一種電路板測試架的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種電路板測試架，包括開路測試開關和短路測試開關，還包括上模板和下模板，所述上模板位于所述下模板上方，所述上模板靠近下模板的一面開有上凹槽，所述下模板靠近上模板的一面開有下凹槽，所述上凹槽中設置有上導電膠層，所述下凹槽中設置有下導電層。本實用新型的電路板測試架結構簡單，測試速度快，彌補了普通測試架因小IC針腳太小而難以進行開路或短路測試的不足。
【專利說明】一種電路板測試架

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電路板測試領域，特別涉及一種具有小IC的電路板測試架。

【背景技術】
[0002]現(xiàn)有技術集成電路(IC)開路或短路的測試連接方法是:集成電路的各個引腳與印刷電路板(PCB)電連接，PCB板上與集成電路對應的焊盤再通過PCB上內部引線與設置于PCB上的排插相連，然后借助排線與開路或短路測試機相連進行測試。當電路板上IC的大小小于或者等于0.2mm時,這種方法并不適用。當IC的大小小于或者等于0.2mm時，由于針腳太小，現(xiàn)有的測試架很難進行開路或短路測試。
實用新型內容
[0003]本實用新型要解決的技術問題是提供一種IC大小小于或者等于0.2_時，可以進行開短路測試的電路板測試架。
[0004]為了解決上述技術問題，本實用新型公開一種電路板測試架，包括開路測試開關和短路測試開關，還包括上模板和下模板，所述上模板位于所述下模板上方，所述上模板靠近下模板的一面開有上凹槽，所述下模板靠近上模板的一面開有下凹槽，所述上凹槽中設置有上導電膠層，所述下凹槽中設置有下導電層。
[0005]進一步的，所述上模板靠近下模板的一面間隔開有兩個以上的上凹槽，所述下模板靠近上模板的一面間隔開有兩個以上的下凹槽。
[0006]進一步的，所述開路測試開關通過導線與電路板電連接。
[0007]進一步的，所述短路測試開關通過導線與電路板電連接。
[0008]本實用新型的原理是:通過在上模板和下模板相對的一面上分別開有上凹槽和下凹槽，上凹槽和下凹槽中分別設有上導電層和下導電層，將待測電路板放置在下模板上，待測電路板上的小IC對應置于下導電層上，當進行測試時，上模板下壓，把電路板壓在上模板和下模板之間，從而電路板上的小IC被定位在上導電層和下導電層之間，從而得出開路或短路測試結果。
[0009]本實用新型的有益效果在于:通過在上模板和下模板上分別開有凹槽，凹槽中分別設有導電層的結構設計，可以對電路板上的大小小于或者等于0.2mm的IC進行開短路測試；該電路板測試架結構簡單，測試速度快，彌補了普通測試架因小IC的板針腳太小而難以進行開路或短路測試的不足。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型的電路板測試架中上凹槽和下凹槽為一個時的結構圖；
[0011]圖2是本實用新型的電路板測試架中上凹槽和下凹槽為兩個以上時的結構圖；
[0012]標記說明:
[0013]1、上模板；11、上凹槽；2、下模板；21、下凹槽。

【具體實施方式】
[0014]為詳細說明本實用新型的技術內容、構造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結合實施方式并配合附圖詳予說明。
[0015]本實用新型最關鍵的構思在于:通過在上模板I和下模板2上分別開有凹槽，凹槽中分別設有導電層的結構設計，可以對小IC進行開短路測試。
[0016]請參閱圖1，本實用新型公開一種電路板測試架，包括開路測試開關和短路測試開關，還包括上模板I和下模板2，所述上模板I位于所述下模板2上方，所述上模板I靠近下模板2的一面開有上凹槽11，所述下模板2靠近上模板I的一面開有下凹槽21，所述上凹槽11中設置有上導電膠層，所述下凹槽21中設置有下導電層。
[0017]從上述描述可知，本實用新型的有益效果在于:通過在上模板I和下模板2上分別開有凹槽，凹槽中分別設有導電層的結構設計，可以對大小小于或者等于0.2mm的小IC進行開短路測試；該電路板測試架結構簡單，測試速度快，彌補了普通測試架因小IC的針腳太小而難以進行開路或短路測試的不足。
[0018]請參閱圖2，進一步的，所述上模板I靠近下模板2的一面間隔開有兩個以上的上凹槽11，所述下模板2靠近上模板I的一面間隔開有兩個以上的下凹槽21 ;當電路板上集成有多個大小小于或等于0.2mm的IC時，多個上凹槽11和多個下凹槽21的設置可以實現(xiàn)同時對一個電路板上的多個IC進行開路或短路檢測，節(jié)省時間。
[0019]進一步的，所述開路測試開關通過導線與電路板電連接，所述短路測試開關通過導線與電路板電連接；可以通過開路測試開關和短路測試開關，方便測試的進行。
[0020]本實施例中，測試時，將待測電路板放在下模板2上，按下開路測試開關，上模板I會在氣壓的作用下快速下壓，把電路板壓在上模板和下模板之間，從而電路板上的小IC被定位在上導電層和下導電層的中間，迅速測出開路；按下短路測試開關，上模板I會在氣壓的作用下快速下壓，把電路板上的小IC定位在上導電層和下導電層的中間，迅速測出短路。所述上導電層和下導電層為導電材料熔融后凝固而成。
[0021]綜上所述，本實用新型提供的電路板測試架的有益效果為:
[0022](I)通過在上模板I和下模板2上分別開有凹槽，凹槽中分別設有導電層的結構設計，可以對電路板上大小小于或者等于0.2_的小IC進行開短路測試；
[0023](2)本實用新型的電路板測試架結構簡單，測試速度快，彌補了普通測試架因小IC針腳太小而難以進行開路或短路測試的不足；
[0024](3)當電路板上集成有多個大小小于或等于0.2mm的IC時，多個上凹槽11和多個下凹槽21的設置可以實現(xiàn)同時對一個電路板上的多個IC進行開路或短路檢測，節(jié)省時間。
[0025]以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的【技術領域】，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。
【權利要求】
1.一種電路板測試架，包括開路測試開關和短路測試開關，其特征在于，還包括上模板和下模板，所述上模板位于所述下模板上方，所述上模板靠近下模板的一面開有上凹槽，所述下模板靠近上模板的一面開有下凹槽，所述上凹槽中設置有上導電膠層，所述下凹槽中設置有下導電層。
2.根據(jù)權利要求1所述的電路板測試架，其特征在于，所述上模板靠近下模板的一面間隔開有兩個以上的上凹槽，所述下模板靠近上模板的一面間隔開有兩個以上的下凹槽。
3.根據(jù)權利要求1所述的電路板測試架，其特征在于，所述開路測試開關通過導線與電路板電連接。
4.根據(jù)權利要求1所述的電路板板測試架，其特征在于，所述短路測試開關通過導線與電路板電連接。
【文檔編號】G01R31/02GK203858271SQ201420250600
【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年5月15日 優(yōu)先權日:2014年5月15日
【發(fā)明者】祝曉林 申請人:深圳市華嚴慧海電子有限公司