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偏光光測(cè)定裝置及偏光光照射裝置的制造方法

文檔序號(hào):10078846閱讀:610來(lái)源:國(guó)知局
偏光光測(cè)定裝置及偏光光照射裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型的實(shí)施方式涉及一種偏光光測(cè)定裝置及偏光光照射裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在進(jìn)行液晶顯示元件的配向膜(alignment film)、或視角補(bǔ)償膜(film)的配向膜等的配向處理時(shí),對(duì)被照射體照射規(guī)定波長(zhǎng)的偏光光。
[0003]這種配向處理方法被稱(chēng)為光配向(optical alignment)法。
[0004]為了進(jìn)行廣范圍的配向處理而需要長(zhǎng)的偏光元件,但難以制造長(zhǎng)的偏光元件。
[0005]因此,使用呈直線(xiàn)狀排列設(shè)置的多個(gè)偏光元件進(jìn)行配向處理。
[0006]然而,如果使用多個(gè)偏光元件,則可能會(huì)因安裝誤差等而導(dǎo)致照射至被照射體的偏光光的偏光方向產(chǎn)生不均。
[0007]因此,提出有如下技術(shù):使用被稱(chēng)為檢偏元件(analyzer)的偏光元件(polarizer)來(lái)測(cè)定偏光光的偏光方向的不均,并基于測(cè)定結(jié)果而進(jìn)行偏光方向的調(diào)整。
[0008]此處,在使用光配向法的情況下,優(yōu)選也測(cè)定照射至被照射體的偏光光的光量。
[0009]在測(cè)定偏光光的光量的情況下,如果安裝有檢偏元件,則無(wú)法準(zhǔn)確地測(cè)定偏光光的光量。
[0010]因此,在測(cè)定偏光光的偏光方向時(shí),作業(yè)人員將檢偏元件安裝于檢測(cè)部,且在測(cè)定偏光光的光量時(shí),作業(yè)人員將檢偏元件從檢測(cè)部卸除。
[0011]然而,如果作業(yè)人員進(jìn)行檢偏元件的安裝及卸除,則在測(cè)定偏光光的偏光方向時(shí),有產(chǎn)生由安裝誤差所導(dǎo)致的測(cè)定誤差的擔(dān)憂(yōu)。
[0012]另外,為了測(cè)定偏光方向,提出有使用線(xiàn)狀體延伸的方向(透過(guò)軸的角度)不同的多種檢偏元件的技術(shù)。
[0013]然而,如果使用多種檢偏元件,則會(huì)導(dǎo)致偏光光測(cè)定裝置的大型化或高成本化。
[0014]另外,因?yàn)槠夥较虻臏y(cè)定精度取決于檢偏元件的種類(lèi)的數(shù)量,所以有無(wú)法進(jìn)行精度高的測(cè)定的擔(dān)憂(yōu)。
[0015]因此,期望開(kāi)發(fā)可精度佳地測(cè)定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的技術(shù)。
[0016][【背景技術(shù)】文獻(xiàn)]
[0017][專(zhuān)利文獻(xiàn)]
[0018][專(zhuān)利文獻(xiàn)1]日本專(zhuān)利特開(kāi)2014-10388號(hào)公報(bào)
[0019][專(zhuān)利文獻(xiàn)2]日本專(zhuān)利特開(kāi)2007-127567號(hào)公報(bào)【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0020][實(shí)用新型所要解決的課題]
[0021]本實(shí)用新型所要解決的課題在于提供一種可精度佳地測(cè)定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光測(cè)定裝置、及偏光光照射裝置。
[0022][解決課題的技術(shù)手段]
[0023]本實(shí)用新型的偏光光測(cè)定裝置具備:第一偏光元件,供偏光光入射;旋轉(zhuǎn)部,使所述第一偏光元件沿旋轉(zhuǎn)方向移動(dòng);光電轉(zhuǎn)換部,輸出與所接收到的光的光量對(duì)應(yīng)的電信號(hào);及移動(dòng)部,使所述第一偏光元件在第一位置與第二位置之間移動(dòng),所述第一位置是使所述偏光光經(jīng)由所述第一偏光元件入射至所述光電轉(zhuǎn)換部,所述第二位置是使所述偏光光直接入射至所述光電轉(zhuǎn)換部。
[0024]本實(shí)用新型的偏光光測(cè)定裝置,其中所述移動(dòng)部在測(cè)定所述偏光光的偏光方向時(shí),使所述第一偏光元件移動(dòng)至所述第一位置,且在測(cè)定所述偏光光的光量時(shí),使所述第一偏光元件移動(dòng)至所述第二位置。
[0025]本實(shí)用新型的偏光光測(cè)定裝置,其中所述第一偏光元件設(shè)置有多個(gè)線(xiàn)狀體,所述多個(gè)線(xiàn)狀體含有硅。
[0026]本實(shí)用新型的偏光光照射裝置具備:光源,具有沿規(guī)定方向延伸的形態(tài);多個(gè)第二偏光元件,沿所述光源延伸的方向排列設(shè)置,且使從所述光源出射的光為偏光光;及任一種所述的偏光光測(cè)定裝置,所述偏光光測(cè)定裝置設(shè)置于與所述多個(gè)第二偏光元件的所述光源側(cè)相反的一側(cè)。
[0027]本實(shí)用新型的的偏光光照射裝置,其中所述第二偏光元件設(shè)置有多個(gè)線(xiàn)狀體,所述多個(gè)線(xiàn)狀體含有硅。
[0028][實(shí)用新型效果]
[0029]根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式,可提供一種可精度佳地測(cè)定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光測(cè)定裝置、及偏光光照射裝置。
【附圖說(shuō)明】
[0030]圖1是用以例示本實(shí)施方式的偏光光測(cè)定裝置1、及偏光光照射裝置100的示意立體圖。
[0031]圖2是用以例示本實(shí)施方式的偏光光測(cè)定裝置1的示意剖視圖。
[0032]圖3是用以例示偏光部102的示意俯視圖。
[0033]圖4是用以例不利用偏光光照射裝置100產(chǎn)生偏光光Lp、及利用偏光光測(cè)定裝置1測(cè)定偏光光Lp的偏光方向的不意立體圖。
[0034][符號(hào)的說(shuō)明]
[0035]1:偏光光測(cè)定裝置
[0036]2、102:偏光部
[0037]3:檢測(cè)部
[0038]4、22:移動(dòng)部
[0039]5、104:控制部
[0040]20、10如:偏光元件
[0041]21:保持部
[0042]21a:主體部
[0043]21al:孔
[0044]21b:保持爪
[0045]30:光電轉(zhuǎn)換部
[0046]31:旋轉(zhuǎn)部
[0047]31a:安裝部
[0048]31b、102c3a、102c4a:基部
[0049]40:第一移動(dòng)部
[0050]41:第二移動(dòng)部
[0051]100:偏光光照射裝置
[0052]101:照射部
[0053]101a:光源
[0054]101b:反射器
[0055]102b、102c:保持部件
[0056]102bl、102b2:凹部
[0057]102b3:中心線(xiàn)
[0058]102cl:框部
[0059]102c2:支撐部
[0060]102c3:彈性部
[0061]102c3b:盤(pán)簧
[0062]102c4:調(diào)整部
[0063]102c4b:突出部
[0064]103:搬送部
[0065]200:被照射體
[0066]B、C:方向
[0067]D:突出長(zhǎng)度
[0068]L:光
[0069]Lp、Lpp:偏光光
[0070]R:軸
【具體實(shí)施方式】
[0071]實(shí)施方式的實(shí)用新型是一種偏光光測(cè)定裝置,該偏光光測(cè)定裝置具備:第一偏光元件,供偏光光入射;旋轉(zhuǎn)部,使所述第一偏光元件沿旋轉(zhuǎn)方向移動(dòng);光電轉(zhuǎn)換部,輸出與所接收到的光的光量對(duì)應(yīng)的電信號(hào);及移動(dòng)部,使所述第一偏光元件在第一位置與第二位置之間移動(dòng),所述第一位置是使所述偏光光經(jīng)由所述第一偏光元件入射至所述光電轉(zhuǎn)換部,所述第二位置是使所述偏光光直接入射至所述光電轉(zhuǎn)換部。
[0072]根據(jù)該偏光光測(cè)定裝置,能夠精度佳地測(cè)定偏光光的偏光方向及偏光光的光量。
[0073]所述移動(dòng)部在測(cè)定所述偏光光的偏光方向時(shí),可使所述第一偏光元件移動(dòng)至所述第一位置。
[0074]所述移動(dòng)部在測(cè)定所述偏光光的光量時(shí),可使所述第一偏光元件移動(dòng)至所述第二位置。
[0075]如此一來(lái),與作業(yè)人員進(jìn)行第一偏光元件的安裝及卸除的情況相比,可顯著地提高再現(xiàn)性。
[0076]另外,設(shè)置于所述第一偏光元件的多個(gè)線(xiàn)狀體可設(shè)為含有硅(silicon)。
[0077]如此一來(lái),可提高消光比(extinct1n rat1),因此,可精度更佳地測(cè)定偏光光的偏光方向。
[0078]實(shí)施方式的實(shí)用新型是一種偏光光照射裝置,該偏光光照射裝置具備:光源,具有沿規(guī)定方向延伸的形態(tài);多個(gè)第二偏光元件,沿所述光源延伸的方向排列設(shè)置,且使從所述光源出射的光為偏光光;及所述偏光光測(cè)定裝置,設(shè)置于與所述多個(gè)第二偏光元件的所述光源側(cè)相反的一側(cè)。
[0079]根據(jù)該偏光光照射裝置,可精度佳地測(cè)定偏光光的偏光方向及偏光光的光量。
[0080]因此,可提尚生廣性。
[0081]另外,設(shè)置于所述第二偏光元件的多個(gè)線(xiàn)狀體可設(shè)為含有硅。
[0082]如此一來(lái),可提高消光比,因此,可精度更佳地測(cè)定
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