專利名稱：粉體基礎(chǔ)物性測定儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及粉體顆粒物理特性的測定儀器。屬于測試儀器領(lǐng)域。
目前我國的粉體工學(xué)仍處于初創(chuàng)階段，由于缺少良好的儀器，很難進行粉體顆粒物理特性的定量測試工作。為了進一步提高我國粉體工學(xué)的基礎(chǔ)研究水平，提高固體藥物制劑的質(zhì)量，有必要設(shè)計科學(xué)化的測定儀器。
本實用新型的目就是設(shè)計一種可定量測試表征粉體物理特性，如休止角、分散度、抹角、固密度等參數(shù)的測定儀器。
本實用新型的目的是通過以下方式實現(xiàn)的粉體基礎(chǔ)物理測定儀由主體、固定于主體上的分散度測試部、休止角測試部、固密度測試部、抹角測試部和電氣控制部組成，其中分散度測試部由上部敞口下部出料的貯料罐及位于其下方的過料筒組成；休止角測試部由振動篩和位于其下方的漏斗組成；固密度測試部由電機、凸輪、上部帶托盤的頂桿、托盤上的標準容器及支承和引導(dǎo)頂桿的支承座組成；抹角測試部由立導(dǎo)軸、通過邊緣上的孔套在立導(dǎo)軸上的承托支架、支架上承托的裝載盤、立軸、套在立軸上的“
”形載物板條和震錘組成；電氣控制部包括電機啟?？刂?、計數(shù)和振源產(chǎn)生三部分。電機啟?？刂朴纱佑陔姍C定子回路的可控硅、控制可控硅的與門、作為該與門兩個輸入信號的定時器控制和控制開關(guān)組成；計數(shù)由分置于凸輪兩邊的發(fā)光二極管和光電三極管、輸入信號分別從光電三極管和控制開關(guān)接出的與非門、計數(shù)脈沖取之與非門輸出的計數(shù)顯示單元組成；振源產(chǎn)生由可控硅觸發(fā)移相環(huán)節(jié)、可控硅及與之串聯(lián)的鐵心電感組成。
以下結(jié)合附圖對本實用新型作詳細描述。


圖1是本實用新型正視圖圖2是本實用新型左視圖圖3是本實用新型俯視圖圖4是本實用新型中電機啟?？刂圃韴D圖5是本實用新型中計數(shù)顯示原理圖圖6是本實用新型中振源產(chǎn)生電路圖圖1～圖3中所示的粉體基礎(chǔ)物理測定儀由主體1、固定于主體1上的分散度測試部、休止角測試部、固密度測試部、抹角測試部和電氣控制部組成。其中分散度測試部由上部敞口下部出料的貯料罐2、軸線與貯料罐重合并位于其下方的兩端敞口圓柱形過料筒3組成。過料筒的口徑大于貯料罐的出料口，兩者固定在與主體連接的立架4上；休止角測試部由出料口呈漏斗形的振動篩5、與該篩子連接的振動源17及固定于主體正面位于振動篩下方的漏斗6組成。漏斗6的下方有一個圓托板18，該板通過立柱與下面的矩形集粉盤19連接；固密度測試部由電機29、凸輪7、上部帶托盤的頂桿8、托盤上的標準容器9、支承和引導(dǎo)頂桿并與主體連接的杯形支承座10組成。頂桿8插入支承座10底部的通孔觸及凸輪7，標準容器9上罩有容器罩20；抹角測試部由立導(dǎo)軸11、通過邊緣上的孔套在立導(dǎo)軸上的承托支架12、該支架上承托的裝載盤13、立軸14、套在該立軸上的“
”形載物板條15和震錘16組成；立導(dǎo)軸和立軸固定在主體1的上表面上，承托支架12底部連接支柱21，并插入主體1的上表面對應(yīng)部位開設(shè)的孔中，承托支架上還設(shè)有可將自身鎖于立導(dǎo)軸11上的鎖緊裝置。
電氣控制部位于主體1體內(nèi)，該部包括電機啟?？刂啤⒂嫈?shù)和振源產(chǎn)生三部分。22是電氣參數(shù)指示面板。
圖4中所示的電機啟停控制由串接于電機定子回路的雙向可控硅23、控制該可控硅的與門24、作為該與門兩個輸入信號的定時器控制和雙刀開關(guān)K1組成。
在圖5中，計數(shù)由分置于凸輪兩邊的發(fā)光二極管25和光電三極管26、輸入信號分別從光電三極管輸出和雙刀開關(guān)K1接出的與非門27、計數(shù)脈沖取之與非門輸出的計數(shù)顯示單元組成。
在圖6的電路中，振源產(chǎn)生由包括可變電阻Rw、電阻R和電容C的可控硅觸發(fā)移相環(huán)節(jié)、可控硅28及與之串聯(lián)的鐵心電感17組成。通過調(diào)節(jié)可變電阻Rw以改變相移，可改變可控硅28的導(dǎo)通角，即可調(diào)節(jié)鐵心電感17的振幅，鐵心電感作為振動源與振動篩5連接。開關(guān)K2作為振源產(chǎn)生的電源開關(guān)。
本儀器工作原理如下分散度及其相應(yīng)參數(shù)測定－－在過料筒3下方置一承接皿，將一定量粉體裝入貯料罐2中，開啟其出料口，粉體便通過標準過料筒3落到承接皿中，根據(jù)承接皿中的粉體殘留量便可計算出分散度。
休止角及堆密度和有關(guān)參數(shù)測定－－將粉體注入振動篩5，接通啟動開關(guān)K2，鐵芯電感組成的振動源17便帶動振動篩5以每秒50周頻率振動，粉體通過規(guī)定目數(shù)的篩網(wǎng)，經(jīng)漏斗6落到圓托板18上，至圓托板上的粉體呈小山樣堆起，并從該板邊緣向下落粉為止，此時的角度即為休止角；若使通過篩網(wǎng)的粉體落到一定容積的裝樣杯內(nèi)，裝滿為止，稱量杯內(nèi)粉體，即可求出堆密度。
固密度及有關(guān)參數(shù)測定－－置標準容器9于頂桿8的托盤上，接通雙刀啟動開關(guān)K1，與門24使可控硅23導(dǎo)通，于是電機29工作，并帶動凸輪7和頂桿8撞擊標準容器9，邊撞擊操作人員邊向容器中添加粉料，直至定時器控制信號為0即定時器時間到或斷開開關(guān)K1時，可控硅被關(guān)斷，電機停車，此后稱量杯內(nèi)粉料重量即為固密度。在雙刀開關(guān)K1接通電機工作的同時，計數(shù)顯示電路中的與非門27被打開，計數(shù)顯示單元同時投入工作，這樣在撞擊過程中，凸輪的每次轉(zhuǎn)動都將從發(fā)光二極管25射向光電三極管26的光線阻斷一次，光電三極管將此信號經(jīng)與非門27送往計數(shù)顯示單元，對撞擊次數(shù)進行計數(shù)和顯示。
抹角及有關(guān)參數(shù)測定－－將承托支架12上移，直至裝載盤13與載物板條15底面相觸為止，向裝載盤中充入粉體直至載物板條被粉體覆蓋，再將承托支架12輕緩下移，此時測量載物板條上所帶粉體的坡角，將震錘16提起后再使其自由落下撞擊載物板，再次測量板上滯留粉體的坡角。根據(jù)兩次測量值可求出粉體抹角。
本儀器可以定量測試粉體顆粒的幾乎所有物理特性，測量準確科學(xué)，是各個行業(yè)粉體特性基礎(chǔ)研究必不可少的量化儀器，尤其適用于制藥業(yè)的粉體工學(xué)基礎(chǔ)研究。
權(quán)利要求1.粉體基礎(chǔ)物理測定儀由主體(1)、固定于主體(1)上的分散度測試部、休止角測試部、固密度測試部、抹角測試部組成，其特征在于該測定儀還包括電氣控制部，其中分散度測試部由上部敞口下部出料的貯料罐(2)、軸線與貯料罐重合并位于其下方的兩端敞口過料筒(3)，將兩者與主體連接的立架(4)組成；休止角測試部由振動篩(5)、與該篩連接的振動源(17)及位于振動篩下方的漏斗(6)組成；固密度測試部由電機(29)、凸輪(7)、上部帶托盤的頂桿(8)、托盤上的標準容器(9)、支承引導(dǎo)頂桿并與主體連接的支承座(10)組成；抹角測試部由立導(dǎo)軸(11)、通過邊緣上的孔套在立導(dǎo)軸上的承托支架(12)、支架(12)上承托的裝載盤(13)、立軸(14)、套在立軸(14)上的“
”形載物板條(15)和震錘(16)組成；電氣控制部包括電機啟?？刂?、計數(shù)和振源產(chǎn)生三部分，電機啟?？刂朴纱佑陔姍C定子回路的可控硅(23)、控制可控硅的與門(24)、作為該與門兩個輸入信號的定時器控制和控制開關(guān)組成；計數(shù)由分置于凸輪(7)兩邊的發(fā)光二極管(25)和光電三極管(26)、輸入信號分別從光電三極管和控制開關(guān)接出的與非門(27)、計數(shù)脈沖取之與非門輸出的計數(shù)顯示單元組成；振源產(chǎn)生由可控硅觸發(fā)移相環(huán)節(jié)、可控硅(28)及與之串聯(lián)的鐵心電感組成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉體基礎(chǔ)物性測定儀，其特征在于所說漏斗(6)的下方有一圓托板(18)，該板通過立柱與下面的集粉盤(19)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉體基礎(chǔ)物性測定儀，其特征在于所說標準容器(9)上罩有容器罩(20)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉體基礎(chǔ)物性測定儀，其特征在于在所說承托支架(12)底部連接支柱(21)，主體(1)的上表面對應(yīng)部位開有與該支柱相配的孔，承托支架(12)上還設(shè)有可將自身鎖于立導(dǎo)軸(11)上的鎖緊裝置。
專利摘要一種粉體基礎(chǔ)物性測定儀由主體1；包括貯料罐2和過料筒3的分散度測試部；包括振動篩5和振源及漏斗6的休止角測試部；包括電機、凸輪7、頂桿8、標準容器9和支承座10的固密度測試部；包括立導(dǎo)軸11、承托支架12、裝載盤13、立軸14、載物板條15和震錘16的抹角測試部；及包括電機啟?？刂啤⒂嫈?shù)和振源產(chǎn)生的電氣控制部組成。它可以定量測定表征粉體物理特性的幾乎全部參數(shù)，適用于粉體工學(xué)研究領(lǐng)域。
文檔編號G01N15/00GK2148961SQ93203388
公開日1993年12月8日 申請日期1993年2月23日 優(yōu)先權(quán)日1993年2月23日
發(fā)明者張秀珍, 趙棣華 申請人:國家醫(yī)藥管理局天津藥物研究院