本實用新型老化架加工技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種老化架。

背景技術(shù)：

老化架是用于測試產(chǎn)品壽命的設(shè)備，在插線板生產(chǎn)加工領(lǐng)域，按照現(xiàn)有的技術(shù)，在測試插線板壽命時由于不同的插線板的插線接口不同，因此每次測試時需要制造不同的老化架來適應(yīng)不同接口的插線板。因此每次測試的成本較高，難以重復(fù)利用。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種老化架，能夠使得該老化架能夠通過替換部分模塊適用于各種不同規(guī)格的插線板測試，并可以適用于多個不同型號的插線板同時測試。

為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型通過下述技術(shù)方案得以解決：一種老化架，包括老化架箱體，所述箱體由若干支架分割成若干層容納部，每個所述容納部內(nèi)均設(shè)置有第一插口，所述容納部底部均設(shè)置有滑軌，所述滑軌上設(shè)置有滑片，所述滑片上設(shè)置有立桿以及若干通孔，所述滑片上設(shè)置有老化盒，所述老化盒底部設(shè)置有與所述立桿配合的倒鉤以及與所述若干通孔配合的若干凸起，所述老化盒上設(shè)置有與所述第一插口配合的插片，所述老化盒內(nèi)設(shè)置有調(diào)溫裝置以及可拆卸連接的第二插口。采用該結(jié)構(gòu)使得第二插口可以隨意更換與需要測試的插線板匹配的型號，老化盒與滑片配合并滑入到箱體內(nèi)，在滑入到箱體后第一插口與插片配合使得老化盒通電工作，同時在老化盒移動過程中老化盒與滑片之間是不會相對移動的，從而防止老化盒移動過程中發(fā)生掉落等意外。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的，所述箱體內(nèi)設(shè)置有風(fēng)扇以及溫度傳感器，所述風(fēng)扇以及所述溫度傳感器均與控制裝置連接。采用該結(jié)構(gòu)使得在溫度高于設(shè)定溫度時風(fēng)扇轉(zhuǎn)動使得箱內(nèi)溫度降低，從而保證箱內(nèi)溫度穩(wěn)定在設(shè)定溫度，防止內(nèi)部共同進行測試的老化盒之間發(fā)生相互影響。

本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下有益效果：采用該結(jié)構(gòu)使得第二插口可以隨意更換與需要測試的插線板匹配的型號，老化盒與滑片配合并滑入到箱體內(nèi)，在滑入到箱體后第一插口與插片配合使得老化盒通電工作，同時在老化盒移動過程中老化盒與滑片之間是不會相對移動的，從而防止老化盒移動過程中發(fā)生掉落等意外。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的箱體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實用新型實施例的老化盒結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步詳細描述：參見圖1至圖2，一種老化架，包括老化架箱體1，所述箱體1由若干支架分割成若干層容納部2，每個所述容納部2內(nèi)均設(shè)置有第一插口11，所述容納部2底部均設(shè)置有滑軌3，所述滑軌3上設(shè)置有滑片4，所述滑片4上設(shè)置有立桿41以及若干通孔42，所述滑片4上設(shè)置有老化盒5，所述老化盒5底部設(shè)置有與所述立桿41配合的倒鉤51以及與所述若干通孔42配合的若干凸起52，所述老化盒5上設(shè)置有與所述第一插口11配合的插片53，所述老化盒5內(nèi)設(shè)置有調(diào)溫裝置54以及可拆卸連接的第二插口55。采用該結(jié)構(gòu)使得第二插口可以隨意更換與需要測試的插線板匹配的型號，老化盒與滑片配合并滑入到箱體內(nèi)，在滑入到箱體后第一插口與插片配合使得老化盒通電工作，同時在老化盒移動過程中老化盒與滑片之間是不會相對移動的，從而防止老化盒移動過程中發(fā)生掉落等意外。

所述箱體1內(nèi)設(shè)置有風(fēng)扇12以及溫度傳感器13，所述風(fēng)扇12以及所述溫度傳感器13均與控制裝置連接。采用該結(jié)構(gòu)使得在溫度高于設(shè)定溫度時風(fēng)扇轉(zhuǎn)動使得箱內(nèi)溫度降低，從而保證箱內(nèi)溫度穩(wěn)定在設(shè)定溫度，防止內(nèi)部共同進行測試的老化盒之間發(fā)生相互影響。