高精度雙頭測(cè)試探針的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種高精度雙頭測(cè)試探針,旨在提供一種能很好地解決小測(cè)試點(diǎn)、小測(cè)試間距、大數(shù)量、大面積的電子產(chǎn)品主板的測(cè)試及能滿(mǎn)足測(cè)試設(shè)備的自動(dòng)化需求的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的高精度雙頭測(cè)試探針。本發(fā)明包括呈環(huán)柱形的探針主體（1）及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體（1）兩端內(nèi)的針頭（2）和針尾（3），在所述探針主體（1）內(nèi)且在所述針頭（2）和所述針尾（3）之間設(shè)置有復(fù)位元件，所述探針主體（1）的外徑A的大小為16mil至31mil，測(cè)試時(shí)，所述針頭（2）和所述針尾（3）能在所述探針主體（1）內(nèi)滑動(dòng)。本發(fā)明應(yīng)用于自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的【技術(shù)領(lǐng)域】。
【專(zhuān)利說(shuō)明】高精度雙頭測(cè)試探針
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種用于電子測(cè)試的高精度雙頭測(cè)試探針。
【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)試探針，業(yè)內(nèi)也稱(chēng)探針，用于PCB板測(cè)試時(shí)又分為彈簧針(專(zhuān)用針)和通用針。彈簧針在使用時(shí)，需要根據(jù)所測(cè)試的PCB板的布線(xiàn)情況制作測(cè)試模具，且一般情況下，一個(gè)模具只能測(cè)試一種PCB板；通用針在使用時(shí)，只需有足夠的點(diǎn)數(shù)即可，故現(xiàn)在很多廠家都在使用通用針。彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針。PCB板探針主要用于PCB板測(cè)試，ICT探針主要用于插件后的在線(xiàn)測(cè)試，BGA探針主要用于BGA封裝測(cè)試及芯片測(cè)試。
[0003]目前針對(duì)小測(cè)試點(diǎn)(測(cè)試點(diǎn)直徑小于0.5mm)、小間距(測(cè)試點(diǎn)間距小于1.27mm)、大面積(測(cè)試產(chǎn)品面積超過(guò)15mm*15mm)、多數(shù)量(探針數(shù)量超過(guò)200Pcs)的測(cè)試產(chǎn)品，在行業(yè)內(nèi)主要是采用美國(guó)QA公司的Double ended socket測(cè)試針或X_probe的測(cè)試針,其可以做到最小測(cè)試間距為31mil的測(cè)試點(diǎn)，同時(shí)可以兼容自動(dòng)化設(shè)計(jì)的需求。
[0004]隨著消費(fèi)電子產(chǎn)品功能的增加，在產(chǎn)品尺寸減小的情況下，需要測(cè)試的功能也隨之增加，就需要在更小的面積上，布置更多的測(cè)試點(diǎn)。這就要求縮小測(cè)試點(diǎn)的直徑(0.4mm為主，還有大約20%的0.3mm測(cè)試點(diǎn))，同時(shí)減小間距(縮小到0.6mm，22mil)。這樣的話(huà)，行業(yè)內(nèi)常用的Double ended socket測(cè)試針或X-probe的測(cè)試針就無(wú)法滿(mǎn)足測(cè)試需求(Doubleended socket測(cè)試針最小39mil,X_probe的測(cè)試針最小3Imil)。同時(shí),這兩種結(jié)構(gòu)的測(cè)試針，在工藝上來(lái)講，已經(jīng)無(wú)法做到更小的尺寸。
[0005]而更小尺寸的P0G0 PIN探針，本身長(zhǎng)度太小，常規(guī)來(lái)講5.7mm左右，針板加工需要非常薄，大約0.5mm，無(wú)法做到測(cè)試比較大的產(chǎn)品。使用P0G0 PIN的夾具，一般都是手動(dòng)操作的，無(wú)法滿(mǎn)足客戶(hù)自動(dòng)化的需求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能很好地解決小測(cè)試點(diǎn)、小測(cè)試間距、大數(shù)量、大面積的電子產(chǎn)品主板的測(cè)試及能滿(mǎn)足測(cè)試設(shè)備的自動(dòng)化需求的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的高精度雙頭測(cè)試探針。
[0007]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:本發(fā)明包括呈環(huán)柱形的探針主體及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體兩端內(nèi)的針頭和針尾，在所述探針主體內(nèi)且在所述針頭和所述針尾之間設(shè)置有復(fù)位元件，所述探針主體的外徑A的大小為16mil至31mil，測(cè)試時(shí)，所述針頭和所述針尾能在所述探針主體內(nèi)滑動(dòng)。
[0008]優(yōu)選地，位于所述探針主體內(nèi)的所述針頭的尾部和所述針尾的尾部均設(shè)置有止退臺(tái)階。
[0009]優(yōu)選地，設(shè)置有所述針尾的所述探針主體的一端設(shè)有收口。
[0010]優(yōu)選地，所述探針主體上設(shè)有與所述針頭的所述止退臺(tái)階相適配的限位臺(tái)階。[0011]優(yōu)選地，所述針頭的頭部和所述針尾的頭部均對(duì)稱(chēng)設(shè)置有斜面，所述斜面使所述針頭的頭部和所述針尾的頭部變尖。
[0012]優(yōu)選地，所述針頭的頭部的所述斜面與所述針頭的軸線(xiàn)的夾角為15°，所述針尾的頭部的所述斜面與所述針尾的軸線(xiàn)的夾角為28°。
[0013]優(yōu)選地，所述探針主體的長(zhǎng)度為20mm或30mm。
[0014]優(yōu)選地，所述高精度雙頭測(cè)試探針的長(zhǎng)度為41mm或28mm，壓縮后的長(zhǎng)度為34.75mm 或 23.5mm。
[0015]優(yōu)選地，所述復(fù)位元件為彈簧。
[0016]優(yōu)選地，所述復(fù)位元件為一對(duì)同極相對(duì)設(shè)置的磁柱，一對(duì)所述磁柱分別設(shè)置在所述針頭和所述針尾的尾部。
[0017]本發(fā)明的有益效果是:由于本發(fā)明包括呈環(huán)柱形的探針主體及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體兩端內(nèi)的針頭和針尾，在所述探針主體內(nèi)且在所述針頭和所述針尾之間設(shè)置有復(fù)位元件，所述探針主體的外徑A的大小為16mil至31mil,測(cè)試時(shí),所述針頭和所述針尾能在所述探針主體內(nèi)滑動(dòng)，所以，本發(fā)明能很好地解決小測(cè)試點(diǎn)(最小測(cè)試點(diǎn)直徑0.3mm)、小測(cè)試間距(最小0.6mm)、大數(shù)量(一塊針板探針數(shù)量超過(guò)200PCS)、大面積(測(cè)試產(chǎn)品的面積超過(guò)15mm*15mm)的電子產(chǎn)品主板的測(cè)試。
[0018]另外，常規(guī)的雙頭針需要采用過(guò)盈配靠摩擦力來(lái)固定，對(duì)探針本身的強(qiáng)度要求很高。所以，無(wú)法做到更小的直徑。而本發(fā)明采用間隙配合，通過(guò)特殊的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)探針的固定，很好地避免了探針對(duì)材料本身強(qiáng)度的依賴(lài)。使得在保留使用效果的前提下，探針可以做的更小。目前本發(fā)明的16mil至31mil的規(guī)格并非常規(guī)規(guī)格，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)常規(guī)的探針的最小規(guī)格3ImiI。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是所述測(cè)試臺(tái)2和所述裝夾單元3的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明的另一結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020]如圖1和圖2所示，在本實(shí)施例中，本發(fā)明包括呈環(huán)柱形的探針主體I及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體I兩端內(nèi)的針頭2和針尾3，在所述探針主體I內(nèi)且在所述針頭2和所述針尾3之間設(shè)置有復(fù)位元件4，所述探針主體I的外徑A的大小為16mil至31mil，測(cè)試時(shí)，所述針頭2和所述針尾3能在所述探針主體I內(nèi)滑動(dòng)。
[0021]位于所述探針主體I內(nèi)的所述針頭2的尾部和所述針尾3的尾部均設(shè)置有止退臺(tái)階5。
[0022]設(shè)置有所述針尾3的所述探針主體I的一端設(shè)有收口 6。
[0023]所述探針主體I上設(shè)有與所述針頭2的所述止退臺(tái)階5相適配的限位臺(tái)階7。
[0024]所述針頭2的頭部和所述針尾3的頭部均對(duì)稱(chēng)設(shè)置有斜面，所述斜面使所述針頭2的頭部和所述針尾3的頭部變尖。
[0025]所述針頭2的頭部的所述斜面與所述針頭2的軸線(xiàn)的夾角為15°，所述針尾3的頭部的所述斜面與所述針尾3的軸線(xiàn)的夾角為28°。
[0026]所述探針主體I的長(zhǎng)度為20mm或30mm。
[0027]測(cè)試0.6mm間距的測(cè)試點(diǎn)，探針的直徑不能超過(guò)0.4_。需要滿(mǎn)足自動(dòng)化以及大產(chǎn)品的測(cè)試，探針的長(zhǎng)度需要大。測(cè)試點(diǎn)數(shù)量大，考慮到實(shí)際使用，需要采用兩端都有彈性的方式，來(lái)把測(cè)試產(chǎn)品上的信號(hào)轉(zhuǎn)接到測(cè)試電路中。針對(duì)于此，我們開(kāi)發(fā)了主體長(zhǎng)度不同的探針，在本實(shí)施例中，所述高精度雙頭測(cè)試探針的長(zhǎng)度為41mm或28mm，壓縮后的長(zhǎng)度為34.75mm或23.5mm,所述復(fù)位元件4為彈簧8。
[0028]當(dāng)然所述復(fù)位元件4也可以為一對(duì)同極相對(duì)設(shè)置的磁柱9，一對(duì)所述磁柱9分別設(shè)置在所述針頭2和所述針尾3的尾部。
[0029]在本實(shí)施例中，所述探針主體I的直徑0.4mm,完全滿(mǎn)足測(cè)試0.6mm間距測(cè)試點(diǎn)的需求。所述探針主體I的長(zhǎng)度為20mm或30mm，固定探針的部件有足夠的強(qiáng)度，尺寸可以做的更大。所述針頭2露出部分長(zhǎng)度為8mm或6mm，放置產(chǎn)品的載板有一定的厚度，載板尺寸可以做的更大，承載更大尺寸的產(chǎn)品。在技術(shù)上保障自動(dòng)化的設(shè)計(jì)需求，本發(fā)明能很好地解決小測(cè)試點(diǎn)(最小測(cè)試點(diǎn)直徑0.3mm)、小測(cè)試間距(最小0.6mm)、大數(shù)量(一塊針板探針數(shù)量超過(guò)200Pcs)、大面積(測(cè)試產(chǎn)品的面積超過(guò)15mm*15mm)的電子產(chǎn)品主板的測(cè)試。同時(shí)，還能滿(mǎn)足測(cè)試設(shè)備的自動(dòng)化需求。
[0030]本發(fā)明應(yīng)用于自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的【技術(shù)領(lǐng)域】。
[0031]雖然本發(fā)明的實(shí)施例是以實(shí)際方案來(lái)描述的，但是并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明含義的限制，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員，根據(jù)本說(shuō)明書(shū)對(duì)其實(shí)施方案的修改及與其他方案的組合都是顯而易見(jiàn)的。
【權(quán)利要求】
1.一種高精度雙頭測(cè)試探針，包括呈環(huán)柱形的探針主體(I)及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體(I)兩端內(nèi)的針頭(2 )和針尾(3 )，在所述探針主體(I)內(nèi)且在所述針頭(2 )和所述針尾(3)之間設(shè)置有復(fù)位元件，其特征在于:所述探針主體(I)的外徑A的大小為16mil至3 Imi I，測(cè)試時(shí)，所述針頭(2 )和所述針尾(3 )能在所述探針主體(I)內(nèi)滑動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:位于所述探針主體(I)內(nèi)的所述針頭(2)的尾部和所述針尾(3)的尾部均設(shè)置有止退臺(tái)階(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:設(shè)置有所述針尾(3)的所述探針主體(I)的一端設(shè)有收口(6)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述探針主體(I)上設(shè)有與所述針頭(2)的所述止退臺(tái)階(5)相適配的限位臺(tái)階(7)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述針頭(2)的頭部和所述針尾(3 )的頭部均對(duì)稱(chēng)設(shè)置有斜面，所述斜面使所述針頭(2 )的頭部和所述針尾(3 )的頭部變尖。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述針頭(2)的頭部的所述斜面與所述針頭(2)的軸線(xiàn)的夾角為15°，所述針尾(3)的頭部的所述斜面與所述針尾(3)的軸線(xiàn)的夾角為28°。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述探針主體(I)的長(zhǎng)度為 20mm 或 30mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述高精度雙頭測(cè)試探針的長(zhǎng)度為41mm或28mm，壓縮后的長(zhǎng)度為34.75mm或23.5mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述復(fù)位元件為彈簧(8)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于:所述復(fù)位元件為一對(duì)同極相對(duì)設(shè)置的磁柱(9)，一對(duì)所述磁柱(9)分別設(shè)置在所述針頭(2)和所述針尾(3)的尾部。
【文檔編號(hào)】G01R1/067GK104034927SQ201410205288
【公開(kāi)日】2014年9月10日 申請(qǐng)日期:2014年5月15日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月15日
【發(fā)明者】盧國(guó)強(qiáng) 申請(qǐng)人:珠海市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司