定義，則在隨后的附圖中不需 要對其進行進一步定義和解釋。
[0100] W上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何 熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明掲露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵 蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)W所述權(quán)利要求的保護范圍為準。
【主權(quán)項】
1. 一種紅外圖像非均勻性校正裝置，應(yīng)用于大口徑紅外成像系統(tǒng)，所述大口徑紅外成 像系統(tǒng)包括鏡頭鏡筒和探測器，其特征在于，所述裝置包括支架、反射鏡、熱源、光闌和處理 器； 所述支架一端安裝于所述鏡頭鏡筒上、另一端與所述反射鏡相連，所述熱源設(shè)于與所 述探測器相鄰位置處； 所述光闌設(shè)于所述熱源與所述反射鏡之間，所述熱源的輻射光經(jīng)所述光闌射向所述反 射鏡并經(jīng)所述反射鏡反射后進入所述鏡頭鏡筒中，所述探測器用于對進入所述鏡頭鏡筒中 的輻射光進行檢測； 所述處理器用于根據(jù)所述熱源溫度、光闌通光面積、所述大口徑紅外成像系統(tǒng)所處條 件下的標準光譜輻射數(shù)據(jù)得出所述光闌通光面積S與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的成像各像 元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi之間的yi-s關(guān)系曲線，以及與所述yi-s關(guān)系曲線對應(yīng)的福射強度Η與通光面 積S的y i-Η關(guān)系曲線，將所述y i-Η關(guān)系曲線中所有像元的低端點響應(yīng)統(tǒng)一修正y ' j，將所述 yi-H關(guān)系曲線中所有像元的高端點響應(yīng)統(tǒng)一修正y'k，得到響應(yīng)數(shù)據(jù)y'n與所述等效輻射強 度Η成線性關(guān)系的直線L，根據(jù)所述直線L上的y' n與所述yi-S關(guān)系曲線上的yn之間的映射關(guān) 系得到y(tǒng) ' n到y(tǒng)n的映射表，根據(jù)所述映射表將每個yn均映射為y ' n。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外圖像非均勻性校正裝置，其特征在于，所述反射鏡與所述 支架活動連接，所述反射鏡能沿所述支架調(diào)整角度。3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的紅外圖像非均勻性校正裝置，其特征在于，所述反射鏡與 所述支架可拆卸式連接或所述支架與所述鏡頭鏡筒可拆卸式連接。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的紅外圖像非均勻性校正裝置，其特征在于，所述熱源為高溫黑 體。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的紅外圖像非均勻性校正裝置，其特征在于，所述反射鏡為小口 徑平面全反射鏡或小口徑曲面全反射鏡。6. -種紅外圖像非均勻性校正方法，其特征在于，應(yīng)用于紅外圖像非均勻性校正裝置， 所述裝置應(yīng)用于大口徑紅外成像系統(tǒng)，所述大口徑紅外成像系統(tǒng)包括鏡頭鏡筒和探測器， 所述裝置包括支架、反射鏡、熱源、光闌和處理器;所述支架一端安裝于所述鏡頭鏡筒上、另 一端與所述反射鏡相連，所述熱源設(shè)于與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)相鄰位置處;所述光闌 設(shè)于所述熱源與所述反射鏡之間，所述熱源的輻射光經(jīng)所述光闌射向所述反射鏡并經(jīng)所述 反射鏡反射后進入所述鏡頭鏡筒中，所述方法包括： 所述探測器記錄在所述熱源溫度為Τ1時，不同通光面積S分別對應(yīng)的所述大口徑紅外 成像系統(tǒng)的成像各像元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi(i = l，2.. .Ν，Ν為探測器像元數(shù)），得到在所述熱源溫度 為Τ1時所述光闌通光面積S與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的成像各像元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi之間的同 步關(guān)系； 所述處理器根據(jù)所述光闌通光面積S與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的成像各像元響應(yīng)數(shù) 據(jù)yi之間的同步關(guān)系，繪制所述光闌通光面積S與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的成像各像元 響應(yīng)數(shù)據(jù)y i之間的y i -S關(guān)系曲線； 所述處理器根據(jù)所述大口徑紅外成像系統(tǒng)所處條件下的標準光譜輻射數(shù)據(jù)得出與所 述yi-S關(guān)系曲線對應(yīng)的輻射強度Η與通光面積S的yi-H關(guān)系曲線； 所述處理器將所述yi-H關(guān)系曲線中所有像元的低端點響應(yīng)統(tǒng)一修正y '」，將所述yi-H關(guān) 系曲線中所有像元的高端點響應(yīng)統(tǒng)一修正y'k，得到響應(yīng)數(shù)據(jù)y'n與所述等效輻射強度Η成線 性關(guān)系的直線L; 所述處理器根據(jù)所述直線L上的y'n與所述yi-S關(guān)系曲線上的yn之間的映射關(guān)系得到 y'n到y(tǒng)n的映射表； 所述處理器根據(jù)所述映射表將每個yn均映射為y'n。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的紅外圖像非均勻性校正方法，其特征在于，所述反射鏡與所述 支架可拆卸式連接或所述支架與所述鏡頭鏡筒可拆卸式連接，所述處理器根據(jù)所述大口徑 紅外成像系統(tǒng)所處條件下的標準光譜輻射數(shù)據(jù)得出與所述yi-S關(guān)系曲線對應(yīng)的輻射強度Η 與通光面積S的yi-H關(guān)系曲線的步驟包括： 所述處理器記錄所述大口徑紅外成像系統(tǒng)指向第一區(qū)域時，所述大口徑紅外成像系統(tǒng) 的指向角度a和測量數(shù)據(jù)y'; 所述處理器獲得光譜輻射計在指向角度a下與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)同步測量所述 第一區(qū)域所得的標準光譜輻射數(shù)據(jù)hi，所述光譜輻射計的光譜測量范圍大于所述大口徑紅 外成像系統(tǒng)的光譜響應(yīng)范圍； 所述處理器在所述yi-S關(guān)系曲線上標注所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)hi。8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的紅外圖像非均勻性校正方法，其特征在于，所述所述處理器根 據(jù)所述大口徑紅外成像系統(tǒng)所處條件下的標準光譜輻射數(shù)據(jù)得出與所述yi-S關(guān)系曲線對 應(yīng)的輻射強度Η與通光面積S的yi-H關(guān)系曲線的步驟還包括： 所述處理器獲得光譜輻射計在指向角度a下與所述大口徑紅外成像系統(tǒng)同步測量第二 區(qū)域所得的標準光譜輻射數(shù)據(jù)h2; 所述處理器在所述yi-S關(guān)系曲線上標注所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)h2,其中所述第二區(qū)域 為所述天空中與第一區(qū)域不同的另一區(qū)域。9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的紅外圖像非均勻性校正方法，其特征在于，所述處理器在所述 yi-S關(guān)系曲線上標注所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)hi的步驟包括： 所述處理器根據(jù)獲得的所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)hi和所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的光譜 響應(yīng)范圍，得到所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)hi的等效輻射強度H1; 所述處理器在所述yi-S關(guān)系曲線對應(yīng)yi值的橫軸上標注H1數(shù)值； 所述處理器在所述yi-S關(guān)系曲線上標注所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)h2的步驟包括： 所述處理器根據(jù)獲得的所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)h2和所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的光譜 響應(yīng)范圍，得到所述標準光譜輻射數(shù)據(jù)h2的等效輻射強度H2; 所述處理器在所述yi-S關(guān)系曲線對應(yīng)yi值的橫軸上標注H2數(shù)值； 所述處理器根據(jù)標注的所述等效輻射強度H1和所述等效輻射強度H2,得到輻射強度Η 與通光面積S的對應(yīng)關(guān)系，將所述yi-S關(guān)系曲線的橫坐標改寫成輻射強度單位Η，得到y(tǒng)i-H 關(guān)系曲線。10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的紅外圖像非均勻性校正方法，其特征在于，在所述探測器記 錄在所述熱源溫度為T1時，不同通光面積S分別對應(yīng)的所述大口徑紅外成像系統(tǒng)的成像各 像元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi之前，所述方法還包括，將所述大口徑紅外成像系統(tǒng)指向天空，調(diào)整所述反 射鏡和所述熱源的工作角度，在所述大口徑紅外成像系統(tǒng)瞄準所述熱源時固定所述反射鏡 和所述熱源。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種紅外圖像非均勻性校正方法及裝置，改善了現(xiàn)有技術(shù)中的非均勻校正方式不能很好適應(yīng)儀器非線性響應(yīng)的問題。該裝置應(yīng)用于大口徑紅外成像系統(tǒng)，大口徑紅外成像系統(tǒng)包括鏡頭鏡筒和探測器，裝置包括支架、反射鏡、熱源、光闌和處理器；熱源的輻射光經(jīng)光闌射向反射鏡并經(jīng)反射鏡反射后進入鏡頭鏡筒中，探測器用于對進入鏡頭鏡筒中的輻射光進行檢測；處理器用于得出光闌通光面積S與成像各像元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi之間的yi?S關(guān)系曲線，以及與yi?S關(guān)系曲線對應(yīng)的輻射強度H與通光面積S的yi?H關(guān)系曲線，并對yi?H關(guān)系曲線進行校正。該紅外圖像非均勻性校正方法及裝置，可以實現(xiàn)對儀器非線性響應(yīng)的校正，實施方便，易于推廣應(yīng)用。
【IPC分類】G01J5/00
【公開號】CN105716720
【申請?zhí)枴緾N201610076610
【發(fā)明人】姜志富
【申請人】姜志富
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2016年2月3日