專利名稱：一種對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及針對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件可靠性測(cè)試的系統(tǒng)和方法，特別是涉及一種對(duì)計(jì)算機(jī)主板、硬盤、光驅(qū)、DVD、軟驅(qū)等由ATX供電的部件進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)和方法，屬于計(jì)算機(jī)可靠性測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
計(jì)算機(jī)設(shè)備要求有很高的可靠性，而且要求系統(tǒng)能整體保持長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定運(yùn)行，這是通過(guò)提高各部件的可靠性和核心部件的冗余設(shè)計(jì)來(lái)實(shí)現(xiàn)的，而主板、硬盤、光驅(qū)、DVD、軟驅(qū)等是其中最重要的組成部分，而且均是由ATX電源供電。當(dāng)今計(jì)算機(jī)產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性已經(jīng)成為人們普遍關(guān)注的焦點(diǎn)，同時(shí)產(chǎn)品的可靠性也在突飛猛進(jìn)地提高。從九十年代以來(lái)，可靠性已不再是附屬性學(xué)科，而已經(jīng)成為一支強(qiáng)有力的以可靠性為主體的保證科學(xué)與工程體系?？煽啃缘慕?jīng)典定義是指產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)，完成規(guī)定功能的能力。這里規(guī)定條件一般指的是使用條件，環(huán)境條件。包括應(yīng)力溫度、濕度、塵砂、腐蝕等，對(duì)于計(jì)算機(jī)硬盤和光驅(qū)來(lái)說(shuō)，當(dāng)然工作電壓也是環(huán)境測(cè)試的重要因素之一。所謂規(guī)定時(shí)間是可靠性區(qū)別于產(chǎn)品其他質(zhì)量屬性的重要特征，一般也可認(rèn)為可靠性是產(chǎn)品功能在時(shí)間上的穩(wěn)定程度。所謂規(guī)定功能就是要明確具體產(chǎn)品的功能是什么，怎樣才算是完成規(guī)定功能。由此，模擬在特定的使用條件下，在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行測(cè)試程序來(lái)考察其可靠性顯得尤為重要。目前ATX供電部件的可靠性只是通過(guò)簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)讀取、存貯、拷貝、開(kāi)關(guān)機(jī)以及一些專用的測(cè)試軟件等進(jìn)行驗(yàn)證的，沒(méi)有考慮環(huán)境因素(如溫度、濕度、電壓)變化對(duì)通過(guò)ATX供電的部件可靠性的影響。另外，目前尚未檢索到能滿足上述技術(shù)要求的現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提出一種對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)和方法，本發(fā)明通過(guò)對(duì)溫度、濕度、電壓三要素組合拉偏形成多角測(cè)試環(huán)境，從而考查被測(cè)部件的可靠性。
本發(fā)明所述對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，包括主控機(jī)、溫濕度控制箱、程控拉偏電源、ATX電源單元、被測(cè)試部件；其中所述主控機(jī)，用于控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的工作狀態(tài)，包括對(duì)溫控箱環(huán)境溫度和濕度的控制、電壓的拉偏幅度控制、被測(cè)系統(tǒng)的開(kāi)啟與關(guān)閉的控制；所述溫濕度控制箱，用于放置被測(cè)關(guān)鍵部件，通過(guò)接口與主控機(jī)連接，使得主控機(jī)可以控制溫濕度控制箱的運(yùn)行，監(jiān)視溫濕度控制箱的實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)，同時(shí)通過(guò)接口可以實(shí)時(shí)反饋溫濕度控制箱環(huán)境狀態(tài)；(這里是指溫控箱帶的特定接口，有的是串口通訊，有的是GPIB通訊，視具體的溫控箱而定)所述程控拉偏電源，實(shí)現(xiàn)被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件+3.3V、+5V、+12V的±6％、±5％的電壓拉偏供電；所述ATX電源單元，為系統(tǒng)的其他非測(cè)試部件供給ATX電源。
如上所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，所述主控機(jī)通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換卡進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，傳送主控機(jī)的控制信息，控制所述程控拉偏電源的輸出，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)部件供電電壓的拉偏。
如上所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，所述主控機(jī)通過(guò)開(kāi)關(guān)電路實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉被測(cè)試系統(tǒng)。
如上所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，主控機(jī)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換卡實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)被測(cè)試部件的供電電壓，監(jiān)測(cè)電壓供給狀況是否正常。
本發(fā)明所述對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，包括如下步驟初始化對(duì)溫控箱、A/D卡、D/A卡、程控電源電路進(jìn)行初始化設(shè)置，也包括了供給非被測(cè)部件的電源的初始化工作；
被測(cè)部件信息輸入輸入被測(cè)部件硬盤或者光驅(qū)的型號(hào)、物料編號(hào)、生產(chǎn)廠家及其測(cè)試員，便于生成測(cè)試報(bào)告；各測(cè)試點(diǎn)信息輸入設(shè)定溫控箱的溫度、濕度運(yùn)行曲線和調(diào)壓運(yùn)行曲線，使得能夠進(jìn)行設(shè)定曲線的存儲(chǔ)和調(diào)用；運(yùn)行監(jiān)控用于監(jiān)控系統(tǒng)的各重要組成部分的運(yùn)行狀況，包括是否過(guò)壓或者過(guò)溫，則停止測(cè)試，以免損壞設(shè)備或者被測(cè)部件，同時(shí)實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)顯示溫度、濕度、拉偏電壓的狀態(tài)；生成測(cè)試結(jié)果；所有測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完畢，釋放A/D卡和D/A卡資源，關(guān)閉溫濕度控制箱，退出程序。
所述對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，所述各測(cè)試點(diǎn)信息輸入時(shí)，一次可以輸入多個(gè)測(cè)試點(diǎn)，按照測(cè)試點(diǎn)的環(huán)境參數(shù)運(yùn)行，輸入的先后順序開(kāi)始測(cè)試。
所述對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，所述運(yùn)行監(jiān)控過(guò)程中，需要停止的時(shí)候，可以采用人為干預(yù)停止。
采用本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)和方法，可以非常方便地考察了PC機(jī)關(guān)鍵部件的可靠性，從而有效地控制了整體PC機(jī)的可靠性，適用于工業(yè)化大規(guī)模生產(chǎn)的可靠性檢測(cè)。


圖1本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)硬件模塊示意圖；圖2本發(fā)明測(cè)試方法的總體流程圖。
圖3本發(fā)明測(cè)試點(diǎn)示例；圖4本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)主界面示意圖；圖5本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)輸出的測(cè)試報(bào)告示意圖；圖6本發(fā)明測(cè)試方法的具體流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明涉及針對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件可靠性測(cè)試的系統(tǒng)和方法，本發(fā)明所述的計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件，是指計(jì)算機(jī)主板、硬盤、光驅(qū)、DVD、軟驅(qū)等部件，這些部件的共同特點(diǎn)是采用符合ATX規(guī)范的供電方式。
為了測(cè)試這些關(guān)鍵部件的可靠性，本發(fā)明選取了環(huán)境條件中的三個(gè)方面，即溫度、濕度和工作電壓，構(gòu)成了一種多角測(cè)試，進(jìn)而開(kāi)發(fā)了本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)和方法。本發(fā)明主要用于實(shí)現(xiàn)了以下幾方面的功能實(shí)現(xiàn)了對(duì)被測(cè)光驅(qū)或者硬盤電壓、環(huán)境溫度、濕度的組合拉偏；實(shí)時(shí)的數(shù)字和曲線反饋環(huán)境實(shí)際參數(shù)，包括實(shí)際溫度、濕度和拉偏電壓；被測(cè)機(jī)運(yùn)行測(cè)試軟件完畢，自動(dòng)關(guān)機(jī)；測(cè)試按照測(cè)試點(diǎn)輸入先后順序進(jìn)行，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)系統(tǒng)的運(yùn)行狀態(tài)，識(shí)別測(cè)試結(jié)束，進(jìn)入下一測(cè)試點(diǎn)；自動(dòng)記錄測(cè)試結(jié)果；帶有過(guò)壓和過(guò)溫保護(hù)。
本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)從環(huán)境溫度、濕度和電壓三個(gè)方面對(duì)被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件的工作環(huán)境加以控制，主控機(jī)和溫濕度控制箱通過(guò)串口連接，主控機(jī)通過(guò)串口設(shè)置溫度和濕度控制箱的全部操作流程和操作順序，開(kāi)啟或者終止溫濕度控制箱的運(yùn)行，監(jiān)視溫濕度控制箱的實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)，溫控箱內(nèi)本身置有溫度傳感器，同時(shí)通過(guò)串口可以實(shí)時(shí)反饋溫濕度控制箱環(huán)境狀態(tài)；主控機(jī)通過(guò)D/A卡數(shù)模轉(zhuǎn)換，傳送主控機(jī)的控制信息，控制可拉偏電源的輸出，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)部件供電電壓的拉偏，拉偏電壓的上下電時(shí)序由單片機(jī)控制嚴(yán)格遵守ATX12V規(guī)范的；主控機(jī)通過(guò)開(kāi)關(guān)電路實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉被測(cè)試系統(tǒng)；主控機(jī)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換卡的反饋信號(hào)實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)被測(cè)試部件的供電電壓，監(jiān)測(cè)電壓供給狀況是否正常。被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件是放置在溫控箱內(nèi)的，被測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行AMIDIAG軟件，AMIDIAG運(yùn)行結(jié)束，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)關(guān)機(jī)，主控機(jī)實(shí)時(shí)對(duì)其進(jìn)行監(jiān)測(cè)，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，軟件自動(dòng)記錄測(cè)試結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的智能化和自動(dòng)化。為了增強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全性，主控機(jī)需要預(yù)裝Windows NT4.0操作系統(tǒng)。
圖1為整個(gè)硬件模塊結(jié)構(gòu)示意圖，下面分別說(shuō)明硬件各組成部分的作用主控機(jī)承擔(dān)測(cè)試系統(tǒng)的全部控制功能，控制本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)行， 實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試。
溫濕度控制箱用于放置被測(cè)的關(guān)鍵部件，主要承擔(dān)溫度、濕度控制功能，能夠?qū)崿F(xiàn)溫度-70℃--150℃、濕度20％--98％R.H范圍內(nèi)的拉偏，溫度波動(dòng)度±0.5℃，濕度波動(dòng)度±2.5％R.H，是本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分。溫控箱內(nèi)本身置有溫度傳感器，通過(guò)串口可以實(shí)時(shí)的反饋溫濕度控制箱的狀態(tài)。
程控拉偏電源對(duì)被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件供電，可實(shí)現(xiàn)+3.3V、+5V、+12V的±6％、±5％電壓拉偏變化的情況下供電；被測(cè)試系統(tǒng)包含被測(cè)試部件(如被測(cè)關(guān)鍵部件為硬盤或者光驅(qū)等)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分；ATX電源單元為其他的非被測(cè)部件提供電源，所述ATX電源單元是按照ATX規(guī)范供給被測(cè)試系統(tǒng)中所有非被測(cè)部件電壓。
需要指出的是，在圖1中給出的具體例子里，主板不是被測(cè)部件，所以由ATX電源單元供電，如果主板是被測(cè)部件，則應(yīng)該將主板放入溫濕度控制箱中，改由程控拉偏電源供電；總之，凡是被測(cè)部件，就要放置在溫濕度控制箱中，在溫濕度控制箱提供的環(huán)境下，由程控拉偏電源供電并進(jìn)行拉偏測(cè)試；凡是非被測(cè)部件，都由ATX電源單元供電。
圖2給出了本發(fā)明所述測(cè)試方法的總流程圖，可分為初始化、被測(cè)部件信息輸入、多角測(cè)試各測(cè)試點(diǎn)三要素信息輸入、運(yùn)行、停止、監(jiān)控、生成測(cè)試結(jié)果、結(jié)束等步驟，現(xiàn)具體說(shuō)明如下初始化對(duì)溫控箱、A/D卡、D/A卡、程控拉偏電源電路進(jìn)行初始化設(shè)置。
被測(cè)部件信息輸入根據(jù)實(shí)際需要輸入相關(guān)的信息，例如輸入被測(cè)部件硬盤或者光驅(qū)的型號(hào)、物料編號(hào)、生產(chǎn)廠家及其測(cè)試員，便于生成測(cè)試報(bào)告。
多角(Multi corner)測(cè)試各測(cè)試點(diǎn)三要素信息輸入設(shè)定溫控箱的溫度、濕度運(yùn)行曲線和調(diào)壓運(yùn)行曲線，能夠進(jìn)行設(shè)定曲線的存儲(chǔ)和調(diào)用，一次可以輸入多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的環(huán)境參數(shù)運(yùn)行接著，按照測(cè)試點(diǎn)輸入的先后順序開(kāi)始測(cè)試。
監(jiān)控監(jiān)控系統(tǒng)的各重要組成部分的運(yùn)行狀況，包括是否過(guò)壓或者過(guò)溫，則停止測(cè)試，以免損壞設(shè)備或者被測(cè)部件，同時(shí)實(shí)時(shí)地監(jiān)測(cè)顯示溫度、濕度、拉偏電壓的狀態(tài)；停止需要停止的時(shí)候，可以采用人為干預(yù)停止。
生成測(cè)試結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告，報(bào)告中包括被測(cè)部件信息、測(cè)試員、測(cè)試時(shí)間、以及各測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果等等，測(cè)試報(bào)告參見(jiàn)圖5。
結(jié)束所有測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完畢，釋放資源(A/D卡和D/A卡)，關(guān)閉溫濕度控制箱，退出程序。
本發(fā)明所述方法的關(guān)鍵所在就是如何形成溫度、濕度和電壓拉偏三個(gè)測(cè)試要素，即如何形成多角(Multi corner)測(cè)試，其中涉及到高溫低壓正拉偏、高溫高壓正拉偏、高溫低壓負(fù)拉偏、高溫高壓正拉偏等等各種組合。通過(guò)以三方面的組合，可以模擬出在各種惡劣環(huán)境下PC機(jī)是否能夠接受考驗(yàn)而正常運(yùn)行，從而確保被測(cè)部件的可靠性。
圖3在三維坐標(biāo)系中描繪出了一部分測(cè)試點(diǎn)。分別以溫度、濕度和電壓拉偏幅度為坐標(biāo)軸，構(gòu)成了一個(gè)三維坐標(biāo)系，每一測(cè)試點(diǎn)在該坐標(biāo)系中具有唯一對(duì)應(yīng)點(diǎn)。按照測(cè)試順序依次連接便會(huì)形成了四角測(cè)試。如果輸入更多的測(cè)試點(diǎn)，則會(huì)形成更多角的測(cè)試。
圖4給出的是本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)中顯示的主界面，是對(duì)硬盤或者光驅(qū)進(jìn)行檢測(cè)的界面；包括3.3V監(jiān)視器、5V監(jiān)視器、12V監(jiān)視器和溫濕度監(jiān)視器；其中，以3.3V監(jiān)視器為例子，在測(cè)量過(guò)程中，該監(jiān)視器分別用白色和紅色曲線分別地實(shí)時(shí)顯示設(shè)定值和反饋值，這樣形成了明顯的對(duì)比，可以直觀地看出環(huán)境因素是否和設(shè)定值一致。5V和12V監(jiān)視器是同樣的作用。界面上還包括參數(shù)設(shè)置顯示部分用來(lái)顯示部分設(shè)定測(cè)試點(diǎn)的信息；過(guò)壓保護(hù)當(dāng)程控電源的輸出3.3V、5V和12V任何一路超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的±10％時(shí)，為防止損壞被測(cè)部件，啟動(dòng)保護(hù)電路，將程控電源強(qiáng)制關(guān)閉。
過(guò)溫保護(hù)防止測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的錯(cuò)誤操作或者溫濕度控制箱本身的調(diào)節(jié)問(wèn)題，而使環(huán)境溫度超出了被測(cè)部件所能承受的范圍，此時(shí)也是停止溫濕度控制箱的調(diào)節(jié)，終止測(cè)試。
圖5是本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)輸出的測(cè)試報(bào)告的例子，圖5給出的關(guān)于光驅(qū)的測(cè)試報(bào)告，包括被測(cè)部件的生產(chǎn)廠家和型號(hào)、測(cè)試點(diǎn)、溫度和濕度以及拉偏的幅度，最后給出了測(cè)試結(jié)論。
圖6是本發(fā)明所述測(cè)試方法的具體流程圖。
先進(jìn)行初始化；初始化結(jié)束后，開(kāi)始輸入測(cè)試的內(nèi)容及其參數(shù)；以下，以測(cè)試光驅(qū)為例結(jié)合附圖4的界面加以說(shuō)明。
首先，輸入測(cè)試內(nèi)容需要輸入光驅(qū)的型號(hào)、生產(chǎn)廠商、物料編號(hào)、測(cè)試員姓名信息，便于生成測(cè)試報(bào)告。
其次，下面界面輸入測(cè)試點(diǎn)的參數(shù)。諸多此類的測(cè)試點(diǎn)連接便形成所謂的多角測(cè)試。
允許Tmax(秒)是指被測(cè)系統(tǒng)啟動(dòng)后，正常情況下測(cè)試軟件運(yùn)行的可能最大時(shí)間，如果在該時(shí)間內(nèi)測(cè)試軟件運(yùn)行沒(méi)有結(jié)束，主控機(jī)強(qiáng)強(qiáng)制結(jié)束該測(cè)試點(diǎn)，準(zhǔn)備進(jìn)入下一測(cè)試點(diǎn)，同時(shí)認(rèn)為被測(cè)系統(tǒng)中部件在該測(cè)試點(diǎn)失敗。
測(cè)試點(diǎn)開(kāi)機(jī)時(shí)間間隔這里是指結(jié)束上一測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)入下一測(cè)試點(diǎn)之間的時(shí)間間隔，這是由溫濕度控制箱的規(guī)范操作所決定的。
然后，判斷是否進(jìn)行測(cè)試？進(jìn)行這一步的判斷是為了確認(rèn)參數(shù)設(shè)定是否正確，測(cè)試準(zhǔn)備工作是否完畢？在點(diǎn)擊“試機(jī)測(cè)試”或“運(yùn)行”后會(huì)彈出確認(rèn)提問(wèn)的，有時(shí)為了把握起見(jiàn)，都要“試機(jī)測(cè)試”來(lái)進(jìn)行確認(rèn)，而且有時(shí)該項(xiàng)是必須的，例如測(cè)量光驅(qū)，需要在“試機(jī)測(cè)試”中上電后，將光盤放入光驅(qū)內(nèi)的。有時(shí)新的主板在電壓拉偏的情況下都無(wú)法上電，如果“試機(jī)測(cè)試”中能發(fā)現(xiàn)該問(wèn)題的話，在這一步就沒(méi)有必要朝下進(jìn)行測(cè)試了。
接著，判斷與溫濕度控制箱的連接是否正確，設(shè)置并調(diào)節(jié)溫濕度；上述步驟完成后，開(kāi)始上電啟動(dòng)被測(cè)系統(tǒng)，運(yùn)行測(cè)試程序；運(yùn)行完畢后，檢查是否還有測(cè)試點(diǎn)需要測(cè)試，如果有，進(jìn)入下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)繼續(xù)上面的步驟；如果沒(méi)有，則釋放各種資源，主控機(jī)自動(dòng)關(guān)閉被測(cè)對(duì)象、電源和溫濕度控制箱；最后輸出測(cè)試報(bào)告。
最后所應(yīng)說(shuō)明的是以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明而非限制本發(fā)明的技術(shù)方案，盡管參照上述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解依然可以在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行修改或者等同替換，其任何修改或替換，均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，其特征在于包括主控機(jī)、溫濕度控制箱、程控拉偏電源、ATX電源單元、被測(cè)試部件；其中，所述主控機(jī)，用于控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的工作狀態(tài)，包括對(duì)溫控箱環(huán)境溫度和濕度的控制、電壓的拉偏幅度控制、被測(cè)系統(tǒng)的開(kāi)啟與關(guān)閉的控制；所述溫濕度控制箱，用于放置被測(cè)關(guān)鍵部件，通過(guò)接口與主控機(jī)連接，使得主控機(jī)可以控制溫濕度控制箱的運(yùn)行，監(jiān)視溫濕度控制箱的實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)，同時(shí)通過(guò)特定接口可以實(shí)時(shí)反饋溫濕度控制箱環(huán)境狀態(tài)；所述程控拉偏電源，實(shí)現(xiàn)被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件供電+3.3V、+5V、+12V的±6％、±5％的電壓拉偏供電；所述ATX電源單元，為系統(tǒng)的其他非被測(cè)試部件供給ATX電源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，其特征在于，所述主控機(jī)通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換卡進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，傳送主控機(jī)的控制信息，控制所述程控拉偏電源的輸出，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)部件供電電壓的拉偏。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，其特征在于，所述主控機(jī)通過(guò)開(kāi)關(guān)電路實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉被測(cè)試系統(tǒng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)，其特征在于，所述主控機(jī)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換卡實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)被測(cè)試部件的供電電壓，監(jiān)測(cè)電壓供給狀況是否正常。
5.一種對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，其特征在于，包括如下步驟初始化對(duì)溫控箱、A/D卡、D/A卡、程控電源電路進(jìn)行初始化設(shè)置；同時(shí)，對(duì)非被測(cè)部件部分進(jìn)行初始化；輸入被測(cè)部件的信息輸入被測(cè)部件的型號(hào)等相關(guān)信息；輸入各測(cè)試點(diǎn)的信息設(shè)定溫控箱的溫度、濕度運(yùn)行曲線和調(diào)壓運(yùn)行曲線，進(jìn)行設(shè)定曲線的存儲(chǔ)和調(diào)用；運(yùn)行并監(jiān)控監(jiān)控系統(tǒng)的各重要組成部分的運(yùn)行狀況，包括是否過(guò)壓或者過(guò)溫，則停止測(cè)試，以免損壞設(shè)備或者被測(cè)部件，同時(shí)實(shí)時(shí)的監(jiān)測(cè)顯示溫度、濕度、拉偏電壓的狀態(tài)；生成測(cè)試結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，其特征在于，當(dāng)所有測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完畢后，釋放A/D卡和D/A卡資源，關(guān)閉溫濕度控制箱，退出程序。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，其特征在于，所述各測(cè)試點(diǎn)信息輸入時(shí)，一次可以輸入多個(gè)測(cè)試點(diǎn)，按照測(cè)試點(diǎn)的環(huán)境參數(shù)以及輸入的先后順序開(kāi)始運(yùn)行測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的方法，其特征在于，所述運(yùn)行監(jiān)控過(guò)程中，需要停止的時(shí)候，可以采用人為干預(yù)停止。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種對(duì)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件測(cè)試的系統(tǒng)和方法，所述系統(tǒng)包括主控機(jī)，用于控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的工作狀態(tài)，包括對(duì)溫控箱環(huán)境溫度和濕度的控制、電壓的拉偏幅度控制、被測(cè)系統(tǒng)的開(kāi)啟與關(guān)閉的控制；溫濕度控制箱，使得主控機(jī)可以控制溫濕度控制箱的運(yùn)行，監(jiān)視溫濕度控制箱的實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)，同時(shí)可以實(shí)時(shí)反饋溫濕度控制箱環(huán)境狀態(tài)；可控拉偏電源，實(shí)現(xiàn)被測(cè)計(jì)算機(jī)關(guān)鍵部件供電+3.3V、+5V、+12V的±6％、±5％的電壓拉偏供電；電源單元，為系統(tǒng)的其它非測(cè)試部件供給ATX電源。采用本發(fā)明所述測(cè)試系統(tǒng)和方法，可以非常方便地考察PC機(jī)關(guān)鍵部件的可靠性，從而有效地控制了整體PC機(jī)的可靠性，適用于工業(yè)化大規(guī)模生產(chǎn)的可靠性檢測(cè)。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1567216SQ0313701
公開(kāi)日2005年1月19日 申請(qǐng)日期2003年6月11日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月11日
發(fā)明者樊小軍, 盧旭, 龔仲濤, 陳濤, 龔振青, 李磊 申請(qǐng)人:聯(lián)想(北京)有限公司