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一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置的制造方法

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一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及一種鐵氧體電感測(cè)試裝置,特別是一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]2010年12月29日公布的申請(qǐng)?zhí)枮?01020140997.8號(hào)的中國(guó)實(shí)用新型專利,該專利公開(kāi)了一種磁環(huán)測(cè)試裝置。該測(cè)試裝置包括上蓋板、下蓋板和兩個(gè)防護(hù)皮套,所述上蓋板上沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置有多個(gè)插針,下蓋板上設(shè)置有與插針相配合的若干個(gè)插槽,每個(gè)外圈插針和內(nèi)圈插針通過(guò)設(shè)置在插針根部的導(dǎo)線連接,相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)插槽根部也用導(dǎo)線連接,形成一個(gè)完整的單根通路。
[0003]上述測(cè)試裝置確實(shí)解決了同一種磁環(huán)繞線測(cè)試?yán)щy的技術(shù)問(wèn)題,帶來(lái)了有益的技術(shù)效果,但也存在著如下不足:
每次測(cè)試前,需要操作人員將帶有插針的上蓋與帶有插槽的下蓋進(jìn)行配合,而插針和插槽數(shù)量多,每個(gè)都準(zhǔn)確配合,需要較長(zhǎng)時(shí)間,測(cè)試效率低下,另外,還需出現(xiàn)個(gè)別插針與插槽配合不良的現(xiàn)象,導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。
[0004]申請(qǐng)內(nèi)容
本申請(qǐng)要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,而提供一種自動(dòng)化程度高,不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合,測(cè)試效率高的電感自動(dòng)測(cè)試裝置。
[0005]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)采用的技術(shù)方案是:
一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置,包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置,所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔,每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán),每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔,且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋,其中,上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)其中一個(gè)大通孔的正上方,上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針,兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過(guò)導(dǎo)線相連接;所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)的下方,下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔,兩圈接線插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的接線插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔通過(guò)導(dǎo)線相連接;當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后,所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出,并與相應(yīng)的接線插孔相配合。
[0006]所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán),所述大通孔有8個(gè)。
[0007]所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)分別與分度器和電機(jī)相連接。
[0008]本申請(qǐng)采用上述結(jié)構(gòu)后,自動(dòng)化程度高,不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合,測(cè)試效率高。
【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本申請(qǐng)一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2顯示了圖1中支撐盤(pán)的放大結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]其中有:1.多分度回轉(zhuǎn)盤(pán);2.大通孔;21.支撐盤(pán);22.小通孔;3.上蓋;31.插針;4.下蓋;41.接線插孔。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖和具體較佳實(shí)施方式對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0012]如圖1所示,一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置,包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置。
[0013]多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔2,每個(gè)大通孔2內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán)21。
[0014]如圖2所示,每個(gè)支撐盤(pán)21均設(shè)置有兩圈小通孔22,且兩圈小通孔22沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置。
[0015]上述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋3和下蓋4。
[0016]上蓋3位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I其中一個(gè)大通孔2的正上方,上蓋3的下表面設(shè)置有兩圈插針31,兩圈插針31沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的插針31和相鄰的內(nèi)圈的插針31通過(guò)導(dǎo)線相連接。
[0017]下蓋4位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I的下方,下蓋4的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔41,兩圈接線插孔41也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的接線插孔41和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔41通過(guò)導(dǎo)線相連接。
[0018]當(dāng)上蓋3的高度下降和下蓋4的高度上升后,上述所有插針31均能從相應(yīng)的小通孔2中穿出,并與相應(yīng)的接線插孔41相配合。
[0019]進(jìn)一步,上述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán),大通孔2有8個(gè)。
[0020]進(jìn)一步,多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I分別與分度器和電機(jī)相連接。
[0021]以上所述,僅為本申請(qǐng)較佳的【具體實(shí)施方式】,但本申請(qǐng)的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本申請(qǐng)揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本申請(qǐng)的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本申請(qǐng)的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置,所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔,每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán),每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔,且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋,其中,上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)其中一個(gè)大通孔的正上方,上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針,兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過(guò)導(dǎo)線相連接;所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)的下方,下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔,兩圈接線插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;每個(gè)外圈的接線插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔通過(guò)導(dǎo)線相連接;當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后,所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出,并與相應(yīng)的接線插孔相配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電感自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán),所述大通孔有8個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電感自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)分別與分度器和電機(jī)相連接。
【專利摘要】本申請(qǐng)公開(kāi)了一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置,包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置,所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔,每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán),每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔,且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置;所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括上蓋和下蓋;上蓋的下表面設(shè)兩圈不同半徑的插針;下蓋的上表面設(shè)置有兩圈不同半徑的接線插孔;每個(gè)外圈的接線插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔通過(guò)導(dǎo)線相連接;當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后,所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出,并與相應(yīng)的接線插孔相配合。采用上述結(jié)構(gòu)后,自動(dòng)化程度高,不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合,測(cè)試效率高。
【IPC分類(lèi)】G01R27-26, G01R1-04
【公開(kāi)號(hào)】CN104865450
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510325718
【發(fā)明人】李玲
【申請(qǐng)人】李玲
【公開(kāi)日】2015年8月26日
【申請(qǐng)日】2015年6月15日
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