一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種采用陶瓷材料制成固定探針針盤的測試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前隨著移動(dòng)裝置對機(jī)體空間的高密度需求、效能的表現(xiàn)上、數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣燃胺€(wěn)定性，使得封裝尺寸更小的晶圓級(jí)封裝應(yīng)用于攝像頭模組，指紋識(shí)別模組等，這樣，存在的問題是:當(dāng)對更小封裝尺寸的芯片進(jìn)行測試時(shí)，其對測試連接器要求更高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種采用陶瓷針盤固定探針的測試座，便于測試小尺寸、高頻信號(hào)傳輸?shù)木A級(jí)封裝類型的芯片。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，包括:底座，設(shè)于底座上的下針盤，設(shè)于下針盤上的上針盤，一個(gè)或以上的探針組，每個(gè)探針組至少由兩根探針組成；組成探針組的每根探針下端設(shè)于下針盤的上表面內(nèi)，每組探針的上端穿過上針盤且每組探針的上端部位于上針盤的上表面之外。
[0005]進(jìn)一步，所述上針盤、下針盤均采用陶瓷材料制成。
[0006]還包括設(shè)于上針盤上的保護(hù)蓋，所述保護(hù)蓋內(nèi)設(shè)有橢圓形穿孔，每根探針的上端部位于橢圓形穿孔內(nèi)。
[0007]所述探針組為五個(gè)，每個(gè)探針組由九根探針組成。
[0008]所述底座上設(shè)有第一定位PIN，下針盤內(nèi)設(shè)有與第一定位PIN相結(jié)合的下定位孔；下針盤上表面上設(shè)有第二定位PIN，上針盤內(nèi)設(shè)有與第二定位PIN相結(jié)合的上定位孔。
[0009]本實(shí)用新型的有益技術(shù)效果:陶瓷材料制成的上、下針盤具有硬度高，耐高溫，耐磨損，耐腐蝕，絕緣好，質(zhì)量輕，導(dǎo)熱性能好，能對高要求的測試器件進(jìn)行連接測試。
【附圖說明】
[00?0]圖1為本實(shí)用新型的分解不意圖；
[0011]圖2為本實(shí)用新型的立體示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案，下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0013]如圖1-2所示，測試座包括:底座I，設(shè)于底座I上的下針盤2，設(shè)于下針盤上的上針盤3，一個(gè)或以上的探針組4，每個(gè)探針組至少由兩根探針組成;組成探針組4的每根探針下端設(shè)于下針盤2的上表面內(nèi)，每組探針的上端穿過上針盤且每組探針的上端部位于上針盤的上表面之外。
[0014]所述上針盤2、下針盤3均采用陶瓷材料制成。
[0015]為了更好的保護(hù)探針，還包括設(shè)于上針盤3上的保護(hù)蓋5，所述保護(hù)蓋內(nèi)設(shè)有橢圓形穿孔51，每根探針的上端部位于橢圓形穿孔51內(nèi)；保護(hù)蓋5采用透明材料制成。
[0016]在本實(shí)施例中，所述探針組4為五個(gè)，每個(gè)探針組由九根探針組成。探針組的數(shù)量設(shè)置，以及組成探針組的探針數(shù)量設(shè)置可以根據(jù)需要測試的芯片而確定。
[0017]所述底座I上設(shè)有第一定位PIN6，下針盤內(nèi)設(shè)有與第一定位PIN 6相結(jié)合的下定位孔21;下針盤上表面上設(shè)有第二定位PIN 7，上針盤3內(nèi)設(shè)有與第二定位PIN相結(jié)合的上定位孔31。
[0018]上、下針盤采用螺栓8固定在底座上。
[0019]雖然通過實(shí)施例描繪了本發(fā)明創(chuàng)造，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道，本實(shí)用新型有許多變形和變化而不脫離本實(shí)用新型的精神，希望所附的權(quán)利要求包括這些變形和變化而不脫離本實(shí)用新型的精神。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，其特征在于，包括:底座，設(shè)于底座上的下針盤，設(shè)于下針盤上的上針盤，一個(gè)或以上的探針組，每個(gè)探針組至少由兩根探針組成;組成探針組的每根探針下端設(shè)于下針盤的上表面內(nèi)，每組探針的上端穿過上針盤且每組探針的上端部位于上針盤的上表面之外。2.如權(quán)利要求1所述的一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，其特征在于，所述上針盤、下針盤均采用陶瓷材料制成。3.如權(quán)利要求1所述的一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，其特征在于，還包括設(shè)于上針盤上的保護(hù)蓋，所述保護(hù)蓋內(nèi)設(shè)有橢圓形穿孔，每根探針的上端部位于橢圓形穿孔內(nèi)。4.如權(quán)利要求1所述的一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，其特征在于，所述探針組為五個(gè)，每個(gè)探針組由九根探針組成。5.如權(quán)利要求1所述的一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，其特征在于，所述底座上設(shè)有第一定位PIN，下針盤內(nèi)設(shè)有與第一定位PIN相結(jié)合的下定位孔;下針盤上表面上設(shè)有第二定位PIN，上針盤內(nèi)設(shè)有與第二定位PIN相結(jié)合的上定位孔。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種設(shè)有陶瓷針盤的測試座，包括：底座，設(shè)于底座上的下針盤，設(shè)于下針盤上的上針盤，一個(gè)或以上的探針組，每個(gè)探針組至少由兩根探針組成；組成探針組的每根探針下端設(shè)于下針盤的上表面內(nèi)，每組探針的上端穿過上針盤且每組探針的上端部位于上針盤的上表面之外。陶瓷材料制成的上、下針盤具有硬度高，耐高溫，耐磨損，耐腐蝕,絕緣好，質(zhì)量輕，導(dǎo)熱性能好，能對高要求的測試器件進(jìn)行連接測試。
【IPC分類】G01R1/04, G01R1/073
【公開號(hào)】CN205246710
【申請?zhí)枴緾N201521076669
【發(fā)明人】羅小珊, 謝后勇
【申請人】深圳市邦樂達(dá)科技有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請日】2015年12月21日