技術領域

本發(fā)明涉及一種旋轉編碼器等的檢測裝置的數據檢測方法以及檢測裝置。

背景技術：

在檢測旋轉體相對于固定體的旋轉的旋轉編碼器中，例如設置有磁傳感器裝置(檢測裝置)，所述磁傳感器裝置在旋轉體側設置有磁鐵，在固定體側具有磁阻元件或霍爾元件。在這樣的磁傳感器裝置中，例如，在具有磁阻元件的磁傳感器裝置中，在基板的一面形成有磁阻膜，并基于從由磁阻膜構成的兩相(A相和B相)的橋接電路輸出的兩個輸出，檢測旋轉體的角速度和角度位置等(例如，參考專利文獻1)。

即如圖7所示，由于A相的輸出表示正弦波，B相的輸出表示余弦波，因此若以在固定的時點獲取的A相數據與B相數據來求反正切，則能夠求得磁鐵相對于磁傳感器裝置的角度位置。

專利文獻1：日本特開2012-118000號公報

在上述的旋轉編碼器中，對A相數據和B相數據均要求要有很高的可靠性。因此，如圖7示意表示那樣，采用在數據檢測期間T內按照每一固定時間設定有多個時點，并利用在第奇數次的時點(時間t1、t3、t5)獲取的A相數據的算數平均數和在第偶數次的時點(時間t2、t4、t6)獲取的B相數據的算數平均數求反正切的過采樣。

然而，在圖7所示的過采樣中，由于A相數據的算數平均數與時間t3的數據對應，而B相數據的算數平均數與時間t4的數據對應，因此在A相數據的算數平均數與B相數據的算數平均數之間存在時間差。因而，存在根據A相數據與B相數據求反正切時，不能夠高精度地求得磁鐵相對于磁傳感器裝置的角度位置的問題。

技術實現要素：

鑒于以上問題，本發(fā)明的課題在于提供一種即使在采用過采樣的情況下，也能夠提高來自兩個檢測部的數據的同時性的檢測裝置的檢測方法以及檢測裝置。

為了解決上述課題，本發(fā)明所涉及的檢測裝置的數據檢測方法的特征在于，具有數據獲取工序以及檢測值決定工序，所述數據獲取工序在按照每一固定時間設定有多個時點的數據檢測期間內，在第奇數次與第偶數次中的一方的時點獲取來自第一檢測部的第一數據，并且在第奇數次與第偶數次中的另一方的時點獲取來自第二檢測部的第二數據；所述檢測值決定工序基于所述第一數據決定所述數據檢測期間內的第一檢測值，并且基于所述第二數據決定所述數據檢測期間內的第二檢測值，在所述數據獲取工序中，將在所述數據檢測期間內獲取所述第一數據的次數與獲取所述第二數據的次數之和設為三次以上的奇數次。

并且，本發(fā)明所涉及的檢測裝置的特征在于，具有：第一檢測部；第二檢測部；數據獲取部，其在按照每一固定時間設定有多個時點的數據檢測期間內，在第奇數次與第偶數次中的一方的時點獲取來自所述第一檢測部的第一數據，并且在第奇數次與第偶數次中的另一方的時點獲取來自所述第二檢測部的第二數據；以及檢測值決定部，其基于所述第一數據決定所述數據檢測期間內的第一檢測值，基于所述第二數據決定所述數據檢測期間內的第二檢測值。

在本發(fā)明中，由于在數據檢測期間內獲取第一數據的次數與獲取第二數據的次數之和為三次以上，因此對第一數據與第二數據的至少一方進行獲取多次數據的過采樣。因此，能夠提高數據的可靠性。并且，由于在數據檢測期間內獲取第一數據的次數與獲取第二數據的次數之和為三次以上的奇數，因此在利用在第奇數次的時點獲取的數據的平均值或中數決定檢測值，利用在第偶數次的時點獲取的數據的平均值或中數決定檢測值的情況下，檢測值均與數據檢測期間的中間的時間對應。因此，即使在采用過采樣的情況下，也能夠提高來自兩個檢測部的數據的同時性。

在本發(fā)明中優(yōu)選在所述數據獲取工序中，將在所述數據檢測期間內獲取所述第一數據的次數與獲取所述第二數據的次數之和設為五次以上。通過這樣的結構，由于對第一數據與第二數據雙方進行過采樣，因而能夠提高數據的可靠性。

在本發(fā)明中能夠采用以下結構：所述第一檢測部連續(xù)輸出第一模擬數據，并且所述第二檢測部連續(xù)輸出第二模擬數據，設有將所述第一模擬數據與所述第二模擬數據交替地轉換為數字數據的A/D轉換器，在所述數據獲取工序中，通過所述A/D轉換器把在所述一方的時點將所述第一模擬數據轉換為數字數據的結果作為所述第一數據，把在所述另一方的時點將所述第二模擬數據轉換為數字數據的結果作為所述第二數據。通過這樣的結構，能夠通過一個A/D轉換器實現過采樣，并且提高了來自兩個檢測部的數據的同時性。

在本發(fā)明中，在所述檢測值決定工序中，例如根據所述第一數據的算數平均數決定所述第一檢測值，根據所述第二數據的算數平均數決定所述第二檢測值。

在本發(fā)明中，優(yōu)選在所述檢測值決定工序中，通過將所述第一數據相加從而算出所述第一檢測值，將所述第二數據相加從而算出所述第二檢測值，并且在算出所述第一檢測值與算出所述第二檢測值的至少一方中，通過乘以相對于所述數據檢測期間的中間在前側與后側對稱的系數的加權和計算，使所述第一檢測值的位長與所述第二檢測值的位長一致。這種情況下，優(yōu)選將在靠近所述數據檢測期間的中間的時間獲取的數據乘以比在離數據檢測期間的中間較遠的時間獲取的數據大的系數進行加權和計算。通過這樣的結構，即使不用除法，也能夠決定第一檢測值和第二檢測值。因此，由于能夠減輕數據處理的負荷，所以能夠實現處理的高速化。并且，由于通過進行加權和計算使第一檢測值的位長與第二檢測值的位長一致，所以能夠容易地進行利用了第一檢測值和第二檢測值的運算等。

在這種情況下，優(yōu)選所述系數為2的冪。通過這樣的結構，由于進行移位即可，所以不需進行乘法運算。因此，由于能夠減輕數據處理的負荷，從而能夠實現處理的高速化。

在本發(fā)明中例如能夠采用如下結構：所述第一檢測部為磁阻元件的第一磁阻膜，所述第二檢測部為所述磁阻元件的第二磁阻膜，所述第一磁阻膜基于來自與所述磁阻元件相對旋轉的磁鐵的磁場變化，輸出由正弦波構成的所述第一模擬數據，所述第二磁阻膜基于來自所述磁鐵的磁場變化，輸出由余弦波構成的所述第二模擬數據，在所述檢測值決定工序之后，基于與所述第一檢測值和所述第二檢測值對應的反正切算出所述磁鐵相對于所述磁阻元件的角度位置。

在本發(fā)明中，優(yōu)選連續(xù)地設定所述數據檢測期間，在當前次所述數據檢測期間內，在所述多個時點中的第奇數次的時點獲取所述第一數據，在第偶數次獲取所述第二數據，在下一次所述數據檢測期間內，在所述多個時點中的第偶數次獲取所述第一數據，在第奇數次獲取所述第二數據。雖然在第奇數次進行的數據獲取與在第偶數次進行的數據獲取相比多了一次，但通過這樣的結構，由于在第奇數次的數據獲取與在第偶數次的數據獲取交替進行，因此能夠使獲取第一數據的次數與獲取第二數據的次數相等。

在本發(fā)明中，優(yōu)選按照所述數據檢測期間除以在所述數據檢測期間內獲取所述第一數據的次數與獲取所述第二數據的次數之和所得的時間設定所述多個時點。通過這樣的結構，能夠使在數據檢測期間內獲取數據的次數最大。

在本發(fā)明中，由于在數據檢測期間內獲取第一數據的次數與獲取第二數據的次數之和為三次以上，所以對第一數據和第二數據中的至少一方進行獲取多次數據的過采樣。因此，能夠提高數據的可靠性。并且，由于在數據檢測期間內獲取第一數據的次數與獲取第二數據的次數之和為三次以上的奇數，因此在利用在第奇數次的時點獲取的數據的平均值或中數決定檢測值，利用在第偶數次的時點獲取的數據的平均值或中數決定檢測值的情況下，檢測值均與數據檢測期間的中間的時間對應。因此，即使在采用過采樣的情況下，也能夠提高來自兩個檢測部的數據的同時性。

附圖說明

圖1是應用本發(fā)明的旋轉編碼器的說明圖。

圖2是用于應用本發(fā)明的旋轉編碼器的磁阻元件的磁阻膜的電連接結構的說明圖。

圖3是表示應用本發(fā)明的旋轉編碼器的原理的說明圖。

圖4是表示利用應用本發(fā)明的旋轉編碼器實施的數據檢測方法的流程圖。

圖5是示意地表示利用應用本發(fā)明的旋轉編碼器實施的過采樣的內容的說明圖。

圖6是表示在應用本發(fā)明的旋轉編碼器中實施過采樣的效果的說明圖。

圖7是示意地表示參考例所涉及的過采樣的內容的說明圖。

(符號說明)

1……旋轉編碼器

2……旋轉體

4……磁阻元件

4a……第一檢測部

4b……第二檢測部

41、43……磁阻膜(第一磁阻膜)

42、44……磁阻膜(第二磁阻膜)

90……控制部

93……A/D轉換器

95……時點控制部

96……位置決定部

98……運算部

SIN……第一模擬數據

COS……第二模擬數據

Dsin……第一數據

Dcos……第二數據

Esin……第一檢測值

Ecos……第二檢測值

具體實施方式

以下，參照附圖，以旋轉編碼器為中心，對應用本發(fā)明的檢測裝置進行說明。另外，在旋轉編碼器中，在檢測旋轉體相對于固定體的旋轉時，既可以采用在固定體側設置磁鐵而在旋轉體側設置磁阻元件的結構，也可以采用在固定體側設置磁阻元件而在旋轉體側設置磁鐵的結構，但在以下的說明中以在固定體側設置磁傳感器而在旋轉體側設置磁鐵的結構為中心進行說明。

[旋轉編碼器的概略結構]

圖1是應用本發(fā)明的旋轉編碼器1的說明圖。圖2是用于應用本發(fā)明的旋轉編碼器1的磁阻元件4的磁阻膜41～44的電連接結構的說明圖。圖3是表示應用本發(fā)明的旋轉編碼器1的原理的說明圖，圖3(a)是從磁阻元件4輸出的信號等的說明圖，圖3(b)是表示該信號與旋轉體2的角度位置(電角)的關系的說明圖。

圖1所示的旋轉編碼器1是利用磁傳感器裝置10磁檢測旋轉體2相對于固定體(未圖示)繞軸線(繞旋轉軸線)的旋轉的裝置，固定體固定于馬達裝置的框架等，旋轉體2在與馬達裝置的旋轉輸出軸等連接的狀態(tài)下使用。在旋轉體2側保持有磁鐵20，該磁鐵20使在周向上磁化有一個N極和一個S極的磁化面21朝向旋轉軸線方向L的一側，磁鐵20繞旋轉軸線與旋轉體2一體旋轉。

在固定體側設置有磁傳感器裝置10，該磁傳感器裝置10具有在旋轉軸線方向L的一側與磁鐵20的磁化面21對置的磁阻元件4以及進行后述處理的控制部90等。并且，磁傳感器裝置10在與磁鐵20對置的位置具有第一霍爾元件61和位于在周向上相對于第一霍爾元件61偏離90°機械角的位置的第二霍爾元件62。

磁阻元件4是具有基板40以及相對于磁鐵20的相位相互具有90°相位差的兩相磁阻膜(A相(SIN)的磁阻膜(第一檢測部4a)與B相(COS)的磁阻膜(第二檢測部4b))的磁阻元件。在這樣的磁阻元件4中，第一檢測部4a(A相的磁阻膜)具有以180°的相位差檢測旋轉體2的移動的+A相(SIN+)的磁阻膜43(第一磁阻膜)和-A相(SIN-)的磁阻膜41(第一磁阻膜)，第二檢測部4b(B相的磁阻膜)具有以180°的相位差檢測旋轉體2的移動的+B相(COS+)的磁阻膜44(第二磁阻膜)以及-B相(COS-)的磁阻膜42(第二磁阻膜)。這種結構的磁阻元件4的磁阻膜41～44以各磁阻膜41～44的電阻值的飽和靈敏度區(qū)域以上的磁場強度檢測方向在磁化面21的面內方向變化的旋轉磁場。

在第一檢測部4a中，+A相的磁阻膜43和-A相的磁阻膜41構成圖2(a)所示的橋接電路，一端與A相用的電源端子VccA連接，另一端與A相用的接地端子GNDA連接。在+A相的磁阻膜43的中點位置設置有輸出+A相的輸出端子+A，在-A相的磁阻膜41的中點位置設置有輸出-A相的輸出端子-A。并且，在第二檢測部4b中，+B相的磁阻膜44和-B相的磁阻膜42也與+A相的磁阻膜44和-A相的磁阻膜41相同，構成圖2(b)所示的橋接電路，一端與B相用的電源端子VccB連接，另一端與B相用的接地端子GNDB連接。在+B相的磁阻膜44的中點位置設置有輸出+B相的輸出端子+B，在-B相的磁阻膜42的中點位置設置有輸出-B相的輸出端子-B。另外，在圖2中為了方便起見，分別記載了A相用的電源端子VccA和B相用的電源端子VccB，但A相用的電源端子VccA與B相用的電源端子VccB也可以通用。并且，在圖2中為了方便起見，分別記載了A相用的接地端子GNDA和B相用的接地端子GNDB，但A相用的接地端子GNDA與B相用的接地端子GNDB也可以通用。

在本方式的磁傳感器裝置10和旋轉編碼器1中，在磁阻元件4的第一檢測部4a和第二檢測部4b構成增幅電路91a、增幅電路91b、將從該增幅電路91a和增幅電路91b輸出的第一模擬數據SIN和第二模擬數據COS變換成進行了數字轉換的第一數據Dsin和第二數據Dcos的A/D轉換器93以及具有對第一數據Dsin和第二數據Dcos進行各種運算處理的CPU(運算電路)等的控制部90。并且，在第一霍爾元件61和第二霍爾元件62設置有增幅電路92a、增幅電路92b以及A/D轉換器94。

在這種結構的旋轉編碼器1中，如圖3(a)所示，由于若旋轉體2旋轉一圈，則磁鐵20也隨著旋轉一圈，因此從磁阻元件4輸出兩個周期量的第一模擬數據SIN和第二模擬數據COS。因此，若通過增幅電路91a和91b增幅第一模擬數據SIN和第二模擬數據COS后，利用A/D轉換器93將第一數據Dsin和第二數據Dcos轉換成數字數據并輸出至控制部90，則能夠求得圖3(b)所示的利薩如圖。并且，若基于第一數據Dsin和第二數據Dcos求得反正切(θ＝TAN^-1(SIN/COS))，則能夠知道旋轉輸出軸的角度位置θ。并且，在本方式中，從磁鐵20的中心觀察在錯開90°的位置配置有第一霍爾元件61和第二霍爾元件62。因此，通過第一霍爾元件61與第二霍爾元件62的輸出的組合，能夠知道在輸出了兩個周期量的第一模擬數據SIN和第二模擬數據COS中，當前位置位于哪個周期的區(qū)間。因此，旋轉編碼器1基于磁阻元件4的檢測結果、第一霍爾元件61的檢測結果以及第二霍爾元件62的檢測結果能夠生成旋轉體2的絕對角度位置信息，從而能夠進行絕對動作。

(數據檢測)

圖4是表示用應用本發(fā)明的旋轉編碼器1實施的數據檢測方法的流程圖。圖5是示意地表示用應用本發(fā)明的旋轉編碼器1實施的過采樣的內容的說明圖。

在本方式的旋轉編碼器1中，在獲取第一數據Dsin和第二數據Dcos時，為了提高數據的可靠性，實施以下說明的過采樣。并且，為了提高第一數據Dsin與第二數據Dcos的同時性，如下設定了獲取第一數據Dsin與第二數據Dcos的時點。

為了實現這樣的方法，在本方式的旋轉編碼器1中，如圖1所示，設置有時點控制部95，該時點控制部95對在A/D轉換器93中從第一模擬數據SIN獲取第一數據Dsin并且從第二模擬數據COS獲取第二數據Dcos的時點進行控制。并且，在控制部90構成了第一檢測值決定部97a(檢測值決定部)和第二檢測值決定部97b(檢測值決定部)，該第一檢測值決定部97a基于通過過采樣獲取的多個第一數據Dsin決定當前次數據檢測期間的第一檢測值Esin，該第二檢測值決定部97b基于第二數據Dcos決定當前次數據檢測期間內的第二檢測值Ecos。并且，在控制部90構成了運算部98和位置決定部96，該運算部98用第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos求得當前次數據檢測期間的反正切(θ＝TAN^-1(Esin/Ecos))，該位置決定部96基于反正切(θ＝TAN^-1(Esin/Ecos))的運算結果、第一霍爾元件61的檢測結果以及第二霍爾元件62的檢測結果決定旋轉體2在當前次數據檢測期間的絕對角度位置。在此，時點控制部95既可以采用設置在控制部90的內部的結構，也可以采用設置在控制部90的外部的結構，但是在本方式中，時點控制部95設置在控制部90的內部。并且，時點控制部95基于來自外部指令部99的指令設定條件?？刂撇?0由微型計算機構成，依據預先儲存在存儲器(未圖示)的程序進行參照圖4和圖5說明的處理。

(數據獲取工序S10)

在本方式中，如圖4所示，若旋轉編碼器1根據第一控制脈沖P1(參照圖5)進入數據檢測期間T，則開始以下數據獲取工序S10。首先，在步驟S1中，基于外部指令部99預先指示的內容，設定獲取數據總次數N，在步驟S2中，將變量n設為1。獲取數據總次數N設定為三次以上的奇數次，優(yōu)選設定為五次以上的奇數次。在本方式中，為了說明的簡化，以將獲取數據總次數N設定為五次為例進行說明。因此，在本方式中，在一次的數據檢測期間T內，根據控制脈沖P2(參照圖5)，在每一固定時間內合計有五次的時點，獲取來自第一檢測部4a的第一數據Dsin和來自第二檢測部4b的第二數據Dcos。

接下來，在步驟S3中，判斷變量n是否為奇數。在該判斷中，判斷出變量n為奇數時(圖5的時間t1)，在步驟S4中，A/D轉換器93基于從第一檢測部4a輸出的第一模擬數據SIN獲取第一數據Dsin(第一個第一數據Dsin1)。然后，在步驟S5中對變量n加1后(n＝2)，在步驟S7中，判斷變量n是否為N。在步驟S7的判斷中，判斷出變量n不為N時返回步驟S3。

接下來，在步驟S3中，判斷變量n是否為奇數。在該判斷中，判斷出變量n不為奇數時(圖5的時間t2)，在步驟S6中，A/D轉換器93基于從第二檢測部4b輸出的第二模擬數據COS獲取第二數據Dcos(第一個第二數據Dcos1)。然后，在步驟S5中對變量n加1后，在步驟S7中，判斷變量n是否為N。在步驟S7的判斷中，判斷出變量n不為N時，返回步驟S3。

接下來，在步驟S3的判斷中，判斷出變量n為奇數時(圖5的時間t3)，在步驟S4中，A/D轉換器93基于從第一檢測部4a輸出的第一模擬數據SIN獲取第一數據Dsin(第二個第一數據Dsin2)。然后，在步驟S5中，對變量n加1后(n＝3)，在步驟S7中，判斷變量n是否為N。在步驟S7的判斷中，判斷出變量n不為N時返回步驟S3。

接下來，在步驟S3的判斷中，判斷出變量n不為奇數時(圖5的時間t4)，在步驟S6中，A/D轉換器93基于從第二檢測部4b輸出的第二模擬數據COS獲取第二數據Dcos(第二個第二數據Dcos2)。然后，在步驟S5中，對變量n加1后(n＝4)，在步驟S7中，判斷變量n是否為N。在步驟S7的判斷中，判斷出變量n不為N時返回步驟S3。

接下來，在步驟S3的判斷中，判斷出變量n為奇數時(圖5的時間t5)，在步驟S4中，A/D轉換器93基于從第一檢測部4a輸出的第一模擬數據SIN獲取第一數據Dsin(第三個第一數據Dsin3)。然后，在步驟S5中，對變量n加1后(n＝5)，在步驟S7中，判斷變量n是否為N。

(檢測值決定工序)

在步驟S7的判斷中，判斷出變量n為N時，在步驟S8中實施檢測值決定工序。在該檢測值決定工序中，圖1所示的第一檢測值決定部97a基于第一數據Dsin(第一數據Dsin1、第一數據Dsin2、第一數據Dsin3)決定當前次數據檢測期間T的第一檢測值Esin，圖1所示的第二檢測值決定部97b基于第二數據Dcos(第二數據Dcos1、第二數據Dcos2)決定第二檢測值Ecos。例如，第一檢測值決定部97a將第一數據Dsin1、第一數據Dsin2以及第一數據Dsin3的算數平均數定為當前次數據檢測期間T的第一檢測值Esin，第二檢測值決定部97b將第二數據Dcos1以及第二數據Dcos2的算數平均數定為當前次數據檢測期間T的第二檢測值Ecos。

(運算工序)

接下來，在步驟S9中，利用第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos來求得當前次數據檢測期間的反正切(θ＝TAN^-1(Esin/Ecos))。其結果是，圖1所示的位置決定部96基于反正切(θ＝TAN^-1(Esin/Ecos))的運算結果、第一霍爾元件61的檢測結果以及第二霍爾元件62的檢測結果決定旋轉體2在當前次數據檢測期間T的絕對角度位置。然后，將變量n設為0，將獲取數據的總次數N初始化為0，當前次數據檢測期間T結束。

之后，根據第一控制脈沖P1(參照圖5)進入下一個數據檢測期間T，則反復進行同樣的動作。

(本方式的主要效果)

圖6是表示在應用本發(fā)明的旋轉編碼器1中實施過采樣的效果的說明圖。

如以上說明，在本方式的旋轉編碼器1中，由于在數據檢測期間T內獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數之和為三次以上，因而對第一數據Dsin與第二數據Dcos的至少一個進行獲取多次數據的過采樣。因此，能夠提高數據的可靠性。特別是在本方式中，由于在數據檢測期間T內獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數之和為五次以上，因而對第一數據Dsin和第二數據Dcos雙方進行獲取多次數據的過采樣。因此，能夠提高數據的可靠性。例如，在磁鐵20停止的狀態(tài)下獲取第一數據Dsin和第二數據Dcos時，在不實施過采樣時，如圖6(a)所示數據的偏差大，但在獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數之和為五次以上時，數據的偏差小。

并且，在本方式中，由于獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數之和為三次以上的奇數，因此在利用在第奇數次的時點獲取的第一數據Dsin的算數平均數決定第一檢測值Esin，利用在第偶數次的時點獲取的第二數據的算數平均數決定第二檢測值Ecos時，第一檢測值Esin與第二檢測值Ecos均與數據檢測期間T的中間的時間t3對應。因此，即使在采用過采樣的情況下，也能夠提高第一檢測值Esin與第二檢測值Ecos的同時性。

并且，在本方式中，按照數據檢測期間除以在檢測期間T內獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數之和所得的時間設定多次時點。因此，能夠使數據檢測期間T內的獲取數據次數變?yōu)樽畲蟆?/p>

(檢測值的決定方法的改良例)

在上述實施方式中，雖然在檢測值決定工序中使用算數平均數決定第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos，但也可以將第一數據Dsin相加從而算出第一檢測值Esin，將第二數據Dcos相加從而算出第二檢測值Ecos。這種情況下，在算出第一檢測值Esin與算出第二檢測值Ecos的至少一方中，通過乘以相對于數據檢測期間T的中間在前側和后側對稱的系數的加權和計算，使第一檢測值Esin的位長與第二檢測值Ecos的位長一致。并且，通過將在靠近數據檢測期間的中間的時間獲取的數據乘以比在離數據檢測期間的中間較遠的時間獲取的數據大的系數的加權和計算，使第一檢測值的位長與第二檢測值的位長一致。

通過這樣的結構，即使不用除法，也能夠決定第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos。因此，由于能夠減輕數據處理的負荷，從而能夠實現處理的高速化。并且，由于通過進行加權和計算，使第一檢測值Esin的位長與第二檢測值Ecos的位長一致，因此能夠容易地進行利用第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos的運算等。

那時，系數使用2的冪。通過這樣的結構，由于進行移位即可，因此不必進行乘法運算。因此，由于能夠減輕數據處理的負荷，所以能夠實現處理的高速化。

例如，在將第一數據Dsin相加從而算出第一檢測值Esin時，將乘以以下系數所得的值相加，并將該相加得出的值作為第一檢測值Esin。

系數(2°)×第一數據Dsin1

系數(2¹)×第一數據Dsin2

系數(2°)×第一數據Dsin3

與此相對，在將第二數據Dcos相加從而算出第二檢測值Ecos時，將乘以以下系數所得的值相加，并將該相加得出的值作為第二檢測值Ecos。

系數(2¹)×第二數據Dcos1

系數(2¹)×第二數據Dcos2

另外，在將第一數據Dsin的獲取次數與第二數據Dcos的獲取次數之和設為九次并獲取了合計五個第一數據Dsin1～Dsin5和合計四個第二數據Dcos1～Dcos4的情況下，也可以將系數按以下條件1、2、3進行設定，從而決定第一檢測值Esin和第二檢測值Ecos。

條件1

第一檢測值Esin

系數(2°)×第一數據Dsin1

系數(2¹)×第一數據Dsin2

系數(2¹)×第一數據Dsin3

系數(2¹)×第一數據Dsin4

系數(2°)×第一數據Dsin5

第二檢測值Ecos

系數(2¹)×第二數據Dcos1

系數(2¹)×第二數據Dcos2

系數(2¹)×第二數據Dcos3

系數(2¹)×第二數據Dcos4

條件2

第一檢測值Esin

系數(2°)×第一數據Dsin1

系數(2°)×第一數據Dsin2

系數(2¹)×第一數據Dsin3

系數(2°)×第一數據Dsin4

系數(2°)×第一數據Dsin5

第二檢測值Ecos

系數(2°)×第二數據Dcos1

系數(2¹)×第二數據Dcos2

系數(2¹)×第二數據Dcos3

系數(2°)×第二數據Dcos4

條件3

第一檢測值Esin

系數(2°)×第一數據Dsin1

系數(2°)×第一數據Dsin2

系數(2¹)×第一數據Dsin3

系數(2°)×第一數據Dsin4

系數(2°)×第一數據Dsin5

第二檢測值Ecos

系數(2¹)×第二數據Dcos1

系數(2°)×第二數據Dcos2

系數(2°)×第二數據Dcos3

系數(2¹)×第二數據Dcos4

(其他實施方式)

也可從圖1所示的外部指令部99等切換時點控制部95的條件，在當前次數據檢測期間T內，在多次時點中的第奇數次時點獲取第一數據Dsin，在第偶數次獲取第二數據Dcos，在下一次數據檢測期間T內，在多次時點中的第奇數次時點獲取第二數據Dcos，在第偶數次獲取第一數據Dsin。雖然在第奇數次獲取數據的次數與在第偶數次獲取數據的次數相比多了一次，但通過這樣的結構，由于在第奇數次獲取數據與在第偶數次獲取數據交替進行，從而能夠使獲取第一數據Dsin的次數與獲取第二數據Dcos的次數相等。

(檢測裝置的其他例子)

在上述實施方式中，雖然例示了旋轉編碼器1，但在具有兩個檢測部的檢測裝置中，若為交替地獲取數據的裝置，則也可以將本發(fā)明應用在其他傳感器裝置等。