混頻器變頻損耗的測試方法和系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及儀器性能測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種混頻器變頻損耗的測試方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]混頻器將兩道不同頻率的輸入信號(hào)混合成一道特定頻率的輸出信號(hào)，實(shí)現(xiàn)頻率轉(zhuǎn)換功能。混頻器作為接收機(jī)或者其他設(shè)備的重要組成部分，其性能的好壞直接影響設(shè)備和儀器的參數(shù)指標(biāo)，尤其是混頻器的變頻損耗，對(duì)整個(gè)設(shè)備的工作狀態(tài)有十分重要的影響。變頻損耗定義為在給定的LO(Local Oscillator本振頻率)下輸入頻率的功率與輸出頻率的功率之比，是混頻器如何有效地將輸入頻率能量變換成輸出頻率能量的測度，其中輸入頻率為 RF (Rad1 Frequency 射頻)，輸出頻率為 IF(Intermediate Frequency 中頻)。
[0003]混頻器的變頻損耗的測試受到L0、RF及端口間的匹配影響，測試難度較大。傳統(tǒng)的變頻損耗的測試方法包括:使用功率計(jì)、頻譜儀或者矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等測試儀器。采用功率計(jì)和頻譜儀測試變頻損耗需要使用兩臺(tái)信號(hào)源、功率計(jì)或者頻譜分析儀以及函數(shù)信號(hào)發(fā)生器，采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試變頻損耗需要使用一臺(tái)兩端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和一臺(tái)信號(hào)源或者內(nèi)含兩激勵(lì)源的四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，這兩種測試方法均需要人工手動(dòng)的對(duì)各種儀器進(jìn)行切換和設(shè)置，測試值還需要進(jìn)行后續(xù)的人工處理，費(fèi)時(shí)費(fèi)力。因此，傳統(tǒng)的變頻損耗的測試方法效率不高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]基于此，有必要針對(duì)上述問題，提供一種效率高的混頻器變頻損耗的測試方法和系統(tǒng)。
[0005]一種混頻器變頻損耗的測試方法，包括如下步驟:
[0006]設(shè)置混頻器的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)對(duì)應(yīng)的應(yīng)用參數(shù)；
[0007]與測試儀器進(jìn)行通訊，驅(qū)動(dòng)所述測試儀器根據(jù)所述應(yīng)用參數(shù)向所述混頻器輸入對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)；
[0008]獲取所述測試儀器返回的測試數(shù)據(jù)，其中，所述測試數(shù)據(jù)為所述混頻器根據(jù)所述本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)混頻處理后輸出的中頻信號(hào)功率；
[0009]計(jì)算所述應(yīng)用參數(shù)對(duì)應(yīng)的射頻信號(hào)功率和測試數(shù)據(jù)的比值，得到變頻損耗值。
[0010]一種混頻器變頻損耗的測試系統(tǒng)，包括:
[0011]參數(shù)設(shè)置模塊，用于設(shè)置混頻器的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)對(duì)應(yīng)的應(yīng)用參數(shù)；
[0012]驅(qū)動(dòng)測試模塊，用于與測試儀器進(jìn)行通訊，驅(qū)動(dòng)所述測試儀器根據(jù)所述應(yīng)用參數(shù)向所述混頻器輸入對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)；
[0013]數(shù)據(jù)采集模塊，用于獲取所述測試儀器返回的測試數(shù)據(jù)，其中，所述測試數(shù)據(jù)為所述混頻器根據(jù)所述本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)混頻處理后輸出的中頻信號(hào)功率；
[0014]數(shù)據(jù)處理模塊，用于計(jì)算所述應(yīng)用參數(shù)對(duì)應(yīng)的射頻信號(hào)功率和測試數(shù)據(jù)的比值，得到變頻損耗值。
[0015]上述的一種混頻器變頻損耗的測試方法和系統(tǒng)，通過驅(qū)動(dòng)測試儀器根據(jù)應(yīng)用參數(shù)向混頻器輸入對(duì)應(yīng)的射頻信號(hào)和本振頻率信號(hào)，獲取測試儀器返回的混頻器混頻輸出的測試數(shù)據(jù)，并計(jì)算應(yīng)用參數(shù)對(duì)應(yīng)的射頻信號(hào)和測試數(shù)據(jù)的比值得到變頻損耗值，實(shí)現(xiàn)了混頻器變頻損耗的自動(dòng)測試，降低人工勞動(dòng)強(qiáng)度，提高了效率。
【附圖說明】
[0016]圖1為其中一實(shí)施例中本發(fā)明混頻器變頻損耗的測試方法的流程圖；
[0017]圖2為另一實(shí)施例中混頻器變頻損耗的測試方法的流程圖；
[0018]圖3為一實(shí)施例中設(shè)置混頻器的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)對(duì)應(yīng)的應(yīng)用參數(shù)的流程圖；
[0019]圖4為本發(fā)明混頻器變頻損耗的測試系統(tǒng)的模塊圖；
[0020]圖5為一實(shí)施例中測試儀器與混頻器的連接示意圖；
[0021]圖6為另一實(shí)施例中混頻器變頻損耗的測試系統(tǒng)的模塊圖；
[0022]圖7為一實(shí)施例中通訊測試模塊的具體單元圖；
[0023]圖8為一實(shí)施例中參數(shù)設(shè)置模塊的具體單元圖；
[0024]圖9為應(yīng)用混頻器變頻損耗的測試系統(tǒng)的測試裝置圖；
[0025]圖10為通訊子VI的模塊框圖；
[0026]圖11為通訊子VI的程序框圖；
[0027]圖12為儀器驅(qū)動(dòng)子VI的界面示意圖；
[0028]圖13為計(jì)算機(jī)上運(yùn)行軟件的登陸界面示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]參考圖1，本發(fā)明一實(shí)施例的一種混頻器變頻損耗的測試方法，包括步驟SllO至步驟S170。
[0030]SllO:設(shè)置混頻器的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)對(duì)應(yīng)的應(yīng)用參數(shù)。
[0031]例如，工作人員可以人工輸入需要設(shè)置的對(duì)應(yīng)本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)的頻率點(diǎn)數(shù)，表示對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)。
[0032]S130:與測試儀器進(jìn)行通訊，驅(qū)動(dòng)測試儀器根據(jù)應(yīng)用參數(shù)向混頻器輸入對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)。
[0033]測試儀器指用于測試混頻器變頻損耗值的儀器。例如，測試儀器可以包括一臺(tái)兩端口的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和一臺(tái)信號(hào)源。本實(shí)施例中，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個(gè)端口連接混頻器的射頻信號(hào)輸入端口，用于提供射頻信號(hào)，另一個(gè)端口連接混頻器的中頻信號(hào)輸出端口，信號(hào)源連接本振頻率信號(hào)，用于向混頻器提供本振頻率信號(hào)?？梢岳斫猓谄渌膶?shí)施例中，測試儀器也可以是內(nèi)含兩激勵(lì)源的四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，此時(shí)，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀既提供射頻信號(hào)，又提供本振頻率信號(hào)。
[0034]S150:獲取測試儀器返回的測試數(shù)據(jù)，其中，測試數(shù)據(jù)為混頻器根據(jù)本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)混頻處理后輸出的中頻信號(hào)功率。
[0035]S170:計(jì)算應(yīng)用參數(shù)對(duì)應(yīng)的射頻信號(hào)功率和測試數(shù)據(jù)的比值，得到變頻損耗值。
[0036]在其中一實(shí)施例中，參考圖2，步驟SllO之前還包括步驟SlOO:檢測判斷與測試儀器的通訊是否正常，若是，則執(zhí)行步驟S110。若否，則可以發(fā)出報(bào)警信號(hào)告知工作人員通訊故障，以便及時(shí)處理。通過提前檢測是否通訊連接正常，排除接收不到測試儀器返回?cái)?shù)據(jù)的可能，提尚效率。
[0037]在其中一實(shí)施例中，步驟SlOO包括步驟sll至步驟sl3。
[0038]sll:向測試儀器發(fā)送檢測數(shù)據(jù)。例如，檢測數(shù)據(jù)可以是頻率點(diǎn)數(shù)。
[0039]sl2:判斷是否接收到測試儀器響應(yīng)檢測數(shù)據(jù)得到的反饋數(shù)據(jù)。若是，執(zhí)行步驟sl30
[0040]sl3:判定與測試儀器的通訊正常。
[0041]在其中一實(shí)施例中，參考圖3，步驟SllO包括步驟Slll至步驟S119。
[0042]Slll:獲取輸入的用戶名和用戶口令。
[0043]S113:判斷是否存儲(chǔ)有輸入的用戶名。若是，則執(zhí)行步驟S115。
[0044]S115:判斷輸入的用戶口令與存儲(chǔ)的用戶名對(duì)應(yīng)的口令是否一致。若是，則執(zhí)行步驟SI 17或執(zhí)行步驟SI 19。
[0045]存儲(chǔ)有輸入的用戶名，表示該用戶是允許登陸系統(tǒng)的。輸入的用戶口令與存儲(chǔ)的用戶名對(duì)應(yīng)的口令一致時(shí)，表示用戶通過驗(yàn)證，可以使用系統(tǒng)。具體地，若輸入的用戶口令與存儲(chǔ)的用戶名對(duì)應(yīng)的口令不一致時(shí)，可以輸出提示信息，通知用戶重新輸入用戶口令。
[0046]通過用戶名和用戶口令的驗(yàn)證，一個(gè)用戶名和用戶口令對(duì)應(yīng)一個(gè)文件夾，使得當(dāng)有多人使用系統(tǒng)時(shí)，避免測試互相干擾，避免相關(guān)測試人員測試出錯(cuò)和防止無關(guān)人員使用系統(tǒng)。
[0047]S117:接收輸入的對(duì)應(yīng)用戶名的參數(shù)，將參數(shù)設(shè)置為應(yīng)用參數(shù)。因此，用戶登陸后，可以重新設(shè)置應(yīng)用參數(shù)。
[0048]S119:根據(jù)用戶名，獲取存儲(chǔ)的對(duì)應(yīng)用戶名的參數(shù)，將存儲(chǔ)的參數(shù)中存儲(chǔ)時(shí)間最新的參數(shù)設(shè)置為應(yīng)用參數(shù)。即，可以調(diào)用對(duì)應(yīng)用戶名的參數(shù)設(shè)置為應(yīng)用參數(shù)，具體為調(diào)用用戶最近一次設(shè)置的應(yīng)用參數(shù)。因此，當(dāng)用戶登陸系統(tǒng)后，可以繼續(xù)進(jìn)行上一次的測試工作。
[0049]在其中一實(shí)施例中，步驟S130中，與測試儀器進(jìn)行通訊之后，驅(qū)動(dòng)測試儀器根據(jù)應(yīng)用參數(shù)向混頻器輸入對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)之前，還包括:向測試儀器發(fā)送校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，接收測試儀器響應(yīng)所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)返回的數(shù)據(jù)，判斷校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與返回的數(shù)據(jù)的誤差是否小于或等于預(yù)設(shè)誤差值，若是，則執(zhí)行驅(qū)動(dòng)測試儀器根據(jù)應(yīng)用參數(shù)向混頻器輸入對(duì)應(yīng)的本振頻率信號(hào)和射頻信號(hào)的步驟。若否，繼續(xù)發(fā)送校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，直到校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與返回的數(shù)據(jù)的誤差值小于或等于預(yù)設(shè)誤差值。通過儀器校準(zhǔn)，提高了數(shù)據(jù)傳輸?shù)木_度。
[0050]在其中一個(gè)實(shí)施例中，繼續(xù)參考圖2，步驟S170之后，還包括步驟S190:對(duì)變頻損耗值和預(yù)設(shè)指標(biāo)進(jìn)行比較處理，得到混頻器的性能分析報(bào)告。
[0051]預(yù)設(shè)指標(biāo)指一個(gè)頻率段的射頻信號(hào)對(duì)應(yīng)的理想變頻損耗值。將測得的變頻損耗值與預(yù)設(shè)指標(biāo)中的變頻損耗值進(jìn)行比較，即可得出混頻器的性能優(yōu)劣。
[0052]可以理解，步驟SllO中設(shè)置的應(yīng)用參數(shù)可以有多組，對(duì)應(yīng)的，每一組應(yīng)用參數(shù)可以得到步驟S170中的一個(gè)變頻損耗值。通過多個(gè)變頻損耗值的測試，可以得到各個(gè)頻率段內(nèi)的變頻損耗情況，從而進(jìn)行全面的性能評(píng)估。本實(shí)施例中，性