失敗后提供問(wèn)題的定位查詢；所述統(tǒng)一處理模塊114用于調(diào)用測(cè)試用例模塊112中的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備12進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試失敗后檢測(cè)被測(cè)設(shè)備12相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，并記錄當(dāng)前測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果并為每一測(cè)試用例生成記錄其測(cè)試過(guò)程及結(jié)果的日志文件；所述存儲(chǔ)模塊111用于存放統(tǒng)一處理模塊114所生成的日志文件。所述統(tǒng)一處理模塊114包括測(cè)試單元1141、檢測(cè)單元1142、查詢單元1143、記錄單元1144。其中所述測(cè)試單元1141用于調(diào)用測(cè)試用例模塊112中的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；檢測(cè)單元1142用于在測(cè)試用例測(cè)試失敗時(shí)，檢測(cè)被測(cè)設(shè)備12中的參數(shù)值和狀態(tài)值；查詢單元1143用于根據(jù)檢測(cè)到的參數(shù)值和狀態(tài)值在問(wèn)題定位模塊113中定位測(cè)試出現(xiàn)的問(wèn)題；記錄單元1144用于記錄測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試步驟和測(cè)試結(jié)果并生成問(wèn)題報(bào)告信息。
在測(cè)試過(guò)程時(shí)，測(cè)試邏輯中只需要調(diào)用已經(jīng)封裝的AW，在本發(fā)明實(shí)施例中的測(cè)試用例模塊112中存有了多個(gè)測(cè)試用例，每個(gè)測(cè)試用例中封裝了多個(gè)AW，這些測(cè)試用例根據(jù)被測(cè)設(shè)備12的不同將測(cè)試用例劃分成不同類(lèi)別的測(cè)試用例，對(duì)于不同的被測(cè)設(shè)備12分別采用與其對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例來(lái)進(jìn)行測(cè)試。在本發(fā)明實(shí)施例中將這些測(cè)試用例進(jìn)行分類(lèi)，如圖2所示的測(cè)試用例的用例屬性劃分示意圖中，每個(gè)用例屬性中含有多個(gè)定位信息，所述定位信息是對(duì)測(cè)試用例過(guò)程中出現(xiàn)檢測(cè)失敗后對(duì)所要檢測(cè)的情況進(jìn)行類(lèi)別劃分，按照類(lèi)別的不同可劃分為諸如A1類(lèi)定位信息、B1類(lèi)定位信息、C1類(lèi)定位信息等等。
在對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行了用例屬性劃分之后，根據(jù)測(cè)試用例的屬性通過(guò)采用在測(cè)試數(shù)據(jù)文件中增加用例屬性字段的方式實(shí)現(xiàn)，即在測(cè)試用例中增加一個(gè)用例屬性的字段，其可以通過(guò)用例屬性來(lái)給這些定位信息加以標(biāo)識(shí)，如圖3所示的測(cè)試用例中的用例屬性標(biāo)識(shí)示意圖。用例屬性標(biāo)識(shí)含有多個(gè)信息字段，在測(cè)試用例中按照類(lèi)別劃分的每類(lèi)定位信息都在用例屬性標(biāo)識(shí)中有一個(gè)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)識(shí)位，通過(guò)該位的值來(lái)確定其位于哪類(lèi)定位信息類(lèi)，如圖所示的第一位表示A1類(lèi)定位信息，如果該位的值是1，則表示用例屬性中含有A1類(lèi)定位信息，則在測(cè)試的過(guò)程中統(tǒng)一處理模塊114中的檢測(cè)單元需要按照A1類(lèi)設(shè)定的定位信息內(nèi)容進(jìn)行相關(guān)檢測(cè)；如果該位的值是0，則表示該用例屬性中不含有A1類(lèi)定位信息，則在測(cè)試的過(guò)程中統(tǒng)一處理模塊114不需要對(duì)A1類(lèi)設(shè)定的定位信息內(nèi)容進(jìn)行檢測(cè)。其他位的含義類(lèi)似。需要說(shuō)明的是，此處僅舉出一種用例屬性標(biāo)識(shí)與各種用例類(lèi)別的對(duì)應(yīng)關(guān)系，易于想到的是，可以采用其他類(lèi)型的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
在問(wèn)題定位模塊113中，存儲(chǔ)了一系列的測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題，這些問(wèn)題匯集了所有測(cè)試過(guò)程中測(cè)試用例失敗后出現(xiàn)的測(cè)試問(wèn)題。根據(jù)測(cè)試用例模塊中的測(cè)試用例劃分的類(lèi)別將測(cè)試用例失敗后出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行類(lèi)別劃分，如圖4所示的問(wèn)題類(lèi)別劃分示意圖。在相應(yīng)的測(cè)試用例測(cè)試失敗之后，用例屬性中A1類(lèi)定位信息中出現(xiàn)的所有測(cè)試問(wèn)題劃分成A2類(lèi)定位信息，用例屬性中B1類(lèi)定位信息中出現(xiàn)的所有測(cè)試問(wèn)題劃分成B2類(lèi)定位信息，用例屬性中C1類(lèi)定位信息中出現(xiàn)的所有測(cè)試問(wèn)題劃分成C2類(lèi)定位信息，依次類(lèi)推，用例屬性中X1類(lèi)定位信息中出現(xiàn)的所有測(cè)試問(wèn)題劃分成X2類(lèi)定位信息。在問(wèn)題類(lèi)別中的每類(lèi)定位信息中都包括了用例屬性所對(duì)應(yīng)的定位信息在測(cè)試過(guò)程中所遇到的所有問(wèn)題，下面以問(wèn)題類(lèi)別中的A2類(lèi)定位信息為例進(jìn)行說(shuō)明，其包括測(cè)試用例在測(cè)試失敗后出現(xiàn)的多個(gè)測(cè)試問(wèn)題，如問(wèn)題1、問(wèn)題2、問(wèn)題3到問(wèn)題N等等。每個(gè)測(cè)試問(wèn)題在測(cè)試過(guò)程中都是通過(guò)測(cè)試過(guò)程中所出現(xiàn)的狀態(tài)值和狀態(tài)值進(jìn)行相應(yīng)的劃分，這里的參數(shù)值和狀態(tài)值根據(jù)圖4所示的主機(jī)狀態(tài)值和主機(jī)參數(shù)值進(jìn)行標(biāo)識(shí)，問(wèn)題1所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值001和主機(jī)狀態(tài)值001，問(wèn)題2所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值002和主機(jī)狀態(tài)值002，問(wèn)題3所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值003和主機(jī)狀態(tài)值003，依次類(lèi)推問(wèn)題N所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值00N和狀態(tài)值00N。這里的主機(jī)參數(shù)值00N和狀態(tài)值00N中的00N是對(duì)參數(shù)值和狀態(tài)值進(jìn)行劃分，是對(duì)測(cè)試失敗后所對(duì)應(yīng)的被測(cè)設(shè)備中的參數(shù)值和狀態(tài)值的類(lèi)別劃分，如問(wèn)題1和問(wèn)題2中的主機(jī)參數(shù)值所對(duì)應(yīng)的參數(shù)值相同而主機(jī)狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的狀態(tài)值不同，但是它們歸屬不同的類(lèi)別問(wèn)題1和問(wèn)題2；問(wèn)題2和問(wèn)題3中的主機(jī)參數(shù)值所對(duì)應(yīng)的參數(shù)值不同而主機(jī)狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的狀態(tài)值相同，但是它們歸屬不同的類(lèi)別問(wèn)題2和問(wèn)題3。需要說(shuō)明的是，此處僅舉出一種問(wèn)題類(lèi)別與各種測(cè)試問(wèn)題的對(duì)應(yīng)關(guān)系，易于想到的是，可以采用其他類(lèi)型的對(duì)應(yīng)關(guān)系。在被測(cè)設(shè)備12出現(xiàn)測(cè)試失敗后，統(tǒng)一處理模塊114中的檢測(cè)單元1142檢測(cè)被測(cè)設(shè)備12中的參數(shù)值和狀態(tài)值，查詢單元1143根據(jù)查詢到的參數(shù)值和狀態(tài)值在問(wèn)題類(lèi)別中查找到相應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值和狀態(tài)值，在根據(jù)主機(jī)參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的問(wèn)題得出測(cè)試過(guò)程中所測(cè)試過(guò)程中所出現(xiàn)的問(wèn)題。
請(qǐng)參閱圖5和圖6，以下詳細(xì)描述了本發(fā)明快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的流程，首先請(qǐng)參閱圖5步驟201測(cè)試設(shè)備調(diào)用測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試設(shè)備11一般是由計(jì)算機(jī)操作完成的，通過(guò)計(jì)算機(jī)上存儲(chǔ)相應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備12進(jìn)行測(cè)試。
步驟202判斷測(cè)試用例是否滿足執(zhí)行條件，如果是則執(zhí)行步驟203，否則轉(zhuǎn)步驟209；這里的執(zhí)行條件包括測(cè)試用例與被測(cè)設(shè)備不相匹配，無(wú)法在測(cè)試過(guò)程中得到相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，通過(guò)這種測(cè)試用例的過(guò)濾之后其他不滿足執(zhí)行條件的測(cè)試用例在這里不予執(zhí)行。
步驟203執(zhí)行測(cè)試步驟1；步驟204執(zhí)行測(cè)試步驟2；步驟205執(zhí)行測(cè)試步驟3；步驟206執(zhí)行測(cè)試步驟N；需要說(shuō)明的是，在一個(gè)測(cè)試用例中包含了至少一個(gè)測(cè)試步驟，不同的測(cè)試用例中所包含的測(cè)試步驟數(shù)量和測(cè)試步驟內(nèi)容均可以不同，在測(cè)試過(guò)程中，按照測(cè)試用例中所設(shè)定的測(cè)試步驟依次對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，其在執(zhí)行完當(dāng)前一個(gè)測(cè)試步驟之后才執(zhí)行后面的測(cè)試步驟。
在測(cè)試執(zhí)行的時(shí)候，通過(guò)統(tǒng)一處理模塊114向被測(cè)設(shè)備中調(diào)用相應(yīng)的測(cè)試用例，并通過(guò)統(tǒng)一處理模塊114記錄每個(gè)測(cè)試步驟中的在進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試過(guò)程并記錄當(dāng)前的測(cè)試結(jié)果，最后生成問(wèn)題報(bào)告日志存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊111中。
步驟207測(cè)試環(huán)境的恢復(fù)；在該測(cè)試用例的所有測(cè)試步驟均執(zhí)行完成之后，對(duì)被測(cè)設(shè)備的及其相關(guān)的測(cè)試環(huán)境進(jìn)行恢復(fù)。
步驟208輸出測(cè)試結(jié)果；這里的測(cè)試結(jié)果包括了在測(cè)試過(guò)程中統(tǒng)一處理模塊中所記錄的所有測(cè)試步驟中的測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果。
步驟209結(jié)束。
以下請(qǐng)參閱圖6，圖6具體描述了本發(fā)明實(shí)施例中的快速定位測(cè)試問(wèn)題的流程圖，其在每個(gè)測(cè)試用例中的每一個(gè)測(cè)試步驟(如測(cè)試步驟1或測(cè)試步驟2等)中進(jìn)行，具體如下步驟301開(kāi)始執(zhí)行該測(cè)試用例的某一測(cè)試步驟；步驟302檢測(cè)當(dāng)前測(cè)試步驟是否開(kāi)始運(yùn)行？如果開(kāi)始運(yùn)行則執(zhí)行步驟303，否則轉(zhuǎn)步驟309；步驟303打印測(cè)試步驟信息；用于記錄當(dāng)前測(cè)試步驟的測(cè)試內(nèi)容并存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊中，方便測(cè)試人員在測(cè)試結(jié)果輸出后進(jìn)行分析。
步驟304檢測(cè)當(dāng)前測(cè)試步驟的測(cè)試結(jié)果是否為NG？如果測(cè)試步驟出現(xiàn)NG則進(jìn)行步驟305，否則轉(zhuǎn)步驟309；
步驟306根據(jù)用例屬性標(biāo)識(shí)檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值；在測(cè)試用例在測(cè)試過(guò)程中不通過(guò)時(shí)，根據(jù)圖2中劃分好的用例屬性和圖3中所對(duì)應(yīng)的用例屬性標(biāo)識(shí)，統(tǒng)一處理模塊114中的檢測(cè)單元1142根據(jù)用例屬性標(biāo)識(shí)檢測(cè)用例屬性中該類(lèi)定位信息所對(duì)應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值。
步驟307根據(jù)檢測(cè)到的參數(shù)值和狀態(tài)值在問(wèn)題定位模塊中查詢相應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題；在檢測(cè)到被測(cè)設(shè)備12當(dāng)前的參數(shù)值和狀態(tài)值之后，根據(jù)圖4的問(wèn)題類(lèi)別劃分信息，根據(jù)參數(shù)值和狀態(tài)值查找按照類(lèi)別劃分的所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值和主機(jī)狀態(tài)值，在根據(jù)主機(jī)參數(shù)值和主機(jī)狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的問(wèn)題，就能找出測(cè)試過(guò)程中相應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題所在。
步驟308根據(jù)查詢到的測(cè)試問(wèn)題生成問(wèn)題報(bào)告日志文件；所述問(wèn)題報(bào)告日志文件包括查找到的測(cè)試問(wèn)題以及測(cè)試過(guò)程等信息。
步驟309結(jié)束。
需要對(duì)圖5和圖6進(jìn)行說(shuō)明的是，當(dāng)一個(gè)測(cè)試步驟中完成之后，后面還有測(cè)試步驟時(shí)，步驟309下面的測(cè)試步驟是另一個(gè)測(cè)試步驟的開(kāi)始，當(dāng)所述測(cè)試步驟為最后一個(gè)測(cè)試步驟時(shí)，則進(jìn)行完步驟309之后則進(jìn)行步驟207。在測(cè)試過(guò)程中，對(duì)被測(cè)設(shè)備的測(cè)試也會(huì)應(yīng)用到多個(gè)測(cè)試用例，在完成快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試流程圖5和圖6之后，根據(jù)自動(dòng)化設(shè)置則需要繼續(xù)執(zhí)行后續(xù)的測(cè)試用例，如果在執(zhí)行的過(guò)程中出現(xiàn)測(cè)試用例不通過(guò)時(shí)，則繼續(xù)調(diào)用統(tǒng)一處理模塊114對(duì)出現(xiàn)的測(cè)試問(wèn)題檢測(cè)相關(guān)的參數(shù)值和狀態(tài)值，在通過(guò)檢測(cè)到的參數(shù)值和狀態(tài)值根據(jù)設(shè)定好的問(wèn)題類(lèi)別劃分對(duì)測(cè)試問(wèn)題進(jìn)行問(wèn)題的定位分析。
以下以語(yǔ)音接入產(chǎn)品中涉及到的通話類(lèi)測(cè)試用例進(jìn)行說(shuō)明，對(duì)于這類(lèi)測(cè)試用例當(dāng)測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)NG時(shí)，通常需要會(huì)查詢被測(cè)設(shè)備的參數(shù)值和狀態(tài)值，如在線用戶信息、資源(如時(shí)隙和DSP通道等)占用情況、接口狀態(tài)等信息。在對(duì)用例屬性進(jìn)行劃分的時(shí)候，將用戶信息、資源占用情況、接口狀態(tài)等用例屬性設(shè)定為A1類(lèi)定位信息、B1類(lèi)定位信息、C1類(lèi)定位信息等。根據(jù)以往所遇到的測(cè)試用例中測(cè)試不通過(guò)時(shí)，將用戶信息、資源占用情況、接口狀態(tài)等出現(xiàn)的測(cè)試問(wèn)題按照問(wèn)題類(lèi)別劃分成不同的類(lèi)別，如用戶信息所出現(xiàn)的問(wèn)題劃分為A2類(lèi)定位信息、資源占用情況所出現(xiàn)的問(wèn)題劃分為B2類(lèi)定位信息、接口狀態(tài)所出現(xiàn)的問(wèn)題劃分為C2類(lèi)定位信息。
在運(yùn)行測(cè)試用例之后，在測(cè)試用例的檢測(cè)點(diǎn)不通過(guò)時(shí)，根據(jù)用例屬性標(biāo)識(shí)對(duì)所對(duì)應(yīng)的定位信息進(jìn)行相關(guān)檢測(cè)，如果是用戶信息出現(xiàn)問(wèn)題，則將A1類(lèi)定位信息設(shè)定好的標(biāo)識(shí)位傳給統(tǒng)一處理模塊，問(wèn)題定位模塊根據(jù)標(biāo)識(shí)位檢測(cè)用戶信息相關(guān)的狀態(tài)值和參數(shù)值，再將檢測(cè)到的狀態(tài)值和參數(shù)值在到A2類(lèi)定位信息中相應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值和主機(jī)狀態(tài)值，通過(guò)主機(jī)參數(shù)值和主機(jī)狀態(tài)值對(duì)應(yīng)的問(wèn)題就能查到測(cè)試用例過(guò)程中的測(cè)試問(wèn)題所在。需要說(shuō)明的是，此處僅舉出一種關(guān)于語(yǔ)音接入產(chǎn)品中涉及到的通話類(lèi)為例進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試為例進(jìn)行了說(shuō)明，易于想到的是，其他類(lèi)型的自動(dòng)化測(cè)測(cè)試也能通過(guò)本發(fā)明所提供的實(shí)施方式能夠?qū)崿F(xiàn)。
綜上所述，本發(fā)明通過(guò)對(duì)測(cè)試用例不同將測(cè)試用例劃分成不同的用例屬性，并對(duì)用例屬性設(shè)置用例屬性標(biāo)識(shí)，在運(yùn)行測(cè)試用例失敗之后通過(guò)用例屬性標(biāo)識(shí)檢測(cè)相關(guān)的參數(shù)值和狀態(tài)值，將檢測(cè)到的參數(shù)值和狀態(tài)值與預(yù)先設(shè)定好的問(wèn)題類(lèi)別劃分好的問(wèn)題定位信息進(jìn)行對(duì)比，能夠快速找到測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題。這種測(cè)試的過(guò)程中不需要查詢所有的參數(shù)值和狀態(tài)值，降低了自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的執(zhí)行難度，并提高了自動(dòng)化的執(zhí)行效率。通過(guò)設(shè)定好的檢測(cè)方式，檢測(cè)出現(xiàn)測(cè)試問(wèn)題時(shí)相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，不需要查詢所有的參數(shù)值和狀態(tài)值也降低了自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的執(zhí)行時(shí)間。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟調(diào)用相應(yīng)的測(cè)試用例并在被測(cè)設(shè)備中運(yùn)行測(cè)試用例；在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗后根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值；根據(jù)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值查找所述參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題。
2.如權(quán)利要求1所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，其特征在于，所述在調(diào)用相應(yīng)的測(cè)試用例并在被測(cè)設(shè)備中運(yùn)行測(cè)試用例步驟還包括判斷測(cè)試用例是否滿足測(cè)試執(zhí)行條件。
3.如權(quán)利要求2所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，其特征在于，所述步驟在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗后根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值中是根據(jù)測(cè)試用例的用例屬性對(duì)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值進(jìn)行檢測(cè)的。
4.如權(quán)利要求3所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，其特征在于，所述在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗后根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值步驟具體為根據(jù)測(cè)試用例中的用例屬性傳入用例屬性標(biāo)識(shí)；根據(jù)用例屬性標(biāo)識(shí)檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值。
5.如權(quán)利要求4所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，其特征在于，所述在根據(jù)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值查找所述參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題步驟具體為根據(jù)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值查找所述參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的主機(jī)參數(shù)值和主機(jī)狀態(tài)值；根據(jù)主機(jī)參數(shù)和主機(jī)狀態(tài)值查找對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題。
6.一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)備，包括測(cè)試用例模塊，用于存儲(chǔ)測(cè)試用例；問(wèn)題定位模塊，用于存儲(chǔ)測(cè)試用例在測(cè)試失敗中所出現(xiàn)的問(wèn)題信息并為測(cè)試失敗后提供問(wèn)題的定位查詢；統(tǒng)一處理模塊，用于調(diào)用測(cè)試用例模塊中的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試失敗后檢測(cè)被測(cè)設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，并生成問(wèn)題報(bào)告信息。
7.如權(quán)利要求6所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述統(tǒng)一處理模塊包括測(cè)試單元用于調(diào)用測(cè)試用例模塊中的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；檢測(cè)單元用于在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗時(shí)，檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中的參數(shù)值和狀態(tài)值；查詢單元用于根據(jù)檢測(cè)到的參數(shù)值和狀態(tài)值在問(wèn)題定位模塊中定位測(cè)試出現(xiàn)的問(wèn)題；記錄單元用于記錄測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試步驟和測(cè)試結(jié)果并生成問(wèn)題報(bào)告信息。
8.如權(quán)利要求7所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備還包括存儲(chǔ)模塊用于存放統(tǒng)一處理模塊生成的問(wèn)題報(bào)告信息。
9.如權(quán)利要求8所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試模塊中設(shè)有至少一個(gè)測(cè)試用例，每個(gè)測(cè)試用例都有一個(gè)與之相對(duì)應(yīng)的用例屬性標(biāo)識(shí)，所述測(cè)試用例中封裝了多個(gè)測(cè)試步驟。
10.如權(quán)利要求9所述的快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)備，其特征在于，所述問(wèn)題定位模塊中設(shè)有與每個(gè)測(cè)試用例相對(duì)應(yīng)的問(wèn)題分類(lèi)信息，所述問(wèn)題分類(lèi)信息是在每個(gè)測(cè)試用例中的測(cè)試步驟失敗之后根據(jù)被測(cè)設(shè)備中出現(xiàn)的不同參數(shù)值和狀態(tài)值進(jìn)行劃分的。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的方法，以實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程中對(duì)出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行快速定位，包括以下步驟調(diào)用相應(yīng)的測(cè)試用例并在被測(cè)設(shè)備中運(yùn)行測(cè)試用例；在測(cè)試被測(cè)設(shè)備失敗后根據(jù)測(cè)試用例檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中當(dāng)前相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值；根據(jù)檢測(cè)到的相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值查找所述參數(shù)值和狀態(tài)值所對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題。本發(fā)明實(shí)施例還公開(kāi)了一種快速定位問(wèn)題的自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)備，通過(guò)實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，根據(jù)測(cè)試用例在測(cè)試失敗時(shí)檢測(cè)被測(cè)設(shè)備中相應(yīng)的參數(shù)值和狀態(tài)值，對(duì)自動(dòng)化測(cè)試失敗后測(cè)試中所出現(xiàn)的問(wèn)題快速定位查詢，提高了自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的執(zhí)行效率。
文檔編號(hào)G06F11/28GK101079000SQ20071002824
公開(kāi)日2007年11月28日 申請(qǐng)日期2007年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月29日
發(fā)明者劉承東, 胡中強(qiáng), 張宗勝, 李坤龍, 劉麗鳳, 楊敬, 石俊, 崔學(xué)成, 呂曉莉 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司