一種微電阻測(cè)量?jī)x和電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置制造方法
【專利摘要】一種微電阻測(cè)量?jī)x和電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置，包括恒流源模塊、電壓放大模塊、A/D轉(zhuǎn)換模塊、微處理器MCU模塊以及輸出模塊，先由恒流源模塊輸出已知的恒定電流流經(jīng)被測(cè)電阻，然后將被測(cè)電阻兩端的電壓經(jīng)電壓放大模塊進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大后接至A/D轉(zhuǎn)換器模塊進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)化，輸出的BCD碼送至MCU進(jìn)行處理后在液晶顯示器上直接顯示測(cè)量結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)2MΩ內(nèi)電阻值的自動(dòng)測(cè)量。該測(cè)試儀所采用的四線測(cè)量法將電流輸入端與電壓提取端隔開，避免了引線電阻和接觸電阻的影響，且測(cè)試儀具有電阻分選功能，適用于實(shí)驗(yàn)室和工廠現(xiàn)場(chǎng)等情況下的電阻測(cè)量。
【專利說明】—種微電阻測(cè)量?jī)x和電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于自動(dòng)化儀表領(lǐng)域，具體涉及一種基于四線測(cè)量法的高精度微電阻測(cè)量?jī)x以及用該微電阻測(cè)量?jī)x實(shí)現(xiàn)的電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在電力系統(tǒng)和電器制造業(yè)中，常常需要對(duì)微電阻進(jìn)行測(cè)試，這些電阻的阻值大多是πιΩ級(jí)甚至是μ Ω級(jí)，比如導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量、導(dǎo)體直流電阻測(cè)量等。普通的數(shù)字萬用表對(duì)于該等級(jí)的電阻通常無法測(cè)量。而一些傳統(tǒng)的微電阻測(cè)量法，比如電橋測(cè)量法，由于橋臂標(biāo)準(zhǔn)電阻精度、測(cè)量導(dǎo)線電阻等影響，會(huì)使微小電阻的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生很大偏差。
[0003]目前，市場(chǎng)上所提供的微電阻測(cè)量?jī)x器一般為直流雙臂電橋和數(shù)字微歐計(jì)。直流雙臂電橋需要平衡調(diào)節(jié)，測(cè)量自動(dòng)化程度低且容易受可調(diào)元件變化及人為因素影響；數(shù)字微歐計(jì)一般采用恒流源與高精度數(shù)字電壓測(cè)量技術(shù)，測(cè)量自動(dòng)化程度、測(cè)量速度及測(cè)量準(zhǔn)確度高，有逐步替代直流雙臂電橋的趨勢(shì)。
[0004]在現(xiàn)有的微電阻測(cè)量?jī)x器的研制過程中，主要難點(diǎn)在于高精度恒流源的制作和高精度微電壓信號(hào)的數(shù)據(jù)采集。其中高精度微電壓數(shù)據(jù)采集可以利用市場(chǎng)上提供的高性能運(yùn)算放大器和高位A/D轉(zhuǎn)換器解決；而高精度恒流源制作困難，一直影響微電阻測(cè)量的準(zhǔn)確度等級(jí)。另外，在測(cè)量過程中，不可避免地引入引線電阻和接觸電阻，使得測(cè)量的精準(zhǔn)度進(jìn)一步下降。
[0005]因此，有必要對(duì)現(xiàn)有的微電阻測(cè)量?jī)x器進(jìn)行改進(jìn)，以克服上述問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本實(shí)用新型的目的在于提出一種微電阻測(cè)量?jī)x，該微電阻測(cè)量?jī)x可以用于實(shí)現(xiàn)2ΜΩ內(nèi)電阻值的自動(dòng)測(cè)量，且不會(huì)因引入引線電阻和接觸電阻等干擾而影響測(cè)量的精確性。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的目的提出的一種微電阻測(cè)量?jī)x，包括恒流源模塊(10)、電壓放大模塊(12)、A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)、微處理器MCU模塊(14)以及輸出模塊(15)，所述恒流源模塊
(10)的輸出端連接至被測(cè)電阻(11)的兩端，取出被測(cè)電阻(11)兩端的電壓通過電壓放大模塊(12)進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大，電壓放大模塊(12)的輸出端接至A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)的輸入端，A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)的輸出端接至微處理器MCU模塊(14)，微處理器MCU模塊(14)將最終結(jié)果反饋到輸出模塊(15)上。
[0008]優(yōu)選的，所述恒流源模塊包括第一運(yùn)算放大器(101)、第二運(yùn)算放大器(102)，第一精密采樣電阻(103)、第二精密采樣電阻(104)，開關(guān)(105)、三極管(106)和集成芯片(107)，所述集成芯片(107)提供基準(zhǔn)電壓，第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)采用并聯(lián)的方式，被測(cè)電阻(11)串聯(lián)在第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)所在的支路上，該被測(cè)電阻(11)上的壓降信號(hào)反饋到第二運(yùn)算放大器(102)上，第二運(yùn)算放大器(102)的輸出電壓與基準(zhǔn)電壓之間的差值接入到第一運(yùn)算放大器(101)的同相輸入端中，第一運(yùn)算放大器(101)將其同相、反相輸入端之間的差值進(jìn)行放大后輸出給三極管(106)，三極管106的發(fā)射極連接在第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)上。
[0009]優(yōu)選的，所述集成芯片(107)為基準(zhǔn)電壓源。
[0010]優(yōu)選的，所述第一精密采樣電阻(103)采用RX71系列精密線繞電阻，所述第二精密采樣電阻(104)采用經(jīng)過老化的RX24系列功率型線繞錳銅電阻。
[0011]優(yōu)選的，所述開關(guān)(105)為受微處理器MCU模塊(14)控制通斷的MOS管。
[0012]優(yōu)選的，所述電壓放大模塊(12)包括集成芯片(121)和運(yùn)算放大器(122)，所述集成芯片(121)采用數(shù)控多路轉(zhuǎn)換開關(guān)。
[0013]優(yōu)選的，所述A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)包括集成芯片(131)，所述集成芯片(131)采用41/2位雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器ICL7135。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的目的同時(shí)還提出了一種電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置，包括產(chǎn)品運(yùn)輸單元(2)、產(chǎn)品分揀裝置(3)和如權(quán)利要求1-8任意一項(xiàng)所述的微電阻測(cè)量?jī)x(I)，所述產(chǎn)品運(yùn)輸單元(2)連接在所述微電阻測(cè)量?jī)x(I)以及產(chǎn)品分揀裝置(3)之間，其至少包括一個(gè)給微電阻測(cè)量?jī)x(I)提供需要測(cè)量電阻的電子產(chǎn)品的機(jī)械供給裝置(21)，和一個(gè)將測(cè)完電阻的電子產(chǎn)品提供到產(chǎn)品分揀裝置(3)的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置(22)。
[0015]優(yōu)選的，所述微電阻測(cè)量?jī)x(I)的輸出模塊包括供人員觀察和操作的顯示與按鍵模塊(151)和與產(chǎn)品分揀裝置(3)連接的handle接口(153)。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:將電流輸入端與電壓提取端隔開，避免了引線電阻和接觸電阻的影響，且測(cè)試儀具有電阻分選功能，適用于實(shí)驗(yàn)室和工廠現(xiàn)場(chǎng)等情況下的電阻測(cè)量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1本實(shí)用新型的微電阻測(cè)量?jī)x的模塊結(jié)構(gòu)圖。
[0019]圖2是本實(shí)用新型第一實(shí)施方式下的微電阻測(cè)量?jī)x的具體電路結(jié)構(gòu)圖。
[0020]圖3是本實(shí)用新型電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置的模塊結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0021]請(qǐng)參見圖1，圖1是本實(shí)用新型的微電阻測(cè)量?jī)x的模塊結(jié)構(gòu)圖。如圖1中所示，該微電阻測(cè)量?jī)x包括恒流源模塊10、電壓放大模塊12、A/D轉(zhuǎn)換模塊13、微處理器MCU模塊14以及輸出模塊15。其中，恒流源模塊10的輸出端連接至被測(cè)電阻11的兩端，取出被測(cè)電阻11兩端的電壓通過電壓放大模塊12進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大，電壓放大模塊12的輸出端接至A/D轉(zhuǎn)換模塊13的輸入端，A/D轉(zhuǎn)換模塊13的輸出端接至微處理器MCU模塊14，微處理器MCU模塊14將最終結(jié)果反饋到輸出模塊15上，該輸出模塊15可以是連接在工業(yè)自動(dòng)化產(chǎn)線上的Handler接口，通過這種handler接口將測(cè)量數(shù)據(jù)輸出給產(chǎn)線下一個(gè)工位上的設(shè)備進(jìn)行諸如篩選、分類、裝配等動(dòng)作，該輸出模塊15也可以是顯示與按鍵模塊，通過顯示模塊將被測(cè)電阻的阻值讀取并顯示，通過按鍵模塊控制整個(gè)測(cè)量?jī)x的量程選擇或讀數(shù)方式。當(dāng)然在微處理器MCU模塊14的允許下，該輸出模塊15可以同時(shí)搭載多個(gè)具體的模塊進(jìn)行雙向多線程的數(shù)據(jù)傳輸。在一種具體應(yīng)用中，該微處理器MCU模塊14采用型號(hào)為AT89C55WD的單片機(jī)芯片。
[0022]圖2所示為圖1中基于四線測(cè)量法的高精度微電阻測(cè)量?jī)x的具體電路圖。
[0023]其中，恒流源模塊10主要包括第一運(yùn)算放大器101、第二運(yùn)算放大器102，第一精密采樣電阻103、第二精密采樣電阻104，開關(guān)105、三極管106、集成芯片107以及其它一些信號(hào)調(diào)制和適配的電子元器件比如電阻、電容等。其中，集成芯片107為基準(zhǔn)電壓源，提供基準(zhǔn)電壓Vref，第一精密采樣電阻103、第二精密采樣電阻104采用并聯(lián)的方式，被測(cè)電阻11串聯(lián)在第一精密采樣電阻103、第二精密采樣電阻104所在的支路上。該被測(cè)電阻11上的壓降信號(hào)反饋到第二運(yùn)算放大器102上，第二運(yùn)算放大器102的輸出電壓V2與基準(zhǔn)電壓Vref之間的差值接入到第一運(yùn)算放大器101的同相輸入端中，第一運(yùn)算放大器101將其同相、反相輸入端之間的差值進(jìn)行放大后輸出給三極管106，三極管106的發(fā)射極連接在第一精密采樣電阻103、第二精密采樣電阻104上。該恒流源模塊10的電路工作原理如下:設(shè)開關(guān)105中某一路接通，當(dāng)被測(cè)電阻11變大時(shí)，其上瞬間壓降Vf隨之增大，則運(yùn)算放大器第二運(yùn)算放大器102的同相輸入端與反相輸入端之間的壓差減小，輸出電壓V2小于基準(zhǔn)電壓Vref,此時(shí)第一運(yùn)算放大器101的同相輸入端產(chǎn)生微小的負(fù)電壓,第一運(yùn)算放大器101將其同相輸入端與反相輸入端之間的壓差進(jìn)行線性放大，輸出的電壓使得三極管106的發(fā)射極電壓增大，從而維持精密采樣電阻上的壓降保持不變。理想情況下，第一精密采樣電阻103、第二精密采樣電阻104所在支路上的電流與基準(zhǔn)電壓Vref和具體的采樣電阻阻值成線性關(guān)系。根據(jù)運(yùn)算放大器“虛斷”的特性，即有流過被測(cè)電阻11上的電流恒定。當(dāng)被測(cè)電阻11減小時(shí)，工作過程與上述類似，不再贅述。
[0024]通過上述分析可知，該恒流源電路輸出電流的穩(wěn)定性主要受到基準(zhǔn)電壓源的穩(wěn)定度和采樣電阻的溫度系數(shù)影響。另外，運(yùn)算放大器和三極管的選擇對(duì)恒流源的精度也有一定影響。因而，要在實(shí)際應(yīng)用中得到高精度的輸出電流，元器件的選擇使用非常重要。在本實(shí)用新型中，恒流源模塊10的集成芯片107優(yōu)選采用REF195，其最大的溫度漂移系數(shù)僅為5ppm/°C,輸出電壓穩(wěn)定值為5.000V。恒流源模塊10的第一運(yùn)算放大器101優(yōu)選米用0P177，它具有高增益、低漂移、分辨率高、線性度好、輸入阻抗高、抗干擾能力強(qiáng)等特點(diǎn)。恒流源模塊10的第一精密采樣電阻103優(yōu)選采用RX71系列精密線繞電阻，他們具有較低的溫度系數(shù)，其阻值分別取lMQ、100kQ、10kQ、lkQ、100Q和10 Ω，恒流源模塊10的第二精密采樣電阻104優(yōu)選采用經(jīng)過老化的RX24系列功率型線繞錳銅電阻，其阻值為I Ω。開關(guān)105可由微處理器MCU模塊14控制通斷的模擬電子開關(guān)代替，結(jié)合多路轉(zhuǎn)換器即可實(shí)現(xiàn)輸出電流的自動(dòng)切換，恒流源模塊10的開關(guān)105優(yōu)選采用具有極低導(dǎo)通電阻的MOSFET管2SK4145。當(dāng)開關(guān)105選擇不同的量程閉合時(shí)，恒流源模塊10可分別輸出I μ A?IA的恒定電流。
[0025]電壓放大模塊12主要由集成芯片121和運(yùn)算放大器122構(gòu)成，電壓放大模塊12的集成芯片121優(yōu)選數(shù)控多路轉(zhuǎn)換開關(guān)MC14052，該數(shù)控多路轉(zhuǎn)換開關(guān)MC14052是一種雙4選I模擬開關(guān)，可以用來選擇被測(cè)電阻11上電壓的不同放大倍數(shù)。
[0026]A/D轉(zhuǎn)換模塊13主要由集成芯片131構(gòu)成，A/D轉(zhuǎn)換模塊13的集成芯片131優(yōu)選采用41/2位雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器ICL7135，它具有自動(dòng)校零、自動(dòng)極性輸出、過量程和欠量程指示輸出等功能。該A/D轉(zhuǎn)換模塊13可將測(cè)得的被測(cè)電阻11兩端的電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，以BCD碼的形式輸出。
[0027]本實(shí)用新型的高精度微電阻測(cè)量?jī)x，采用四線測(cè)量法，先由恒流源模塊輸出已知的恒定電流流經(jīng)被測(cè)電阻，然后將被測(cè)電阻兩端的電壓經(jīng)電壓放大模塊進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大后接至A/D轉(zhuǎn)換器模塊進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)化，輸出的BCD碼送至MCU進(jìn)行處理后在液晶顯示器上直接顯示測(cè)量結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)2ΜΩ內(nèi)電阻值的自動(dòng)測(cè)量。該四線測(cè)量法將電流輸入端與電壓提取端隔開，避免了引線電阻和接觸電阻的影響且具有電阻分選功能，適用于實(shí)驗(yàn)室和工廠現(xiàn)場(chǎng)等情況下的電阻測(cè)量。
[0028]下面，作為一種擴(kuò)展應(yīng)用，將本實(shí)用新型的高精度微電阻測(cè)量?jī)x集成到一種電子產(chǎn)品的生產(chǎn)裝置中，為該電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中的電阻分選步驟提供檢測(cè)依據(jù)。請(qǐng)參見圖3，圖3是本實(shí)用新型中具有上述微電阻測(cè)量?jī)x的電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置。該生產(chǎn)裝置包括高精度微電阻測(cè)量?jī)x1、產(chǎn)品運(yùn)輸單元2以及產(chǎn)品分揀裝置3。其中，產(chǎn)品運(yùn)輸單元2連接在高精度微電阻測(cè)量?jī)xI以及產(chǎn)品分揀裝置3之間，其至少包括一個(gè)可以給高精度微電阻測(cè)量?jī)xI提供需要測(cè)量電阻的電子產(chǎn)品的機(jī)械供給裝置21，和一個(gè)將測(cè)完電阻的電子產(chǎn)品提供到產(chǎn)品分揀裝置3的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置22。同時(shí)該產(chǎn)品運(yùn)輸單元2也可以作為整個(gè)生產(chǎn)裝置其他工位之間進(jìn)行產(chǎn)品傳輸?shù)墓δ懿考?。在具體應(yīng)用中，該產(chǎn)品傳輸單元2比如是一種傳輸帶、機(jī)械手或其結(jié)合的機(jī)械結(jié)構(gòu)。
[0029]高精度微電阻測(cè)量?jī)xI的結(jié)構(gòu)如上文所述，在此需要特別指出的是，此時(shí)其輸出模塊采用了兩個(gè)裝置，一個(gè)是供人員觀察和操作的顯示與按鍵模塊151，另一個(gè)則是與產(chǎn)品分揀裝置3連接的handle接口 153。該handle接口 153可以將高精度微電阻測(cè)量?jī)xI測(cè)得的結(jié)果反饋給產(chǎn)品分揀裝置3，該產(chǎn)品分揀裝置3根據(jù)上述結(jié)果，將不同阻值的電子產(chǎn)品進(jìn)行分類，比如阻值超過產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)值10%以上的，記為不合格產(chǎn)品，否則即為合格產(chǎn)品，將不合格產(chǎn)品從合格產(chǎn)品中分離回收，而合格產(chǎn)品則進(jìn)行下一個(gè)工位的操作。又或者按照不同規(guī)格的阻值，將產(chǎn)品分成第一類、第二類、第三類……等等，每種類別的產(chǎn)品可以提供給不同的應(yīng)用場(chǎng)合。
[0030]綜上所述，本實(shí)用新型的基于四線測(cè)量法的高精度微電阻測(cè)量?jī)x，先由恒流源模塊輸出已知的恒定電流流經(jīng)被測(cè)電阻，然后將被測(cè)電阻兩端的電壓經(jīng)電壓放大模塊進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大后接至A/D轉(zhuǎn)換器模塊進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)化，輸出的B⑶碼送至MCU進(jìn)行處理后在液晶顯示器上直接顯示測(cè)量結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)2ΜΩ內(nèi)電阻值的自動(dòng)測(cè)量。該四線測(cè)量法將電流輸入端與電壓提取端隔開，避免了引線電阻和接觸電阻的影響，且具有電阻分選功能，適用于實(shí)驗(yàn)室和工廠現(xiàn)場(chǎng)等情況下的電阻測(cè)量。
[0031]對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:包括恒流源模塊(10)、電壓放大模塊(12)、A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)、微處理器MCU模塊(14)以及輸出模塊(15)，所述恒流源模塊(10)的輸出端連接至被測(cè)電阻(11)的兩端，取出被測(cè)電阻(11)兩端的電壓通過電壓放大模塊(12)進(jìn)行相應(yīng)倍數(shù)的放大，電壓放大模塊(12)的輸出端接至A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)的輸入端，A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)的輸出端接至微處理器MCU模塊(14)，微處理器MCU模塊(14)將最終結(jié)果反饋到輸出模塊(15)上。
2.如權(quán)利要求1所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述恒流源模塊包括第一運(yùn)算放大器(101)、第二運(yùn)算放大器(102)，第一精密采樣電阻(103)、第二精密采樣電阻(104)，開關(guān)(105)、三極管(106)和集成芯片(107)，所述集成芯片(107)提供基準(zhǔn)電壓，第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)采用并聯(lián)的方式，被測(cè)電阻(11)串聯(lián)在第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)所在的支路上，該被測(cè)電阻(11)上的壓降信號(hào)反饋到第二運(yùn)算放大器(102)上，第二運(yùn)算放大器(102)的輸出電壓與基準(zhǔn)電壓之間的差值接入到第一運(yùn)算放大器(101)的同相輸入端中，第一運(yùn)算放大器(101)將其同相、反相輸入端之間的差值進(jìn)行放大后輸出給三極管(106)，三極管(106)的發(fā)射極連接在第一精密采樣電阻(103)和第二精密采樣電阻(104)上。
3.如權(quán)利要求2所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述集成芯片(107)為基準(zhǔn)電壓源。
4.如權(quán)利要求2所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述第一精密采樣電阻(103)采用RX71系列精密線繞電阻，所述第二精密采樣電阻(104)采用經(jīng)過老化的RX24系列功率型線繞錳銅電阻。
5.如權(quán)利要求2所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述開關(guān)(105)為受微處理器MCU模塊(14)控制通斷的MOS管。
6.如權(quán)利要求1所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述電壓放大模塊(12)包括集成芯片(121)和運(yùn)算放大器(122)，所述集成芯片(121)采用數(shù)控多路轉(zhuǎn)換開關(guān)。
7.如權(quán)利要求1所述的微電阻測(cè)量?jī)x，其特征在于:所述A/D轉(zhuǎn)換模塊(13)包括集成芯片(131)，所述集成芯片(131)采用472位雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器ICL7135。
8.一種電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置，其特征在于，包括產(chǎn)品運(yùn)輸單元(2)、產(chǎn)品分揀裝置(3)和如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的微電阻測(cè)量?jī)x(I)，所述產(chǎn)品運(yùn)輸單元(2)連接在所述微電阻測(cè)量?jī)x(I)以及產(chǎn)品分揀裝置(3)之間，其至少包括一個(gè)給微電阻測(cè)量?jī)x(I)提供需要測(cè)量電阻的電子產(chǎn)品的機(jī)械供給裝置(21)，和一個(gè)將測(cè)完電阻的電子產(chǎn)品提供到產(chǎn)品分揀裝置⑶的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置(22)。
9.如權(quán)利要求8所述的電子產(chǎn)品生產(chǎn)裝置，其特征在于:所述微電阻測(cè)量?jī)x(I)的輸出模塊包括供人員觀察和操作的顯示與按鍵模塊(151)和與產(chǎn)品分揀裝置(3)連接的handle 接口(153)。
【文檔編號(hào)】G01R27/02GK204101635SQ201420279104
【公開日】2015年1月14日 申請(qǐng)日期:2014年5月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月28日
【發(fā)明者】許宜申, 張朵, 吳茂成, 顧濟(jì)華, 陶智 申請(qǐng)人:蘇州大學(xué)