一種晶閘管芯片門極測試工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明主要涉及到晶閘管芯片領(lǐng)域，特指一種用來對晶閘管芯片進行門極測試的工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]晶閘管芯片的門極參數(shù)ICT、Vct是晶閘管的重要參數(shù)。如圖1所示，為行業(yè)標準中用來測試門極觸發(fā)電流Ict和觸發(fā)電壓Vct的電路原理示意圖。從測試電路原理圖中可以看出，門極觸發(fā)電流ICT、門極觸發(fā)電壓Vct的測試需要在被測管芯的門陰極之間施加電信號，被測管芯陰陽極之間也需施加規(guī)定的斷態(tài)電壓。為了完成測試，需要有分別給予門極、陰極、陽極信號的接觸部件。因此，為了獲得晶閘管管芯的門極觸發(fā)電流Ict和觸發(fā)電壓VCT，目前行業(yè)中普遍采用工裝來完成門極觸發(fā)電流、電壓的測試。這類傳統(tǒng)的工裝包括升降臺、陰極頂針、門極頂針及陽極接觸銅塊。通過升降臺的上下動作來完成測試，門極信號、陰極信號通過導(dǎo)線輸出到被測管芯，管芯陽極面置于陽極接觸銅塊上，陽極信號由陽極接觸銅塊下方的導(dǎo)線給出。
[0003]但是，現(xiàn)有的工裝在使用過程中存在一些明顯的不足:
(O頂針接觸不良:頂針容易老化，使用一段時間后，不能達到100%良好接觸管芯門極；
(2)對心不準:工裝中無定位點，測試門極對準管心完全是憑手感，準確率不高，效率低下；
(3)易刮傷管芯:測試時需要雙手同時操作測試，左手提頂針，右手取管芯，節(jié)奏的配合不當便會刮傷管芯表面。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題就在于:針對現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種結(jié)構(gòu)簡單緊湊、制作方便、操作簡便、可提高測試效率和測試效果的晶閘管芯片門極測試工裝。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種晶閘管芯片門極測試工裝，包括測試夾具，所述測試夾具包括底座、蝶形定位器、門極頂針、陰極頂針及陰極頂針移動組件，所述蝶形定位器位于底座的上方，所述蝶形定位器上開設(shè)有用來放置待測試芯片的芯片卡槽，所述陰極頂針和門極頂針均安裝于底座內(nèi)且位于蝶形定位器的下方，所述門極頂針位于底座的中部且固定不動，所述芯片卡槽上設(shè)有與門極頂針配合的門極配合孔，所述陰極頂針安裝于陰極頂針移動組件上并可以在陰極頂針移動組件的驅(qū)動下沿著蝶形定位器的徑向方向運動，所述芯片卡槽上沿著徑向方向開設(shè)有供陰極頂針運動的陰極頂針移動槽。
[0006]作為本發(fā)明的進一步改進:所述芯片卡槽位于蝶形定位器的中間，呈圓形狀。
[0007]作為本發(fā)明的進一步改進:所述陰極頂針移動組件包括絲桿和移動部件，所述移動部件通過螺紋連接于絲桿上，所述陰極頂針安裝于移動部件上。
[0008]作為本發(fā)明的進一步改進:所述絲桿穿設(shè)于底座的側(cè)壁上，在所述絲桿遠離底座的一側(cè)上還設(shè)有調(diào)節(jié)旋鈕。
[0009]作為本發(fā)明的進一步改進:所述門極頂針通過安裝部件連接于絲桿上，所述安裝部件空套連接于絲桿上。
[0010]作為本發(fā)明的進一步改進:在芯片卡槽上設(shè)有限位部件，用來對放入芯片卡槽中的待測試芯片的放置位置進行限位。
[0011]作為本發(fā)明的進一步改進:所述蝶形定位器上設(shè)置一根以上的彈簧，所述彈簧的高度高于陰極頂針和門極頂針。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于:本發(fā)明的晶閘管芯片門極測試工裝，結(jié)構(gòu)簡單緊湊、制作方便、操作簡便，利用蝶形定位器可以確保待測試芯片的擺放位置，門極頂針設(shè)置在夾具內(nèi)固定不動，保證了對準性和接觸效果；可移動式的陰極頂針則是其適用于各種規(guī)格的管芯，大大擴展了其適用性。
【附圖說明】
[0013]圖1是測試門極觸發(fā)電流和觸發(fā)電壓的電路原理示意圖。
[0014]圖2是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理示意圖。
[0015]圖例說明:
1、調(diào)節(jié)旋鈕；2、陰極頂針；3、底座；4、蝶形定位器；401、芯片卡槽；5、陰極頂針移動槽；6、門極頂針；7、絲桿；8、移動部件；9、側(cè)壁；10、測試夾具。
【具體實施方式】
[0016]以下將結(jié)合說明書附圖和具體實施例對本發(fā)明做進一步詳細說明。
[0017]如圖2所示，本發(fā)明的一種晶閘管芯片門極測試工裝，包括測試夾具10，該測試夾具10包括底座3、蝶形定位器4、門極頂針6、陰極頂針2及陰極頂針移動組件，蝶形定位器4位于底座3的上方，蝶形定位器4上開設(shè)有用來放置待測試芯片的芯片卡槽401，用來確定待測試芯片的位置。陰極頂針2和門極頂針6均安裝于底座3內(nèi)且位于蝶形定位器4的下方。其中，門極頂針6位于底座3的中部且固定不動，芯片卡槽401上設(shè)有與門極頂針6配合的門極配合孔。陰極頂針2則安裝于陰極頂針移動組件上并可以在陰極頂針移動組件的驅(qū)動下沿著蝶形定位器4的徑向方向運動，芯片卡槽401上沿著徑向方向開設(shè)有供陰極頂針2運動的陰極頂針移動槽5。
[0018]芯片卡槽401位于蝶形定位器4的中間，呈圓形狀，起到定位的作用，可根據(jù)被測管芯的直徑制作。待測試芯片放入芯片卡槽401不會滑動，可實現(xiàn)一次性準確對心。且，門極配合孔的設(shè)計，能夠方便測試員輕松放置，取放測試管芯。在進行測試時，可以根據(jù)管芯直徑的大小來調(diào)節(jié)陰極頂針2的位置，進而實現(xiàn)了陰極頂針2與待測試芯片陰極面的準確定位接觸，保證了測試的準確性。
[0019]本實施例中，陰極頂針移動組件包括絲桿7和移動部件8，移動部件8通過螺紋連接于絲桿7上，陰極頂針2安裝于移動部件8上，通過絲桿7的轉(zhuǎn)動可以驅(qū)動移動部件8帶著陰極頂針2沿著芯片卡槽401的徑向方向運動。進一步，絲桿7穿設(shè)于底座3的側(cè)壁9上，在絲桿7遠離底座3的一側(cè)上還設(shè)有調(diào)節(jié)旋鈕1，便于操作。
[0020]本實施例中，為了便于安裝門極頂針6，將門極頂針6也通過安裝部件連接于絲桿7上，但是安裝部件為空套連接于絲桿7上，即在絲桿7運動時，不會產(chǎn)生位移。
[0021]本實施例中，蝶形定位器4可以根據(jù)管芯直徑制作大小不同的規(guī)格，以滿足不同管徑的需要，從而解決了原有工裝管芯對心難的問題，實現(xiàn)準確對心。進一步，還可以在芯片卡槽401上設(shè)有限位部件，用來對放入芯片卡槽401中的待測試芯片的放置位置進行限位，以保證測試效果。例如，限位部件可以為一個伸入芯片卡槽401的限位桿，利用限位桿伸入芯片卡槽401的位置對待測試芯片的擺放位置進行確定。
[0022]進一步，本發(fā)明還包括與測試夾具10配合的測試設(shè)備、氣動夾具及升降臺等，其均為常規(guī)設(shè)計，在此就不再贅述。
[0023]進一步，還可以在蝶形定位器4上設(shè)置一根以上的彈簧，彈簧的高度略高于陰極頂針2和門極頂針6，用來避免管芯表面被頂針刮傷。
[0024]工作原理:將待測試的芯片放置蝶形定位器4的芯片卡槽401上，按下測試設(shè)備的測試按鈕，此時測試設(shè)備的氣動夾具通過升降臺下降，接觸到待測芯片的陽極，待測芯片的陰極面將會接觸到本發(fā)明的陰極頂針2，而門極頂針6正好對準待測芯片的門極區(qū)，進行通電測試，從而獲得門極觸發(fā)電流Ict和觸發(fā)電壓VCT，并顯示在儀表上。
[0025]以上僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，本發(fā)明的保護范圍并不僅局限于上述實施例，凡屬于本發(fā)明思路下的技術(shù)方案均屬于本發(fā)明的保護范圍。應(yīng)當指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理前提下的若干改進和潤飾，應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種晶閘管芯片門極測試工裝，包括測試夾具(10)，其特征在于，所述測試夾具(10)包括底座(3)、蝶形定位器(4)、門極頂針(6)、陰極頂針(2)及陰極頂針移動組件，所述蝶形定位器(4)位于底座(3)的上方，所述蝶形定位器(4)上開設(shè)有用來放置待測試芯片的芯片卡槽(401)，所述陰極頂針(2)和門極頂針(6)均安裝于底座(3)內(nèi)且位于蝶形定位器(4)的下方，所述門極頂針(6)位于底座(3)的中部且固定不動，所述芯片卡槽(401)上設(shè)有與門極頂針(6)配合的門極配合孔，所述陰極頂針(2)安裝于陰極頂針移動組件上并可以在陰極頂針移動組件的驅(qū)動下沿著蝶形定位器(4)的徑向方向運動，所述芯片卡槽(401)上沿著徑向方向開設(shè)有供陰極頂針(2 )運動的陰極頂針移動槽(5 )。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，所述芯片卡槽(401)位于蝶形定位器(4)的中間，呈圓形狀。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，所述陰極頂針移動組件包括絲桿(7)和移動部件(8)，所述移動部件(8)通過螺紋連接于絲桿(7)上，所述陰極頂針(2)安裝于移動部件(8)上。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，所述絲桿(7)穿設(shè)于底座(3 )的側(cè)壁(9 )上，在所述絲桿(7 )遠離底座(3 )的一側(cè)上還設(shè)有調(diào)節(jié)旋鈕(I)。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，所述門極頂針(6)通過安裝部件連接于絲桿(7)上，所述安裝部件空套連接于絲桿(7)上。6.根據(jù)權(quán)利要求1?5中任意一項所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，在芯片卡槽(401)上設(shè)有限位部件，用來對放入芯片卡槽(401)中的待測試芯片的放置位置進行限位。7.根據(jù)權(quán)利要求1?5中任意一項所述的晶閘管芯片門極測試工裝，其特征在于，所述蝶形定位器(4)上設(shè)置一根以上的彈簧，所述彈簧的高度高于陰極頂針(2)和門極頂針(6)0
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種晶閘管芯片門極測試工裝，包括測試夾具，測試夾具包括底座、蝶形定位器、門極頂針、陰極頂針及陰極頂針移動組件，蝶形定位器位于底座的上方，蝶形定位器上開設(shè)有用來放置待測試芯片的芯片卡槽，陰極頂針和門極頂針均安裝于底座內(nèi)且位于蝶形定位器的下方，門極頂針位于底座的中部且固定不動，芯片卡槽上設(shè)有與門極頂針配合的門極配合孔，陰極頂針安裝于陰極頂針移動組件上并可以在陰極頂針移動組件的驅(qū)動下沿著蝶形定位器的徑向方向運動，芯片卡槽上沿著徑向方向開設(shè)有供陰極頂針運動的陰極頂針移動槽。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單緊湊、制作方便、操作簡便、可提高測試效率和測試效果等優(yōu)點。
【IPC分類】G01R31/26
【公開號】CN105137315
【申請?zhí)枴緾N201410230402
【發(fā)明人】鄧湘鳳, 賀堅, 方凌, 鄒培根, 沈顯長, 劉艷, 楊謙成, 嚴冰, 劉曉珍
【申請人】株洲南車時代電氣股份有限公司
【公開日】2015年12月9日
【申請日】2014年5月28日