Lcd的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及IXD技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種IXD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有LCD廠對(duì)LCD的開路進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，都是在電測(cè)工序由測(cè)試人員將半成品逐一放在測(cè)試架上進(jìn)行測(cè)試，挑選出不良品。
[0003]該測(cè)試方法存在的問題是不能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)由Ho來料或產(chǎn)線異常導(dǎo)致的批量性異常，比如由Ho來料問題導(dǎo)致的微斷路寬度在1-2微米，如果依靠在前工程酸刻工序用傳統(tǒng)的顯微鏡進(jìn)行大面積人工檢查，幾乎是不可能發(fā)現(xiàn)此類不良的，如果在電測(cè)工序即使能夠發(fā)現(xiàn)，也已經(jīng)造成批量報(bào)廢；而且由于此種不良屬于可靠性問題，良品實(shí)際也是做報(bào)廢處理，無法出貨，如此會(huì)給工廠造成高額的不良質(zhì)量成本和交期延誤。
[0004]針對(duì)上述技術(shù)中存在的不足之處，本實(shí)用新型提供一種使用方便、簡單通用、節(jié)省材料、成本低及適用范圍廣的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種IXD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，包括IXD掩膜版和萬用表，所述LCD掩膜版的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路，每組測(cè)試線路均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元，每組測(cè)試線路的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極，且每個(gè)測(cè)試點(diǎn)電極均電連接至萬用表。
[0006]其中，所述S形線路單元包括縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路兩種；且每組測(cè)試線路中的縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路間隔分布；且縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路之間通過測(cè)試點(diǎn)電極連接。
[0007]其中，所述縱向排布式S形線路包括位于兩端的兩個(gè)第一 L形連接線和位于兩個(gè)第一 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第一方形連接線，多個(gè)第一方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第一方形連接線的X方向長度小于I方向長度。
[0008]其中，所述橫向排布式S形線路包括位于兩端的兩個(gè)第二 L形連接線和位于兩個(gè)第二 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第二方形連接線，多個(gè)第二方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第二方形連接線的X方向長度大于I方向長度。
[0009]其中，所述LCD掩膜版為四邊形LCD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測(cè)試線路的數(shù)量為兩組；且每組測(cè)試線路的S形線路單元的數(shù)量為五個(gè)。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的IXD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，在LCD掩膜版的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路，每組測(cè)試線路均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元，每組測(cè)試線路的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極，該結(jié)構(gòu)的改進(jìn)，加大檢測(cè)面積，方便生產(chǎn)線QC進(jìn)行檢測(cè)，且使得測(cè)試線路的精度、密度和線路長度都遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于LCD產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì)要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設(shè)計(jì)方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測(cè)出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設(shè)計(jì)不會(huì)殘留在產(chǎn)品上面，對(duì)成品完全沒有任何影響。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型的IXD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)的立體圖；
[0012]圖2為本實(shí)用新型中測(cè)試線路的結(jié)構(gòu)圖；
[0013]圖3為本實(shí)用新型中縱向排布式S形線路的結(jié)構(gòu)圖；
[0014]圖4為本實(shí)用新型中橫向排布式S形線路的結(jié)構(gòu)圖。
[0015]主要元件符號(hào)說明如下:
[0016]1、LCD掩膜版2、測(cè)試線路
[0017]3、萬用表21、S形線路單元
[0018]22、測(cè)試點(diǎn)電極211、縱向排布式S形線路
[0019]212、橫向排布式S形線路2111、第一 L形連接線
[0020]2112、第一方形連接線2121、第二 L形連接線
[0021]2122、第二方形連接線。
【具體實(shí)施方式】
[0022]為了更清楚地表述本實(shí)用新型，下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地描述。
[0023]請(qǐng)參閱圖1-2，本實(shí)用新型的IXD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，包括IXD掩膜版I和萬用表3，IXD掩膜版I的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路2，每組測(cè)試線路2均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元21，每組測(cè)試線路2的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元21之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極22，且每個(gè)測(cè)試點(diǎn)電極22均電連接至萬用表3。
[0024]相較于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本實(shí)用新型提供的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，在LCD掩膜版I的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路2，每組測(cè)試線路2均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元21，每組測(cè)試線路2的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極22，該結(jié)構(gòu)的改進(jìn)，加大檢測(cè)面積，方便生產(chǎn)線QC進(jìn)行檢測(cè)，且使得測(cè)試線路的精度、密度和線路長度都遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于LCD產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì)要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設(shè)計(jì)方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測(cè)出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設(shè)計(jì)不會(huì)殘留在產(chǎn)品上面，對(duì)成品完全沒有任何影響。
[0025]請(qǐng)進(jìn)一步參閱圖3-4，S形線路單元21包括縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212兩種；且每組測(cè)試線路2中的縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212間隔分布；且縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212之間通過測(cè)試點(diǎn)電極22連接。縱向排布式S形線路211包括位于兩端的兩個(gè)第一 L形連接線2111和位于兩個(gè)第一 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第一方形連接線2112，多個(gè)第一方形連接線2112平行分布且首尾依次相連；且第一方形連接線2112的X方向長度小于y方向長度；兩個(gè)第一 L形連接線2111和位于兩個(gè)第一 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第一方形連接線2112之間形成了 S形。橫向排布式S形線路212包括位于兩端的兩個(gè)第二 L形連接線2121和位于兩個(gè)第二 L形連接線2121之間的多個(gè)縱向排布的第二方形連接線2122，多個(gè)第二方形連接線2122平行分布且首尾依次相連；且第二方形連接線2122的x方向長度大于y方向長度。
[0026]在本實(shí)施例中，IXD掩膜版I為四邊形IXD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測(cè)試線路2的數(shù)量為兩組；且每組測(cè)試線路2的S形線路單元21的數(shù)量為五個(gè)。當(dāng)然，本案中并不局限于上述測(cè)試線路2和S形線路單元21的數(shù)量；可根據(jù)LCD掩膜版I面積的大小及形狀選擇不同的測(cè)試線路2的數(shù)量。
[0027]本案中IXD掩膜版設(shè)計(jì)成四方形，且四周設(shè)計(jì)8組測(cè)試線路，每組測(cè)試線路有5小組沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元，這些線路首尾相連，連接處設(shè)置測(cè)試點(diǎn)電極，方便生產(chǎn)線QC進(jìn)行檢測(cè)。這8組測(cè)試線路的精度、密度和線路長度都遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于LCD產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì)要求，這40個(gè)覆蓋了沿xy兩的方向的線路排布，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設(shè)計(jì)方向情況。那么，如果因生產(chǎn)原材料、設(shè)備或工藝等原因?qū)е伦儺?，產(chǎn)生高比例開路，則這40個(gè)S形線路單元會(huì)先出現(xiàn)異常，由于設(shè)計(jì)的一致性和規(guī)律性，開路異常會(huì)很及時(shí)的被發(fā)現(xiàn)。本案提供一種通用性的、結(jié)構(gòu)簡單的、使用方便的、節(jié)省測(cè)試時(shí)間的掩膜版設(shè)計(jì)方案，利用這種設(shè)計(jì)和一臺(tái)普通萬用表，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測(cè)出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，從而達(dá)到提前、快速、及時(shí)的發(fā)現(xiàn)問題，控制問題并立即改善問題的品質(zhì)控制效果；而且此設(shè)計(jì)不會(huì)殘留在產(chǎn)品上面，對(duì)成品完全沒有任何影響。且本案具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、簡單通用、節(jié)省材料、成本低及適用范圍廣等特點(diǎn)。
[0028]以上公開的僅為本實(shí)用新型的幾個(gè)具體實(shí)施例，但是本實(shí)用新型并非局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括LCD掩膜版和萬用表，所述LCD掩膜版的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路，每組測(cè)試線路均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元，每組測(cè)試線路的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極，且每個(gè)測(cè)試點(diǎn)電極均電連接至萬用表。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述S形線路單元包括縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路兩種；且每組測(cè)試線路中的縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路間隔分布；且縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路之間通過測(cè)試點(diǎn)電極連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述縱向排布式S形線路包括位于兩端的兩個(gè)第一 L形連接線和位于兩個(gè)第一 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第一方形連接線，多個(gè)第一方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第一方形連接線的X方向長度小于I方向長度。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述橫向排布式S形線路包括位于兩端的兩個(gè)第二 L形連接線和位于兩個(gè)第二 L形連接線之間的多個(gè)縱向排布的第二方形連接線，多個(gè)第二方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第二方形連接線的X方向長度大于I方向長度。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述LCD掩膜版為四邊形LCD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測(cè)試線路的數(shù)量為兩組；且每組測(cè)試線路的S形線路單元的數(shù)量為五個(gè)。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種LCD的開路不良在線監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)包括LCD掩膜版和萬用表，LCD掩膜版的留邊區(qū)域設(shè)有多組測(cè)試線路，每組測(cè)試線路均包括多個(gè)沿xy兩個(gè)方向的S形線路單元，每組測(cè)試線路的首尾兩端及每相鄰兩個(gè)S形線路單元之間均連接有測(cè)試點(diǎn)電極，且每個(gè)測(cè)試點(diǎn)電極均電連接至萬用表。本實(shí)用新型加大檢測(cè)面積，方便生產(chǎn)線QC進(jìn)行檢測(cè)，且使得測(cè)試線路的精度、密度和線路長度都遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于LCD產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì)要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設(shè)計(jì)方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測(cè)出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設(shè)計(jì)不會(huì)殘留在產(chǎn)品上面，對(duì)成品完全沒有任何影響。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號(hào)】CN204925296
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520591534
【發(fā)明人】楊錦喜
【申請(qǐng)人】龍川耀宇科技有限公司
【公開日】2015年12月30日
【申請(qǐng)日】2015年8月8日