本申請涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測光纖回路的系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

直流高壓輸電，是我國電網(wǎng)中的電力傳輸?shù)囊环N方式。在直流高壓輸電的線路中需要建設(shè)換流站，以完成將交流電變換為直流電，或者將直流電變化為交流電的轉(zhuǎn)換。換流站中的設(shè)備主要包括：換流閥、換流變壓器、交流開關(guān)設(shè)備、直流開關(guān)設(shè)備、直流濾波器、控制與保護裝置、站外接地極，以及通信系統(tǒng)等。通信系統(tǒng)，用于換流站之間的信息交互和換流站內(nèi)的電壓控制與調(diào)度。通信系統(tǒng)中的通信方式包括電力線載波，微波，以及光纖。

在極控系統(tǒng)中的通信裝置中包括：中心控制器、閥基電子設(shè)備、可控硅電壓檢測板、可控硅閥單元、多模星形耦合器和保護恢復(fù)單元。在定期檢測光纖過程中，換流站全部停電，在極控系統(tǒng)中無電流。在對換流站檢測時，通常采用離線檢測的方式?，F(xiàn)有技術(shù)中，離線檢測的方式包括：a拔插待測光纖一端的通信端口，觀察其對應(yīng)另一端的通信接口信號燈是否正確熄滅和點亮；b采用激光筆，照亮待測光纖的一端而在另外一側(cè)檢查正確性。其中在線檢測方法包括：a通過裝置面板的通信狀態(tài)檢查光纖通道連接；b在光纖兩端分別使用光纖線序查找器。

在上述檢測方式中，離線檢測a、b方法和在線檢測b方法的問題在于需要插拔光纖進行測量，主要應(yīng)用于首次安裝調(diào)試階段，而定檢時基本不采用，這是由于插拔光纖會影響光纖性能，進而影響光纖通信，可能造成因定檢工作而使得光纖回路損害的事故發(fā)生。在線檢測a方法的問題在于定檢過程中，換流閥片兩端電壓為零，即使有觸發(fā)信號，換流閥不導(dǎo)通，也無回報光纖信號，回報信號是主要的光纖信號，無法檢測就無法說明光纖回路無異常，最終導(dǎo)致光纖回路的檢測結(jié)果不準(zhǔn)確。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本申請?zhí)峁┝艘环N檢測光纖回路的系統(tǒng)，以解決光纖回路檢測結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。

本申請?zhí)峁┝艘环N檢測光纖回路的系統(tǒng)，包括：

所述可控硅閥單元連接正向電壓；

所述可控硅電壓檢測板檢測所述可控硅閥單元兩端的端電壓，并將所述端電壓通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；

所述閥基電子設(shè)備將所述端電壓發(fā)送至所述中心控制器；

所述中心控制器判斷所述端電壓是否大于預(yù)置電壓保護閾值；

如果所述端電壓大于所述預(yù)置電壓保護閾值，則所述中心控制器生成過壓導(dǎo)通指令，并將所述過壓導(dǎo)通指令發(fā)送至所述閥基電子設(shè)備；

所述閥基電子設(shè)備將所述過壓導(dǎo)通指令發(fā)送至所述保護恢復(fù)單元；

所述保護恢復(fù)單元根據(jù)所述過壓導(dǎo)通指令，生成過壓導(dǎo)通脈沖，并將所述過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至所述多模星形耦合器；

如果所述端電壓不大于所述預(yù)置電壓保護閾值，則所述中心控制器生成光纖測試指令，并將所述光纖測試指令發(fā)送至所述閥基電子設(shè)備；

所述閥基電子設(shè)備根據(jù)所述光纖測試指令，生成光纖觸發(fā)脈沖，將所述光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至所述多模星形耦合器；

所述多模星形耦合器將所述過壓導(dǎo)通脈沖或所述光纖觸發(fā)脈沖，發(fā)送至所述可控硅閥單元；

所述可控硅閥單元接收所述過壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖，并導(dǎo)通所述可控硅閥單元的陽極和陰極；

所述可控硅電壓檢測板根據(jù)所述可控硅閥單元的端電壓，生成回檢信號，并將所述回檢信號通過所述待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；

所述閥基電子設(shè)備將所述回檢信號發(fā)送至所述中心控制器；

所述中心控制器檢測所述回檢信號的脈沖寬度；

如果所述脈沖寬度是正常脈沖寬度，則所述中心控制器確定所述待測試光纖為正常狀態(tài)，所述正常脈沖寬度包括所述過壓導(dǎo)通脈沖的脈沖寬度和所述光纖觸發(fā)脈沖的脈沖寬度。

進一步地，所述過壓導(dǎo)通脈沖的脈沖寬度為12μs。

進一步地，所述光纖觸發(fā)脈沖的脈沖寬度為6μs。

進一步地，所述中心控制器確定所述待測試光纖為正常狀態(tài)之后，所述系統(tǒng)還包括：

所述中心控制器生成所述正常狀態(tài)對應(yīng)的正常狀態(tài)標(biāo)識；

所述中心控制器顯示所述正常狀態(tài)標(biāo)識。

進一步地，所述中心控制器確定所述待測試光纖為異常狀態(tài)之后，所述系統(tǒng)還包括：

所述中心控制器生成所述異常狀態(tài)對應(yīng)的異常狀態(tài)標(biāo)識；

所述中心控制器顯示所述異常狀態(tài)標(biāo)識。

本申請?zhí)峁┑囊环N檢測光纖回路的系統(tǒng)，本系統(tǒng)采用兩個回路檢測光纖回路，互為驗證，增加驗證可靠性。其中第一回路為閥基電子設(shè)備發(fā)送過壓導(dǎo)通指令，保護恢復(fù)單元根據(jù)過壓導(dǎo)通指令生成過壓導(dǎo)通脈沖，并將過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至多模星形耦合器，多模星形耦合器將過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至可控硅閥單元，可控硅閥單元根據(jù)過壓導(dǎo)通脈沖導(dǎo)通可控硅閥單元的陽極和陰極，可控硅電壓檢測板檢測可控硅閥單元兩端的回檢信號，并將回檢信號通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；閥基電子設(shè)備將回檢信號發(fā)送至中心控制器。第二回路為閥基電子設(shè)備根據(jù)光纖測試指令，生成光纖觸發(fā)脈沖，將光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至多模星形耦合器，多模星形耦合器將光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至可控硅閥單元，可控硅閥單元根據(jù)光纖觸發(fā)脈沖導(dǎo)通可控硅閥單元的陽極和陰極，可控硅電壓檢測板根據(jù)可控硅閥單元的端電壓生成回檢信號，并將回檢信號通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；閥基電子設(shè)備將回檢信號發(fā)送至中心控制器。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請不需要插拔光纖就可以檢測光纖回路，避免因光纖插拔導(dǎo)致的光纖性能下降或損壞，是基于光纖回路本身的閉環(huán)特性實現(xiàn)的，利用現(xiàn)有換流站中的設(shè)備，簡單有效地完對換流站中光纖的檢測。尤其適用于無法在線檢測的冗余配置的可控硅閥單元和閥基電子設(shè)備的光纖回路檢查。本申請的系統(tǒng)中包括多模星形耦合器，可一次性檢測大量可控硅閥單元。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本申請?zhí)峁┑囊环N檢測光纖回路的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本申請?zhí)峁┑牧硪环N檢測光纖回路的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖說明：11-中心控制器，12-閥基電子設(shè)備，13，保護恢復(fù)單元，14-多模星形耦合器，15，可控硅閥單元，16-可控硅電壓檢測板，17-待測試光纖。

具體實施方式

參見圖1，為本申請?zhí)峁┑囊环N檢測光纖回路的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，該系統(tǒng)包括：

與中心控制器11連接的閥基電子設(shè)備12；與閥基電子設(shè)備12連接的保護恢復(fù)單元13；與保護恢復(fù)單元13連接的多模星形耦合器14；閥基電子設(shè)備12還與多模星形耦合器14連接；與多模星形耦合器14連接的可控硅閥單元15；與可控硅閥單元15連接的可控硅電壓檢測板16；與可控硅電壓檢測板16連接的待測試光纖17；與待測試光纖17連接的閥基電子設(shè)備12。

在上述描述中僅僅包括檢測光纖回路的系統(tǒng)的各個組成部分的連接關(guān)系。本申請的檢測光纖回路的系統(tǒng)是在現(xiàn)有系統(tǒng)的基礎(chǔ)上實現(xiàn)的，只是現(xiàn)有系統(tǒng)中是應(yīng)該光纖進行信號傳輸，而本申請中在定檢系統(tǒng)時，直接根據(jù)現(xiàn)有系統(tǒng)實現(xiàn)對待測試光纖進行檢測。

為了實現(xiàn)對待測試光纖的檢測，參見圖2本申請?zhí)峁┑牧硪环N檢測光纖回路的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，該系統(tǒng)包括：

步驟201，可控硅閥單元連接正向電壓。

可控硅閥單元中包括多個可控硅閥片，通常包括13個ltt閥片，13個ltt閥片串聯(lián)?？煽毓栝y片是一種電力電子半控型元件，其導(dǎo)通條件包括：要有是適當(dāng)?shù)恼蜿枠O電壓；要有觸發(fā)脈沖。可控硅閥具有進行整流或逆變的功能，即將交流轉(zhuǎn)換為直流或?qū)⒅绷鬓D(zhuǎn)換為交流?？煽毓栝y單元連接的正向電壓應(yīng)該是適當(dāng)?shù)恼蜿枠O電壓，是能夠滿足可控硅閥片的導(dǎo)通條件的正電壓。

步驟202，可控硅電壓檢測板檢測可控硅閥單元兩端的端電壓，并將端電壓通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

可控硅電壓檢測板，能夠檢測可控硅閥單元的中的可控硅閥片的端電壓，進而能夠保證每個可控硅閥單元內(nèi)部串聯(lián)狀態(tài)下所有可控硅閥片承受相同的直流電壓，同時監(jiān)測可控硅閥內(nèi)部電壓并產(chǎn)生回檢信號?？煽毓桦妷簷z測板在每個可控硅閥片級內(nèi)包含一塊，通過發(fā)送3中不同脈寬的脈沖實現(xiàn)對可控硅閥單元的檢測。3種不同脈寬的脈沖分別代表通過檢測反向電壓判斷可控硅閥片是否已關(guān)斷；通過檢測正向電壓判斷可控硅閥片是否能開通；通過檢測較高的正向電壓判斷應(yīng)開通而未開通的可控硅閥片是否因為電壓保護導(dǎo)致開通。端電壓是可控硅閥單元端，也就是陽極和陰極之間的電壓。

步驟203，閥基電子設(shè)備將端電壓發(fā)送至中心控制器。

閥基電子設(shè)備接收中心控制器的控制信號，將其轉(zhuǎn)換為可控硅閥單元的觸發(fā)脈沖，同時收集可控硅閥單元的各種信號和運行狀態(tài)，將其反饋回中心控制器。

步驟204，中心控制器判斷端電壓是否大于預(yù)置電壓保護閾值。

中心控制器是本申請檢測光纖回路的系統(tǒng)的中心，能夠?qū)ο到y(tǒng)中其他部分直接控制或者間接控制。預(yù)置電壓保護閾值是可控硅閥能夠承受的最大電壓，是界定可控硅閥控制端的觸發(fā)脈沖類型的依據(jù)。預(yù)置電壓保護閾值的大小與選擇的可控硅閥的材質(zhì)有關(guān)，在本申請中對其具體數(shù)值不做限定。

步驟205，如果端電壓大于預(yù)置電壓保護閾值，則中心控制器生成過壓導(dǎo)通指令，并將過壓導(dǎo)通指令發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

如果端電壓大于預(yù)置電壓保護閾值，說明可控硅閥單元的端電壓出現(xiàn)異常，所以要啟動保護恢復(fù)單元。中心控制器生成過壓導(dǎo)通指令，并將過壓導(dǎo)通指令發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

步驟206，閥基電子設(shè)備將過壓導(dǎo)通指令發(fā)送至保護恢復(fù)單元。

步驟207，保護恢復(fù)單元根據(jù)過壓導(dǎo)通指令，生成過壓導(dǎo)通脈沖，并將過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至多模星形耦合器。

保護恢復(fù)單元，在可控硅閥單元關(guān)斷以后的恢復(fù)期間保護換流閥，在此期間如果電壓變化率超過保護預(yù)設(shè)值，恢復(fù)保護單元在接收到閥基電子設(shè)備發(fā)送的過壓導(dǎo)通指令后，生成過壓導(dǎo)通脈沖，并發(fā)送過壓導(dǎo)通脈沖。

步驟208，如果端電壓不大于預(yù)置電壓保護閾值，則中心控制器生成光纖測試指令，并將光纖測試指令發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

本步驟與步驟205并列，是端電壓與預(yù)置電壓保護閾值的兩種比較結(jié)果。針對這兩種不同的比較結(jié)果，本申請系統(tǒng)中的各部分執(zhí)行的操作不完全一致。在可控硅閥單元連接正向電壓的前提下，正向電壓能夠滿足導(dǎo)通條件，所以在端電壓不大于預(yù)置電壓保護閾值時，中心控制器生成光纖測試指令，直接測試可控硅閥單元是否能夠?qū)ㄝ敵鲂盘?。中心控制器將光纖測試指令發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

步驟209，閥基電子設(shè)備根據(jù)光纖測試指令，生成光纖觸發(fā)脈沖，將光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至多模星形耦合器。

步驟210，多模星形耦合器將過壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖，發(fā)送至可控硅閥單元。

多模星形耦合器能夠?qū)⑦^壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖進行分發(fā)，分別發(fā)送至可控硅閥單元中的ltt閥片上。

步驟211，可控硅閥單元接收過壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖，并導(dǎo)通可控硅閥單元的陽極和陰極。

可控硅閥單元的控制極接收過壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖。在可控硅閥單元的陽極和陰極之間連接正向電壓的前提下，在接收到過壓導(dǎo)通脈沖或光纖觸發(fā)脈沖時，能夠?qū)煽毓栝y單元的陽極和陰極。

步驟212，可控硅電壓檢測板根據(jù)可控硅閥單元的端電壓，生成回檢信號，并將回檢信號通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備。

步驟213，閥基電子設(shè)備將回檢信號發(fā)送至中心控制器。

閥基電子設(shè)備將可控硅電壓檢測板，檢測到的可控硅閥單元的運行狀態(tài)發(fā)送至中心控制器。

步驟214，中心控制器檢測回檢信號的脈沖寬度。

步驟215，如果脈沖寬度是正常脈沖寬度，則中心控制器確定待測試光纖為正常狀態(tài)。

正常脈沖寬度包括過壓導(dǎo)通脈沖的脈沖寬度和光纖觸發(fā)脈沖的脈沖寬度。正常脈沖寬度與閥基電子設(shè)備和保護恢復(fù)單元發(fā)出的脈沖寬度相對應(yīng)。

本申請?zhí)峁┑囊环N檢測光纖回路的系統(tǒng)，本系統(tǒng)采用兩個回路檢測光纖回路，互為驗證，增加驗證可靠性。其中第一回路為閥基電子設(shè)備發(fā)送過壓導(dǎo)通指令，保護恢復(fù)單元根據(jù)過壓導(dǎo)通指令生成過壓導(dǎo)通脈沖，并將過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至多模星形耦合器，多模星形耦合器將過壓導(dǎo)通脈沖發(fā)送至可控硅閥單元，可控硅閥單元根據(jù)過壓導(dǎo)通脈沖導(dǎo)通可控硅閥單元的陽極和陰極，可控硅電壓檢測板檢測可控硅閥單元兩端的回檢信號，并將回檢信號通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；閥基電子設(shè)備將回檢信號發(fā)送至中心控制器。第二回路為閥基電子設(shè)備根據(jù)光纖測試指令，生成光纖觸發(fā)脈沖，將光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至多模星形耦合器，多模星形耦合器將光纖觸發(fā)脈沖發(fā)送至可控硅閥單元，可控硅閥單元根據(jù)光纖觸發(fā)脈沖導(dǎo)通可控硅閥單元的陽極和陰極，可控硅電壓檢測板根據(jù)可控硅閥單元的端電壓生成回檢信號，并將回檢信號通過待測試光纖發(fā)送至閥基電子設(shè)備；閥基電子設(shè)備將回檢信號發(fā)送至中心控制器。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請不需要插拔光纖就可以檢測光纖回路，避免因光纖插拔導(dǎo)致的光纖性能下降或損壞，是基于光纖回路本身的閉環(huán)特性實現(xiàn)的，利用現(xiàn)有換流站中的設(shè)備，簡單有效地完對換流站中光纖的檢測。尤其適用于無法在線檢測的冗余配置的可控硅閥單元和閥基電子設(shè)備的光纖回路檢查。本申請的系統(tǒng)中包括多模星形耦合器，可一次性檢測大量可控硅閥單元。

進一步地，過壓導(dǎo)通脈沖的脈沖寬度為12μs。

進一步地，光纖觸發(fā)脈沖的脈沖寬度為6μs。

進一步地，中心控制器確定待測試光纖為正常狀態(tài)之后，系統(tǒng)還包括：

中心控制器生成正常狀態(tài)對應(yīng)的正常狀態(tài)標(biāo)識；

中心控制器顯示正常狀態(tài)標(biāo)識。

進一步地，中心控制器確定待測試光纖為異常狀態(tài)之后，系統(tǒng)還包括：

中心控制器生成異常狀態(tài)對應(yīng)的異常狀態(tài)標(biāo)識；

中心控制器顯示異常狀態(tài)標(biāo)識。

中心控制器檢測出待測試光纖的狀態(tài)之后，需要使檢測者得知該待測試光纖的狀態(tài)，所以根據(jù)檢測出的待測試關(guān)系的狀態(tài)正常狀態(tài)或異常狀態(tài)，生成對應(yīng)的正常狀態(tài)標(biāo)識或者異常狀態(tài)標(biāo)識，并顯示對應(yīng)的狀態(tài)標(biāo)識。正常狀態(tài)標(biāo)識或異常狀態(tài)標(biāo)識可以通過對話框、列表、告警信息、單純的文字等形式顯示，在本申請中對正常狀態(tài)標(biāo)識或異常狀態(tài)標(biāo)識的表現(xiàn)形式不做限定。

具體實現(xiàn)中，本發(fā)明還提供一種計算機存儲介質(zhì)，其中，該計算機存儲介質(zhì)可存儲有程序，該程序執(zhí)行時可包括本發(fā)明提供的呼叫方法的各實施例中的部分或全部步驟。所述的存儲介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲記憶體(英文：read-onlymemory，簡稱：rom)或隨機存儲記憶體(英文：randomaccessmemory，簡稱：ram)等。

本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明實施例中的技術(shù)可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn)?；谶@樣的理解，本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品可以存儲在存儲介質(zhì)中，如rom/ram、磁碟、光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。

本說明書中各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。以上所述的本發(fā)明實施方式并不構(gòu)成對本發(fā)明保護范圍的限定。