密封面缺陷三維檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法，包括：獲取密封面上帶劃痕的圖片；根據(jù)帶劃痕的圖片獲取劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度；根據(jù)初始寬度確定掃描路徑；根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡；沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的密封面缺陷三維檢測(cè)方法先獲取密封面上所有帶劃痕的圖片，從而基本上杜絕了細(xì)微劃痕的漏檢情況；之后根據(jù)該圖片獲取劃痕長(zhǎng)度及初始寬度，再根據(jù)初始寬度確定掃描路徑，繼而根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡，最后沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面缺陷的三維檢測(cè)，同時(shí)提高了測(cè)量精度，且實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面三維缺陷的尺寸量化檢測(cè)。
【專利說(shuō)明】密封面缺陷三維檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及缺陷檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，更具體地涉及一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)前，在對(duì)密封面進(jìn)行三維缺陷檢測(cè)時(shí)，主要采用目測(cè)法和在線視頻觀測(cè)法兩種方法。但，該兩種方法存在以下缺陷:(I)目測(cè)法的檢測(cè)結(jié)果易受操作人員主觀判斷影響，從而影響測(cè)量精度；(2)在線視頻觀測(cè)法則容易漏檢細(xì)微劃痕；(3)以上兩種檢測(cè)方法只能實(shí)現(xiàn)密封面缺陷的定性判斷，無(wú)法將缺陷尺寸量化。
[0003]此外，現(xiàn)代核電站中大量設(shè)備在維護(hù)中需要打磨和拋光，尤其是高密封要求設(shè)備(如壓力容器)，打磨拋光后還需進(jìn)行缺陷檢測(cè)，以確保密封面良好的密封性。若采用上述檢測(cè)方法對(duì)壓力容器的密封面進(jìn)行缺陷三維檢測(cè)，嚴(yán)重地增加了操作人員受輻射的劑量。
[0004]因此，急需一種改進(jìn)的密封面缺陷三維檢測(cè)方法來(lái)克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是提供一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法，以提高測(cè)量精度，基本上杜絕細(xì)微劃痕的漏檢情況，且能實(shí)現(xiàn)對(duì)密封面三維缺陷的尺寸量化檢測(cè)。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法，包括:
[0007]獲取密封面上帶劃痕的圖片；
[0008]根據(jù)帶劃痕的圖片獲取所述劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度；
[0009]根據(jù)所述初始寬度確定掃描路徑；
[0010]根據(jù)所述掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡；
[0011]沿所述掃描軌跡對(duì)所述劃痕進(jìn)行掃描以確定所述劃痕的深度及最終寬度
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的密封面缺陷三維檢測(cè)方法先獲取密封面上所有帶劃痕的圖片，從而基本上杜絕了細(xì)微劃痕的漏檢情況；之后根據(jù)該圖片獲取劃痕長(zhǎng)度及初始寬度，再根據(jù)初始寬度確定掃描路徑，繼而根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡，最后沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面缺陷的三維檢測(cè)，同時(shí)提高了測(cè)量精度，且實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面三維缺陷的尺寸量化檢測(cè)。
[0013]通過(guò)以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實(shí)施例。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1為本發(fā)明密封面三維缺陷檢測(cè)方法的主流程圖。
[0015]圖2為對(duì)壓力容器密封面三維缺陷檢測(cè)的硬件結(jié)構(gòu)框圖。
[0016]圖3為對(duì)壓力容器密封面三維缺陷檢測(cè)的方法流程圖。
[0017]圖4為圖3所述步驟S202的子流程圖。
[0018]圖5為采用標(biāo)準(zhǔn)黑白方格板為工業(yè)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定的示意圖。[0019]圖6為對(duì)圖片進(jìn)行處理前后的效果圖。
[0020]圖7為圖4所述步驟S2025的原理圖。
[0021]圖8a及圖8b為圖3所述步驟S203的子流程圖。
[0022]圖9為步驟S203的原理圖。
[0023]圖1Oa為粗劃痕的檢測(cè)曲線圖。
[0024]圖1Ob為細(xì)劃痕的檢測(cè)曲線圖。
[0025]圖11為采用算法I確定掃描路徑時(shí)的示意圖。
[0026]圖12為采用算法2確定掃描路徑時(shí)的示意圖。
[0027]圖13為將位移量轉(zhuǎn)換成X軸和Y軸電機(jī)的脈沖信號(hào)的原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例，附圖中類似的元件標(biāo)號(hào)代表類似的元件。
[0029]請(qǐng)參考圖1，本發(fā)明密封面三維缺陷檢測(cè)方法包括以下步驟:
[0030]S101，獲取密封面上帶劃痕的圖片；
[0031]S102，根據(jù)帶劃痕的圖片獲取劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度；
[0032]S103，根據(jù)初始寬度確定掃描路徑；
[0033]S104，根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡；
[0034]S105，沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度。
[0035]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的密封面缺陷三維檢測(cè)方法先獲取密封面上所有帶劃痕的圖片，從而基本上杜絕了細(xì)微劃痕的漏檢情況；之后根據(jù)該圖片獲取劃痕長(zhǎng)度及初始寬度，再根據(jù)初始寬度確定掃描路徑，繼而根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡，最后沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面缺陷的三維檢測(cè)，同時(shí)提高了測(cè)量精度，且實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面三維缺陷的尺寸量化檢測(cè)。
[0036]請(qǐng)參考圖2，將本發(fā)明的密封面三維缺陷檢測(cè)方法用于檢測(cè)壓力容器的密封面三維缺陷時(shí)，所需硬件設(shè)備具體包括:上位控制機(jī)60、就地控制柜61、移載小車62、旋轉(zhuǎn)編碼器63、檢測(cè)設(shè)備64、位移傳感器65及工業(yè)相機(jī)66。其中，就地控制柜61與上位控制機(jī)60和移載小車62連接，移載小車62與旋轉(zhuǎn)編碼器63連接，檢測(cè)設(shè)備64搭載位移傳感器65移動(dòng)，工業(yè)相機(jī)66搭載于移載小車62以獲取密封面的缺陷位置圖片，并在就地控制柜61及上位控制機(jī)60的配合下確定密封面的缺陷位置；或者工業(yè)相機(jī)66搭載于檢測(cè)設(shè)備64，并在就地控制柜61及上位控制機(jī)60的配合下獲取密封面上帶劃痕的圖片。
[0037]再請(qǐng)參考圖3，對(duì)壓力容器密封面進(jìn)行三維缺陷檢測(cè)主要包括以下步驟:
[0038]S201，上位控制機(jī)就地控制柜及移載小車等設(shè)備就位；具體地，采用線纜將上位控制機(jī)、就地控制柜及移載小車三者連接，確定通過(guò)初試定位塊所確定的移載小車運(yùn)行的起點(diǎn)位置；
[0039]S202，確定壓力容器密封面的缺陷位置，以實(shí)現(xiàn)缺陷識(shí)別定位；
[0040]S203，檢測(cè)設(shè)備根據(jù)缺陷位置進(jìn)行就位準(zhǔn)備，并搭載位移傳感器或工業(yè)相機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)密封面缺陷的三維缺陷檢測(cè)。
[0041]具體地，如圖4所示，步驟S202包括:
[0042]S2021,采用標(biāo)準(zhǔn)黑白方格板為工業(yè)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定,如圖5所示；[0043]S2022，啟動(dòng)搭載有工業(yè)相機(jī)的移載小車及旋轉(zhuǎn)編碼器，旋轉(zhuǎn)編碼器開始脈沖計(jì)數(shù)；
[0044]S2023，根據(jù)旋轉(zhuǎn)編碼器所記錄的脈沖數(shù)的增量觸發(fā)工業(yè)相機(jī)拍攝密封面圖片；即，當(dāng)旋轉(zhuǎn)編碼器所記錄的脈沖數(shù)每增加一定數(shù)量時(shí)，則觸發(fā)工業(yè)相機(jī)開始拍照；
[0045]S2024，對(duì)密封面圖片進(jìn)行二值化、發(fā)脹、關(guān)聯(lián)及邊緣處理，處理前后的圖片如圖6所示；
[0046]S2025，判斷經(jīng)處理后的密封面圖片是否存在缺陷；具體為，調(diào)用模板圖片與經(jīng)處理后的密封面圖片進(jìn)行匹配，判斷偏差是否處于預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若處于，則判斷該圖片正常，沒(méi)有缺陷，反之，則判斷異常，該圖片存在缺陷；
[0047]S2026，工業(yè)相機(jī)根據(jù)判斷結(jié)果發(fā)送控制信號(hào)至就地控制柜，并將帶缺陷的密封面圖片發(fā)送至上位控制機(jī)；具體為，如圖7所示，發(fā)現(xiàn)異常后，工業(yè)相機(jī)通過(guò)I/O端口向就地控制柜的PLC發(fā)送控制信號(hào)，同時(shí)通過(guò)Poe端口將帶缺陷的密封面圖片發(fā)送至上位控制機(jī)；
[0048]S2027,就地控制柜根據(jù)控制信號(hào)記錄旋轉(zhuǎn)編碼器的當(dāng)前脈沖數(shù)，并將當(dāng)前脈沖數(shù)發(fā)送至上位控制機(jī)；
[0049]S2028，上位控制機(jī)將當(dāng)前脈沖數(shù)轉(zhuǎn)換為密封面的缺陷位置；
[0050]S2029，將帶缺陷的密封面圖片與密封面的缺陷位置一一對(duì)應(yīng)保存至指定位置。
[0051]下面，請(qǐng)參考圖8a及圖8b以詳細(xì)介紹步驟S203。需要說(shuō)明的是，檢測(cè)設(shè)備為高精度檢測(cè)設(shè)備，包括X、Y軸伺服電機(jī)，位移傳感器為白光共焦位移傳感器，且其具有一接收頭。步驟S203中所需硬件之間的連接如圖9所示。
[0052]具體地，請(qǐng)結(jié)合圖8a、8b及9，步驟S203包括:
[0053]S2031，采用標(biāo)準(zhǔn)黑白方格板為工業(yè)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定，如圖5所示；
[0054]S2032，搭載有工業(yè)相機(jī)的檢測(cè)設(shè)備根據(jù)缺陷位置進(jìn)行就位準(zhǔn)備；
[0055]S2033，工業(yè)相機(jī)根據(jù)密封面的工作尺寸進(jìn)行分幅拍照；具體為，將密封面工作尺寸分成若干小區(qū)域，工業(yè)相機(jī)對(duì)其進(jìn)行分幅拍照；
[0056]S2034，對(duì)所拍攝的圖片進(jìn)行二值化、發(fā)脹、關(guān)聯(lián)及邊緣處理，處理前后的圖片如圖6所示；
[0057]S2035，判斷經(jīng)處理后的圖片是否存在劃痕，以獲取密封面上帶劃痕的圖片，具體判斷標(biāo)準(zhǔn)如S2025所述，在此不再贅述；
[0058]S2036，工業(yè)相機(jī)根據(jù)判斷結(jié)果發(fā)送控制信號(hào)至就地控制柜，并將帶劃痕的圖片發(fā)送至上位控制機(jī)，具體操作流程如步驟S2026所述，在此不再贅述；
[0059]S2037，就地控制柜根據(jù)控制信號(hào)記錄檢測(cè)設(shè)備X軸和Y軸的位置信息，并將該位置信息發(fā)送至上位控制機(jī)；
[0060]S2038，上位控制機(jī)將X軸和Y軸的位置信息與帶劃痕的圖片一一對(duì)應(yīng)保存至指定位置；
[0061]S2039，通過(guò)圖像后處理軟件，調(diào)用帶缺陷的圖片進(jìn)行長(zhǎng)度及初始寬度測(cè)量，以獲取劃痕的長(zhǎng)度及初始寬度；需要說(shuō)明的是，該初始寬度為工業(yè)相機(jī)所拍攝的劃痕寬度，因劃痕粗細(xì)等因素，該寬度可能無(wú)法準(zhǔn)確地反應(yīng)密封面上劃痕的寬度，故在此將其記為初始寬度；
[0062]S2040，上位控制機(jī)將劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度與帶劃痕的圖片一一對(duì)應(yīng)保存，以供后續(xù)判別使用；
[0063]S2041，調(diào)整位移傳感器的接收頭與密封面的距離，以使得接收頭處于測(cè)量量程的中間位置；
[0064]S2042，調(diào)用帶劃痕的圖片并在該圖片的劃痕上點(diǎn)選需測(cè)量的特征點(diǎn)；具體為，操作人員根據(jù)帶劃痕的圖片，隨機(jī)選擇劃痕上灰度值較大、寬度較小的幾個(gè)點(diǎn)作為特征點(diǎn)；
[0065]S2043，根據(jù)初始寬度確定掃描路徑；
[0066]S2044，上位控制機(jī)根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡；
[0067]S2045，檢測(cè)設(shè)備搭載位移傳感器沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描，以確定劃痕的深度及最終寬度；
[0068]S2046，上位控制機(jī)實(shí)時(shí)地將檢測(cè)設(shè)備的X、Y軸的位置信息和位移傳感器所獲取的深度信息一一對(duì)應(yīng)保存；需要說(shuō)明的是，當(dāng)劃痕上存在凹坑時(shí)，位移傳感器獲取信息為深度，當(dāng)劃痕上存在突起時(shí)，位移傳感器所獲取的則為高度；
[0069]S2047，根據(jù)位移傳感器所獲取的深度信息實(shí)時(shí)地繪制劃痕曲線圖，如圖1Oa及IOb所示，其中，圖中橫坐標(biāo)為位移傳感器的位移量，縱坐標(biāo)為所獲取的劃痕的高度或深度。如圖1Oa及IOb所示的曲線圖能準(zhǔn)確提供劃痕最深點(diǎn)處的深度和寬度信息，以便于操作人員分析缺陷情況，為實(shí)施下一步工作提供數(shù)據(jù)支持。
[0070]具體地,步驟S2043為:當(dāng)缺陷大小> 0.1mm,采用算法1 ;當(dāng)缺陷大小≤0.1mm時(shí)，
米用算法2。
[0071]下面請(qǐng)參考圖11，以詳細(xì)說(shuō)明算法I。當(dāng)劃痕寬度> 0.1mm時(shí)，如圖11所示，采用算法1，點(diǎn)b和點(diǎn)c存在多選性，難以篩選出合適的輔助點(diǎn)b和C。故提出基于寬度比較算法來(lái)獲取最深點(diǎn)a處法線軌跡，如圖所示。
[0072]具體算法步驟如下:
[0073](1)以灰度最大點(diǎn)a(xa，ya)為中心，以間隔一定角度對(duì)劃痕進(jìn)行虛擬掃描，以獲取多張?zhí)摂M掃描圖片；
[0074](2)采用直線拓?fù)?、二值化和圖像邊緣處理等算法對(duì)多張?zhí)摂M圖片進(jìn)行處理，選取得出虛擬掃描路徑上灰度躍變的第一個(gè)a’ OC，ya’ )和最后一點(diǎn)a”(xa”，Ya”)以確定線段a’ a”的長(zhǎng)度；
[0075](3)采用冒泡排序法篩選長(zhǎng)度最小的線a’a”，掃描路徑ala2為線a’a”的中垂線。
[0076]則兩個(gè)端點(diǎn)連成的直線為:
[0077]
【權(quán)利要求】
1.一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 獲取密封面上帶劃痕的圖片； 根據(jù)帶劃痕的圖片獲取所述劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度； 根據(jù)所述初始寬度確定掃描路徑； 根據(jù)所述掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡； 沿所述掃描軌跡對(duì)所述劃痕進(jìn)行掃描以確定所述劃痕的深度及最終寬度。
2.如權(quán)利要求1所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，獲取密封面上帶劃痕的圖片之前還包括: 確定所述密封面的缺陷位置，以根據(jù)所述缺陷位置獲取密封面上帶劃痕的圖片。
3.如權(quán)利要求2所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，確定密封面的缺陷位置具體包括: 采用標(biāo)準(zhǔn)黑白方格板為工業(yè)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定； 啟動(dòng)搭載有工業(yè)相機(jī)的移載小車及旋轉(zhuǎn)編碼器； 根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)編碼器所記錄的脈沖數(shù)的增量觸發(fā)工業(yè)相機(jī)拍攝密封面圖片； 對(duì)所述密封面圖片進(jìn)行二值化、發(fā)脹、關(guān)聯(lián)及邊緣處理； 判斷經(jīng)處理后的所述密 封面圖片是否存在缺陷； 所述工業(yè)相機(jī)根據(jù)判斷結(jié)果發(fā)送控制信號(hào)至就地控制柜，并將帶缺陷的所述密封面圖片發(fā)送至上位控制機(jī)； 所述就地控制柜根據(jù)所述控制信號(hào)記錄所述旋轉(zhuǎn)編碼器的當(dāng)前脈沖數(shù)，并將所述當(dāng)前脈沖數(shù)發(fā)送至所述上位控制機(jī)； 所述上位控制機(jī)將所述當(dāng)前脈沖數(shù)轉(zhuǎn)換為所述密封面的缺陷位置。
4.如權(quán)利要求3所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，所述上位控制機(jī)將所述當(dāng)前脈沖數(shù)轉(zhuǎn)換為所述密封面的缺陷位置之后還包括: 將帶缺陷的所述密封面圖片與所述密封面的缺陷位置一一對(duì)應(yīng)保存。
5.如權(quán)利要求4所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，判斷經(jīng)處理后的所述密封面圖片是否存在缺陷具體包括: 調(diào)用模板圖片與經(jīng)處理后的所述密封面圖片進(jìn)行匹配； 判斷偏差是否處于預(yù)設(shè)范圍。
6.如權(quán)利要求2所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)所述缺陷位置獲取帶劃痕的圖片具體包括: 采用標(biāo)準(zhǔn)黑白方格板為工業(yè)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定； 搭載有工業(yè)相機(jī)的檢測(cè)設(shè)備根據(jù)所述缺陷位置進(jìn)行就位準(zhǔn)備； 所述工業(yè)相機(jī)根據(jù)所述密封面的工作尺寸進(jìn)行分幅拍照； 對(duì)所拍攝的圖片進(jìn)行二值化、發(fā)脹、關(guān)聯(lián)及邊緣處理； 判斷經(jīng)處理后的圖片是否存在劃痕； 所述工業(yè)相機(jī)根據(jù)判斷結(jié)果發(fā)送控制信號(hào)至就地控制柜，并將帶劃痕的圖片發(fā)送至上位控制機(jī)； 所述就地控制柜根據(jù)所述控制信號(hào)記錄所述檢測(cè)設(shè)備X軸和Y軸的位置信息，并將該位置信息發(fā)送至上位控制機(jī)；所述上位控制機(jī)將X軸和Y軸的位置信息與帶劃痕的圖片一一對(duì)應(yīng)保存。
7.如權(quán)利要求6所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)帶劃痕的圖片獲取所述劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度之后還包括: 所述上位控制機(jī)將所述劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度與帶劃痕的圖片一一對(duì)應(yīng)保存。
8.如權(quán)利要求7所述的密封面三維檢測(cè)方法，其特征在于，所述上位控制機(jī)將所述劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度與帶劃痕的圖片一一對(duì)應(yīng)保存之后還包括: 調(diào)整位移傳感器的接收頭與所述密封面的距離以使得所述接收頭處于測(cè)量量程的中間位置； 調(diào)用帶劃痕的圖片并在該圖片的劃痕上點(diǎn)選需測(cè)量的特征點(diǎn)。
9.如權(quán)利要求8所述的密封面三維檢測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)所述初始寬度確定掃描路徑具體包括: 判斷所述劃痕的初始寬度是否大于0.1毫米； 若是則選擇算法I確定所述掃描路徑，反之，則選擇算法2確定所述掃描路徑。
10.如權(quán)利要求9所述的密封面三維檢測(cè)方法，其特征在于，算法I具體包括: 提取帶劃痕的圖片中的劃痕上的灰度最大點(diǎn)a(xa，ya)； 以灰度最大點(diǎn)a(xa，ya)為中心，間隔一預(yù)設(shè)角度對(duì)所述劃痕進(jìn)行虛擬掃描，以獲取多張?zhí)摂M掃描圖片； 采用直線拓?fù)?、二值化和圖像邊緣處理算法對(duì)多張?zhí)摂M掃描圖片進(jìn)行處理； 在每張所述虛擬掃描圖片上選取虛擬掃描路徑上灰度躍變的第一個(gè)a’(xa’，ya’)和最后一點(diǎn)a”(xa”，ya”)以確定線a’ a”的長(zhǎng)度； 采用冒泡排序法篩選長(zhǎng)度最小的線a’ a” ； 根據(jù)公式(4)及(5)確定掃描路徑兩端點(diǎn)al、a2的坐標(biāo)值，以確定掃描路徑ala2，
11.如權(quán)利要求9所述的密封面三維檢測(cè)方法，其特征在于，算法2具體包括: 提取帶劃痕的圖片中的劃痕上的灰度最大點(diǎn)a(xa，ya)； 采用環(huán)形拓?fù)?、二值化和輪廓邊緣處理算法在a點(diǎn)附近獲取所述劃痕的兩個(gè)端點(diǎn)b (xb，Yb)和 C (X。，Jc)； 根據(jù)公式(I)、(2)及(3)確定掃描路徑兩端點(diǎn)al、a2的坐標(biāo)值，以確定掃描路徑ala2，
12.如權(quán)利要求1所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)所述掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡具體包括: 以光斑大小作為一個(gè)基步d，取規(guī)劃點(diǎn)之間的步長(zhǎng)為s = 5d ; 計(jì)算每個(gè)所述規(guī)劃點(diǎn)的坐標(biāo)(Xi，Yi)； 根據(jù)沿所述掃描路徑的移動(dòng)速度Vm得出掃描兩相鄰的所述規(guī)劃點(diǎn)所需時(shí)間t ； 根據(jù)所述移動(dòng)速度Vm和時(shí)間t得出X、Y軸的速度(Vx，Vy)； 將每個(gè)所述規(guī)劃點(diǎn)的坐標(biāo)(Xi，Yi)與速度(Vx，Vy)作為一個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)依次保存至壓力容器中以完成所述掃描軌跡的離線規(guī)劃。
13.如權(quán)利要求12所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，沿所述掃描軌跡對(duì)所述劃痕進(jìn)行掃描具體包括: 依次從所述壓力容器中提取各個(gè)所述規(guī)劃點(diǎn)的坐標(biāo)(Xi，Yi)與速度(Vx，Vy)； 檢測(cè)設(shè)備搭載位移傳感器根據(jù)各個(gè)所述規(guī)劃點(diǎn)的坐標(biāo)(Xi，Yi)與速度(Vx，Vy)沿所述掃描軌跡移動(dòng)，以確定所述劃痕的深度及最終寬度。
14.如權(quán)利要求8至11或13任一項(xiàng)所述的密封面缺陷三維檢測(cè)方法，其特征在于，沿所述掃描軌跡對(duì)所述劃痕進(jìn)行掃描以確定所述劃痕的深度及最終寬度之后還包括； 所述上位控制機(jī)實(shí)時(shí)地將所述檢測(cè)設(shè)備的X、Y軸的位置信息和所述位移傳感器所獲取的深度信息一一對(duì)應(yīng)保存； 根據(jù)所述位移傳感器所獲取的深度信息實(shí)時(shí)地繪制劃痕曲線圖。
【文檔編號(hào)】G01B11/02GK103868929SQ201410106796
【公開日】2014年6月18日 申請(qǐng)日期:2014年3月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月29日
【發(fā)明者】陳嘉杰, 張濤, 蔣良中, 劉青松, 余冰, 錢建華, 李騰龍, 孫綺林, 李曉, 袁任重 申請(qǐng)人:中科華核電技術(shù)研究院有限公司, 中國(guó)廣核集團(tuán)有限公司