一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電工技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]中國(guó)專利89214620公布了 “一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀”，該測(cè)試儀只能完成變壓器變比的自動(dòng)測(cè)量和顯示，固有功能少，應(yīng)用范圍窄的缺陷。目前市場(chǎng)上存在的變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，一是給現(xiàn)場(chǎng)使用帶來(lái)極大的不方便，二是易受三相電源的供電質(zhì)量的影響，不能保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。本發(fā)明提供一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，具有現(xiàn)場(chǎng)使用方便、功能多、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、緊湊合理和成本較低等優(yōu)點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，以解決上述【背景技術(shù)】中提出的問(wèn)題。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，包括相位檢測(cè)電路、被試變壓器、單相/三相電源變換、單相電源、變壓比測(cè)量電路、MCU、外端設(shè)備、顯示屏和單片機(jī)，所述相位檢測(cè)電路與變壓比測(cè)量電路連接，所述被試變壓器與變壓比測(cè)量電路連接，所述單相/三相電源變換與變壓比測(cè)量電路連接，所述單相電源與變壓比測(cè)量電路，所述變壓比測(cè)量電路與MCU連接，MCU與顯示屏連接，所述MCU與單片機(jī)連接。
[0005]優(yōu)選的，所述顯示屏為液晶顯示屏。
[0006]優(yōu)選的，所述被試變壓器與單相/三相電源變換連接。
[0007]優(yōu)選的，所述相位檢測(cè)電路與被試變壓器連接。
[0008]優(yōu)選的，所述MCU6與外端設(shè)備連接。
[0009]優(yōu)選的，所述外端設(shè)備可與微型打印機(jī)連接。
[0010]優(yōu)選的，所述外端設(shè)備可與旋轉(zhuǎn)鼠標(biāo)連接。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:該變壓比自動(dòng)測(cè)試儀具有現(xiàn)場(chǎng)使用方便、功能多、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、緊湊合理和成本較低等優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖中:1、相位檢測(cè)電路，2、被試變壓器，3、單相/三相電源變換，4、單相電源，5、變壓比測(cè)量電路，6、MCU，7、外端設(shè)備，8、顯示屏和9、單片機(jī)。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0015]請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明提供一種技術(shù)方案:一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，包括相位檢測(cè)電路1、被試變壓器2、單相/三相電源變換3、單相電源4、變壓比測(cè)量電路5、MCU6、外端設(shè)備
7、顯示屏8和單片機(jī)9，所述相位檢測(cè)電路I與變壓比測(cè)量電路5連接，所述被試變壓器2與變壓比測(cè)量電路5連接，所述單相/三相電源變換3與變壓比測(cè)量電路5連接，所述單相電源4與變壓比測(cè)量電路5，所述變壓比測(cè)量電路5與MCU6連接，MCU6與顯示屏8連接，所述MCU6與單片機(jī)9連接。
[0016]工作原理:使用時(shí)，相位檢測(cè)電路I和單相/三相電源變換3處于工作狀態(tài)，MCU6控制變壓比測(cè)量電路5，測(cè)量出三個(gè)電壓矢量，然后，相位檢測(cè)電路I將輸入信號(hào)電壓信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換后的信號(hào)加到單片機(jī)7上進(jìn)行處理，運(yùn)算即可。
[0017]盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，包括相位檢測(cè)電路(I)、被試變壓器(2)、單相/三相電源變換(3)、單相電源(4)、變壓比測(cè)量電路(5)、MCU(6)、外端設(shè)備(7)、顯示屏⑶和單片機(jī)(9)，其特征在于:所述相位檢測(cè)電路(I)與變壓比測(cè)量電路(5)連接，所述被試變壓器(2)與變壓比測(cè)量電路(5)連接，所述單相/三相電源變換(3)與變壓比測(cè)量電路(5)連接，所述單相電源⑷與變壓比測(cè)量電路(5)，所述變壓比測(cè)量電路(5)與MCU(6)連接，MCU(6)與顯示屏(8)連接，所述MCU(6)與單片機(jī)(9)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述顯示屏(8)為液晶顯不屏O
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述被試變壓器(2)與單相/三相電源變換(3)連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述相位檢測(cè)電路(I)與被試變壓器(2)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述MCU6與外端設(shè)備(7)連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述外端設(shè)備(7)與微型打印機(jī)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于:所述外端設(shè)備(7)與旋轉(zhuǎn)鼠標(biāo)連接。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種變壓比自動(dòng)測(cè)試儀,包括相位檢測(cè)電路、被試變壓器、單相/三相電源變換、單相電源、變壓比測(cè)量電路、MCU、外端設(shè)備、顯示屏和單片機(jī)，所述相位檢測(cè)電路與變壓比測(cè)量電路連接，所述被試變壓器與變壓比測(cè)量電路連接，所述單相/三相電源變換與變壓比測(cè)量電路連接，所述單相電源與變壓比測(cè)量電路，所述變壓比測(cè)量電路與MCU連接，MCU與顯示屏連接，所述MCU與單片機(jī)連接。本發(fā)明具有現(xiàn)場(chǎng)使用方便、功能多、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、緊湊合理和成本較低等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01R29-20
【公開號(hào)】CN104880616
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510256117
【發(fā)明人】邱江濤, 曹暉, 聶威
【申請(qǐng)人】蘇州市華安普電力工程有限公司
【公開日】2015年9月2日
【申請(qǐng)日】2015年5月19日