本發(fā)明屬于金屬制件超聲波水浸檢測方法。

背景技術(shù)：

超聲波檢測是一種對各類金屬制件的缺陷(裂紋、氣孔、夾雜、分層等)進行檢測的無損檢測方法。隨著科技的高速發(fā)展，對各類工件的檢測要求越來越高，大量的工件檢測要求由之前的超聲波接觸法檢測改為超聲波水浸法檢測。水浸法檢測的可靠性遠高于接觸法檢測，其檢測效率也遠低于接觸法檢測。目前大部分水浸檢測采用單靈敏度系統(tǒng)，對缺陷和底損分別檢測，檢測效率低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是：提出一種金屬制件超聲波水浸檢測方法，縮短產(chǎn)品的檢測周期，提高檢測效率。

本發(fā)明的技術(shù)方案：

一種金屬制件超聲波水浸檢測方法，包含以下步驟：

步驟一：將設(shè)備靈敏度調(diào)整為正常的檢測靈敏度；

步驟二：調(diào)整監(jiān)視屏的監(jiān)控范圍，使多次底反射波出現(xiàn)在屏幕之上，波高低于滿屏幕的80％的第N次底波出現(xiàn)即可；

步驟三：對工件缺陷進行檢測并采集數(shù)據(jù)，同時對第N次底波的波高變化進行數(shù)據(jù)采集，；

步驟四：若N次底波的波高變化不大于50％，則N次底波的底損合格，視為工件底損合格；若N次底的波高變化大于50％，則N次底波的底損不合格，對一次底的底損進行檢測，以一次底波的底損檢測結(jié)果做為最終結(jié)果。

有益效果

使用本發(fā)明，若底損合格，同一被檢面只需掃查一次即可同時完成金屬制件的缺陷和底損的檢測，檢測效率提高一倍。

具體實施方式

下面對本發(fā)明的具體實施方案做進一步說明。

步驟一：將設(shè)備靈敏度調(diào)整為正常的檢測靈敏度：

根據(jù)工件的厚度、材料選擇對應(yīng)的TCG曲線，并加上表面補償，

步驟二：調(diào)整監(jiān)視屏的監(jiān)控范圍，使多次底反射波出現(xiàn)在屏幕之上，波高低于滿屏幕的80％的第N次底波出現(xiàn)即可；

步驟三：對工件缺陷進行檢測并采集數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)采集起始點設(shè)置為所選用探頭可發(fā)現(xiàn)的最小埋深位置，將數(shù)據(jù)采集終點設(shè)置為探頭可發(fā)現(xiàn)的最大埋深位置或一次底波之前的3mm；同時對第N次底波的波高變化進行數(shù)據(jù)采集；

步驟四：若N次底波的波高變化不大于50％，則N次底波的底損合格，視為工件底損合格；若N次底的波高變化大于50％，則N次底波的底損不合格，對一次底的底損進行檢測，以一次底波的底損檢測結(jié)果做為最終結(jié)果。

以下結(jié)合實施例對具體實施方式進行說明。

實施例1：鍛件材料：GH4169；厚度80mm,HB/Z34AA級.

步驟一：將設(shè)備靈敏度調(diào)整為正常的檢測靈敏度；

調(diào)用IHM探頭的GH4169,Φ0.8,TCG曲線；實測表面補償2dB；

步驟二：調(diào)整監(jiān)視屏的監(jiān)控范圍，發(fā)現(xiàn)第3次底波波高為72％；

步驟三：對工件缺陷進行檢測并采集數(shù)據(jù)：將數(shù)據(jù)采集起始點設(shè)置為5mm，將數(shù)據(jù)采集終點設(shè)置為77mm；

同時對第N次底波的波高變化進行數(shù)據(jù)采集；將數(shù)據(jù)采集起始點置于第3次底波之前，終點置于3次底波之后；在完成底波監(jiān)控之后，第3次底的底損60％～82％，合格，則底損合格。

實施例2：鍛件材料：TC11；厚度120mm；HB5265；

步驟一：將設(shè)備靈敏度調(diào)整為正常的檢測靈敏度；

調(diào)用IHM探頭的TC4,Φ0.8,TCG曲線；實測表面補償3dB；

步驟二：調(diào)整監(jiān)視屏的監(jiān)控范圍，發(fā)現(xiàn)第2次底波波高為68％；

步驟三：對工件缺陷進行檢測并采集數(shù)據(jù)：將數(shù)據(jù)采集起始點設(shè)置為5mm，將數(shù)據(jù)采集終點設(shè)置為117mm；

同時對第N次底波的波高變化進行數(shù)據(jù)采集；將數(shù)據(jù)采集起始點置于第2次底波之前，終點置于2次底波之后；在完成底波監(jiān)控之后，第2次底的底損35％～75％，不合格，則重新對一次底損進行監(jiān)控，結(jié)果為61％～90，合格。