一種適用于塑料顆粒的分析天平的制作方法
【專利說明】一種適用于塑料顆粒的分析天平
[0001]
技術領域
[0002]本發(fā)明涉及塑料顆粒生產技術領域，尤其涉及一種適用于塑料顆粒的分析天平。
【背景技術】
[0003]分析天平一般是指能精確稱量到0.0001克的天平，它是定量分析工作中不可缺少的重要儀器，在塑料顆粒的生產中，通常需要使用分析天平對生產出來的塑料顆粒進行定量分析，但是現(xiàn)有分析天平在使用時都是通過人工將塑料顆粒、砝碼放置在托盤上，在對塑料顆粒和砝碼取出的過程中，極易使外界的雜質落在托盤上，嚴重影響測量分析的結果；而且如果由于人為原因使得塑料顆粒掉落在分析天平內部，給分析天平的清掃工作帶來很大的困難。

【發(fā)明內容】

[0004]根據以上技術問題，本發(fā)明提供一種測量精度高的適用于塑料顆粒的分析天平，包括擋風殼體、顯示裝置、支架、橫梁、左稱體、壓感元件、右稱體、稱重盤，其特征在于:還包括進氣口、氣路通道、噴氣頭、連接轉軸、接料箱，所述擋風殼體的上端開設有進氣口，所述擋風殼體的內部設有支架，所述支架的內部開設有氣路通道，所述氣路通道與進氣口連通，所述噴氣頭、顯示裝置安裝在支架上，所述橫梁安裝在支架上，所述橫梁的下端設有左稱體、右稱體，所述壓感元件安裝在左稱體的上端，所述稱重盤通過了連接轉軸安裝在右稱體的下端，所述右稱重盤的下端設有接料箱。
[0005]所述左稱體、右稱體對稱設置在橫梁的兩側。
[0006]所述左稱體、右稱體的體積、質量相同。
[0007]所述噴氣頭與氣路管道連通。
[0008]本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明在原有的分析天平上進行了改進，即將稱重盤通過連接轉軸安裝在右稱體的下端，還在稱重盤的下端增加了接料箱，測量完畢后連接轉軸帶動稱重盤旋轉，使得塑料顆粒依靠自身重力落入接料箱中，避免了人為取料時將雜物帶入擋風殼體的內部的情況，大大減小了稱重盤受到污染的可能性，從而增強了測量的精確性；還在支架的內部增加了氣路通道，在支架上增加了噴氣頭，當稱重盤上存有不能掉落的雜質時，從進氣口輸入氣體，氣體沿著氣路通道流動從噴氣頭噴出，將稱重盤上的雜質吹落到接料箱中，方便稱重盤和擋風殼體內部環(huán)境的清理。
【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明結構示意圖。
【具體實施方式】
[0010]根據圖1所示，對本發(fā)明進行進一步說明:
如圖1，擋風殼體-1、顯TK裝置-2、支架-3、橫梁-4、左稱體-5、壓感兀件-6、右稱體-7、稱重盤_8、進氣口 -9、氣路通道-10、噴氣頭-11、連接轉軸-12、接料箱-13。
[0011]實施例1
本發(fā)明包括擋風殼體1、顯示裝置2、支架3、橫梁4、左稱體6、壓感元件6、右稱體7、稱重盤8、進氣口 9、氣路通道10、噴氣頭11、連接轉軸12、接料箱13，安裝時首先在擋風殼體I的上端開設進氣口 9，在支架3的內部開設氣路通道10，然后將噴氣頭11安裝在支架3上，使的噴氣頭11與氣路管道連通，再將顯示裝置2安裝在支架3上，將支架3安裝在擋風殼體I的內部，使得氣路通道10與進氣口 9連通，然后將稱重盤8通過了連接轉軸12安裝在右稱體7的下端，將左稱體6、右稱體7安裝在橫梁4的下端，再將壓感元件6安裝在左稱體6的上端，將接料箱13安裝在右稱重盤8的下端，最后將橫梁4安裝在支架3上。
[0012]實施例2
使用時，將待測塑料顆粒從擋風殼體I的進料口放在稱重盤8上，使得原本平衡的左稱體6、右稱體7發(fā)生偏重，此時左稱體6上端的壓感元件6檢測到的壓力即為右稱體7上的塑料顆粒的重力，將檢測到的數(shù)據通過顯示裝置2顯示，測量完畢后連接轉軸12帶動稱重盤8旋轉，使得塑料顆粒依靠自身重力落入接料箱13中，當稱重盤8上存有不能掉落的雜質時，從進氣口 9輸入氣體，氣體沿著氣路通道10流動從噴氣頭11噴出，將稱重盤8上的雜質吹落到接料箱13中，方便稱重盤8的清理。
[0013]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出的是，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進，這些改進也應視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權項】
1.一種適用于塑料顆粒的分析天平，包括擋風殼體、顯示裝置、支架、橫梁、左稱體、壓感元件、右稱體、稱重盤，其特征在于:還包括進氣口、氣路通道、噴氣頭、連接轉軸、接料箱，所述擋風殼體的上端開設有進氣口，所述擋風殼體的內部設有支架，所述支架的內部開設有氣路通道，所述氣路通道與進氣口連通，所述噴氣頭、顯示裝置安裝在支架上，所述橫梁安裝在支架上，所述橫梁的下端設有左稱體、右稱體，所述壓感元件安裝在左稱體的上端，所述稱重盤通過了連接轉軸安裝在右稱體的下端，所述右稱重盤的下端設有接料箱。2.按照權利要求1所述的一種適用于塑料顆粒的分析天平，其特征在于:所述左稱體、右稱體對稱設置在橫梁的兩側。3.按照權利要求1所述的一種適用于塑料顆粒的分析天平，其特征在于:所述左稱體、右稱體的體積、質量相同。4.按照權利要求1所述的一種適用于塑料顆粒的分析天平，其特征在于:所述噴氣頭與氣路管道連通。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測量精度高的適用于塑料顆粒的分析天平，包括擋風殼體、顯示裝置、支架、橫梁、左稱體等，所述擋風殼體的上端開設有進氣口，所述擋風殼體的內部設有支架，所述支架的內部開設有氣路通道，所述氣路通道與進氣口連通，所述噴氣頭、顯示裝置安裝在支架上，所述橫梁安裝在支架上，所述橫梁的下端設有左稱體、右稱體，所述壓感元件安裝在左稱體的上端，所述稱重盤通過了連接轉軸安裝在右稱體的下端。本發(fā)明將稱重盤通過連接轉軸安裝在右稱體的下端，還在稱重盤的下端增加了接料箱，使得塑料顆粒依靠自身重力落入接料箱中，避免了人為取料時將雜物帶入的情況，從而增強了測量的精確性。
【IPC分類】G01G23/00
【公開號】CN105509857
【申請?zhí)枴緾N201410487176
【發(fā)明人】紀洪緒
【申請人】天津思邁德高分子科技有限公司
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2014年9月23日