本發(fā)明涉及氣體檢測領(lǐng)域,特別涉及一種基于納米材料的傳感器檢測氣體的方法。
背景技術(shù):
環(huán)境安全和工業(yè)安全監(jiān)控是社會經(jīng)濟(jì)可持續(xù)發(fā)展的先決條件和基礎(chǔ)保障。在全球經(jīng)濟(jì)高速發(fā)展及各種高強(qiáng)度人類活動的影響下,環(huán)境安全和工業(yè)安全面臨著巨大的挑戰(zhàn),主要環(huán)境安全問題和工業(yè)安全問題包括:大氣污染、水污染、土壤污染、煤礦安全生產(chǎn)等等。
而解決主要環(huán)境安全問題和工業(yè)安全問題的關(guān)鍵因素之一,就是先進(jìn)傳感器件的研發(fā),先進(jìn)的傳感器能夠用于監(jiān)測各類有毒有害氣體,以霧霾為例,二氧化硫、氮氧化物和可吸入顆粒物是霧霾的主要組成。
因此,在當(dāng)前人們越來越注重環(huán)境保護(hù)和生活安全的情況下,對一些有害氣體和危險氣體的檢測就顯得越來越重要。
而氣體傳感器是一種用于感測待檢測氣體的傳感設(shè)備,氣體傳感器能應(yīng)用于檢測例如一氧化碳、硫化氫、二氧化硫、氫氣或乙醇等各種氣體,廣泛應(yīng)用于安全檢測、環(huán)境檢測等各種環(huán)境。
通常的氣體傳感器包括熱線性傳感器、固體電解質(zhì)氣體傳感器、電化學(xué)氣體傳感器和光學(xué)氣體傳感器,
但是上述大部分氣體傳感器靈敏度差、檢測精度低、兼容性低,且需要額外的電源驅(qū)動,以及需要連線傳輸信號或檢測數(shù)據(jù)。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明解決的問題是提供一種無需電源驅(qū)動和連線傳輸信號或檢測數(shù)據(jù),且靈敏度高、檢測精度高、兼容性好的氣體傳感器。
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種傳感器的形成方法,提供半導(dǎo)體襯底,所述半導(dǎo)體襯底具有第一表面和與第一表面相對的第二表面,所述半導(dǎo)體襯底的第一表面具有第一介質(zhì)層,第二表面具有第二介質(zhì)層;在所述第一介質(zhì)層表面形成若干MoS2納米結(jié)構(gòu),若干MoS2納米結(jié)構(gòu)呈線性排列;在所述第一介質(zhì)層表面形成傳輸線,所述傳輸線具有間隔,所述間隔適于容納所述MoS2納米結(jié)構(gòu);在所述半導(dǎo)體襯底的第二介質(zhì)層表面形成接地層,所述接地層形成有互補(bǔ)開口諧振環(huán),所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)的位置與所述MoS2納米結(jié)構(gòu)的位置對應(yīng)。
可選的,在所述第一介質(zhì)層表面形成若干MoS2納米結(jié)構(gòu)包括:提供石英管式爐,所述石英管式爐具有連通的第一溫區(qū)和第二溫區(qū),三氧化鉬粉末、硫粉;將三氧化鉬粉末放置于石英管式爐內(nèi)的第一溫區(qū),形成有介質(zhì)層的半導(dǎo)體襯底設(shè)置于三氧化鉬粉末的上方,半導(dǎo)體襯底與三氧化鉬粉末的間距為1厘米至5厘米;將硫粉放置于石英管式爐的第二溫區(qū),其中硫粉與三氧化鉬粉末的間距為17厘米至20厘米;其中,第一溫區(qū)的溫度設(shè)置為650攝氏度至800攝氏度,第二溫區(qū)的溫度設(shè)置為180攝氏度至300攝氏度,石英管式爐在制備過程中始終通入30sccm的氬氣,且氬氣沿第二溫區(qū)流向第一溫區(qū);保持第一溫區(qū)650攝氏度至800攝氏度的時間為5分鐘后,讓管式爐自然冷卻到室溫,取出在所述介質(zhì)層表面形成MoS2納米線層的半導(dǎo)體襯底;在所述半導(dǎo)體襯底100表面形成光刻膠圖形,所述光刻膠圖形覆蓋部分MoS2納米線且所述光刻膠圖形與待形成的線性排列的MoS2納米線對應(yīng),采用刻蝕工藝去除未被覆蓋的MoS2納米線,然后去除所述光刻膠圖形,形成若干間隔的MoS2納米線且若干MoS2納米線呈線性排列。
可選的,所述傳輸線的形成工藝包括:采用光刻膠圖形覆蓋所述MoS2納米結(jié)構(gòu),所述光刻膠圖形暴露出若干所述介質(zhì)層表面,所述光刻膠圖形與待形成的傳輸線對應(yīng),采用物理氣相沉積工藝在所述介質(zhì)層表面形成金屬薄膜;去除光刻膠圖形,形成具有間隔的傳輸線。
可選的,所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)的結(jié)構(gòu)為兩個互相反向放置的同心開口諧振環(huán),所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)的形成工藝包括:在所述接地層表面形成光刻膠圖形,所述光刻膠圖形具有與互補(bǔ)開口諧振環(huán)對應(yīng)的圖形;以所述光刻膠圖形為掩膜,刻蝕所述接地層,直至暴露出第二介質(zhì)層;去除所述光刻膠圖形,形成互補(bǔ)開口諧振環(huán)。
本發(fā)明還提供一種傳感器,包括:具有第一表面和與第一表面相對的第二表面的半導(dǎo)體襯底;位于第一表面的第一介質(zhì)層;位于第二表面的第二介質(zhì)層;位于第一介質(zhì)層表面的傳輸線,且傳輸線具有間隔;填充所述間隔的MoS2納米結(jié)構(gòu);位于第二介質(zhì)層的接地層,所述接地層內(nèi)具有互補(bǔ)開口諧振環(huán),互補(bǔ)開口諧振環(huán)的位置與傳輸線的間隔對應(yīng)。
可選的,半導(dǎo)體襯底厚度為400微米至600微米,介電常數(shù)約為11.9;所述第一介質(zhì)層的材料為氧化硅,所述第一介質(zhì)層110的厚度為10到30微米,所述第一介質(zhì)層的介電常數(shù)為4;所述第二介質(zhì)層的材料為氧化硅,所述第二介質(zhì)層的厚度為10到30微米,所述第二介質(zhì)層的介電常數(shù)為4;所述傳輸線長度為11毫米至13毫米,寬度為0.6毫米;所述接地層的厚度為5微米至20微米。
可選的,所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)的結(jié)構(gòu)為兩個互相反向放置的同心開口諧振環(huán),其中,較大的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為5.52毫米,環(huán)的外徑為5.92毫米。較小的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為4.72毫米,環(huán)的外徑為5.12毫米。較大的開口諧振環(huán)與較小的開口諧振環(huán)的間距為0.2毫米。
可選的,當(dāng)所述傳感器的MoS2納米結(jié)構(gòu)數(shù)量為1時,所述傳感器的等效電路為:輸入端,所述輸入端連接傳輸線第一等效電感的第一端,傳輸線第一等效電感的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電阻的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電阻的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電感的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電感的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電容的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電容的第二端連接傳輸線第二等效電感的第一端,傳輸線第二等效電感的第二端連接輸出端,傳輸線第一等效電容的第一端連接傳輸線第一等效電感的第二端,傳輸線第一等效電容的第二端連接傳輸線第二等效電容的第一端,傳輸線第二等效電容的第二端連接傳輸線第二等效電感的第一端;互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電感的第一端連接傳輸線第一等效電容的第二端,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電容的第一端連接傳輸線第一等效電容的第二端,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電感的第二端連接互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電容的第二端并接地。
本發(fā)明還提供一種傳感器檢測氣體的方法,包括:獲取第一曲線,所述第一曲線為:在沒有待檢測氣體的環(huán)境下,所述傳感器的頻率與S11的曲線;將傳感器放置于待檢測環(huán)境,獲取第二曲線,所述第二曲線為:在待檢測環(huán)境下,所述傳感器的頻率與S11的曲線;通過比較第一曲線和第二曲線的頻移的諧振頻率變化與否,檢測待檢測環(huán)境下是否存在待檢測氣體。
可選的,還包括:通過獲取待檢測環(huán)境的多條第二曲線,根據(jù)多條第二曲線頻移的諧振頻率變化幅度,來獲取待檢測環(huán)境的待檢測氣體濃度。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
本發(fā)明的傳感器的實施例采用納米材料MoS2結(jié)合互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器,通過納米材料MoS2吸收氣體后,其材料的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化,從而最終引起傳感器諧振頻率的變化,通過測量諧振頻率的偏移,從而獲得氣體的濃度變化,起到檢測報警作用,而采用互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的同心圓之間的邊緣電容效應(yīng)發(fā)生諧振,互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器使得器件在特定頻段具有負(fù)介電常數(shù)和負(fù)磁導(dǎo)率,使得傳感器的尺寸和工作頻率相比很小,可小型化,并且傳感器具有好的品質(zhì)因數(shù),可提高傳感器靈敏性,拓展了左手材料及納米材料在現(xiàn)代檢測技術(shù)中的應(yīng)用。
本發(fā)明的傳感器的形成方法采用大規(guī)模集成電路工藝形成微波器件單元,優(yōu)化基于納米材料的傳感器的工藝步驟。
本發(fā)明的傳感器檢測氣體的方法能夠檢測不同濃度的氣體,通過諧振頻率變化獲知檢測氣體的濃度變化,檢測精度高。
附圖說明
圖1是本發(fā)明傳感器的形成方法的一實施例的流程示意圖;
圖2至圖8是本發(fā)明的傳感器的形成方法一實施例的過程示意圖;
圖9是本發(fā)明的傳感器一實施例的等效電路示意圖;
圖10是本發(fā)明傳感器一實施例的測試氣體示意圖。
具體實施方式
現(xiàn)有的大部分氣體傳感器靈敏度差、檢測精度低、兼容性低,且需要額外的電源驅(qū)動,以及需要連線傳輸信號或檢測數(shù)據(jù)。以熱線性傳感器為例,熱線性傳感器是利用熱導(dǎo)率變化的半導(dǎo)體傳感器,是在Pt絲線圈上涂敷SnO2層,Pt絲除起加熱作用外,還有檢測溫度變化的功能。施加電壓半導(dǎo)體變熱,表面吸氧,使自由電子濃度下降,可燃性氣體存在時,由于燃燒耗掉氧自由電子濃度增大,導(dǎo)熱率隨自由電子濃度增加而增大,散熱率相應(yīng)增高,使Pt絲溫度下降,阻值減小,Pt絲阻值變化與氣體濃度為線性關(guān)系。
但是,Pt絲線圈上涂敷SnO2層無法采用集成電路工藝進(jìn)行制造,兼容性低,另外需要采用額外的電源驅(qū)動以及連線連接熱線性傳感器。并且隨著物聯(lián)網(wǎng)的興起,現(xiàn)有的傳感器無法與射頻器件兼容,因而無法兼容于物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)。
為此,本發(fā)明的發(fā)明人提出一種基于納米材料的傳感器及其形成方法,將能采用集成電路工藝制造基于納米材料的傳感器,所述傳感器基于納米材料和互補(bǔ)開口諧振環(huán)來探測氣體,是一種無線無源氣體傳感器;可以用于易燃、易爆、高溫、低溫、強(qiáng)電磁場、運(yùn)動物體及其它傳感器無法應(yīng)用的特殊場合,具有應(yīng)用廣泛的優(yōu)點(diǎn);所述傳感器是優(yōu)良的傳感載體和無源器件,并且采用了互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的同心圓之間的邊緣電容效應(yīng)發(fā)生諧振,互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器使得器件在特定頻段具有負(fù)介電常數(shù)和負(fù)磁導(dǎo)率,使得傳感器的尺寸和工作頻率相比很小,可小型化,并且傳感器具有好的品質(zhì)因數(shù),可提高傳感器靈敏性,拓展了左手材料及納米材料在現(xiàn)代檢測技術(shù)中的應(yīng)用。
進(jìn)一步地,通過設(shè)置傳感器的參數(shù),使得傳感器的工作范圍是射頻微波領(lǐng)域,可直接收發(fā)射頻和微波電磁波,實現(xiàn)非接觸無線傳感,具有無電源和信號連線,體積小,成本低、靈敏度高、功耗低、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),適合復(fù)雜環(huán)境下的應(yīng)用。也可用于運(yùn)動部件及不可接觸對象的檢測。
所述傳感器是采用具有雙負(fù)特性(負(fù)介電常數(shù)和負(fù)磁導(dǎo)率)左手材料逆開口的互補(bǔ)開口諧振環(huán)的諧振器結(jié)合氣敏材料MoS2研制,通過納米材料MoS2吸收不同氣體后,其材料的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化,從而最終引起傳感器諧振頻率的變化,通過測量諧振頻率的偏移,從而獲得氣體的濃度變化,起到檢測報警作用。
所述傳感器具有無需電池供應(yīng)能量,也無需互聯(lián)線傳輸信號,可極大拓寬傳感器使用壽命和應(yīng)用環(huán)境,解決了惡劣環(huán)境下引線難和不穩(wěn)定等問題,另外能夠應(yīng)用于被測對象與信號處理系統(tǒng)間無法用電纜、光纖等連接,不方便提供電源或處于惡劣環(huán)境中。
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更為明顯易懂,下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施例做詳細(xì)的說明。
本發(fā)明的實施例提供一種基于納米材料的傳感器的形成方法,請參考圖1,包括如下步驟:
S101,提供半導(dǎo)體襯底,所述半導(dǎo)體襯底具有第一表面和與第一表面相對的第二表面,所述半導(dǎo)體襯底的第一表面具有第一介質(zhì)層,第二表面具有第二介質(zhì)層;
S102,在所述第一介質(zhì)層表面形成若干MoS2納米結(jié)構(gòu),若干MoS2納米結(jié)構(gòu)呈線性排列;
S103,在所述第一介質(zhì)層表面形成傳輸線,所述傳輸線具有間隔,所述間隔適于容納所述MoS2納米結(jié)構(gòu);
S104,在所述半導(dǎo)體襯底的第二介質(zhì)層表面形成接地層,所述接地層形成有互補(bǔ)開口諧振環(huán),所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)的位置與所述MoS2納米結(jié)構(gòu)的位置對應(yīng)。
具體地,請參考圖2,提供半導(dǎo)體襯底100,所述半導(dǎo)體襯底100具有第一表面I和與第一表面I相對的第二表面II。
所述半導(dǎo)體襯底100可以為半導(dǎo)體材料,比如所述半導(dǎo)體襯底100可以為單晶硅、單晶鍺硅、單晶GaAs、單晶GaN等單晶的半導(dǎo)體材料(比如II-VI族、III-V族化合物半導(dǎo)體),所述半導(dǎo)體襯底100的材料還可以是n型摻雜或p型摻雜硅襯底,多晶襯底或者是非晶襯底,比如所述半導(dǎo)體襯底100材料可以是多晶硅或者其他材質(zhì)。
需要說明的是,所述半導(dǎo)體襯底100用于為后續(xù)形成的傳感器提供載體平臺,后續(xù)將在所述平臺上形成傳輸線和互補(bǔ)開口諧振環(huán)等微波器件單元,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知曉,微波器件單元通常形成于微波PCB板載體平臺上,但是微波PCB板無法與集成電路工藝兼容,為此,本發(fā)明的實施例選用與集成電路工藝兼容的所述半導(dǎo)體襯底100,并采用集成電路工藝形成微波器件單元,以優(yōu)化基于納米材料的傳感器的工藝步驟。
需要指出的是,現(xiàn)有的半導(dǎo)體器件通常只形成于半導(dǎo)體襯底的工作面,而由于本實施例的所述半導(dǎo)體襯底100用于為后續(xù)形成的傳感器提供載體平臺,需要在所述半導(dǎo)體襯底100的第一表面I和第二表面II分別對應(yīng)形成微波器件單元。作為一實施例,第一表面I可以為半導(dǎo)體襯底的工作面;作為另一實施例,第二表面II可以為半導(dǎo)體襯底的工作面。
在本實施例中,所述半導(dǎo)體襯底選用介電常數(shù)約為11.9的p型硅襯底。
請依舊參考圖2,在所述半導(dǎo)體襯底100的第一表面I形成第一介質(zhì)層110,在第二表面形成第二介質(zhì)層150。
所述第一介質(zhì)層110的用于電學(xué)隔離后續(xù)形成的微波器件單元和所述半導(dǎo)體襯底100。
所述第一介質(zhì)層110的材料為氧化硅、氮化硅、氮氧化硅等介質(zhì)材料;所述第一介質(zhì)層110的厚度為10到30微米,作為一實施例,所述第一介質(zhì)層110的厚度為20微米;作為一實施例,所述第一介質(zhì)層110的材料為氧化硅,形成工藝為氧化工藝或化學(xué)氣相沉積工藝。
需要說明的是,也可以直接選用第一表面具有第一介質(zhì)層110的所述半導(dǎo)體襯底100,而不需要額外再形成第一介質(zhì)層110;本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)實際工藝來選用所需的半導(dǎo)體襯底,在此特意說明,不應(yīng)過分限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
在本實施例中,所述第一介質(zhì)層110的材料為氧化硅,厚度為20微米,介電常數(shù)約為4。
所述第二介質(zhì)層150的用于電學(xué)隔離后續(xù)形成的互補(bǔ)開口諧振環(huán)和所述半導(dǎo)體襯底100。
所述第二介質(zhì)層150的材料為氧化硅、氮化硅、氮氧化硅等介質(zhì)材料;所述第二介質(zhì)層150的厚度為10到30微米,作為一實施例,所述第二介質(zhì)層150的厚度為20微米;作為一實施例,所述第二介質(zhì)層150的材料為氧化硅,形成工藝為氧化工藝或化學(xué)氣相沉積工藝。
需要說明的是,也可以直接選用第二表面具有第二介質(zhì)層150的所述半導(dǎo)體襯底100,而不需要額外再形成第二介質(zhì)層150;本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)實際工藝來選用所需的半導(dǎo)體襯底,在此特意說明,不應(yīng)過分限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
在本實施例中,所述第二介質(zhì)層150的材料為氧化硅,厚度為20微米,介電常數(shù)約為4。
請參考圖3,在所述第一介質(zhì)層110表面形成若干的MoS2納米結(jié)構(gòu)122,若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122呈線性排列。
所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122適于吸附待探測氣體,從而導(dǎo)致MoS2納米結(jié)構(gòu)的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化,從而最終引起傳感器諧振頻率的變化,通過測量諧振頻率的偏移,從而獲得氣體的濃度變化。另外,MoS2納米結(jié)構(gòu)122由于具有較大的比表面積,吸附氣體的相應(yīng)時間短,從而探測氣體比較靈敏。
MoS2納米結(jié)構(gòu)122的數(shù)量可以為1、2、3、4…;需要說明的是,MoS2納米結(jié)構(gòu)122的數(shù)量越多,傳感器探測的靈敏度越高,但是由于MoS2納米結(jié)構(gòu)的比表面積大,吸附待探測氣體后介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化明顯,因此,當(dāng)MoS2納米結(jié)構(gòu)122的數(shù)量為1時,傳感器探測的靈敏度也具有較高的值,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)傳感器探測的靈敏度選擇MoS2納米結(jié)構(gòu)122的數(shù)量。
需要說明的是,若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122的間距可以相同也可以不同,本發(fā)明以若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122的間距相同做示范性說明,但是,在其他實施例中,若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122的間距也可不同或不全相同;發(fā)明人發(fā)現(xiàn)若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122的間距的選擇會影響后續(xù)傳感器的諧振頻率值。
作為一實施例,以MoS2納米線為例做示范性說明,在所述第一介質(zhì)層表面形成若干間隔的MoS2納米結(jié)構(gòu)122,若干MoS2納米結(jié)構(gòu)122呈線性排列包括如下步驟:采用化學(xué)氣相沉積工藝在所述介質(zhì)層表面形成MoS2納米線層;采用光刻工藝形成若干間隔的MoS2納米線且若干MoS2納米結(jié)構(gòu)呈線性排列。
作為一實施例,請參考圖4,采用化學(xué)氣相沉積工藝在所述介質(zhì)層表面形成MoS2納米線層,具體包括:提供石英管式爐200,所述石英管式爐200具有連通的第一溫區(qū)201和第二溫區(qū)202,三氧化鉬(MoO3)粉末203、硫粉(S)204和形成有介質(zhì)層(圖4未示出)的半導(dǎo)體襯底100;將三氧化鉬粉末203放置于石英管式爐200內(nèi)的第一溫區(qū)201,形成有介質(zhì)層的半導(dǎo)體襯底100設(shè)置于三氧化鉬粉末203的上方,半導(dǎo)體襯底100與三氧化鉬粉末203的間距為1厘米至5厘米;將硫粉204放置于石英管式爐的第二溫區(qū)202,其中硫粉204與三氧化鉬粉末203的間距為17厘米至20厘米;其中,第一溫區(qū)201的溫度設(shè)置為650攝氏度至800攝氏度,第二溫區(qū)202的溫度設(shè)置為180攝氏度至300攝氏度,石英管式爐200在制備過程中始終通入30sccm的氬氣(Ar),且氬氣沿第二溫區(qū)202流向第一溫區(qū)201;保持第一溫區(qū)650攝氏度至800攝氏度的時間為5分鐘后,讓管式爐自然冷卻到室溫,取出在所述介質(zhì)層表面形成MoS2納米線層的半導(dǎo)體襯底100。
請參考圖5,圖5為采用化學(xué)氣相沉積工藝在所述介質(zhì)層表面形成MoS2納米線層中單根MoS2納米線的原子力顯微鏡圖片,從圖5中可以獲知,MoS2納米線的長度大于1000納米,寬度約為20納米至50納米,且MoS2納米線具有節(jié),上述納米結(jié)構(gòu)具有較大的比表面積,能夠吸附待探測氣體,從而導(dǎo)致MoS2納米結(jié)構(gòu)的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化。
采用光刻工藝形成若干間隔的MoS2納米線且若干MoS2納米線呈線性排列,包括如下步驟:在所述半導(dǎo)體襯底100表面形成光刻膠圖形(未示出),所述光刻膠圖形覆蓋部分MoS2納米線且所述光刻膠圖形與待形成的線性排列的MoS2納米線對應(yīng),采用刻蝕工藝去除未被覆蓋的MoS2納米線,然后去除所述光刻膠圖形,形成若干間隔的MoS2納米線且若干MoS2納米線呈線性排列。
還需要說明的是,控制MoS2納米結(jié)構(gòu)的生長溫度、間距、氣體流量還可以制備出MoS2的納米棒、納米帶、納米晶須等納米結(jié)構(gòu),在此特意說明,不應(yīng)過分限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
請參考圖6,在所述第一介質(zhì)層110表面形成傳輸線120,所述傳輸線120具有間隔121,所述間隔121適于容納所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122;
所述傳輸線120用于傳輸微波信號,所述傳輸線的材料為金屬,例如銅、金、銀等。
所述傳輸線120為長條狀,傳輸線120沿長度方向排列,其中,所述傳輸線長度為11毫米至13毫米,寬度為0.6毫米,間隔121為0.3毫米。
作為一實施例,所述傳輸線120的形成工藝包括:采用光刻膠圖形覆蓋所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122,所述光刻膠圖形暴露出若干所述第一介質(zhì)層110表面,所述光刻膠圖形與待形成的傳輸線120對應(yīng),采用物理氣相沉積工藝在所述第一介質(zhì)層110表面形成金屬薄膜(未標(biāo)示);去除光刻膠圖形,形成具有間隔121的傳輸線120。
請一并參考圖7和圖8,其中圖8為沿垂直第二表面II方向的圖7的俯視圖,在第二介質(zhì)層150表面形成接地層130,所述接地層形成有互補(bǔ)開口諧振環(huán)131。
其中,互補(bǔ)開口諧振環(huán)131作用為:當(dāng)電磁波入射時,如果磁場方向垂直于開口諧振環(huán)平面,則開口諧振環(huán)上金屬結(jié)構(gòu)表面金屬帶部分產(chǎn)生電流回路,等效為電感;位移電流位于開口諧振環(huán)內(nèi)外金屬環(huán)間縫隙和各環(huán)開口處,等效為電容。因此,在入射電磁波磁場激勵下,開口諧振環(huán)產(chǎn)生諧振,并且等效磁導(dǎo)率為負(fù)?;パa(bǔ)開口諧振環(huán)是開口諧振環(huán)的互補(bǔ)結(jié)構(gòu)。由傳輸線理論,準(zhǔn)TEM模式使金屬帶條和地板間有強(qiáng)烈的電場分布,當(dāng)電場強(qiáng)度足夠大且正好平行于互補(bǔ)開口諧振環(huán)中心軸線,就能夠較好地對互補(bǔ)開口諧振環(huán)進(jìn)行激勵,并產(chǎn)生負(fù)的介電常數(shù),互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器使得器件在特定頻段具有負(fù)介電常數(shù)和負(fù)磁導(dǎo)率,使得傳感器的尺寸和工作頻率相比很小,可小型化,并且傳感器具有好的品質(zhì)因數(shù),可提高傳感器靈敏性。
因此,所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)131能夠放大消逝波,使得諧振環(huán)區(qū)域電場強(qiáng),增強(qiáng)傳感器靈敏性,并且所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)131結(jié)構(gòu)的超材料特性具有雙負(fù)性,能夠可以減小器件尺寸,例如所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)131結(jié)構(gòu)的超材料可在λ/8至λ//12諧振(需要說明的是:λ是傳感器工作頻率對應(yīng)的波長),從而減小器件尺寸。
進(jìn)一步的,選用所述互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的氣體傳感器具有低功耗。
作為一實施例,互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的結(jié)構(gòu)為兩個互相反向放置的同心開口諧振環(huán),其中,較大的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為5.52毫米,環(huán)的外徑為5.92毫米。較小的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為4.72毫米,環(huán)的外徑為5.12毫米。較大的開口諧振環(huán)與較小的開口諧振環(huán)的間距為0.2毫米。
互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的位置與傳輸線120的間隔121對應(yīng),作為一實施例,間隔121投影的位置位于互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的中心位置。為了示意,所述傳輸線120在圖8中的投影以虛線示出。
具體地,在第二介質(zhì)層150的表面形成接地層130的工藝包括:采用物理氣相沉積工藝在所述第二介質(zhì)層150的表面形成接地層130。
接地層130的厚度為5微米至20微米,接地層的材料為金屬,例如銅、金、銀等。
在所述接地層130內(nèi)形成互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的步驟包括:在所述接地層130表面形成光刻膠圖形(未示出),所述光刻膠圖形具有與互補(bǔ)開口諧振環(huán)131對應(yīng)的圖形;以所述光刻膠圖形為掩膜,刻蝕所述接地層130,直至暴露出所述第二介質(zhì)層150的表面;去除所述光刻膠圖形,形成互補(bǔ)開口諧振環(huán)131。
本發(fā)明還提供一種傳感器的實施例,包括:具有第一表面I和與第一表面I相對的第二表面II的半導(dǎo)體襯底100;位于第一表面I的第一介質(zhì)層110;位于第二表面II的第二介質(zhì)層150;位于第一介質(zhì)層110表面的傳輸線120,且傳輸線120具有間隔121;填充所述間隔121的MoS2納米結(jié)構(gòu);位于第二介質(zhì)層150的接地層130,所述接地層130內(nèi)具有互補(bǔ)開口諧振環(huán)131,互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的位置與傳輸線的間隔121對應(yīng)。
具體地,半導(dǎo)體襯底100厚度為400微米至600微米,介電常數(shù)約為11.9;
所述第一介質(zhì)層110的材料為氧化硅、氮化硅、氮氧化硅等介質(zhì)材料;所述第一介質(zhì)層110的厚度為10到30微米,所述第一介質(zhì)層110的介電常數(shù)約為4。
所述第二介質(zhì)層150的材料為氧化硅、氮化硅、氮氧化硅等介質(zhì)材料;所述第二介質(zhì)層150的厚度為10到30微米,所述第二介質(zhì)層150的介電常數(shù)約為4。
所述傳輸線120為長條狀,傳輸線120沿長度方向排列,其中,所述傳輸線長度為11毫米至13毫米,寬度為0.6毫米,間隔121為0.3毫米。所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122適于吸附待探測氣體,從而導(dǎo)致MoS2納米結(jié)構(gòu)的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化,從而最終引起傳感器諧振頻率的變化,通過測量諧振頻率的偏移,從而獲得氣體的濃度變化。MoS2納米結(jié)構(gòu)122的數(shù)量可以為1、2、3、4…;MoS2納米結(jié)構(gòu)可以為MoS2的納米棒、納米帶、納米晶須等納米結(jié)構(gòu)。
互補(bǔ)開口諧振環(huán)131的結(jié)構(gòu)為兩個互相反向放置的同心開口諧振環(huán),其中,較大的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為5.52毫米,環(huán)的外徑為5.92毫米。較小的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為4.72毫米,環(huán)的外徑為5.12毫米。較大的開口諧振環(huán)與較小的開口諧振環(huán)的間距為0.2毫米。
需要說明的是,所述傳感器可以做以下近似:互補(bǔ)開口諧振環(huán)131忽略對諧振頻率影響較小的電阻,其性能接近于一個LC網(wǎng)絡(luò);傳輸線120可以等效為電容和電感,MoS2納米結(jié)構(gòu)122等效為RLC電路,來調(diào)諧諧振的頻率。
其中,以具有一個MoS2納米結(jié)構(gòu)122的傳感器為例,其中所述傳感器的傳輸線120為長條狀,所述傳輸線120只有1個間隔,圖9為所述傳感器的等效電路,包括:輸入端,所述輸入端連接傳輸線第一等效電感L傳輸線的第一端,傳輸線第一等效電感L傳輸線的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電阻RMoS2的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電阻RMoS2的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電感LMoS2的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電感LMoS2的第二端連接MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電容CMoS2的第一端,MoS2納米結(jié)構(gòu)的等效電容CMoS2的第二端連接傳輸線第二等效電感L’傳輸線的第一端,傳輸線第二等效電感L’傳輸線的第二端連接輸出端,傳輸線第一等效電容C傳輸線的第一端連接傳輸線第一等效電感L傳輸線的第二端,傳輸線第一等效電容C傳輸線的第二端連接傳輸線第二等效電容C’傳輸線的第一端,傳輸線第二等效電容C’傳輸線的第二端連接傳輸線第二等效電感L’傳輸線的第一端;互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電感LCSRR的第一端連接傳輸線第一等效電容C傳輸線的第二端,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電容CCSRR的第一端連接傳輸線第一等效電容C傳輸線的第二端,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電感LCSRR的第二端連接互補(bǔ)開口諧振環(huán)的等效電容CCSRR的第二端并接地。
由所述傳感器的等效電路可知,所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122等效為串聯(lián)的電阻、電感和電容,將所述傳感器放置于待檢測環(huán)境時,當(dāng)微波信號通過所述傳輸線120時,所述MoS2納米結(jié)構(gòu)122吸附待檢測氣體,等效電容的電容值和電阻值改變,從而引起傳感器的頻率與S11的曲線的諧振頻率變化,使得所述傳感器能夠檢測待檢測氣體。
本發(fā)明還提供一種采用上述實施例的傳感器檢測氣體的方法,包括如下步驟:
S201,提供傳感器,所述傳感器包括:具有第一表面和與第一表面相對的第二表面的半導(dǎo)體襯底;位于第一表面的第一介質(zhì)層;位于第二表面的第二介質(zhì)層;位于第一介質(zhì)層表面的傳輸線,且傳輸線具有間隔;填充所述間隔的MoS2納米結(jié)構(gòu);位于第二介質(zhì)層的接地層,所述接地層內(nèi)具有互補(bǔ)開口諧振環(huán),互補(bǔ)開口諧振環(huán)的位置與傳輸線的間隔對應(yīng);
S202,獲取第一曲線,所述第一曲線為:在沒有待檢測氣體的環(huán)境下,所述傳感器的頻率與S11的曲線;
S203,將傳感器放置于待檢測環(huán)境,獲取第二曲線,所述第二曲線為:在待檢測環(huán)境下,所述傳感器的頻率與S11的曲線;
S204,通過比較第一曲線和第二曲線的頻移的諧振頻率變化與否,檢測待檢測環(huán)境下是否存在待檢測氣體。
其中,第一曲線和第二曲線的獲取方式為采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試傳感器對傳感器進(jìn)行測試。
在另一實施例中,還可以通過獲取待檢測環(huán)境的多條第二曲線,根據(jù)多條第二曲線頻移的諧振頻率變化幅度,來獲取待檢測環(huán)境的待檢測氣體濃度。
具體地,以所述待檢測氣體為NO2為例做示范性說明,通過設(shè)置傳感器的參數(shù),使得傳感器工作于移動通信或者WIFI等免費(fèi)開放頻段,作為一實施例,半導(dǎo)體襯底厚度為530微米,介電常數(shù)約為11.9,第一介質(zhì)層厚度為20微米,介電常數(shù)約為4,第二介質(zhì)層厚度為20微米,介電常數(shù)約為4,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的結(jié)構(gòu)為兩個互相反向放置的同心開口諧振環(huán),其中,較大的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為5.52毫米,環(huán)的外徑為5.92毫米。較小的開口諧振環(huán)的尺寸為:開口為0.3毫米,環(huán)的內(nèi)徑為4.72毫米,環(huán)的外徑為5.12毫米。較大的開口諧振環(huán)與較小的開口諧振環(huán)的間距為0.2毫米。傳輸線長度為12.1毫米,寬度為0.6毫米,間隔121為0.3毫米。
將傳感器放置于沒有待檢測氣體的環(huán)境下(大氣環(huán)境,溫度為20攝氏度,氮約占78%,氧約占21%,稀有氣體約占0.94%,二氧化碳約占0.03%,其他氣體約占0.03%),采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試傳感器,在2.0GHz至3.0GHz頻率下,測試所述傳感器的頻率與S11的曲線3,獲得曲線3的諧振頻率為2.46GHz;之后,將傳感器放置于待檢測環(huán)境中,其中NO2的濃度為10ppm,采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試傳感器,在2.0GHz至3.0GHz頻率下,測試所述傳感器的頻率與S11的曲線2,獲得曲線2的諧振頻率為2.41GHz;曲線2相對于曲線3頻移0.05GHz,之后,將傳感器放置于另一待檢測環(huán)境中,其中NO2的濃度為100ppm,采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試傳感器,在2.0GHz至3.0GHz頻率下,測試所述傳感器的頻率與S11的曲線1,獲得曲線1的諧振頻率為2.32GHz,曲線1相對于曲線3頻移0.14GHz;根據(jù)傳感器的頻率與S11的曲線的諧振頻率變換,可以得知待檢測環(huán)境存在待檢測氣體NO2,并且能夠根據(jù)曲線諧振頻率的變換獲知待檢測氣體NO2的濃度。
本發(fā)明的傳感器的實施例采用納米材料MoS2結(jié)合互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器,通過納米材料MoS2吸收氣體后,其材料的介電常數(shù)和導(dǎo)電性都發(fā)生變化,從而最終引起傳感器諧振頻率的變化,通過測量諧振頻率的偏移,從而獲得氣體的濃度變化,起到檢測報警作用,而采用互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器,互補(bǔ)開口諧振環(huán)的同心圓之間的邊緣電容效應(yīng)發(fā)生諧振,互補(bǔ)開口諧振環(huán)應(yīng)用于傳感器使得器件在特定頻段具有負(fù)介電常數(shù)和負(fù)磁導(dǎo)率,使得傳感器的尺寸和工作頻率相比很小,可小型化,并且傳感器具有好的品質(zhì)因數(shù),可提高傳感器靈敏性,拓展了左手材料及納米材料在現(xiàn)代檢測技術(shù)中的應(yīng)用。
本發(fā)明的傳感器的形成方法采用大規(guī)模集成電路工藝形成微波器件單元,優(yōu)化基于納米材料的傳感器的工藝步驟。
本發(fā)明的傳感器檢測氣體的方法能夠檢測不同濃度的氣體,通過諧振頻率變化獲知檢測氣體的濃度變化,檢測精度高。
雖然本發(fā)明披露如上,但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),均可作各種更動與修改,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。