一種支撐圈密封圈檢具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于閥門類檢具技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種支撐圈密封圈檢具。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對(duì)于支撐圈密封圈的檢測(cè)一般依賴于投影儀這種高精度，高成本檢測(cè)設(shè)備。雖然投影儀得出的結(jié)果比較準(zhǔn)確，但是其高昂的成本、復(fù)雜的操作、較慢的效率并不適合大批量、高效率、低成本的要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題，提供了一種使用方便，且檢測(cè)迅速的支撐圈密封圈檢具。
[0004]本實(shí)用新型的目的可通過下列技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):一種支撐圈密封圈檢具，其特征在于:所述的檢具上設(shè)有徑向檢測(cè)單元和厚度檢測(cè)單元，所述的徑向檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干環(huán)形檢測(cè)槽，檢測(cè)槽槽底水平設(shè)置，檢測(cè)槽槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽槽口寬度大于檢測(cè)槽槽底寬度，所述的厚度檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干缺口狀卡槽，卡槽槽底豎直設(shè)置，且卡槽具有卡槽槽壁一和卡槽槽壁二，所述的卡槽槽壁一高于卡槽槽壁二，所述的卡槽槽壁一呈二級(jí)臺(tái)階狀，且卡槽槽口寬度大于卡槽槽底寬度。
[0005]使用時(shí)，首先將密封圈置于檢測(cè)槽內(nèi)以檢測(cè)密封圈徑向大小，由于檢測(cè)槽槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽槽口寬度大于檢測(cè)槽槽底寬度，臺(tái)階狀的檢測(cè)槽槽壁為密封圈徑向檢測(cè)允許的誤差空間；若密封圈置于檢測(cè)槽槽口和槽底之間，徑向即為合格；之后拿出密封圈，使用卡槽檢測(cè)密封圈厚度，將密封圈貼在槽壁二上并伸入卡槽內(nèi)，二級(jí)臺(tái)階狀的卡槽槽壁一即為密封圈厚度允許的誤差空間，若密封圈置于卡槽槽口和槽底之間，厚度即為合格；因此本檢具檢測(cè)較為方便，能快速進(jìn)行測(cè)量。
[0006]在上述的一種支撐圈密封圈檢具中，所述的檢測(cè)槽槽深比檢測(cè)槽槽口寬度大，所述的卡槽槽深比卡槽槽口寬度大。
[0007]因此能保證密封圈整體置于檢測(cè)槽內(nèi)，或者一側(cè)整體置于卡槽內(nèi)，使得檢驗(yàn)準(zhǔn)確。
[0008]在上述的一種支撐圈密封圈檢具中，所述的檢具包括若干相互套設(shè)的圓柱狀硬質(zhì)金屬檢塊，所述的檢塊能向上拉伸成臺(tái)階狀，所述的檢測(cè)槽設(shè)在檢塊頂面上，所述的卡槽設(shè)在檢塊周向面上。
[0009]通過伸縮狀的檢塊設(shè)計(jì)，便于攜帶本檢具。
[0010]在上述的一種支撐圈密封圈檢具中，所述的檢測(cè)槽和卡槽上分別設(shè)有對(duì)應(yīng)密封圈型號(hào)的標(biāo)記。
[0011]因此能快速確定密封圈型號(hào)。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn):
[0013]使用時(shí)，首先將密封圈置于檢測(cè)槽內(nèi)以檢測(cè)密封圈徑向大小，由于檢測(cè)槽槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽槽口寬度大于檢測(cè)槽槽底寬度，臺(tái)階狀的檢測(cè)槽槽壁為密封圈徑向檢測(cè)允許的誤差空間；若密封圈置于檢測(cè)槽槽口和槽底之間，徑向即為合格；之后拿出密封圈，使用卡槽檢測(cè)密封圈厚度，將密封圈貼在槽壁二上并伸入卡槽內(nèi)，二級(jí)臺(tái)階狀的卡槽槽壁一即為密封圈厚度允許的誤差空間，若密封圈置于卡槽槽口和槽底之間，厚度即為合格；因此本檢具檢測(cè)較為方便，能快速進(jìn)行測(cè)量。
【附圖說明】
[0014]圖1是本檢具主視圖。
[0015]圖2是本檢具俯視圖。
[0016]圖中，
[0017]1、檢塊；
[0018]2、檢測(cè)槽；
[0019]3、卡槽；
[0020]4、標(biāo)記。
【具體實(shí)施方式】
[0021]以下是本實(shí)用新型的具體實(shí)施例并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步的描述，但本實(shí)用新型并不限于這些實(shí)施例。
[0022]如圖1和2所示，本實(shí)用新型一種支撐圈密封圈檢具，檢具上設(shè)有徑向檢測(cè)單元和厚度檢測(cè)單元，徑向檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干環(huán)形檢測(cè)槽2，檢測(cè)槽2槽底水平設(shè)置，檢測(cè)槽2槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽2槽口寬度大于檢測(cè)槽2槽底寬度，厚度檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干缺口狀卡槽3，卡槽3槽底豎直設(shè)置，且卡槽3具有卡槽3槽壁一和卡槽3槽壁二，卡槽3槽壁一高于卡槽3槽壁二，卡槽3槽壁一呈二級(jí)臺(tái)階狀，且卡槽3槽口寬度大于卡槽3槽底寬度。
[0023]進(jìn)一步的，檢測(cè)槽2槽深比檢測(cè)槽2槽口寬度大，卡槽3槽深比卡槽3槽口寬度大。檢具包括若干相互套設(shè)的圓柱狀硬質(zhì)金屬檢塊1，檢塊I能向上拉伸成臺(tái)階狀，檢測(cè)槽2設(shè)在檢塊I頂面上，卡槽3設(shè)在檢塊I周向面上。檢測(cè)槽2和卡槽3上分別設(shè)有對(duì)應(yīng)密封圈型號(hào)的標(biāo)記4。
[0024]使用時(shí)，首先將密封圈置于檢測(cè)槽2內(nèi)以檢測(cè)密封圈徑向大小，由于檢測(cè)槽2槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽2槽口寬度大于檢測(cè)槽槽底寬度，臺(tái)階狀的檢測(cè)槽2槽壁為密封圈徑向檢測(cè)允許的誤差空間；若密封圈置于檢測(cè)槽2槽口和槽底之間，徑向即為合格；之后拿出密封圈，使用卡槽3檢測(cè)密封圈厚度，將密封圈貼在槽壁二上并伸入卡槽3內(nèi)，二級(jí)臺(tái)階狀的卡槽3槽壁一即為密封圈厚度允許的誤差空間，若密封圈置于卡槽3槽口和槽底之間，厚度即為合格；因此本檢具檢測(cè)較為方便，能快速進(jìn)行測(cè)量。
[0025]本文中所描述的具體實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型精神作舉例說明。本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)所描述的具體實(shí)施例做各種各樣的修改或補(bǔ)充或采用類似的方式替代，但并不會(huì)偏離本實(shí)用新型的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。
[0026]盡管本文較多地使用了檢塊1、檢測(cè)槽2、卡槽3、標(biāo)記4等術(shù)語，但并不排除使用其它術(shù)語的可能性。使用這些術(shù)語僅僅是為了更方便地描述和解釋本實(shí)用新型的本質(zhì)；把它們解釋成任何一種附加的限制都是與本實(shí)用新型精神相違背的。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種支撐圈密封圈檢具，其特征在于:所述的檢具上設(shè)有徑向檢測(cè)單元和厚度檢測(cè)單元，所述的徑向檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干環(huán)形檢測(cè)槽(2)，檢測(cè)槽(2)槽底水平設(shè)置，檢測(cè)槽(2)槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽(2)槽口寬度大于檢測(cè)槽(2)槽底寬度，所述的厚度檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干缺口狀卡槽(3)，卡槽(3)槽底豎直設(shè)置，且卡槽(3)具有卡槽(3)槽壁一和卡槽(3)槽壁二，所述的卡槽(3)槽壁一高于卡槽(3)槽壁二，所述的卡槽(3)槽壁一呈二級(jí)臺(tái)階狀，且卡槽(3)槽口寬度大于卡槽(3)槽底寬度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種支撐圈密封圈檢具，其特征在于:所述的檢測(cè)槽(2)槽深比檢測(cè)槽⑵槽口寬度大，所述的卡槽⑶槽深比卡槽⑶槽口寬度大。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種支撐圈密封圈檢具，其特征在于:所述的檢具包括若干相互套設(shè)的圓柱狀硬質(zhì)金屬檢塊(I)，所述的檢塊(I)能向上拉伸成臺(tái)階狀，所述的檢測(cè)槽(2)設(shè)在檢塊(I)頂面上，所述的卡槽(3)設(shè)在檢塊(I)周向面上。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種支撐圈密封圈檢具，其特征在于:所述的檢測(cè)槽(2)和卡槽(3)上分別設(shè)有對(duì)應(yīng)密封圈型號(hào)的標(biāo)記(4)。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種支撐圈密封圈檢具，屬于閥門類檢具技術(shù)領(lǐng)域。它解決了現(xiàn)有密封圈檢測(cè)成本高的問題。本支撐圈密封圈檢具，檢具上設(shè)有徑向檢測(cè)單元和厚度檢測(cè)單元，徑向檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干環(huán)形檢測(cè)槽，檢測(cè)槽槽底水平設(shè)置，檢測(cè)槽槽壁呈二級(jí)臺(tái)階狀，且檢測(cè)槽槽口寬度大于檢測(cè)槽槽底寬度，厚度檢測(cè)單元包括根據(jù)密封圈型號(hào)設(shè)置的若干缺口狀卡槽，卡槽槽底豎直設(shè)置，且卡槽具有卡槽槽壁一和卡槽槽壁二，卡槽槽壁一高于卡槽槽壁二，卡槽槽壁一呈二級(jí)臺(tái)階狀，且卡槽槽口寬度大于卡槽槽底寬度。若密封圈置于檢測(cè)槽槽口和槽底之間，徑向即為合格；若密封圈置于卡槽槽口和槽底之間，厚度即為合格；本檢具檢測(cè)較為方便。
【IPC分類】G01B5/06, G01B5/08
【公開號(hào)】CN204630521
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520321805
【發(fā)明人】高長(zhǎng)友, 周祥, 王恒偉, 查文煒
【申請(qǐng)人】阜寧縣中洲閥門有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請(qǐng)日】2015年5月18日