按鍵型設(shè)備自動化測試電路和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明總體上涉及信息安全產(chǎn)品測試領(lǐng)域。具體地，本發(fā)明涉及一種按鍵型設(shè)備的自動化測試電路和方法。更具體地，本發(fā)明涉及一種按鍵型通用串行總線(USB)設(shè)備的自動化測試電路和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]按鍵型USB設(shè)備一般由通過帶有USB接口的SOC芯片作為主控芯片。SOC芯片通過檢測自身的某個管腳電平的高低來判斷相應(yīng)的某個按鍵是否被按下，并在判斷按鍵按下后執(zhí)行下一步操作。一個現(xiàn)有技術(shù)的帶有USB接口的SOC芯片按鍵檢測電路示例如圖1所示。SOC芯片的管腳4(Button I)連接到電阻器R2，再分別經(jīng)由電阻器Rl連接到工作電壓Vcc和經(jīng)由按鍵Kl連接到地。SOC芯片的管腳7(Botton 2)連接到電阻器R4，再分別經(jīng)由電阻器R3連接到工作電壓Vcc和經(jīng)由按鍵K2連接到地。
[0003]當(dāng)按鍵K1、K2未被按下時，節(jié)點P1、P2的端電壓為高電平，SOC芯片從管腳4(Button1)、管腳7(Button 2)檢測到高電平。當(dāng)按鍵Kl、K2按下時，節(jié)點Pl、P2的電壓被拉低，SOC芯片從管腳4(Button I)、管腳7(Button 2)檢測到低電平。當(dāng)SOC芯片檢測到管腳4(Button1)、管腳7(Button 2)的電平變化時，認(rèn)為按鍵按下，進(jìn)而執(zhí)行后續(xù)流程。
[0004]目前，按鍵型USB設(shè)備(例如按鍵型網(wǎng)銀U盾)測試一般需要測試人員手動按鍵來完成測試流程，難以實現(xiàn)對按鍵型USB設(shè)備的長時間自動化測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的一個方面提供了一種按鍵型設(shè)備的自動化測試電路，該按鍵型設(shè)備包括芯片，該芯片的與第一按鍵相對應(yīng)的第一按鍵管腳連接到第一節(jié)點，該測試電路包括:控制器，該控制器在所述第一節(jié)點上施加高電平或低電平來模擬第一按鍵的按下或松開操作。通過使用這樣的按鍵型設(shè)備的自動化測試電路，可以避免對測試人員手動按鍵以完成測試流程的需要，提高測試效率和可靠性，從而實現(xiàn)對按鍵型設(shè)備的長時間自動化測試。
[0006]本發(fā)明的另一個方面提供了一種按鍵型設(shè)備的自動化測試方法，該按鍵型設(shè)備包括芯片，該芯片的與第一按鍵相對應(yīng)的第一按鍵管腳連接到第一節(jié)點，該測試方法包括:通過控制器在所述第一節(jié)點上施加高電平或低電平來模擬第一按鍵的按下或松開操作。通過使用這樣的按鍵型設(shè)備的自動化測試方法，可以避免對測試人員手動按鍵以完成測試流程的需要，提高測試效率和可靠性，從而實現(xiàn)對按鍵型設(shè)備的長時間自動化測試。
【附圖說明】
[0007]為了更完整地理解本發(fā)明及其優(yōu)勢，現(xiàn)在將參考結(jié)合附圖的以下描述，其中:
[0008]圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的帶有USB接口的SOC芯片按鍵檢測電路示例。
[0009]圖2示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的按鍵型USB設(shè)備的自動化測試電路的示意圖。
[0010]圖3示出了一種不同的按鍵結(jié)構(gòu)的示意圖。
【具體實施方式】
[0011]根據(jù)結(jié)合附圖對本發(fā)明示例性實施例的以下詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它方面、優(yōu)勢和突出特征對于本領(lǐng)域技術(shù)人員將變得顯而易見。
[0012]在本說明書中，下述用于描述本發(fā)明原理的各種實施例只是說明，不應(yīng)該以任何方式解釋為限制發(fā)明的范圍。參照附圖的下述描述用于幫助全面理解由權(quán)利要求及其等同物限定的本發(fā)明的示例性實施例。下述描述包括多種具體細(xì)節(jié)來幫助理解，但這些細(xì)節(jié)應(yīng)認(rèn)為僅僅是示例性的。因此，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)認(rèn)識到，在不背離本發(fā)明的范圍和精神的情況下，可以對本文中描述的實施例進(jìn)行多種改變和修改。此外，為了清楚和簡潔起見，省略了公知功能和結(jié)構(gòu)的描述。
[0013]參考圖2描述根據(jù)本發(fā)明實施例的按鍵型USB設(shè)備的自動化測試電路。應(yīng)當(dāng)指出的是，在此以按鍵型USB設(shè)備為例來闡述本發(fā)明，但是本發(fā)明可以等同地應(yīng)用于其它類型的按鍵型設(shè)備。該USB設(shè)備包括帶有USB接口的SOC芯片以及按鍵檢測電路。如圖2所示，SOC芯片的管腳4(Button I)經(jīng)由串聯(lián)連接的電阻器Rl和R2連接到工作電壓Vcc，管腳7(Button 2)經(jīng)由串聯(lián)連接的電阻器R3和R4連接到工作電壓Vcc。電阻器Rl和R2之間的第一節(jié)點Pl經(jīng)由第一按鍵Kl連接到地。電阻器R3和R4之間的第二節(jié)點P2經(jīng)由第二按鍵K2連接到地。該SOC芯片還可以包括數(shù)據(jù)輸入管腳1(D+)和數(shù)據(jù)輸入管腳2(D-)，用于與外部進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。該SOC芯片還可以包括時鐘管腳5(CLK)、復(fù)位管腳6(RST)、電源管腳0(Vcc、GND)等。
[0014]在圖2所示的實施例中，該自動化測試電路包括控制器，該控制器例如可以是現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)、單片機(jī)、或中央處理單元(CPU)等芯片。該控制器的管腳1(101)輸出第一控制電平，該第一控制電平施加到第一節(jié)點P1。在本實施例中，第一按鍵Kl按下時，第一節(jié)點Pl接地，從而第一節(jié)點Pl為低電平。第一按鍵Kl松開時，第一節(jié)點Pl連接到工作電壓Vcc，從而第一節(jié)點Pl為高電平。為模擬這種情況，在本實施例中，第一控制電平變?yōu)楦唠娖綄?yīng)于第一按鍵的松開操作，低電平對應(yīng)于第一按鍵的按下操作。但是，對于例如圖3所示的情況，第一按鍵Kl按下時，第一節(jié)點Pl連接到工作電壓Vcc，從而第一節(jié)點Pl為高電平。第一按鍵Kl松開時，第一節(jié)點Pl接地，從而第一節(jié)點Pl為低電平。在這種情況下，第一控制電平變?yōu)楦唠娖綄?yīng)于第一按鍵的按下操作，低電平對應(yīng)于第一按鍵的松開操作。因此，控制器通過控制第一控制電平為高電平或低電平，可以模擬第一按鍵的按下或松開操作。
[0015]如圖2所示，控制器還可以連接到驅(qū)動電路DRV，該驅(qū)動電路DRV根據(jù)控制器的驅(qū)動控制信號向第二節(jié)點P2施加第二控制電平。第二控制電平可以是高電平或低電平，以模擬第二按鍵K2的按下或松開操作。與第一按鍵Kl的情況