本發(fā)明涉及一種玻璃檢測設(shè)備領(lǐng)域，特別是涉及一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置。

背景技術(shù)：

隨著玻璃熔制技術(shù)的迅速發(fā)展，電助熔技術(shù)在玻璃熔窯中被廣泛采用，以其獨(dú)特的優(yōu)勢得到了大家的認(rèn)可，從高溫玻璃熔體電阻率測試的意義來分析，不同溫度下，分析玻璃熔體的電阻率參數(shù)變化能為料方的調(diào)整提供很好的參考作用；在電助熔窯爐中，高溫玻璃熔體的電阻率變化是直接關(guān)系熔融玻璃液是否能有效促進(jìn)玻璃熔化，減少結(jié)石，促進(jìn)均化和澄清，減少玻璃缺陷的關(guān)鍵指標(biāo)；在窯爐設(shè)計(jì)的前期，了解高溫電阻率變化也為電助熔系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供重要的參考，是直接關(guān)系到熔化池和輸配電設(shè)計(jì)的關(guān)鍵指標(biāo)，所以充分認(rèn)識高溫玻璃熔體的電阻率變化是完善電助熔技術(shù)、提高玻璃熔制質(zhì)量的必要保證。高溫玻璃熔體的電阻率測試儀中缺少對玻璃熔體由于加熱揮發(fā)出來的雜質(zhì)氣體的處理，導(dǎo)致電加熱元件受到被氧化的傷害，并且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果，因此有必要對玻璃熔體電阻率測試儀的結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

根據(jù)上述缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，通過為解決玻璃熔體揮發(fā)出來的雜質(zhì)氣體對電加熱元件造成被氧化的傷害、并且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果的技術(shù)問題，設(shè)計(jì)了一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，及防止了玻璃熔體揮發(fā)的雜質(zhì)影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質(zhì)氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。

本發(fā)明的技術(shù)方案是通過以下方式實(shí)現(xiàn)的：一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，由主架、氣缸、下壓塊、檢測塊Ⅰ、檢測塊Ⅱ、置料塊組成，檢測塊Ⅰ上的銅網(wǎng)連接有正極電線，檢測塊Ⅱ上的銅網(wǎng)連接有負(fù)極電線；所述的置料塊與檢測塊Ⅰ、檢測塊Ⅱ均為絕緣材料；

其特征在于：所述的下壓塊中間設(shè)有一個(gè)推桿連接塊，氣缸的推桿位于連接塊中心，這樣可以加大受力面積，使下壓塊受力均勻。

所述的下壓塊上設(shè)有多個(gè)漏空的孔，可以很好減少下壓塊的重量。

所述的主架呈門形，底部固定安裝有置料塊，主架中間固定安裝有氣缸，氣缸垂直安裝，氣缸的推桿頂端固定連接下壓塊，下壓塊與氣缸呈垂直狀態(tài)，下壓塊底部面兩端分別固定安裝有檢測塊Ⅰ、檢測塊Ⅱ，檢測塊Ⅰ與檢測塊Ⅱ上設(shè)有一層銅網(wǎng)。

本發(fā)明，操作方便，使用簡單，玻璃受力均勻，使得電阻測試更加準(zhǔn)確，很好的釋放了勞動(dòng)力，檢測效率高，能很好的滿足批量生產(chǎn)的需要。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

由圖1知，是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖，一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，由主架1、氣缸2、下壓塊3、檢測塊Ⅰ4、檢測塊Ⅱ5、置料塊6組成，所述的主架1呈門形，底部固定安裝有置料塊6，主架1中間固定安裝有氣缸2，氣缸2垂直安裝，氣缸2的推桿頂端固定連接下壓塊3，下壓塊3與氣缸2呈垂直狀態(tài)，下壓塊3底部面兩端分別固定安裝有檢測塊Ⅰ4、檢測塊Ⅱ5，檢測塊Ⅰ4與檢測塊Ⅱ5上設(shè)有一層銅網(wǎng)7，檢測塊Ⅰ4上的銅網(wǎng)7連接有正極電線8，檢測塊Ⅱ5上的銅網(wǎng)7連接有負(fù)極電線9；置料塊6與檢測塊Ⅰ4、檢測塊Ⅱ5均為絕緣材料, 下壓塊3上設(shè)有多個(gè)漏空的孔，可以很好減少下壓塊3的重量；下壓塊3中間設(shè)有一個(gè)推桿連接塊1 0，氣缸2的推桿位于連接塊1 0中心，這樣可以加大受力面積，使下壓塊3受力均勻；測試時(shí)，將需要測試的玻璃放置在置料塊6上，啟動(dòng)氣缸2，氣缸2上的推桿帶動(dòng)下壓塊3下壓，使得下壓塊3底部面兩端的檢測塊Ⅰ4、檢測塊Ⅱ5對置料塊6上的玻璃進(jìn)行壓緊并進(jìn)行電阻檢測。操作方便，使用簡單，玻璃受力均勻，使得電阻測試更加準(zhǔn)確，很好的釋放了勞動(dòng)力，檢測效率高，能很好的滿足批量生產(chǎn)的需要。