數(shù)字顯示的電感參數(shù)測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種數(shù)字顯示的電感參數(shù)測試裝置。測試觸頭、LC振蕩電路、濾波整形電路、FPGA芯片以及數(shù)碼管順序電連接，所述的FPGA芯片測量LC振蕩電路濾波整形后的周期，換算成電感量，數(shù)碼管顯示出被測電感的電感值。本實用新型可以方便快速檢測和顯示電感器的電感值，具有反應速度快和測量精度高的特點。
【專利說明】數(shù)字顯示的電感參數(shù)測試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測量電子元器件參數(shù)的測量顯示裝置，用于測量顯示單獨的電感參數(shù)值。
【背景技術】
[0002]目前，公知的電子元器件參數(shù)測量儀器如萬用表能夠直接測量電阻、電容、二極管的參數(shù)值，但不能測量電感的參數(shù)值。有一種測量印刷電感參數(shù)的測量裝置及測量方法是運用“測頻法”，采用FPGA芯片測量LC振蕩回路的頻率，依據(jù)振蕩頻率采用“學習——測量”模式，再按電感、電容計算公式經計算機運算得出檢測的電感值。這種直接利用測量頻率的方法，尤其可能涉及到除法，后期的計算處理很復雜，需要加入計算機設備的輔助進行。而且這種測量方法僅針對印刷電感器，沒有形成一個針對普通電感器的簡易測量儀器。
實用新型內容
[0003]為了解決沒有現(xiàn)成的電感參數(shù)測量儀器的問題，本實用新型提供了一種數(shù)字顯示的電感參數(shù)測量裝置，該數(shù)字顯示的電感參數(shù)測量儀通過優(yōu)化后的“測周法”，自動選擇高精度高反應速度的量程模式，通過“分塊累計”的計數(shù)模式，測量LC振蕩電路經濾波整形電路得到的方波周期，顯示被測電感的參數(shù)值，具有操作簡便和快速準確檢測電感參數(shù)的特點。
[0004]一種數(shù)字顯示的電感參數(shù)測試裝置，測試觸頭、LC振蕩電路、濾波整形電路、FPGA芯片以及數(shù)碼管順序電連接，所述的FPGA芯片測量LC振蕩電路濾波整形后的周期，換算成電感量,數(shù)碼管顯示出被測電感的電感值。
[0005]所述的電感參數(shù)測試裝置具有一個絕緣外殼，所述的LC振蕩電路、濾波整形電路、FPGA芯片以及數(shù)碼管位于絕緣外殼內，所述的測試觸頭位于絕緣外殼外，所述的數(shù)碼管的顯示部分從絕緣外殼外可視。
[0006]所述的測試觸頭為一對圓柱狀金屬，圓柱狀金屬的一端設有向中心伸出的筆尖，連接被測電感兩端，另一端附于絕緣外殼外表面。
[0007]所述的LC振蕩電路接入被測電感部分引出兩條導線與測試觸頭電連接。
[0008]所述的FPGA芯片可自動選擇量程測量濾波整形電路輸出的方波周期。
[0009]所述的LC振蕩電路為電容三點式振蕩電路，所述的電感值由以下公式得到:
【權利要求】
1.一種數(shù)字顯示的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:測試觸頭(1)、LC振蕩電路(2)、濾波整形電路(3)、FPGA芯片(4)以及數(shù)碼管(5)順序電連接，所述的FPGA芯片(4)測量LC振蕩電路(2)濾波整形后的周期，換算成電感量，數(shù)碼管(5)顯示出被測電感的電感值。
2.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的電感參數(shù)測試裝置具有一個絕緣外殼(6)，所述的LC振蕩電路(2)、濾波整形電路(3)、FPGA芯片(4)以及數(shù)碼管(5)位于絕緣外殼(6)內，所述的測試觸頭(1)位于絕緣外殼(6)外，所述的數(shù)碼管(5)的顯示部分從絕緣外殼(6)外可視。
3.根據(jù)權利要求2所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的測試觸頭(I)為一對圓柱狀金屬，圓柱狀金屬的一端設有向中心伸出的筆尖，連接被測電感兩端，另一端附于絕緣外殼(6)外表面。
4.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的LC振蕩電路(2)接入被測電感部分引出兩條導線與測試觸頭(1)電連接。
5.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的FPGA芯片(4)可自動選擇量程測量濾波整形電路(3)輸出的方波周期。
6.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的LC振蕩電路(2)為電容三點式振蕩電路，所述的電感值由以下公式得到:
7.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的濾波整形電路(3)的輸出端與接地端串聯(lián)有一個3.3伏的穩(wěn)壓管。
8.根據(jù)權利要求1所述的電感參數(shù)測試裝置，其特征是:所述的FPGA芯片(4)包括分頻模塊(7)、計數(shù)信號模塊(8)、初次計數(shù)模塊(9)、二次計數(shù)模塊(10)、顯示模塊(11)，分頻模塊(7)負責將從濾波整形電路(3)輸入的方波進行千分頻，先后產生鎖存信號、第二清零信號，所述信號均為高電平有效，控制后續(xù)的一次計數(shù)和二次計數(shù)時的清零和鎖存；計數(shù)信號模塊(8)通過將自己產生的基頻信號和分頻模塊(7)輸出的千分頻信號進行邏輯與，輸出至初次計數(shù)模塊(9)，同時開放接收初次計數(shù)模塊(9)發(fā)出的量程選擇反饋信號；初次技術模塊(9)得到計數(shù)N后根據(jù)N值大小向計數(shù)信號模塊(8)發(fā)送選擇量程信號，調整為適合的計數(shù)信號后進行正常計數(shù)；二次計數(shù)模塊(10)接收初次計數(shù)模塊(9)的輸出值N，進行累加N次得到N2 ;顯示模塊(11)根據(jù)計數(shù)量程和N2的大小選擇顯示方式和單位，將信號發(fā)送至數(shù)碼管(6)顯示；每次接入被測電感時，第一清零信號分別向分頻模塊(7)、計數(shù)信號模塊(8)發(fā)出復位指令。
【文檔編號】G01R27/26GK203720271SQ201420007737
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年1月3日 優(yōu)先權日:2014年1月3日
【發(fā)明者】王晗, 王建嘉, 張德華 申請人:浙江大學