一種霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置及測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種高溫下霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置及測(cè)試方法，該裝置包括電磁激發(fā)器（4）、入射桿（5）、水冷管道（8）、入射桿端夾頭（28）、試件（22）、溫控儀（11）、透射桿端夾頭（20）、套筒（21）、透射桿（17）、密封艙（27）、高速攝像機(jī)（24）、示波器（29），該發(fā)明采用電磁激發(fā)器代替以往的空氣炮裝置，使用方便且易于調(diào)節(jié)與控制，使試件獲得更高的應(yīng)變率。采用高速攝像機(jī)從實(shí)驗(yàn)窗口外對(duì)試件表面進(jìn)行觀察，同時(shí)運(yùn)用數(shù)字圖像技術(shù)（DIC）來(lái)處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，以獲取試件的實(shí)時(shí)應(yīng)變，實(shí)驗(yàn)的精度和可靠性更高。
【專利說(shuō)明】一種霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置及測(cè)試方法【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于材料高溫動(dòng)態(tài)力學(xué)性能研究領(lǐng)域，具體涉及一種在高溫、高精度霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置以及基于該裝置的對(duì)于材料應(yīng)力-應(yīng)變曲線的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]雖然人們對(duì)材料的研究與應(yīng)用有很長(zhǎng)的歷史，但是直到十九世紀(jì)人們才意識(shí)到材料在動(dòng)載和靜載下的力學(xué)性能往往是不同的。在大量的沖擊試驗(yàn)中，材料的應(yīng)變率能達(dá)到IO2S4量級(jí)，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于靜載實(shí)驗(yàn)中KT5-KT1S-1量級(jí)。在如此高的應(yīng)變率下，材料的屈服極限、強(qiáng)度極限顯著提高，延伸率降低，而且屈服滯后和斷裂滯后等現(xiàn)象變得顯著起來(lái)。鑒于材料的本構(gòu)關(guān)系對(duì)應(yīng)變率的依賴性，研究高應(yīng)變率下材料的應(yīng)力-應(yīng)變關(guān)系有重要的意義。
[0003]目前，工程和科研領(lǐng)域里人們廣泛利用霍普金森拉桿來(lái)研究材料的動(dòng)態(tài)力學(xué)性能?；羝战鹕瓧U裝置主要由氣槍、子彈、入射桿、透射桿和數(shù)據(jù)采集裝置組成。試件通過(guò)一定的方式與入射桿和透射桿連接。管狀子彈受聞壓氣室的推動(dòng)，撞擊入射桿的法蘭端，在入射桿中形成一個(gè)拉伸脈沖，即入射波，入射波在入射桿中向前傳播。當(dāng)波傳至入射桿與試件接觸的界面時(shí)，由于試件和透射桿的慣性效應(yīng)，整個(gè)試件將被拉伸。同時(shí)，由于桿與試件的波阻抗的差異，入射波部分反射為反射波返回入射桿，而另一部分則透過(guò)試件進(jìn)入透射桿形成透射波。入射波和反射波由貼在入射桿表面的應(yīng)變片測(cè)出，透射波由貼在透射桿表面的應(yīng)變片測(cè)出，由測(cè)得的入射波、反射波和透射波就可以處理得到材料的變形和破壞情況，從而獲得材料的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。
[0004]目前，國(guó)內(nèi)關(guān)于霍普金森拉桿的研究取得了一些研究成果。名稱為“溫度和應(yīng)變率對(duì)拉伸載荷下聞溫招合金 本構(gòu)關(guān)系影響的研究”的文章(彳冬景偉等，實(shí)驗(yàn)力學(xué)，1999,14 (4):498~504)將試件及波導(dǎo)桿同時(shí)加熱，然后對(duì)波導(dǎo)桿進(jìn)行溫度梯度修正的方式，其缺點(diǎn)是數(shù)據(jù)處理比較復(fù)雜。名稱為“高溫沖擊拉伸實(shí)驗(yàn)中的快速接觸加溫技術(shù)”的文章(昝祥等，實(shí)驗(yàn)力學(xué)，2005，20 (3):321~327)采用大熱容量熱慣性溫升的快速接觸溫升技術(shù)，其缺點(diǎn)是加熱器可能對(duì)試件產(chǎn)生橫向沖擊，影響實(shí)驗(yàn)的精度。名稱為“一種高溫霍普金森拉伸實(shí)驗(yàn)裝置”的發(fā)明專利(專利申請(qǐng)?zhí)?201010516125.1)采取了電阻加熱的方式，但是對(duì)加熱段的空氣沒(méi)進(jìn)行處理，試件在高溫下容易被空氣氧化，影響結(jié)果的可靠性。因此，急需一種操作相對(duì)簡(jiǎn)單、精度及可靠性較高的拉桿裝置及測(cè)試方法來(lái)獲取材料在高速拉伸下的動(dòng)態(tài)力學(xué)性能。
[0005]隨著數(shù)字圖像相關(guān)(DIC:Digital Image Correlation)技術(shù)的發(fā)展，DIC技術(shù)為我們提供了一種測(cè)定實(shí)時(shí)應(yīng)變的方法，結(jié)合應(yīng)變片得到的材料的應(yīng)力-時(shí)間關(guān)系，便可以得到材料動(dòng)態(tài)的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種高溫下高精度霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置及測(cè)試方法。采用該套實(shí)驗(yàn)裝置及方法，可以有效解決高溫下霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)對(duì)試件的加熱問(wèn)題，避免試件在高溫下被氧化的問(wèn)題，同時(shí)能獲得試件更高應(yīng)變率下的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。此外利用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC)獲取試件的實(shí)時(shí)應(yīng)變，并利用應(yīng)變片獲取試件的應(yīng)力-時(shí)間曲線，保證實(shí)驗(yàn)的精確度。
[0007]本發(fā)明的技術(shù)方案是提供了 一種霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置，該裝置包括電磁激發(fā)器、入射桿、水冷管道、入射桿端夾頭、試件、溫控儀、透射桿端夾頭、套筒、透射桿、密封艙、高速攝像機(jī)、示波器，其特征在于:
[0008]電磁發(fā)射器的線圈固定在線圈擋板的凹槽中，線圈擋板固定在支座上；銅板通過(guò)螺栓與入射桿法蘭端連接；水冷管道粘附于入射桿的右端；入射桿端夾頭左右兩端分別與入射桿和試件連接；試件右端開(kāi)有一銷孔，套筒套入試件后，用銷軸固定；
[0009]密封艙左端繞過(guò)入射桿端夾頭，右端接觸透射桿，通過(guò)支座固定形成密封空間；密封艙頂端開(kāi)有四孔，從左到右依次為氦氣進(jìn)氣孔、加熱夾頭II導(dǎo)線入口、熱電偶入口、加熱夾頭I導(dǎo)線入口，底端右側(cè)開(kāi)有出氣孔，左端開(kāi)辟透明玻璃窗口。
[0010]進(jìn)一步地，透射桿端夾頭左端內(nèi)壁與套筒外壁在之間留有間隙，透射桿端夾頭右端通過(guò)均布于斷面的6個(gè)螺栓與透射桿的法蘭端剛性連接。
[0011]進(jìn)一步地，當(dāng)試件裝夾好后，密封艙充入氦氣，打開(kāi)加熱開(kāi)關(guān)，同時(shí)打開(kāi)水冷裝置，通過(guò)水泵，讓冷水從入水口 A進(jìn)入，從排出口 B排出。
[0012]進(jìn)一步地,實(shí)驗(yàn)時(shí),線圈內(nèi)的電流和銅板內(nèi)的感應(yīng)電流會(huì)各自產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)和次級(jí)感應(yīng)磁場(chǎng)，并在入射桿上形成拉伸波，拉伸波沿著入射桿傳播，當(dāng)波傳至入射桿與試件接觸的界面時(shí)，由于試件和透射桿的慣性效應(yīng)，整個(gè)試件將被拉伸。
[0013]本發(fā)明的有益效果:
[0014](I)該發(fā)明采用電磁激發(fā)器代替以往的空氣炮裝置，使用方便且易于調(diào)節(jié)與控制，使試件獲得更高的應(yīng)變率。
[0015](2)采用高速攝像機(jī)從實(shí)驗(yàn)窗口外對(duì)試件表面進(jìn)行觀察，同時(shí)運(yùn)用數(shù)字圖像技術(shù)(DIC)來(lái)處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，以獲取試件的實(shí)時(shí)應(yīng)變，實(shí)驗(yàn)的精度和可靠性更高。
[0016](3)采用電阻加熱的方法以及新的夾具，試件未直接與入射桿和透射桿接觸，能較大限度的降低熱傳導(dǎo)對(duì)入射桿和透射桿剛度的影響，提高了實(shí)驗(yàn)的精度。
[0017](4)采用水冷的方式對(duì)入射桿與夾頭接觸的端部降溫，能有效的降低溫度對(duì)貼于入射桿表面的應(yīng)變片的干擾，提聞實(shí)驗(yàn)的精度。
[0018](5)采用新的夾具結(jié)構(gòu)，由于夾具的可更換性，當(dāng)夾具采用比入射桿和透射桿較軟的材料制作時(shí)，如裝置發(fā)生較大的塑性變形甚至是裂紋時(shí)，這些失效將首先發(fā)生在夾具上，從而保護(hù)了裝置的主體部分。只需要將失效的夾具更換，即可進(jìn)行后續(xù)的實(shí)驗(yàn)，從而提高了裝置的可重復(fù)性。
[0019](6)試件加熱時(shí)處于保護(hù)氣中，避免了其在高溫下的氧化，從而從原理上保證了對(duì)試件在高溫下的應(yīng)力-應(yīng)變曲線的正確獲取。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1為本發(fā)明所述霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置的總體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2為本發(fā)明所述霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置的電磁驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖3為本發(fā)明所述霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置的加熱夾頭與試件的連接示意圖；[0023]圖4為本發(fā)明所述霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置的數(shù)字圖像采集裝置；
[0024]圖5為本發(fā)明所述霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置進(jìn)行拉伸的試件。
[0025]其中:1、吸能端，2、入射桿法蘭端，3、銅板，4、電磁激發(fā)裝置，5、入射桿，6、支座I，
7、應(yīng)變片I，8、水冷管道，9、氦氣進(jìn)氣口，10、加熱開(kāi)關(guān)，11、溫控儀，12、熱電偶，13、外接電源，14、應(yīng)變片II，15、支座II，16、固定端，17、透射桿，18、出氣口，19、螺栓，20、透射桿端夾頭，21、套筒，22、試件，23、加熱夾頭I，24、高速攝像機(jī)，25、觀測(cè)用透明玻璃窗口，26、加熱夾頭II，27、密封艙，28、入射桿端夾頭，29、示波器，30、變壓器，31、二極管，32、電阻I，33、激發(fā)開(kāi)關(guān)，34、電容，35、電阻11，36、線圈擋板，37、線圈，38、攝像頭I，39、基座，40、攝像頭II，41、銷軸。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合實(shí)施例中的附圖1?5對(duì)本發(fā)明作詳細(xì)說(shuō)明。
[0027]從圖1?5可以看出，本發(fā)明為帶有氣氛保護(hù)裝置的高溫霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置。該裝置主要包括電磁激發(fā)器4、入射桿5、水冷管道8、入射桿端夾頭28、試件22、溫控儀11、透射桿端夾頭20、套筒21、透射桿17、密封艙27、高速攝像機(jī)24、示波器29等。
[0028]如圖2所示，電磁發(fā)射器4的線圈37固定在線圈擋板36的凹槽中，線圈擋板36固定在支座6上。銅板3通過(guò)螺栓與入射桿法蘭端2連接。水冷管道8通過(guò)高溫結(jié)構(gòu)膠粘附于入射桿5的右端。入射桿端夾頭28左右兩端均通過(guò)螺紋與入射桿5和試件22連接。試件22右端開(kāi)有一銷孔，套筒21套入試件后，即將銷軸41插入銷孔，然后讓套筒緊貼銷軸。
[0029]透射桿端夾頭20左端內(nèi)壁與套筒21外壁在實(shí)驗(yàn)中約留有Imm的距離，右端通過(guò)均布于斷面的6個(gè)螺栓與透射桿17的法蘭端剛性連接。密封艙27左端繞過(guò)入射桿端夾頭28，右端接觸透射桿17，通過(guò)支座固定形成密封空間。密封艙27頂端開(kāi)有四孔，從左到右依次為氦氣進(jìn)氣孔、加熱夾頭II導(dǎo)線入口、熱電偶12入口、加熱夾頭I導(dǎo)線入口，底端右側(cè)開(kāi)有出氣孔，左端開(kāi)辟透明玻璃窗口。
[0030]當(dāng)試件裝夾好后，對(duì)密封艙充一段時(shí)間的氦氣，確保里面的空氣基本被排盡，然后打開(kāi)加熱開(kāi)關(guān)10，同時(shí)打開(kāi)水冷裝置，通過(guò)水泵，讓冷水從A入水口進(jìn)入，從B 口排出。通過(guò)熱電偶測(cè)量試件的適時(shí)溫度，當(dāng)試件溫度達(dá)到實(shí)驗(yàn)要求時(shí)，溫控儀會(huì)保持試件此時(shí)的溫度，然后接入外接電源，對(duì)電容34充電，完成充電部分。當(dāng)開(kāi)關(guān)33閉合瞬間，電容器34對(duì)線圈37進(jìn)行放電，由于感應(yīng)線圈37中劇烈的電流變化，產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)，而感應(yīng)磁場(chǎng)對(duì)銅板3產(chǎn)生作用，使銅板3內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電流。線圈內(nèi)的電流和銅板內(nèi)的感應(yīng)電流會(huì)各自產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)和次級(jí)感應(yīng)磁場(chǎng)，由于二者的方向相同，會(huì)產(chǎn)生很大的排斥力，在入射桿5上形成拉伸波，拉伸波沿著入射桿傳播，當(dāng)波傳至入射桿5與試件22接觸的界面時(shí)，由于試件和透射桿17的慣性效應(yīng)，整個(gè)試件將被拉伸。同時(shí)，由于入射桿與試件的波阻抗的差異，入射波部分反射為反射波返回入射桿，而另一部分則透過(guò)試件進(jìn)入透射桿形成透射波。
[0031]示波器29接收應(yīng)變片7、14反饋來(lái)的信號(hào)，形成試件應(yīng)力隨時(shí)間的變化曲線，結(jié)合DIC技術(shù)得到的試件應(yīng)變的變化曲線，從而獲得材料的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。
[0032]該方法具體步驟如下:
[0033]步驟1、試件的制備:根據(jù)GB/T228-2002的要求制作標(biāo)準(zhǔn)試件，然后在此基礎(chǔ)上，在該試件的左右兩端分別攻螺紋和鏜孔，在靠近銷孔的右端試件表面進(jìn)行磨砂處理，然后在試件表面噴白漆后印制0.1mmX0.1mm的黑色網(wǎng)格。
[0034]步驟2、在密封腔中注滿氦氣；打開(kāi)密封艙的進(jìn)出氣口 9，然后向其中通入一段時(shí)間的氦氣，保證其中的空氣排盡，然后封閉進(jìn)、出氣口。
[0035]步驟3、接通外部電源完成給電磁激發(fā)器的電容34充電。
[0036]步驟4、接通加熱爐開(kāi)關(guān)10，開(kāi)始給試件22加熱，同時(shí)由溫控儀11調(diào)節(jié)功率的
[0037]大小，使試件溫度達(dá)到實(shí)驗(yàn)要求。
[0038]步驟5、開(kāi)啟高速攝像機(jī)24，然后打開(kāi)電磁激發(fā)器開(kāi)關(guān)33，完成電容34的放電
[0039]過(guò)程和試件的拉伸過(guò)程，并做好相關(guān)的觀測(cè)。
[0040]步驟6、實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理:試件拉伸過(guò)程中的應(yīng)力通過(guò)一維應(yīng)力波理論得到，應(yīng)變通過(guò)高速攝像機(jī)獲得的照片分析得到，具體分析方法如下:
[0041]1)拉伸過(guò)程應(yīng)變?chǔ)?(t):利用高速攝像機(jī)采集實(shí)驗(yàn)過(guò)程中試件表面的圖像特征，把這些數(shù)字圖像導(dǎo)入到計(jì)算機(jī)中，并利用數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC)對(duì)材料在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的力學(xué)性能進(jìn)行分析。通過(guò)對(duì)得到的網(wǎng)格圖像進(jìn)行一系列的處理，如降噪、二值化和骨架化等，識(shí)別、提取出網(wǎng)格線的特征點(diǎn)，然后把特征點(diǎn)的投影平面內(nèi)坐標(biāo)值轉(zhuǎn)化為空間坐標(biāo)值，進(jìn)而可以計(jì)算出變形前后網(wǎng)格的變化，得到試件的變形場(chǎng)和變形程度。若高速攝像機(jī)每張照片曝光的時(shí)間為At，根據(jù)高速攝像機(jī)的記錄，結(jié)合網(wǎng)格應(yīng)變分析，對(duì)應(yīng)開(kāi)始變形后的第η張照片，即可得到變形時(shí)刻為t=nX At時(shí)的應(yīng)變?chǔ)?η.Λ?。
[0042]2)拉伸過(guò)程應(yīng)力σ (t):根據(jù)一維彈性波理論，試件的動(dòng)態(tài)應(yīng)力σ (t)為:
[0043]
【權(quán)利要求】
1.一種高溫下霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置，該裝置包括電磁激發(fā)器(4)、入射桿(5)、水冷管道(8)、入射桿端夾頭(28)、試件(22)、溫控儀(11)、透射桿端夾頭(20)、套筒(21)、透射桿(17 )、密封艙(27 )、高速攝像機(jī)(24 )、示波器(29 )，其特征在于: 電磁發(fā)射器(4)的線圈(37)固定在線圈擋板(36)的凹槽中，線圈擋板(36)固定在支座(6)上；銅板(3)通過(guò)螺栓與入射桿法蘭端(2)連接；水冷管道(8)粘附于入射桿(5)的右端；入射桿端夾頭(28)左右兩端分別與入射桿(5)和試件(22)連接；試件(22)右端開(kāi)有一銷孔，套筒(21)套入試件后，用銷軸(41)固定； 密封艙(27)左端繞過(guò)入射桿端夾頭(28),右端接觸透射桿(17),通過(guò)支座固定形成密封空間；密封艙(27)頂端開(kāi)有四孔，從左到右依次為氦氣進(jìn)氣孔、加熱夾頭II導(dǎo)線入口、熱電偶(12)入口、加熱夾頭I導(dǎo)線入口，底端右側(cè)開(kāi)有出氣孔，左端開(kāi)辟透明玻璃窗口，布置在窗口外的高速攝像機(jī)(24)采集實(shí)驗(yàn)過(guò)程中試件表面的圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于:透射桿端夾頭(20)左端內(nèi)壁與套筒(21)外壁在之間留有間隙，透射桿端夾頭(20)右端通過(guò)均布于斷面的6個(gè)螺栓與透射桿(17)的法蘭端剛性連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于: 當(dāng)試件裝夾好后，密封艙充入氦氣，打開(kāi)加熱開(kāi)關(guān)(10)，同時(shí)打開(kāi)水冷裝置，通過(guò)水泵，讓冷水從入水口 A進(jìn)入，從排出口 B排出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于: 實(shí)驗(yàn)時(shí)，線圈(37)內(nèi)的電流和銅板內(nèi)的感應(yīng)電流會(huì)各自產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)和次級(jí)感應(yīng)磁場(chǎng)，并在入射桿(5)上形`成拉伸波，拉伸波沿著入射桿(5)傳播，當(dāng)波傳至入射桿(5)與試件(22)接觸的界面時(shí)，由于試件和透射桿(17)的慣性效應(yīng)，整個(gè)試件將被拉伸。
5.一種利用權(quán)利要求1所述的高溫下霍普金森拉桿實(shí)驗(yàn)裝置進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于: 步驟1、制造實(shí)驗(yàn)試件，其中，試件的左右兩端分別攻螺紋和鏜孔，試件表面噴白漆后印制0.1mmX0.1mm的黑色網(wǎng)格； 步驟2、在密封腔(27)中注滿氦氣； 步驟3、接通外部電源完成給電磁激發(fā)器(4)的電容(34)充電； 步驟4、接通加熱爐開(kāi)關(guān)(10)，開(kāi)始給試件(22)加熱，同時(shí)由溫控儀(11)調(diào)節(jié)功率的大小，使試件溫度達(dá)到實(shí)驗(yàn)要求； 步驟5、開(kāi)啟高速攝像機(jī)(24)，然后打開(kāi)電磁激發(fā)器開(kāi)關(guān)(33)，完成電容(34)的放電過(guò)程和試件的拉伸過(guò)程，觀察并記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)； 步驟6、對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析，具體分析方法如下: 1)拉伸過(guò)程應(yīng)變?chǔ)?t):利用高速攝像機(jī)(24)采集實(shí)驗(yàn)過(guò)程中試件表面的圖像特征，把數(shù)字圖像導(dǎo)入到計(jì)算機(jī)中，對(duì)得到的網(wǎng)格圖像進(jìn)行降噪、二值化和骨架化，識(shí)別、提取網(wǎng)格線的特征點(diǎn)，把特征點(diǎn)的投影平面內(nèi)坐標(biāo)值轉(zhuǎn)化為空間坐標(biāo)值，計(jì)算變形前后網(wǎng)格的變化，得到試件的變形場(chǎng)和變形程度；高速攝像機(jī)(24)每張照片曝光的時(shí)間為At，根據(jù)高速攝像機(jī)的記錄，結(jié)合網(wǎng)格應(yīng)變分析，對(duì)應(yīng)開(kāi)始變形后的第η張照片，即可得到變形時(shí)刻為t=nXAt時(shí)的應(yīng)變?chǔ)纽?Λ?; 2)計(jì)算拉伸過(guò)程應(yīng)力σ(t):其中試件的動(dòng)態(tài)應(yīng)力ο⑴為:σ{t) = EA/Asε1(X2,t)=EA/As[ε1(X1,t)] 其中，EA為桿的剛度，As為試件的截面積，ε T(X2，t)為t時(shí)刻應(yīng)變片II測(cè)得的透射波應(yīng)變，ε1(X1, t)為t時(shí)刻應(yīng)變片I測(cè)得的入射波應(yīng)變，ε R(Χ1； t)為t時(shí)刻應(yīng)變片I測(cè)得的反射波應(yīng)變。
【文檔編號(hào)】G01N3/18GK103868802SQ201410128230
【公開(kāi)日】2014年6月18日 申請(qǐng)日期:2014年4月1日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月1日
【發(fā)明者】孫光永, 李光耀, 崔俊佳, 耿輝輝, 唐春紅 申請(qǐng)人:湖南大學(xué)