一種市電檢測裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種市電檢測裝置，在市電輸入N線上通過所述二極管D1取信號，二極管D1半波整形后經(jīng)分壓取得V1后送入比較器第一輸入端；比較器第二輸入端為設(shè)定比較電壓V2，比較器輸出端的輸出信號送給MCU的外部中斷口；當(dāng)V1>V2時則比較器輸出低電平，反之輸出高電平。本實用新型能同時檢測當(dāng)前市電的頻率、零點及電壓幅值。該裝置電路結(jié)構(gòu)簡單，所需元器件少，成本低，檢測快速、精確度高。值得推廣應(yīng)用。
【專利說明】—種市電檢測裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及市電電源的檢測技術(shù)，尤其涉及一種市電的零點、頻率及幅值檢測裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]家用電器、如洗衣機(jī)之類的依靠市電供電工作，為更好適應(yīng)市電工作電壓的波動，家電一般需要進(jìn)行市電過零及電壓幅值的檢測。市場上洗衣機(jī)的市電檢測過零及電壓幅值檢測，多分為過零檢測電路模塊及電壓檢測電路模塊進(jìn)行單獨檢測處理。這樣增加了硬件成本，占用額外的處理器端口。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種市電檢測裝置，同時實現(xiàn)過零及電壓幅值檢測。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種市電檢測裝置，包括檢測電路和微處理器MCU，所述檢測電路包括二極管Dl，電阻R1、R2，比較器；在市電輸入N線上通過所述二極管Dl取信號，二極管Dl半波整形后經(jīng)Rl、R2分壓取得Vl后送入比較器第一輸入端，比較器第二輸入端為設(shè)定比較電壓V2，比較器輸出端的輸出信號送給MCU的外部中斷口 ；所述高電平VCC與L線相連，N線取信號后經(jīng)Dl、Rl、R2后過電源地到高電平VCC回到L線，保證電流回路；當(dāng)V1>V2時則比較器輸出低電平，反之輸出高電平。
[0005]優(yōu)選的，所述檢測電路還包括電阻R3、R4，所述V2為R3與R4的分壓。
[0006]進(jìn)一步優(yōu)選的，所述檢測電路還包括電阻R5，R5為上拉電阻，R5連接在所述比較器輸出端與高電平VCC之間。
[0007]更優(yōu)選的，所述檢測電路還包括電阻R6和電容Cl，所述比較器輸出端的輸出信號經(jīng)由R6和Cl濾波后送給MCU的外部中斷口。
[0008]本實用新型提供的市電檢測裝置，能同時檢測當(dāng)前市電的頻率、零點及電壓幅值。該裝置所需元器件少，成本低，檢測快速、精確度高。值得推廣應(yīng)用。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本實用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體說明。
[0010]圖1為本實用新型市電檢測裝置的結(jié)構(gòu)原理圖。
[0011]圖2為三種電壓市電通過比較器的波形分析圖。

【具體實施方式】
[0012]本【具體實施方式】以應(yīng)用于洗衣機(jī)的市電檢測為例。如圖1所示，市電檢測裝置包括檢測電路和微處理器MCU，所述檢測電路包括二極管D1，電阻Rl、R2、R3、R4、R5、R6，比較器和濾波電容Cl。在市電輸入N線上通過所述二極管Dl取信號，二極管Dl半波整形后經(jīng)R1、R2分壓取得Vl后送入比較器第一輸入端，R1、R2電阻取值保證比較器第一輸入端的最大輸入電壓小于比較器工作電壓，比較器第二輸入端為設(shè)定比較電壓V2, V2為R3與R4的分壓，比較器輸出端的輸出信號經(jīng)由R6和Cl濾波后送給MCU的外部中斷口，R5為上拉電阻；VCC與L線相連，N線取信號后經(jīng)D1、R1、R2后過電源地到+5V回到L線，保證電流回路；當(dāng)V1>V2時則比較器輸出低電平，反之輸出高電平，Vm為市電峰值電壓。
[0013]比較器第一輸入端的輸入電壓Vl = Vm^sin(2 31 ωT)*R2/(R1+R2)，V2 = 5*R3/(R3+R4),當(dāng)V1>V2時則比較器輸出低電平，反之輸出高電平，Vm為市電峰值電壓。
[0014]本實用新型通過上述電路產(chǎn)生比較輸出，得到當(dāng)前市電的頻率、零點及幅值，具體實現(xiàn)如下:
[0015]市電頻率識別:如圖2所示，通過MCU識別連續(xù)兩次下降沿端口中斷的時間間隔，即為市電周期T，即為當(dāng)前下降沿中斷產(chǎn)生到下次下降沿產(chǎn)生的時間間隔；則半波周期為T/2 ;市電頻率F則為F = 1/T。
[0016]市電零點識別:根據(jù)當(dāng)前下降沿中斷與下次上升沿中斷時間間隔確定比較器輸入電壓高于比較器設(shè)定電壓的時間tK，正弦曲線3、正弦曲線2、正弦曲線I分別表示市電電壓Vm從低到高，同時也分別對應(yīng)比較器輸入電壓高于比較器設(shè)定電壓的時間tl、t2、t3，且tl〈t2〈t3。由于市電正弦信號的對稱性則上升沿中斷產(chǎn)生后延遲Λ t時間為市電零點，則Δ t = (T/2-tl)/2 ;從而可以間接獲取零點信號，進(jìn)行執(zhí)行器件的觸發(fā)。
[0017]市電電壓識別:由于市電正弦信號的對稱性，則當(dāng)前下降沿中斷與下次上升沿中斷的翻轉(zhuǎn)點時刻tR = (T/2-tK)/2 ;比較器輸出電平翻轉(zhuǎn)時比較器輸入電壓相等，Vl = V2 ；即
[0018]Vl = Vm*sin (2 π ω T) *R2/ (R1+R2) = V2 = 5*R3/ (R3+R4)，
[0019]即Vm = 5*R3/ (R3+R4) / [sin (2 π ω T) *R2/ (R1+R2)]，
[0020]即計算出當(dāng)前市電電壓幅值，從而確定當(dāng)前電壓。
[0021]這樣，根據(jù)市電電壓檢測進(jìn)行電壓超高、超低報錯，并且根據(jù)電壓段不同調(diào)整洗衣程序使洗衣效果最佳，洗凈比最優(yōu)。
[0022]最后所應(yīng)說明的是，以上【具體實施方式】僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本實用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【權(quán)利要求】
1.一種市電檢測裝置，其特征在于，包括檢測電路和微處理器MCU，所述檢測電路包括二極管Dl，電阻Rl、R2，比較器；在市電輸入N線上通過所述二極管Dl取信號，二極管Dl半波整形后經(jīng)電阻R1、R2分壓取得電壓Vl后送入比較器第一輸入端，比較器第二輸入端為設(shè)定比較電壓V2，比較器輸出端的輸出信號送給MCU的外部中斷口 ；所述高電平VCC與L線相連，N線取信號后經(jīng)二極管D1、電阻R1、電阻R2后過電源地到高電平VCC回到L線，保證電流回路；當(dāng)V1>V2時則比較器輸出低電平，反之輸出高電平。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的市電檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括電阻R3、R4，所述電壓V2為電阻R3與電阻R4的分壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的市電檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括電阻R5，電阻R5為上拉電阻，電阻R5連接在所述比較器輸出端與高電平VCC之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的市電檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括電阻R6和電容Cl，所述比較器輸出端的輸出信號經(jīng)由電阻R6和電容Cl濾波后送給MCU的外部中斷□。
【文檔編號】G01R23/02GK204008849SQ201420330434
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年6月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月19日
【發(fā)明者】金乃慶, 童懷俊, 王盼盼, 廖禮軍, 劉林 申請人:合肥榮事達(dá)三洋電器股份有限公司