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基于半導體制冷裝置的lm-80老化測試系統(tǒng)及控制方法

文檔序號:10611626閱讀:713來源:國知局
基于半導體制冷裝置的lm-80老化測試系統(tǒng)及控制方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于半導體制冷裝置的LM?80老化測試系統(tǒng),包括:測試箱和設于測試箱內(nèi)的控制器,測試箱內(nèi)還設有箱體溫度調節(jié)組件和燈殼溫度調節(jié)組件。本發(fā)明還提出了一種上述LM?80老化測試系統(tǒng)的控制方法。本發(fā)明能自動控制環(huán)境溫度和燈殼溫度,測試效率高且結果精確。
【專利說明】
基于半導體制冷裝置的LM-80老化測試系統(tǒng)及控制方法
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及LED燈珠老化測試技術領域,尤其涉及一種基于半導體制冷裝置的LM-80老化測試系統(tǒng)及控制方法?!颈尘凹夹g】
[0002]LED燈因具有環(huán)保、節(jié)能和壽命長的優(yōu)點,在各領域得到迅速的推廣和應用,有逐步取代傳統(tǒng)照明成為主要光源的趨勢。LED燈在認證時(如進行LM80標準認證)要進行嚴格的光衰和壽命測試,測試時要嚴格控制Led燈珠殼體溫度和環(huán)境溫度,要求環(huán)境溫度多殼體溫度-5°(:。11180測試要求在三個溫度下進行測試:55°(:(要求控制在53-55°(:)、85°(:(要求控制在83-85°C )、T3rd(要求控制-2,+0偏差)。
[0003]目前實驗室和封裝廠家都是用精密恒溫箱來實現(xiàn)Led燈珠殼的恒溫老化,例如公告號為CN201993423U的實用新型專利,公開了一種恒溫老化系統(tǒng),包括:容置老化產(chǎn)品的恒溫老化箱、與恒溫老化箱連接的老化控制子系統(tǒng)、及調節(jié)老化溫度的溫度調節(jié)單元,這種結構的恒溫老化系統(tǒng)只能通過溫度調節(jié)單元,調節(jié)恒溫箱的溫度高低,由于LED燈珠本身發(fā)熱量大,僅調控環(huán)境溫度無法滿足LED燈珠的測試要求,特別是針對大功率的LED燈珠,測試時容易出現(xiàn)燈殼過熱燒毀的情況,大大影響測試結果的準確性。
[0004]因此,如何設計一種能自動控制環(huán)境溫度和燈殼溫度的基于半導體制冷裝置的 LM-80老化測試系統(tǒng)及控制方法是業(yè)界亟待解決的技術問題。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決上述技術問題,本發(fā)明提出一種基于半導體制冷裝置的LM-80老化測試系統(tǒng)及控制方法,該LM-80老化測試系統(tǒng)能自動控制環(huán)境溫度和燈殼溫度,測試效率高且結果精確。
[0006]本發(fā)明采用的技術方案是,設計一種基于半導體制冷裝置的LM-80老化測試系統(tǒng), 包括:測試箱和設于測試箱內(nèi)的控制器,測試箱內(nèi)還設有箱體溫度調節(jié)組件和燈殼溫度調節(jié)組件。箱體溫度調節(jié)組件包括:與控制器連接的箱體溫度感應器和加熱棒,控制器接收箱體溫度感應器的檢測信號,并控制加熱棒的工作狀態(tài)。燈殼溫度調節(jié)組件包括:與控制器連接的燈殼溫度感應器和半導體制冷裝置,控制器接收箱體溫度感應器的檢測信號,并控制半導體制冷裝置的工作狀態(tài)。
[0007]控制器連接有人機界面,控制器接收箱體溫度感應器和燈殼溫度感應器的檢測信號,并發(fā)送至人機界面進行顯示。
[0008]測試箱內(nèi)還設有與控制器連接的濕度感應器,控制器接收濕度感應器的檢測信號,并發(fā)送至人機界面進行顯示。
[0009]在一實施例中,半導體制冷裝置包括:半導體制冷片、設置在半導體制冷片散熱側的散熱翅片、設置在散熱翅片外側的風扇,控制器控制半導體制冷片和風扇的工作狀態(tài)。
[0010]本發(fā)明還提出了一種上述LM-80老化測試系統(tǒng)的控制方法,包括以下步驟:步驟1、預先設定控制器內(nèi)的預設環(huán)境溫度和預設燈殼溫度;步驟2、控制器接收箱體溫度感應器檢測到的實時環(huán)境溫度,控制器接收燈殼溫度感應器檢測到實時燈殼溫度;步驟3、控制器將實時環(huán)境溫度與預設環(huán)境溫度進行比較,當實時環(huán)境溫度小于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒加熱,當實時環(huán)境溫度大于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒停止加熱;控制器將實時燈殼溫度與預設燈殼溫度進行比較,當實時燈殼溫度小于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置加熱,當實時燈殼溫度大于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置制冷。
[0011]與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明利用箱體溫度調節(jié)組件調節(jié)LED燈珠老化的環(huán)境溫度,利用燈殼溫度調節(jié)組件調節(jié)LED燈珠的燈殼溫度,環(huán)境溫度和燈殼溫度各自獨立調節(jié),滿足了 LED燈珠的LM-80測試要求,有效提高測試結果的準確性,燈殼溫度調節(jié)組件采用半導體技術,制冷反應速度快且效果好,LED燈珠發(fā)出熱量較大時能及時制冷散熱,適合大功率LED燈珠的老化測試?!靖綀D說明】[〇〇12]下面結合實施例和附圖對本發(fā)明進行詳細說明,其中:圖1是本發(fā)明的系統(tǒng)連接示意圖;圖2是本發(fā)明半導體制冷裝置的制冷側結構示意圖;圖3是本發(fā)明半導體制冷裝置的散熱側結構示意圖?!揪唧w實施方式】
[0013]如圖1所示,本發(fā)明提出的LM-80老化測試系統(tǒng),包括:測試箱和設于測試箱內(nèi)的控制器,測試箱內(nèi)還設有分別與控制器連接的箱體溫度調節(jié)組件和燈殼溫度調節(jié)組件,箱體溫度和燈殼溫度為兩個獨立的溫控系統(tǒng)??刂破鬟€連接有人機界面,使用時通過人機界面向控制器內(nèi)輸入控制參數(shù),再通過控制器自動完成溫度調節(jié)。
[0014]箱體溫度調節(jié)組件包括:與控制器連接的箱體溫度感應器和加熱棒,通過人機界面向控制器預先設定環(huán)境溫度,控制器接收箱體溫度感應器檢測到的環(huán)境溫度信號,對比之后調節(jié)加熱棒的工作狀態(tài),精確控制LED燈珠老化的環(huán)境溫度。一般情況下,由于在測試過程中箱體的溫度向外界散失,控制器會向加熱棒發(fā)出加熱指令,根據(jù)具體的環(huán)境溫度情況決定加熱量的多少。
[0015]燈殼溫度調節(jié)組件包括:與控制器連接的燈殼溫度感應器和半導體制冷裝置。通過人機界面向控制器預先設定燈殼溫度,控制器接收燈殼溫度感應器檢測到的環(huán)境溫度信號,對比之后調節(jié)半導體制冷裝置的工作狀態(tài),精確控制LED燈珠老化燈殼溫度,由于半導體制冷裝置的制冷反應速度快,散熱效果好,能有效防止LED燈珠過熱燒壞,適合大功率LED 燈的老化測試系統(tǒng)。一般情況下,由于LED燈珠點亮后會不斷的發(fā)熱,控制器會向半導體制冷裝置發(fā)出制冷指令,根據(jù)具體的燈殼溫度情況決定制冷量的多少。
[0016]如圖2、3所示,半導體制冷裝置包括:半導體制冷片1、依次設置在半導體制冷片1 散熱側的散熱翅片2和風扇3,通過風扇3加速散熱翅片2的熱量散出,控制器控制半導體制冷片1和風扇3的工作狀態(tài)。半導體制冷片1既能制冷又能加熱,使用一個片件就可以代替分立的加熱系統(tǒng)和制冷系統(tǒng),不需要任何制冷劑且可連續(xù)工作,工作時沒有震動及噪音,并且,半導體制冷片是電流換能型片件,通過輸入電流的控制,可實現(xiàn)高精度的溫度控制,便于組成自動控制系統(tǒng)。
[0017]較優(yōu)的,箱體內(nèi)還設有與控制器連接的濕度感應器,控制器將接收到的箱體溫度感應器檢測信號、燈殼溫度感應器的檢測信號及濕度感應器的檢測信號,發(fā)送至人機界面進行顯示。一般情況下,由于是LED燈珠的高溫老化測試,測試箱內(nèi)濕度一般均能滿足要求〈65%RH,控制器并不對濕度進行控制,即不進行加濕和除濕。
[0018]本發(fā)明還提出了一種上述LM-80老化測試系統(tǒng)的控制方法,包括以下步驟:
步驟1、預先設定控制器內(nèi)的預設環(huán)境溫度和預設燈殼溫度;
步驟2、控制器接收箱體溫度感應器檢測到的實時環(huán)境溫度,控制器接收燈殼溫度感應器檢測到實時燈殼溫度;
步驟3、控制器將實時環(huán)境溫度與預設環(huán)境溫度進行比較,當實時環(huán)境溫度小于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒加熱,加熱量的大小由PID控制,當實時環(huán)境溫度大于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒停止加熱;控制器將實時燈殼溫度與預設燈殼溫度進行比較,當實時燈殼溫度小于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置加熱,加熱量的大小由PID控制,當實時燈殼溫度大于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置制冷。
[0019]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權項】
1.一種基于半導體制冷裝置的LM-80老化測試系統(tǒng),包括:測試箱和設于測試箱內(nèi)的控制器,其特征在于,所述測試箱內(nèi)還設有箱體溫度調節(jié)組件和燈殼溫度調節(jié)組件; 所述箱體溫度調節(jié)組件包括:與所述控制器連接的箱體溫度感應器和加熱棒,所述控制器接收箱體溫度感應器的檢測信號,并控制加熱棒的工作狀態(tài); 所述燈殼溫度調節(jié)組件包括:與所述控制器連接的燈殼溫度感應器和半導體制冷裝置,所述控制器接收箱體溫度感應器的檢測信號,并控制半導體制冷裝置的工作狀態(tài)。2.如權利要求1所述的LM-80老化測試系統(tǒng),其特征在于,所述控制器連接有人機界面,所述控制器接收箱體溫度感應器和燈殼溫度感應器的檢測信號,并發(fā)送至人機界面進行顯不O3.如權利要求2所述的LM-80老化測試系統(tǒng),其特征在于,所述測試箱內(nèi)還設有與所述控制器連接的濕度感應器,所述控制器接收濕度感應器的檢測信號,并發(fā)送至人機界面進行顯示。4.如權利要求1至3任一項所述的LM-80老化測試系統(tǒng),其特征在于,所述半導體制冷裝置包括:半導體制冷片、設置在半導體制冷片散熱側的散熱翅片、設置在散熱翅片外側的風扇,所述控制器控制所述半導體制冷片和風扇的工作狀態(tài)。5.一種如上述任一項權利要求所述LM-80老化測試系統(tǒng)的控制方法,其特征在于,包括以下步驟: 步驟1、預先設定控制器內(nèi)的預設環(huán)境溫度和預設燈殼溫度; 步驟2、控制器接收箱體溫度感應器檢測到的實時環(huán)境溫度,控制器接收燈殼溫度感應器檢測到實時燈殼溫度; 步驟3、控制器將實時環(huán)境溫度與預設環(huán)境溫度進行比較,當實時環(huán)境溫度小于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒加熱,當實時環(huán)境溫度大于預設環(huán)境溫度時,控制器控制加熱棒停止加熱;控制器將實時燈殼溫度與預設燈殼溫度進行比較,當實時燈殼溫度小于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置加熱,當實時燈殼溫度大于預設燈殼溫度時,控制器控制半導體制冷裝置制冷。
【文檔編號】G01R31/44GK105974230SQ201610304154
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年5月10日
【發(fā)明人】韓麗芬
【申請人】倍科質量技術服務(東莞)有限公司
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