一種缺相檢測(cè)電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測(cè)電路技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種缺相檢測(cè)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，很多設(shè)備都是三相供電的，如果發(fā)生缺相的話可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備不能正常工作甚至燒壞設(shè)備等危害，如果產(chǎn)生高的懸浮電壓甚至?xí)?duì)人身造成傷害，故及早發(fā)現(xiàn)缺相可把危害降到最低。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種缺相檢測(cè)電路，該缺相檢測(cè)電路可及早發(fā)現(xiàn)三相電路缺相，降低危害，該電路安全可靠，電路簡(jiǎn)單，成本低，適用各種設(shè)備電源的缺相檢測(cè)。
[0004]本實(shí)用新型的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0005]提供一種缺相檢測(cè)電路，用于檢測(cè)三相電路是否缺相，三相電路包括A相、B相和C相，其特征在于:包括三個(gè)降壓電路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分別經(jīng)三個(gè)降壓電路后分別接至可控硅的三個(gè)極，所述光耦的發(fā)光器串接于可控硅的導(dǎo)通回路，可控硅導(dǎo)通，則光耦的發(fā)光器發(fā)光，光耦的受光器的集電極輸出電平信號(hào)。
[0006]所述降壓電路分別為第一降壓電路、第二降壓電路和第三降壓電路，所述第一降壓電路為第一電容C2。
[0007]所述第二降壓電路為第二電容C3。
[0008]所述第三降壓電路為第三電容C4。
[0009]還包括報(bào)警電路，所述報(bào)警電路接于所述可控硅的導(dǎo)通回路。
[0010]所述報(bào)警電路包括發(fā)光二極管LED1。
[0011]所述第一電容的兩端并聯(lián)有第一電阻R10。
[0012]所述第二電容的兩端并聯(lián)有第二電阻Rl I。
[0013]所述第三電容的兩端并聯(lián)有第三電阻R12。
[0014]所述B相和C相之間接有電容Cl。
[0015]本實(shí)用新型的有益效果:
[0016]1、本實(shí)用新型的缺相檢測(cè)電路，將三相電路的A相、B相和C相分別經(jīng)三個(gè)降壓電路后分別接至可控硅的三個(gè)極，所述光耦的發(fā)光器串接于可控硅的導(dǎo)通回路，可控硅導(dǎo)通，則光耦的發(fā)光器發(fā)光，光耦的受光器的集電極輸出電平信號(hào)，通過(guò)觀察輸出的電平信號(hào)可及早發(fā)現(xiàn)三相電路缺相，把危害降到最低，可將輸出的電平信號(hào)送至外部處理器，比如DSP，由DSP作出處理。
[0017]2、市電高電壓和電源信號(hào)通過(guò)光耦Ul進(jìn)行隔離，安全可靠。
[0018]3、本實(shí)用新型的電路只需要一個(gè)光耦就可實(shí)現(xiàn)，電路簡(jiǎn)單，成本較低，適用各種設(shè)備電源的缺相檢測(cè)。
[0019]4、對(duì)于頻率較低的50Hz交流電而言，在電容上產(chǎn)生的熱能損耗很小，因此效率尚O
[0020]5、本實(shí)用新型的體積小。
【附圖說(shuō)明】
[0021]利用附圖對(duì)實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0022]圖1是本實(shí)用新型的一種缺相檢測(cè)電路的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0024]本實(shí)施例的一種缺相檢測(cè)電路，用于檢測(cè)三相電路是否缺相，三相電路包括A相、B相和C相，本實(shí)施例包括三個(gè)降壓電路、可控硅SCRl和光耦Ul，A相、B相和C相分別經(jīng)三個(gè)降壓電路后分別接至可控硅的三個(gè)極，所述光耦Ul的發(fā)光器串接于可控硅的導(dǎo)通回路，可控娃導(dǎo)通，則光親Ul的發(fā)光器發(fā)光，光親Ul的受光器的集電極輸出電平信號(hào)。
[0025]所述降壓電路分別為第一降壓電路、第二降壓電路和第三降壓電路。
[0026]如圖1所示，所述第一降壓電路為第一電容C2，所述第二降壓電路為第二電容C3，所述第三降壓電路為第三電容C4，第一電容C2、第二電容C3和第三電容C4為無(wú)極性電容。
[0027]本實(shí)施例還包括報(bào)警電路，所述報(bào)警電路接于所述可控硅的導(dǎo)通回路，所述報(bào)警電路包括發(fā)光二極管LEDl。
[0028]所述第一電容的兩端并聯(lián)有第一電阻R10，所述第二電容的兩端并聯(lián)有第二電阻R11，所述第三電容的兩端并聯(lián)有第三電阻R12，電阻R10、電阻Rll和電阻R12為電容泄放電阻。
[0029]所述B相和C相之間接有電容Cl，電容Cl可防止存在擾動(dòng)電壓。
[0030]本實(shí)施例的電阻Rl至4起進(jìn)一步降壓的作用。
[0031]本實(shí)施例的工作原理如下:
[0032]1.當(dāng)三相電正常時(shí)
[0033]A相，B相，C相通過(guò)電容降壓后分別連接可控硅SCRl的A, G，K極時(shí)，三相電正常時(shí)可控硅SCRl將在半個(gè)周期內(nèi)導(dǎo)通，發(fā)光二極管LEDl將發(fā)出正常亮光，光耦Ul的1，2腳發(fā)光，3，4腳導(dǎo)通，此時(shí)光耦Ul的受光器的集電極輸出低電平，可控硅SCRl在另外半個(gè)周期不導(dǎo)通，光耦Ul的受光器的集電極輸出高電平，通過(guò)該電平信號(hào)可判斷三相電正常時(shí)輸出的是高低電平交替出現(xiàn)。
[0034]2.當(dāng)三相電異常時(shí)(缺相)時(shí)
[0035]A相，B相，C相通過(guò)電容降壓后分別連接可控硅SCRl的A，G, K極時(shí)，當(dāng)三相交流電缺相時(shí)(缺其中一相或者兩相時(shí))，此時(shí)可控娃SCRl截止，發(fā)光二極管LEDl不發(fā)光，光親Ul的1，2腳不發(fā)光，光耦Ul的3，4腳截止，此時(shí)光耦Ul的受光器的集電極的輸出一直為高電平，可判斷三相電異常。
[0036]本實(shí)施例的有益效果是:
[0037]1、通過(guò)本實(shí)施例的缺相檢測(cè)電路可及早發(fā)現(xiàn)三相電路缺相并發(fā)出光報(bào)警，把危害降到最低，同時(shí)通過(guò)發(fā)光二極管可以準(zhǔn)確判定是否缺相，或者將輸出的電平信號(hào)送至DSP，由DSP作出處理。
[0038]2、市電高電壓和電源信號(hào)通過(guò)光耦Ul進(jìn)行隔離，安全可靠。
[0039]3、本實(shí)施例的電路只需要一個(gè)光耦就可實(shí)現(xiàn)，電路簡(jiǎn)單，成本較低，適用各種設(shè)備電源的缺相檢測(cè)。
[0040]4、對(duì)于頻率較低的50Hz交流電而言，在電容上產(chǎn)生的熱能損耗很小，因此，效率尚O
[0041]5、本實(shí)施例的體積小。
[0042]最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作了詳細(xì)地說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種缺相檢測(cè)電路，用于檢測(cè)三相電路是否缺相，三相電路包括A相、B相和C相，其特征在于:包括三個(gè)降壓電路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分別經(jīng)三個(gè)降壓電路后分別接至可控硅的三個(gè)極，所述光耦的發(fā)光器串接于可控硅的導(dǎo)通回路，可控硅導(dǎo)通，則光耦的發(fā)光器發(fā)光，光耦的受光器的集電極輸出電平信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述降壓電路分別為第一降壓電路、第二降壓電路和第三降壓電路，所述第一降壓電路為第一電容C2。
3.如權(quán)利要求2所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述第二降壓電路為第二電容C3。
4.如權(quán)利要求3所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述第三降壓電路為第三電容C4。
5.如權(quán)利要求1所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:還包括報(bào)警電路，所述報(bào)警電路接于所述可控硅的導(dǎo)通回路。
6.如權(quán)利要求5所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述報(bào)警電路包括發(fā)光二極管 LEDlo
7.如權(quán)利要求2任意一項(xiàng)所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述第一電容的兩端并聯(lián)有第一電阻RlO。
8.如權(quán)利要求3所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述第二電容的兩端并聯(lián)有第二電阻RlI。
9.如權(quán)利要求4所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述第三電容的兩端并聯(lián)有第三電阻R12。
10.如權(quán)利要求1所述的一種缺相檢測(cè)電路，其特征在于:所述B相和C相之間接有電容Cl。
【專利摘要】一種缺相檢測(cè)電路，涉及檢測(cè)電路技術(shù)領(lǐng)域，其用于檢測(cè)三相電路是否缺相，三相電路包括A相、B相和C相，本實(shí)用新型包括三個(gè)降壓電路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分別經(jīng)三個(gè)降壓電路后分別接至可控硅的三個(gè)極，所述光耦的發(fā)光器串接于可控硅的導(dǎo)通回路，可控硅導(dǎo)通，則光耦的發(fā)光器發(fā)光，光耦的受光器的集電極輸出電平信號(hào)，該缺相檢測(cè)電路可及早發(fā)現(xiàn)三相電路缺相，降低危害，該電路安全可靠，電路簡(jiǎn)單，成本低，適用各種設(shè)備電源的缺相檢測(cè)。
【IPC分類】G01R29-16
【公開號(hào)】CN204515028
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520187982
【發(fā)明人】梁宇
【申請(qǐng)人】廣東易事特電源股份有限公司
【公開日】2015年7月29日
【申請(qǐng)日】2015年3月31日