本實用新型涉及傳感器位移測試領域，屬于一種液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺。

背景技術：

一種液壓缸位移傳感器的最終位移測量精度，需要經過專用測試平臺的檢測，液壓缸位移傳感器位移測量精度相對較高，為了準確檢測傳感器測量精度，需要精度更高的位移測試平臺，液壓缸位移傳感器的位移測試工作包含大行程位移測試和微位移測試。現(xiàn)有測試平臺難于同時滿足大行程位移測試和微位移測試，同時為了滿足高精度位移測試需求，測試平臺往往結構較為復雜，測試平臺成本較高。為解決上述問題，本實用新型提供了一種液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于提供一種結構簡單、經濟實用的液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺，在該平臺上可實施液壓缸位移傳感器的大行程位移測試和微位移測試。

本實用新型采用的技術方案如下：

一種液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺，包括螺旋活塞桿標尺、活塞桿標尺固定座、分度圓盤、指針、敏感探頭、敏感探頭固定支座、直線滑座、直線滑軌、支撐底座、光柵尺本體、光柵尺探頭、光柵尺探頭支座，其特征在于，螺旋活塞桿標尺兩端固定于活塞桿標尺固定座上，并可實現(xiàn)繞軸向轉動，活塞桿標尺固定座安裝固定于直線滑座上，直線滑座與直線滑軌配合可實現(xiàn)直線運動；所述光柵尺本體固定于活塞桿標尺固定座，光柵尺本體與光柵尺探頭保持規(guī)定的感應距離，光柵尺探頭通過光柵尺探頭支座固定于支撐底座上。

進一步地，所述分度圓盤與螺旋活塞桿標尺同心固定于螺旋活塞桿標尺一端，指針則在相應端通過孔配合實現(xiàn)與螺旋活塞桿標尺連接，通過旋轉指針可以帶動螺旋活塞桿標尺旋轉。

進一步地，所述分度圓盤將360度等分為720份，分度圓盤與螺旋活塞桿標尺同心固定于螺旋活塞桿標尺一端，指針則在相應端通過孔配合實現(xiàn)與螺旋活塞桿標尺連接。

進一步地，螺旋活塞桿標尺兩端在與活塞桿標尺固定座配合時采用間隙配合，同時需要保證加工、安裝配合時的合理誤差范圍。

進一步地，通過細分分度圓盤的刻度可以調節(jié)微位移測試精度，可以適應不同精度的微位移測試需求。

本實用新型采用螺旋活塞桿標尺形式，可以同時適應大行程位移測試和微位移測試：在進行大行程位移測試時，螺旋活塞桿標尺和光柵尺本體整體沿直線滑軌運動，此時螺旋活塞桿標尺和光柵尺本體位移相同，光柵尺探頭通過感應光柵記錄位移，并將光柵尺本體位移作為測試標準位移；在測試微位移時，通過旋轉指針帶動螺旋活塞桿標尺轉動，螺旋活塞桿標尺轉動和螺旋活塞桿標尺移動時的敏感頭的響應相同，在微位移測量時用螺旋活塞桿標尺的轉動代替螺旋活塞桿標尺的移動。

進行微位移測試的原理是將螺旋活塞桿標尺的一個齒距按分度圓盤刻度進行等分，可以通過旋轉指針使螺旋活塞桿標尺實現(xiàn)在一個齒距內的微位移測試，并可通過指針在分度圓盤上快捷讀數(shù)。

與現(xiàn)有技術相比，該測試平臺結構簡單、經濟實用，同時具備大行程位移測試和微位移測試功能，并且可通過調節(jié)分度圓盤精度以適應不同精度的微位移測試工作。

附圖說明

圖1為一種液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合具體實施方式對本專利的技術方案作進一步詳細地說明。

請參閱圖1，一種液壓缸位移傳感器高精度位移測試平臺，包括螺旋活塞桿標尺1、活塞桿標尺固定座2、分度圓盤3、指針4、敏感探頭5、敏感探頭固定支座6、直線滑座7、直線滑軌8、支撐底座9、光柵尺本體10、光柵尺探頭11、光柵尺探頭支座12，其特征在于，螺旋活塞桿標尺1兩端固定于活塞桿標尺固定座2上，并可實現(xiàn)繞軸向轉動，活塞桿標尺固定座2安裝固定于直線滑座7上，直線滑座7與直線滑軌8配合可實現(xiàn)直線運動；所述光柵尺本體10固定于活塞桿標尺固定座2，光柵尺本體10與光柵尺探頭11保持規(guī)定的感應距離，光柵尺探頭11通過光柵尺探頭支座12固定于支撐底座上。

在進行大行程位移測試時，螺旋活塞桿標尺1、活塞桿標尺固定座2、直線滑座7、光柵尺本體10一同沿直線滑軌8移動，此時螺旋活塞桿標尺1位移與光柵尺本體10位移相同，光柵尺探頭11所記錄的光柵尺本體10位移可作為螺旋活塞桿標尺1位移的測試標準；所述分度圓盤3與螺旋活塞桿標尺1同心固定于螺旋活塞桿標尺1一端，指針4則在相應端通過孔配合實現(xiàn)與螺旋活塞桿標尺1連接，通過旋轉指針4可以帶動螺旋活塞桿標尺1旋轉。

在進行微位移測試時，分度圓盤3固定在螺旋活塞桿標尺1一端，通過旋轉指針4使螺旋活塞桿標尺1發(fā)生同步旋轉，指針4旋轉一周等效于螺旋活塞桿標尺1位移為1個齒距的位移量，通過指針4旋轉不同的角度，可以實現(xiàn)螺旋活塞桿標尺1在一個齒距范圍內的微位移，本實用新型中采用將360度等分為720份，精度足以滿足測試要求，并且通過分度圓盤3可直接讀取旋轉讀數(shù)，經簡單換算即可得出位移測試中微位移的標準值。

上面對本專利的較佳實施方式作了詳細說明，但是本專利并不限于上述實施方式，在本領域的普通技術人員所具備的知識范圍內，還可以在不脫離本專利宗旨的前提下作出各種變化。